CS200334B1 - Zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruchy desek počítačů - Google Patents

Description

Vynález ae týká zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruchy desek počítačů. Zařízení je vybaveno sondou pro umožnění lokalizace poruchy uvnitř desky, to je nalezení vadného pouzdra, i když nemá přímé vývody na konektor desky.

Jsou známy zkouřeče logických desek, které z připojené paměti vybavují logické kombinace a zadávají je jednak jako elektrické stimuly na vstupní kontakty zkoušené desky,jednak s nimi porovnávají, jako s očekávanými hodnotami, odezvy zkouřeče desky, sejmuté po zadaném zpožděni z výstupních kontaktů konektoru zkouřené desky, “ontrola elektrických signálů je prováděna současně na vřech kontaktech zkouřené desky, tj. na vstupech a výstupech, takže Ie kontrolována i elektrická funkoe zdrojů logických stimulů. Kontrola ee provádí v tzv. testovacích krocích.

Pro každý testovací krok je tedy nutno uložit dc paměti zařízení slovo, odpovídajíoí počtu kontaktů konektoru zkouřené desky, například 250.Kontrolní test pro každou zkoušenou desku je nutno připravit předem. Neexistuje-1i fungující vzor zkouřené desky, je nutno testy sestavovat pomocí velkého počítače. Do tabulek pro každý testovací krok je vhodné za«hytit i vřechny vnitřní stavy vřech uzlů, přímo nepřístupných z konektoru deeky.

lest desky má být úplný, to znamená, že má být schopen odhalit každou vadu zkouřené desky pouze testováním výstupů desky. Takový test obvykle obsahuje 50 až 1000 testovacích kroků, např. 40 pouzder 10. ^xestováním desky z konektoru testem s uvedenými vlastnostmi

200 334

200 334 snadno zjistíme, bez zásahu operátora do testování, je-li deska dobrá nebo vadná. V případě závady test věak neurčí místo poruchy.

Hlavní příčinou tohoto nedostatku je to, Se z konektoru desky je přístupná jenem meněí část kontaktů použitých pouzder 10, kdešto ostatní jsou propojeny do logioká sítě vnitřními, z konektoru nepřístupnými spoji, které nazýváme logickými uzly. Počet těchto uzlů bývá až 250.

Mají-li být nějakým způsoběm automatizovaně testovatelná i vnitřní uzly desky pomool zkouěeče, nutné rozšířit testovaoí slovo o počet vnitřních uzlů, to znamená asi na 500 bitů na jeden krok testu, tj. součet vstupů, výstupů a vnitřních uzlů.

Pokud by bylo možné testovat vnitřní uzly desky současně s výstupy, lokalizace poruchy by mohla být dokonalá. Celé, již dost velké zkušební zařízení by zvětšilo aleepoň dvakrát, nehledě k mechanickým a elektrickým problémům a připojením tolika vysokofrekvenčních kontaktů na tek malém prostoru.

uvedenýoh důvodů se považuje za optimální kontrolovat velké logloké desky nejprve z jejich konektoru. Obvykle 3° až 50 % desek bývá vyrobeno bez závady a na ostatních je třeba lokalizovat jednu až dvě poruchy kontrolou vnitřních uzlů.

Kontrola vnitřních uzlů se neprovádí současně, ale postupným přemísťováním jediného kontrolního kontaktu ruční sondy. Logioká kontrola zvoleného bodu proběhne autometloky, a to buď v celém kontrolním testu, nebo jen v jeho části, ve které byla indikována první neshoda při testování z konektoru. Počítá se s tím, že vhodnou strategií výběru vnitřních uzlů může být porucha brzy identifikována, takže počet kontrol sondou nemusí být velký.

U zkuěebních zařízení pracujících bez počítače, určuje pořadí testování vnitřníoh bodů operátor. Volbu provádí zadáváním čísel vnitřních uzlů. do zkouěeče. Jejich volbu provádí podle nelezených nesouhlasů odezev desky s její logickou funkcí a a použitím schéma desky, kde jsou vedena.

U zkoušečů řízených počítačem je zařízení schopno volit postup zkouěky, takže operátor pouze přikládá sondu podle Údajů čtených na displeji počítače, takže lokalizace skutečného místa poruch probíhá poloautomaticky. ,

Operátor se účastní svou inteligenci jen závěrné části lokalizace a hlavně tehdy, má-11 být identifikována méně obvyklá porucha.

