CN113447791B - 资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备，方法包括：在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。本发明实施例在常规检测方法前，针对资源共享方案提出对应的控制检测方案，并通过接入测试系统，实现对测试负载板的快速、有效、全面的检测，解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题，是一个快速、全面、有效、可靠的检测方法。

Description

资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体涉及一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备。

背景技术

在半导体测试过程中，自动测试设备是一种测试仪器的集合体，对集成电路芯片的测试是由测试系统与探针台经过精密对接共同完成。而测试负载板是一种连接被测器件和测试设备测试口的接口电路，一般为一端固定在测试设备的测试头上，与测试所需的测试系统内部资源连接，在量产中另一端通过Tower与探卡连接来进行测试。而无论是测试系统内部还是负载板上都会采用大量的开关电路，这些开关电路都是用继电器完成的，其中在测试系统中光耦继电器以其稳定性好，体型小的优点，经常被厂商进行采用。因此在本次申请中资源共享结构测试负载板设计是通过输出信号控制光耦继电器，实现资源共享线路的通断。因为在测试过程中，当负载板上的继电器出现短路，或者断路时，就会对程序测试造成严重的影响。对于一块新到的资源共享负载板，采用传统的万用表测量继电器的方法不仅难以判断，而且速度慢，对地址上的出现的问题无法快速有效确认，当涉及到地址与继电器之间出现测试问题时需要大量时间进行排除，且容易导致漏筛，尤其是在量产测试中会导致严重事故。因此在前期如何快速有效的对负载板进行确认，以实现其安全有效的量产是本技术领域人员需要解决的重要问题之一。

发明内容

由于现有方法存在上述问题，本发明实施例提出一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备。

具体地，本发明实施例提供了以下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供了一种资源共享结构测试负载板的检测方法，包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试，具体包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，具体包括：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。

进一步地，所述通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题，具体包括：

对I2C控制Class进行闭合操作，对管脚进行加压测流验证，调整测试范围确定是否能够全部Pass：

若全部Pass，则通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测；

若出现Fail，则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测。

第二方面，本发明实施例提供了一种资源共享结构测试负载板的检测装置，包括：

检测模块，用于在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述检测模块，具体用于：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述检测模块，具体用于：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。

进一步地，所述检测模块，具体用于：

对I2C控制Class进行闭合操作，对管脚进行加压测流验证，调整测试范围确定是否能够全部Pass：

若全部Pass，则通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测；

若出现Fail，则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测。

第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的资源共享结构测试负载板的检测方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的资源共享结构测试负载板的检测方法。

由上述技术方案可知，本发明实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法、装置、电子设备及存储介质，在常规检测方法前，针对资源共享方案提出对应的控制方式，并通过接入测试系统，实现对测试负载板的快速有效全面的检测，该方法解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题，是一个快速，全面，有效、可靠的检测方法。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法的流程图；

图2是本发明一实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法的处理过程示意图；

图3是本发明一实施例提供的资源share方案原理图；

图4是本发明一实施例提供的地址对应控制字示意图；

图5是本发明一实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测装置的结构示意图；

图6是本发明一实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。

图1示出了本发明一实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法的流程图，如图1所示，本发明实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法，具体包括如下内容：

步骤：在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

在本实施例中，针对资源共享结构测试负载板中地址控制及光耦继电器的问题，提供了一种快速有效的检测方法，本实施例通过将测试负载板接入测试系统进行单扎确认的方式进行负载板检测，具体流程如下：将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；针对于I2C控制地址项进行验证；对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认；排除资源共享中可能存在的问题；确认问题后进行常规方法验证，若测试负载板无误则进行Correlation确认。

由此可见，在本实施例中，同类I2C芯片的地址控制方法，检测过程中首先对特定地址项进行确认，然后排除地址及控制电路问题，最后进行芯片常规检测；I2C控制时，针对share的地址，通过变量实现不同资源的控制；针对检测时通过不同地址进行确认具体问题，及通过接入测试系统，通过OS进行资源共享结构测试负载板的检测。

