CN110687373A - 一种ate系统的检测结构及方法 - Google Patents

一种ate系统的检测结构及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110687373A
CN110687373A CN201910938915.XA CN201910938915A CN110687373A CN 110687373 A CN110687373 A CN 110687373A CN 201910938915 A CN201910938915 A CN 201910938915A CN 110687373 A CN110687373 A CN 110687373A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
test channel
bus
channel
mth
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910938915.XA
Other languages
English (en)
Inventor
陶祥
袁栋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Yudu Semiconductor Technology Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Yudu Semiconductor Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Yudu Semiconductor Technology Co Ltd filed Critical Shanghai Yudu Semiconductor Technology Co Ltd
Priority to CN201910938915.XA priority Critical patent/CN110687373A/zh
Publication of CN110687373A publication Critical patent/CN110687373A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开的一种ATE系统的检测结构，包括测试资源板和负载板，其中，所述测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，所述负载板包括检测单元、总线和n个电阻值R相同的电阻，所述n个测试通道分别连接n个电阻的一端，且n个电阻的另一端通过所述总线连接至所述检测单元；在检测单元中施加电压Vbus，依次打开第1测试通道至第N测试通道，测量所述总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常。本发明提供的一种ATE系统的检测结构及方法，可以精确定位出现故障的测试通道位置，还可以快速判断出该测试通道出现故障的原因。