V době, kdy se neprovádí automatické testování pomocí sondy, to jest před jeho spuětě-

ním nebo po zastavení, je možno použít sondy jako optického Indikátoru těchto úrovní >
Us	<	0,4 V	log 0
U.	>	2,4 V	log 1
ϋ.	<	50 mV	zkrat na zem
	>	(Vco -0,5 V)	zkrat na
0,4	V < Ufl	< 2,4 V	zakázaná oblast

Podle těohto Informací se operátor řídí při konečné lokalizaci místa poruchy. V poslední fázi lokalizace přebírá operátor řízení lokalizace i je-li zařízení řízeno počítačem.

Tato práoe vyžaduje značné duěevní úsilí a každé chybné hodnocení výsledku měření a testování značně oddálí nebo dokonce znehodnotí výsledek oelé práce.

2C0 334

Mimoto musí operátor neustále sledovat rutinní záležitosti: vystříhat se přerušení kontaktu aondy při testování, předčasného odložení sondy, předčasného spuštění testování, není-li sonda dosud v kontaktu.

Kontrola elektriokých úrovní log I, log 0 a zakázané oblasti se provádí jenom ručně, při automatickém postupu je z kontroly vyřazena, oož vylučuje automatickou reakci zkoušeče na některé poruchy.

Při řadě akcí, prováděných ručním vstupem do programu zkoušení, je operátor nucen odložit sondu, aby ai uvolnil ruce a musí být proto schopen rychleji zhodnotit, je-li odložení sondy možné a nevznikne-li tím porucha.

Tyto nevýhody odstraňuje zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruch desek počítačů, skládající ae ze zkoušeče logické funkce, zadávajícího z paměti zařízení elektrické stimuly ne konektor zkoušené desky, kontrolující jejich souhlas se zadáním a souhlas elektrických výstupů na konektoru zkoušené deeky a očekávanými hodnotami uloženými též v paměti zařízení a z logické sondy umožňující připojit alespoň jeden vnitřní uzel zkoušené desky, přičemž kontrolovaný uzel desky je sondou připojen jednak na logický indikátor a jednak na úrovňový komparátor je podle vynálezu uspořádáno tak, že výstup komparátoru pro indikaci zakázané oblasti kontrolovaných signálů je připojen na vstup prvního zpoždovacího obvodu pro zpoždění kladné hrany, jehož výetup je spojen s jednou vstupní svorkou prvního součinového obvodu, výstup prvního součinového obvodu Je spojen se vstupní svorkou pemětového obvodu,jehož výstup je připojen ke vstupní svorce řídicí jednotky pro vyhodnocení ohyby, druhá vstupní svorka druhého součinového obvodu je spojena ee vstupem třetího součinového obvodu, výstup zpožďovacího obvodu je spojen se vstupem druhého zpoždovacího obvodu pro zpoždění záporné hrany a první zpožďovací obvod má mimo vstup impulsového signálu další logickv inhibiční vstup.

Dále je možné zařízení uspořádat tak, že druhá vstupní svorka prvního součinového obvodu je propojena a výstupní svorkou druhého součinového obvodu, na jehož vstupech jsou aspoň dvě svorky.

Mimoto je výhodné uspořádání, spočívající v tom, že výstup třetího součinového obvodu je napojen na první optický indikátor. Výstup gamětového obvodu může být spojen e druhým optickým indikátorem. Ma výstupní svorku druhého· součinového obvodu může být připojen třetí optický indikátor.

Výstupy komparátoru mohou být připojeny na vstupy čtvrtého a pátého součinového obvodu, jejichž výstupy jsou spojeny s dalšími optickými indikátory stavu napětí hrotu sondy logická nula a logická jednička, přičemž na druhé vstupy je připojen výstup invertorů, jehož vstup je epojen s výstupem druhého součinového obvodu..

Zařízení podle vynálezu nejen že zařazuje do automatické kontroly další hodnoty bez nutnosti rozšíření zadaných informací, ale podstatně uvolňuje operátora do rutinních rozhodnutí, čímž příznivě ovlivňuje jeho pracovní zatížení.

Pomocí automatické světelné signalizace je operátor informován o nutnosti připojení sondy, pokud v dalším testování je nezbytná, ^Λβηί-11 sonda v tomtp případě připojena, testování se zastaví a zablokuje se možnost jeho dalšího vybavení,pokud nedojde k připojení

200 334 sondy. V případě, že operátor již v průběhu spuštěného testu porušil kontakt sondy, je tato chyba indikována signalizována. 0 nutnosti stálého přidržování sondy na zvoleném uzlu informuje operátora světelný signál i sonda v akci.