在本实施例中，需要说明的是，常规检测指的是利用万用表或其他装置进行继电器测量的常规问题定位方法，常规测试是指对本测试系统进行常规CP测试验证。

由上述技术方案可知，本发明实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法，在常规检测方法前，针对资源共享方案提出对应的控制方式，并通过接入测试系统，实现对测试负载板的快速有效全面的检测，该方法解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题，是一个快速，全面，有效、可靠的检测方法。

基于上述实施例的内容，在本实施例中，所述在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试，具体包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

在本实施例中，通过将测试负载板接入测试系统进行单扎确认的方式进行负载板检测。本实施例实现了对测试负载板的快速有效全面的检测，解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题。

基于上述实施例的内容，在本实施例中，所述针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，具体包括：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。

在本实施例中，在常规检测方法前，通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题，实现对测试负载板的快速有效全面的检测，该方法解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题，是一个快速，全面，有效、可靠的检测方法。

基于上述实施例的内容，在本实施例中，所述通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题，具体包括：

对I2C控制Class进行闭合操作，对管脚进行加压测流验证，调整测试范围确定是否能够全部Pass：

若全部Pass，则通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测；

若出现Fail，则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测。

在本实施例中，同类I2C芯片的地址控制方法，检测过程中首先对特定地址项进行确认，然后排除地址及控制电路问题，最后进行芯片常规检测；在进行I2C控制时，针对share的地址，通过变量实现不同资源的控制；针对检测时通过不同地址进行确认具体问题，及通过接入测试系统，通过OS进行资源共享结构测试负载板的检测。本实施例实现对测试负载板的快速有效全面的检测，解决了由于资源共享结构测试负载板结构复杂，存在大量继电器导致的常规检测方法测试困难的问题，是一个快速，全面，有效、可靠的检测方法。

下面结合图2-图4对本实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法进行详细解释说明。

在本实施例中，以针对TST和VDD15的资源share为例，I2C检测需要考虑其芯片地址稳定性，继电器稳定性，连接稳定性等，优化后的共享问题解决方案如下：

如图3所示，测试机通过输出地址来启动对应的MAX7311芯片，然后输送要写入的数据来进行该芯片12个管脚的资源控制，当测试DIE的多个管脚存在资源share时，一个MAX7311芯片上就会存在控制多个DIE的管脚，如图4所示，因此，针对当存在TST和VDD15资源时，要实现TST资源与VDD15资源的区分，控制TST资源之前，需要先对该地址的7311芯片上12位编码进行读取确认，将VDD15的4位编码取出放入变量中，之后将TST要控制的8位编码和VDD15的4位编码整合为12位编码然后进行输入，同样VDD15的单独控制也需要同样处理。且由于对SITEC1和SITEC2地址进行一路地址的控制，因此设定2套控制相关的变量来保存进行I2C地址控制，针对以上方案对I2C控制Class进行编写。资源共享通过继电器控制进行分组测试就可以实现单通道电路的检测，因此可以通过对单SITE检测实现对资源共享通道板的确认。

为了检测测试负载板的性能，本实施例中的验证过程如下，测试流程具体见图2：

S1、为了确认SITEC1和SITEC2地址是否都存在，我们针对所有的I2C地址通过I2C控制Class进行检测，若测试Fail需要对每个地址进行确认，以判定问题所在。

S2、对I2C控制Class进行闭合操作，对该管脚进行加压测流验证，适当调整测试范围确定是否能够全Pass，若Pass进行如下步骤3；若出现Fail则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则进行S7。

S3、若能够全Pass，通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题则跳转到S7进行具体检测。

S4、针对于TST及VDD15存在同一地址资源上控制字的共享方案，为了排除TST与VDD15之间控制字间的干扰，互换TST及VDD15的I2C控制Class的位置，进行OS测试。

S5、为了排除TST与VDD15在不同SITEC之间地址的影响，需要对SITEC1对share的地址部分写入编码，对SITEC2写入不同的编码，然后对相应测试DIE进行单扎确认。

S6、最后I2C确认没有问题后需要对本片进行常规Correlation确认，确认测试的准确性。

S7、若测试Fail，为了判定负载板与测试机的连接问题首先对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认，若没有问题则进行下一步。

S8、TDR测试结果正常后，对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证不同Pin的连接状况，针对不同地址进行检测，若地址存在问题则可能为7311芯片存在问题，若地址的控制字所对应的电路出现问题，则可能是光耦继电器出现问题。