Description

一种ATE系统的检测结构及方法
技术领域
本发明涉及ATE系统检测，具体涉及一种ATE系统的检测结构及方法。
背景技术
在ATE(Automatic Test Equipment)系统中，测试资源板上有大量的OD(opendrain)门架构的测试通道资源用来检测或控制负载板上的被测单元。如附图1所示，ATE系统包括测试资源板和PB板/负载板，其中，测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，负载板包括被测单元，n个测试通道通过连接其和线缆连接至被测单元。
现实中由于器件本身的瑕疵或者生产和装配过程中引入的损坏，可能会导致某个或多个测试通道故障。因此，在测试产品正式出厂前需要专门进行测试通道的失效诊断，以确保产品的高质量和高可靠性。
然而，整个ATE测试系统中往往有成百上千个OD门测试通道，如果要单独检测每个通道的好坏，则需要大量的硬件检测管脚，设计成本较高。目前的检测结构及方法均存在无法精确定位故障通道位置、效率较低或者有一些故障盲区等缺陷。
发明内容
本发明的目的是提供一种ATE系统的检测结构及方法，可以精确定位出现故障的测试通道位置，还可以快速判断出该测试通道出现故障的原因。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种ATE系统的检测方法，包括如下步骤：
S01：关断所有测试通道，并在检测单元中施加电压Vbus，测得总线上的初始电流I0；
所述ATE系统包括测试资源板和负载板，其中，所述测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，所述负载板包括检测单元、总线和n个电阻值R相同的电阻，所述n个测试通道分别连接n个电阻的一端，且n个电阻的另一端通过所述总线连接至所述检测单元；n为大于1的正整数；
S02：依次打开第1测试通道至第n测试通道，测量所述总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常；直至完成n个测试通道的判断；
若Im-I0≠ΔI，判断第m测试通道异常，进入下一测试通道的检测判断；若Im-I0＝ΔI，进入步骤S03；其中，Im表示第m测试通道打开时，所述总线上的电流值；ΔI＝Vbus/R；
S03：打开与第m测试通道有短路可能的第a路测试通道，若Im+Ia-I0≠2ΔI，则判断第m测试通道异常，返回步骤S02；若Im+Ia-I0＝2ΔI，进入步骤S04；
S04：重复步骤S03，依次打开与第m测试通道有短路可能的b个测试通道，并判断第m测试通道是否异常，得出结论之后返回步骤S02；b为小于N大于等于0的正整数。
进一步地，所述测试通道中包括OD门，所述控制器通过控制信号控制n个OD门的打开或者关断。
进一步地，所述步骤S02中若0<<Im-I0<<ΔI，判断第m测试通道接触阻抗较大，出现故障。
进一步地，所述步骤S02中若Im-I0＝0，判断第m测试通道对地短路或者断路或者对应的控制信号失效。
进一步地，所述步骤S02中若Im-I0>>ΔI，判断第m测试通道与其他测试通道短路。
进一步地，所述OD门中的开关为N型MOSFET或者继电器或者NPN型三极管。
进一步地，所述检测单元可以是PE芯片、DSP芯片、ADC芯片中的一种。
一种ATE系统的检测结构，包括测试资源板和负载板，其中，所述测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，所述负载板包括检测单元、总线和n个电阻值R相同的电阻，所述n个测试通道分别连接n个电阻的一端，且n个电阻的另一端通过所述总线连接至所述检测单元；在检测单元中施加电压Vbus，依次打开第1测试通道至第N测试通道，测量所述总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常。
进一步地，所述检测通道和电阻之间通过连接器和线缆连接。
进一步地，所述测试通道中包括OD门，所述控制器通过控制信号控制n个OD门的打开或者关断。
本发明的有益效果为：本发明结构简单，硬件成本低，只需将测试通道与电阻相连，再将所有电阻通过总线连接至检测单元即可，节省了大量的管脚资源。本发明检测方法可以覆盖大部分故障，包括测试通道断路、对地短路、控制信号失效、通道之间短路、连接器压接导致的倒针等。本发明可以利用ATE系统中自带丰富的测量单元比如PE芯片、DPS芯片、ADC芯片等进行诊断信息的收集，不需要增加额外的测试器件。本发明测试方便软件管理，可以实现自动化测试。
附图说明
附图1为现有技术中ATE系统的检测结构示意图。
附图2为本发明中ATE系统的检测结构示意图。
附图3为本发明中检测方法流程图。
附图4为本发明中第m测试通道和第a测试通道短路示意图。
附图5为实施例1中ATE系统的检测结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本发明的具体实施方式做进一步的详细说明。
如附图2所述，本发明提供的一种ATE系统的检测结构，包括测试资源板和负载板，其中，测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，负载板包括检测单元、总线和n个电阻值R相同的电阻，n个测试通道分别连接n个电阻的一端，且n个电阻的另一端通过总线连接至检测单元；在检测单元中施加电压Vbus，依次打开第1测试通道至第n测试通道，测量总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常。
优选地，本发明中测试通道中包括OD门，控制器通过控制信号控制N个OD门的打开或者关断。OD门中的开关为N型MOSFET或者继电器或者NPN型三极管。其中，检测单元可以是PE芯片、DSP芯片、ADC芯片中的一种。检测通道和电阻之间通过连接器和线缆连接，如附图2所示。
基于上述检测结构，如附图3所示，本发明提供的一种ATE系统的检测方法，包括如下步骤：
S01：关断所有测试通道，并在检测单元中施加电压Vbus，测得总线上的初始电流I0；由于n个电阻的电阻值均相等，单个测试通道导通之后对应的电流变化ΔI＝Vbus/R；控制R和Vbus的大小使得ΔI既能满足测试通道所要求的通流能力，又能使信息收集芯片方便区分电流的变化。
S02：依次打开第1测试通道至第N测试通道，测量总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常；直至完成N个测试通道的判断。本发明中测试通道中含有对应的开关，控制器通过控制信号控制开关的断开或闭合，实现对测试通道关断和打开的控制。
若Im-I0≠ΔI，判断第m测试通道异常，返回步骤S02；其中，若0<<Im-I0<<ΔI，判断第m测试通道接触阻抗较大，出现故障。若Im-I0＝0，判断第m测试通道对地短路或者断或者对应的控制信号失效。若Im-I0>>ΔI，判断第m测试通道与其他测试通道短路。
若Im-I0＝ΔI，表明第m测试通道可能正常，但也有可能存在和相邻测试通道因为连接其压接导致短路的情况，此时需要进入步骤S03进行下一步判断；其中，Im表示第m测试通道打开时，总线上的电流值。