Do testování je průběžně zařazena kontrola logických úrovní a kontroluje se doba trvání průchodu zakázanou oblastí, aniž by bylo nutno rozšiřovat množství do zkoušeČe uloženýoh informaoí.

Jedno z možných provedení je schematicky znázorněno na připojeném výkresu, který obsahuje blokové schéma zařízení podle vynálezu, to je část hlídacích obvodů sondy.

Zařízení podle vynálezu se skládá ze zkouěeěe logické funkce, zadávajícího z paměti zařízení elektrické stimuly na konektor zkoušené desky, kontrolující jejich souhlas se zadáním a souhlas elektrických výstupů na konektoru zkoušené desky a očekávanými hodnotami uloženými také v paměti zařízení a z logické sondy S, jejíž blokové schéma je znázorněno na výkresu, umožňující připojit alespoň jeden vnitřní uzel zkoušené desky, přičemž kontrolovaný uzel deeky je sondou S připojen jednak na logický indikátor, který není na výkresu vyznačen a jednak na úrovňový komparátor 010. přitom výetup 012 komparátoru 010 pro indikaci zakázané oblasti kontrolovaných signálů je připojen na vetup 021 prvního zpožďovacího obvodu 020 zpožďujícího kladná hrany logických signálů o předem nastavenou hodnotu a záporné hrany propouštějící bez zpoždění a na výstupu 022 prvního zpožďovacího obvodu 020 je jednek signál sonda nepřipojena a jednak je epojen a jednou vstupní svorkou 032 součinového obvodu 030. zatímco na druhou vstupní svorku 031 je signál sonda v akci, výstup¹ 033 prvního součinového obvodu 030.1 e spojen se vstupní svorkou 051 pamětového obvodu 050, zatímco jeho výetup 052 je připojen ke vstupní svorce 300 řídicí jednotky pro vyhodnocení chyby.

Druhá vstupní svorka 031 prvního součinového obvodu 030 je propojena s výstupní svorkou 044 druhého součinového bbvodu 040 se signálem sonda v akci, na jehož vstupech jsou aspoň dvě svorky, z nichž první svorka 042 má signál probíhá automatické testování nebo jeho programová příprava a druhá svorka má signál test se sondou.

Na vstup 071 třetího součinového obvodu 070 je přiveden signál US s významem test se sondou a na dalším vstupu 072 je signál kontakt sondy nedosažen nebo neustálen z výetupu 092 druhého zpožďovacího obvodu 090 a na vstupu 073 třetího součinového obvodu 070 je signál následuje zadání stimulu a výstup 074 třetího součinového obvodu 070 nese signál zákaz zadání stimulů následujícího kroku testu (Z SK).

Výetup 022 prvního zpožďovacího obvodu 020 se signálem sondě nepřipojena je spojen se vetupem 091 druhého zpožďovacího obvodu 090 přenášejícího kladné hrany impulsů bez zpoždění, a záporná hrany impulsů s nastavitelným zpožděním řádu sekund, na jehož výetupu 092 je signál kontakt sondy nedosažen nebo neustálen.

Výstup 074 třetího součinového obvodu 070 se signálem zákaz spuštění je napojen na optioký indikátor 170 s významem signálu operátorovi připoj sondu.

Výstup 052 pamětového obvodu 050 je epojen s optickým indikátorem s významem chyba připojení sondy S nebo úrovně napětí sondy S kontrolovaného bodu?

Na výstupní svorku 044 druhého součinového obvodu 040 je připojen optický indikátor 120 s významem signálu operátorovi přidržuj sondu.

200 334

První zpožďovací obvod 020 má mimo vstup 021 impulsového signálu delší logický vstup 023 pro potlačení přenosu ze vstupu 021 na výstup 022«

Výstupy 013« 014 komparátoru 010 jsou vedeny na vstupy 151, 141 pátého a čtvrtého součinového obvodu 150. 140. jejichž výstupy 153. 143 jsou spojeny s optickými indikátory stavu napětí hrotu sondy S logická nula 190 a 'logická jednička 180, přičemž na druhé vstupy 142,152 je připojen výstup 132 invertoru 130, jehož vstup 131 je spojen s výstupem 044 druhého součinového obvodu 040.