S9、后续具体问题就需要通过将测试负载板取出进行常规万用表等装置进行问题定位。

需要说明的是，资源share存在多个资源的控制方式，如同时存在VCC，TST，VDD15，多一项则控制方式就需要多一层控制参数，检测时在控制方面也需要对地址进行更复杂的确认，以此类推。

图5示出了本发明实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测装置的结构示意图。如图5所示，本发明实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测装置包括：检测模块21，其中：

检测模块21，用于在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述检测模块21，具体用于：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

进一步地，所述检测模块21，具体用于：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。

进一步地，所述检测模块21，具体用于：

对I2C控制Class进行闭合操作，对管脚进行加压测流验证，调整测试范围确定是否能够全部Pass：

若全部Pass，则通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测；

若出现Fail，则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测。

由于本实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测装置，可以用于执行上述实施例提供的资源共享结构测试负载板的检测方法，其工作原理类似，此处不再详述。

基于相同的发明构思，本发明基于实施例提供了一种电子设备，参见图6，所述电子设备具体包括如下内容：处理器301、存储器302、通信接口303和通信总线304；

其中，所述处理器301、存储器302、通信接口303通过所述通信总线304完成相互间的通信；所述通信接口303用于实现各设备之间的信息传输；

所述处理器301用于调用所述存储器302中的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述资源共享结构测试负载板的检测方法的全部步骤，例如，所述处理器执行所述计算机程序时实现下述步骤：在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

基于相同的发明构思，本发明实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述资源共享结构测试负载板的检测方法的全部步骤，例如，所述处理器执行所述计算机程序时实现下述步骤：在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

此外，上述的存储器中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本发明实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的资源共享结构测试负载板的检测方法。

此外，在本发明中，诸如“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

此外，在本发明中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

此外，在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种资源共享结构测试负载板的检测方法，其特征在于，包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试；

其中，所述针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，包括：

对I2C控制Class进行闭合操作，对管脚进行加压测流验证，调整测试范围确定是否能够全部Pass：

若全部Pass，则通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测；

若出现Fail，则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测。

2.根据权利要求1所述的资源共享结构测试负载板的检测方法，其特征在于，所述在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试，具体包括：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

3.根据权利要求2所述的资源共享结构测试负载板的检测方法，其特征在于，所述针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，具体包括：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。

4.一种资源共享结构测试负载板的检测装置，其特征在于，包括：

检测模块，用于在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构测试负载板的资源共享方案，针对于地址控制进行检测，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，并在确认资源共享中不存在问题后，将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试；

其中，所述针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题，包括：对I2C控制Class进行闭合操作，对管脚进行加压测流验证，调整测试范围确定是否能够全部Pass：

若全部Pass，则通过分组Class实现对芯片的每个DUT的单独测试，以便排除I2C地址和操作编码的误写，及实现对资源共享结构测试负载板的确认，若存在问题，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测；

若出现Fail，则进行单扎及移位验证，确认是否为测试DIE问题，排除后若问题还存在，则对所有编码进行OPEN操作，对相应的资源进行TDR确认；若TDR测试结果正常，则对I2C控制Class进行相应的闭合后进行单扎验证，针对不同地址进行检测。

5.根据权利要求4所述的资源共享结构测试负载板的检测装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于：

在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，将探卡板和wafer上好后进行单扎，对继电器闭合后进行DC测试；

针对于I2C控制地址项进行验证，对资源共享所对应地址的DUT进行单扎确认，排除资源共享中存在的问题；

确认问题后进行常规方法验证，确认没有问题后将待测试的资源共享结构测试负载板从所述测试系统中取出，并进行常规测试。

6.根据权利要求5所述的资源共享结构测试负载板的检测装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于：

通过I2C确认地址项是否存在问题，并进行OS测试验证，若验证失败，则在OPEN状态下进行TDR确认，以确认是否为机台原因，并在Close状态下对不同地址下芯片进行确认，单扎确认问题电路进行常规检测；若验证通过，则对每个DUT单独进行测试，排除I2C控制上的问题。

7.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至3任一所述的资源共享结构测试负载板的检测方法。

8.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一所述的资源共享结构测试负载板的检测方法。

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