S03：如附图4所示，打开与第m测试通道有短路可能的第a路测试通道，若Im+Ia-I0≠2ΔI，则判断第m测试通道异常，第m测试通道和第a测试通道短路；返回步骤S02继续进行下一测试通道的判断；
若Im+Ia-I0＝2ΔI，判断测试通道m和测试通道a没有短路，继续进入步骤S04；
S04：重复步骤S03，依次打开与第m测试通道有短路可能的b个测试通道，并判断第m测试通道是否异常，得出结论之后返回步骤S02；b为小于N大于等于0的正整数。
以下通过实施例1对本发明进行进一步地解释说明：
实施例1
如附图5所示，测试通道的打开关断通过OD门控制，且OD门为NMOSFET管，其中，Q1到Qn代表开关，当控制器发出的控制信号为高时，对应的Qm导通，使得测试通道打开；当控制器发出的控制信号为低时，对应的Qm关断，测试通道输出高阻，使得测试通道关断。
在负载板上利用ATE系统中PE芯片加压测流功能测量总线电流Ibus的变化，即可判断该测试通道是否正常。假如PE对总线施加的电压为Vbus，电阻R1＝……＝Rn＝R。在正常情况下，单个通道导通之后对应的电流变化：ΔI＝Vbus/R控制R和Vbus的大小使得ΔI技能满足通道所要求的通流能力，又能使PE芯片方便区分电流的变化。
测试开始时，控制器产生的控制信号使所有的Q1到Qn关断，PE施加Vbus后会测量出初始电流I0并记录下。
然后控制器打开Q1，记录此时总线电流为I1，如果I1-I0＝ΔI，说明该控制信号可能正常，继续扫描，先关闭Q1再打开Q2，记录总线电流为I2，判断I2-I0；依次逐步扫描到Qn可判断所有通道的故障情况。
假如第m个测试通道打开后的总线电流Im：如果：0<<Im-I0<<ΔI，说明该测试通道接触阻抗较大，为故障；如果：Im-I0＝0说明电流基本无变化，则表示该测试通道对地强短路，或者断路，或者控制信号失效；如果：Im-I0>>ΔI说明该测试通道有和其他测试通道短路情况，也认为故障；如果：Im-I0＝ΔI说明该测试通道可能正常，但也有可能存在和相邻测试通道因为连接器压接导致短路的情况，假设第m测试通道和第a测试通道是存在倒针短路的可能组合，此时第m测试通道和第a测试通道单独检测均正常，需要同时打开第m测试通道和第a测试通道，观察此时的总线电流为Im+Ia，如果：Im+Ia-I0＝2ΔI则判定测试通道m和测试通道a均正常。否则为异常。
对于若干个测试通道，第m测试通道和第a测试通道为所有有可能短路的情况的其中一种组合，每一种组合都要进行一次上述诊断才能判断是否正常。
本发明结构简单，硬件成本低，只需将测试通道与电阻相连，再将所有电阻通过总线连接至检测单元即可，节省了大量的管脚资源。本发明检测方法可以覆盖大部分故障，包括测试通道断路、对地短路、控制信号失效、通道之间短路、连接器压接导致的倒针等。本发明可以利用ATE系统中自带丰富的测量单元比如PE芯片、DPS芯片、ADC芯片等进行诊断信息的收集，不需要增加额外的测试器件。本发明测试方便软件管理，可以实现自动化测试。
以上所述仅为本发明的优选实施例，所述实施例并非用于限制本发明的专利保护范围，因此凡是运用本发明的说明书及附图内容所作的等同结构变化，同理均应包含在本发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种ATE系统的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
S01：关断所有测试通道，并在检测单元中施加电压Vbus，测得总线上的初始电流I0；
所述ATE系统包括测试资源板和负载板，其中，所述测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，所述负载板包括检测单元、总线和n个电阻值R相同的电阻，所述n个测试通道分别连接n个电阻的一端，且n个电阻的另一端通过所述总线连接至所述检测单元；n为大于1的正整数；
S02：依次打开第1测试通道至第n测试通道，测量所述总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常；直至完成n个测试通道的判断；
若Im-I0≠ΔI，判断第m测试通道异常，进入下一测试通道的检测判断；若Im-I0＝ΔI，进入步骤S03；其中，Im表示第m测试通道打开时，所述总线上的电流值；ΔI＝Vbus/R；
S03：打开与第m测试通道有短路可能的第a路测试通道，若Im+Ia-I0≠2ΔI，则判断第m测试通道异常，返回步骤S02；若Im+Ia-I0＝2ΔI，进入步骤S04；
S04：重复步骤S03，依次打开与第m测试通道有短路可能的b个测试通道，并判断第m测试通道是否异常，得出结论之后返回步骤S02；b为小于N大于等于0的正整数。
2.根据权利要求1所述的一种ATE系统的检测方法，其特征在于，所述测试通道中包括OD门，所述控制器通过控制信号控制n个OD门的打开或者关断。
3.根据权利要求2所述的一种ATE系统的检测方法，其特征在于，所述步骤S02中若0<<Im-I0<<ΔI，判断第m测试通道接触阻抗较大，出现故障。
4.根据权利要求2所述的一种ATE系统的检测方法，其特征在于，所述步骤S02中若Im-I0＝0，判断第m测试通道对地短路或者断路或者对应的控制信号失效。
5.根据权利要求2所述的一种ATE系统的检测方法，其特征在于，所述步骤S02中若Im-I0>>ΔI，判断第m测试通道与其他测试通道短路。
6.根据权利要求1所述的一种ATE系统的检测方法，其特征在于，所述OD门中的开关为N型MOSFET或者继电器或者NPN型三极管。
7.根据权利要求1所述的一种ATE系统的检测方法，其特征在于，所述检测单元可以是PE芯片、DSP芯片、ADC芯片中的一种。
8.一种ATE系统的检测结构，其特征在于，包括测试资源板和负载板，其中，所述测试资源板包括控制器和连接控制器的n个测试通道，所述负载板包括检测单元、总线和n个电阻值R相同的电阻，所述n个测试通道分别连接n个电阻的一端，且n个电阻的另一端通过所述总线连接至所述检测单元；在检测单元中施加电压Vbus，依次打开第1测试通道至第N测试通道，测量所述总线上的电流Im，并根据Im判断第m测试通道是否正常。
9.根据权利要求8所述的一种ATE系统的检测结构，其特征在于，所述检测通道和电阻之间通过连接器和线缆连接。
10.根据权利要求8所述的一种ATE系统的检测结构，其特征在于，所述测试通道中包括OD门，所述控制器通过控制信号控制n个OD门的打开或者关断。
CN201910938915.XA 2019-09-30 2019-09-30 一种ate系统的检测结构及方法 Pending CN110687373A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910938915.XA CN110687373A (zh) 2019-09-30 2019-09-30 一种ate系统的检测结构及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910938915.XA CN110687373A (zh) 2019-09-30 2019-09-30 一种ate系统的检测结构及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110687373A true CN110687373A (zh) 2020-01-14