Na vstupu 073 je signál ST s významem následuje zadání stimulů. N_a vstupu 023 je signál BFI s významem blokování funkoe indikátoru připojení sondy. , *stup 011 komparátoru ^v10 Je připojen na dělič 183. který je epojen kabelem e hrotem sondy S.

Na vstupech 071.a 041 je připojen signál US s významem Test ae sondou.

Na vstupu 042 je signál AT s významem probíhá automatické testování nebo jeho programová přípieva.

Na vstupu 053 je signál NUL s významem nulování paměti chyby připojení.

Na výstupu 052 je signál CH-PŘ s významem chyba připojení sondy nebo sondou zjištěné úrovně napětí kontrolovaného bodu.

Na výstupu 074 je logický signál ZSK s významem zákaz zadání stimulů následujícího kroku testu.

Na výatupu 044 Je signál SVA s významem sonda v akci.

Na výstup 143 je připojen optický indikátor 180 úrovně napětí sondy S: U > 2,4 V.

Na výstup 153 je připojen optický indikátor 190 úrovně napětí sondy S: U_g 0,4 V.

Na výstupu 074 je připojen optický indikátor 170 s informací operátorovi připoj sondu

Na výstup 052 je připojen optický indikátor 060 s informací operátorovi CH-PŘ.

Na výstup 044 je připojen optický indikátor 120 s informací operátorovi SVA.

Základní myšlenka vynálezu spočívá ve využití komparátoru OlOaondy S signalizace log I a log 0. ^de-li sonda S odpojena, její hrot je odporovým děličem 163 uměle zaváděn do zakázané oblasti, čímž dojde ke zhasnutí signálu log 0 a log I. Logickým zpracováním signálů log I a log 0 lze snadno odvodit signál o zakázané oblasti. Užitím děliče 183 je před spuštěním automatického testování tento signál totožný se stavem sonda nepřipojena.

Při automatickém testování se sondou S přechází úroveň napětí sondy S neustále z log 0 do log I a zpět, přičemž nutně probíhá zakázaná oblast. Tyto přechody by byly indikovány jako poruchové signály o nepřipojení sondy ji. Z tohoto důvodu je použitý signál sonda nepřipojena odvozen ze signálu o zakázané oblasti vyloučením impulsů s dobou trvání kratší, než přípustná doba přechodu kontrolovaných signálů z jedné logické úrovně do druhé. To je uskutečněno prvním zpožďovacím obvodem 020, který zpožduje kladnou hranu impulsu signálu o zakázané oblasti, kdežto zápornou hranu přenáší bez zpoždění.

Takto zpracovaný signál se přivádí na druhý zpožďovací obvod 090. který kladnou hranu signálu sonda nepřipojena přenáší bez zpoždění, kdežto zápornou zpožduje o dobu delší, než je pravděpodobná doba ustálení kontaktu sondy S, zprostředkovaného ruční manipulací se sondou S. Výstupní signál z posledního zpožďovacího obvodu má význam kontakt sondy není

200 334 dosažen nebo ustálen”· Po logickém zpracování je tohoto signálu použito pro odvození signálu ZSK zákaz zadání stimulů následujícího kroku a je použit také pro světelný signál ze signálního zařízení 17° operátorovi: připoj sondu.

Signály na výstupu 022 prvého zpoždovacího obvodu 020 lze považovat za

a) nepřípustně dlouhou přechodovou dobu napětí sondy S z jedné logloké úrovně do druhé,

b) chybu elektrické úrovně,

o) odpadnutí sondy S během testování.

Tyto chyby jsou zaznamenávána paměťovým obvodem 050, avěak jenom v době, kdy sonda 8 má být připojena. Tato doba je vyznačena signálem sonda v akci, přivedeného společně se signálem sonda nepřipojena na vstup 032 prvního součinového obvodu 030. jehož výstup 033 je přiveden na vstup 051 pamětového obvodu 050.

Doba, po kterou musí být sonda připojena při provádění testu v každém kroku, začíná zadáním stimulů a končí přečtením odezev zkoušené desky. Délka tohoto intervalu je progra—9 movatelná a může být například 100 x 10 s. Proto je signál operátorovi SVA sonda v akci odvozen od počátku čtení testovacího elova z paměti zařízení a příprevy testovacího kroku ve zkoušeči a trvá i po dobu testování, jejíž nejdelší programovatelné trvání je 2 s. Tímto uspořádáním Je dosaženo, že signál STA svítí vždy dostatečně dlouho s neproměnným jasem a nedochází k jeho zbytečnému přerušování.

Aby se neuplatňovaly možné chyby připojení sondy, vzniklé v době přípravy testovacího kroku, je pamětový obvod 050. určený pro záznam chyby připojení při ukončeném zadání každého kroku vždy znovu vynulován signálem NUL, přivedeným na jeho vstupní svorku 053.

Je-li předem známo, že při přípravě testu dojde k přesunu napětí hrotu sondy S do zakázané oblasti na dobu T tak, aby mohl vzniknout na výstupu 092 zpožďovacího obvodu 090 signál kontakt sondy nedosažen nebo neustálen, je možno dobu T vykrýt na programu závislým inhibičnfm signálem BF1 blokování funkce Indikátoru připojení sondy, přivedeným na vstup 023 prvního zpožďovacího obvodu 020. ^rokud by se tak nestalo, došlo by ke zbytečnému přerušení testování na dobu nastaveného zpoždění druhého zpoždovacího obvodu 090. které činí aai 1 až 2 sekundy a tím ke zbytečným časovým ztrátám.

Signály o elektrické úrovni napětí hrotu sondy optických indikátorů 180 a 190 jsou v době automatického testování s použitím sondy potlačeny, aby nerušily obsluhu. Něje se tak pomooí signálu SVA, invertorů 130 a součinových obvodů 140 a 150.

Claims (6)

1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU

   1. Zařízeni pro lokalizaci a kontrolu poruch desek počítačů, skládající se ze zkoušeče logické funkce, zadávajíoího z paměti zařízení elektrické stimuly na konektor zkoušené

   I desky, kontrolující jejich souhlas se zadáním a souhlas elektrických výstupů ne konektoru zkoušené desky s očekávanými hodnotami uloženými v paměti zařízení a z logické sondy umožňující připojit alespoň jeden vnitřní uzel zkoušené desky a z úrovňového komperátoru, vyznačující se tím, že výstup (012) komparátoru (010) pro indikaci zakázané oblasti kontrolovaných signálů je připojen na vstup (021) prvního zpožďovacího obvodu (020) pro zpoždění kladné hrany, Jehož výstup (022) je spojen s jednou vstupní svorkou (032)

   200 334 prvního součinového obvodu (030), výstup (033) prvního součinového obvodu (030) je spojen se vstupní svorkou (051) paměťového obvodu (050),jehož výetup (052) je připojen ke vstupní svorce (300) řídicí jednotky pro vyhodnocení chyby, druhá vstupní svorka (041) druhého součinového obvodu (040) je spojena se vstupem (071) třetího součinového obvodu (070), výstup (022) prvního zpožďovacího obvodu (020) je spojen se vstupem (091) druhého zpožďovacího obvodu (090) pro zpoždění záporné hrany e první zpožďovací obvod (020) mé mimo vstup (021) impulsového signálu další logický inhibiční vstup (023).
2. 2. Zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruch desek podle bodu 1, vyznačující se tím, že druhá vstupní svorka (031) prvního součinového obvodu (030) je propojena s výstupní svorkou (044) druhého součinového obvodu (040), na jehož vstupech jsou aspoň dvě svorky.
3. 3. Zařízení'pro kontrolu a lokalizaci poruch desek podle bodů 1 a 2, vyznačující se tím, že výstup (074) třetího součinového obvodu (070) je napojen na první optický indikátor (170).
4. 4. Zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruch desek podle bodů 1 až 3, vyznačující se tím, že výstup (052) paměťového obvodu (050) je spojen s druhým optickým indikátorem (060)
5. 5. Zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruch desek podle bodů 1 až 4, vyznačující se tím, * že ns výstupní svorku (044) druhého součinového obvodu (040) je připojen třetí optický indikátor (120).
6. 6. Zařízení pro kontrolu a lokalizaci poruch desek podle bodů 1 až 5, vyznačující se tím, že výstupy (013, 014) komparátoru (010) jsou připojeny na vstupy (141, 151) čtvrtého a pátého součinového obvodu (140, 150), jejichž výstupy (143, 153) jsou spojeny s dalšími optickými indikátory stavu napětí hrotu sondy (S) logická nula (190) a logická jednička (180), přičemž na druhé vstupy (142, 152) je připojen výstup (132) invertoru (130), jehož vstup (131) je spojen s výstupem (044) druhého součinového obvodu (040).