Family

ID=69111226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910938915.XA Pending CN110687373A (zh) 2019-09-30 2019-09-30 一种ate系统的检测结构及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110687373A (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111510516A (zh) * 2020-04-22 2020-08-07 上海御渡半导体科技有限公司 一种测试机分布式系统网络框架及通信方法
WO2021184740A1 (zh) * 2020-03-19 2021-09-23 上海御渡半导体科技有限公司 一种测试系统中供电通道的电流校准装置及校正方法
CN113447791A (zh) * 2020-03-25 2021-09-28 北京确安科技股份有限公司 资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备
CN113504395A (zh) * 2021-08-05 2021-10-15 上海御渡半导体科技有限公司 一种用于检测ate通道连通性的方法
CN113687219A (zh) * 2021-09-15 2021-11-23 上海华岭集成电路技术股份有限公司 测试板的在线检测方法
CN114264996A (zh) * 2021-11-30 2022-04-01 上海御渡半导体科技有限公司 一种ate设备dc校准有效性的检测方法
CN116298802A (zh) * 2023-03-22 2023-06-23 镇江矽佳测试技术有限公司 一种用于测试板质量检测系统及检测方法

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2054538U (zh) * 1989-06-10 1990-03-14 吉林热电厂 快速查线器
CN101697003A (zh) * 2009-11-06 2010-04-21 烽火通信科技股份有限公司 一种短路检测方法和短路检测装置
CN101750597A (zh) * 2008-12-12 2010-06-23 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 用于自动测试设备的有效性校准方法
CN102221656A (zh) * 2010-04-19 2011-10-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 短路测试装置
CN103066575A (zh) * 2012-12-24 2013-04-24 上海电力学院 快速查找故障的控制方法
CN103777111A (zh) * 2014-01-24 2014-05-07 惠州三星电子有限公司 工程自动化短路和/或开路测试方法
CN205353256U (zh) * 2016-01-08 2016-06-29 东莞立德电子有限公司 一种带短路测试功能的ate测试柜
CN106066446A (zh) * 2016-06-29 2016-11-02 南京国电南自美卓控制系统有限公司 一种多通道模拟量输入回路断线检测电路及方法
CN108919037A (zh) * 2018-10-11 2018-11-30 苏州恒境环保科技有限公司 通用型多通道pcba短路检测设备及其检测方法
CN109031088A (zh) * 2018-06-11 2018-12-18 成都京蓉伟业电子有限公司 一种电路板多路电流测试方法及其系统
CN109564261A (zh) * 2016-08-26 2019-04-02 泰拉丁公司 结合由自动测试设备的通道所流出的电流
CN109765453A (zh) * 2019-03-29 2019-05-17 广东电网有限责任公司 一种保护二次回路接线自动检测仪
CN110118891A (zh) * 2019-05-31 2019-08-13 四川英杰电气股份有限公司 电流检测方法、设备终端和可读存储介质

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2054538U (zh) * 1989-06-10 1990-03-14 吉林热电厂 快速查线器
CN101750597A (zh) * 2008-12-12 2010-06-23 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 用于自动测试设备的有效性校准方法
CN101697003A (zh) * 2009-11-06 2010-04-21 烽火通信科技股份有限公司 一种短路检测方法和短路检测装置
CN102221656A (zh) * 2010-04-19 2011-10-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 短路测试装置
CN103066575A (zh) * 2012-12-24 2013-04-24 上海电力学院 快速查找故障的控制方法
CN103777111A (zh) * 2014-01-24 2014-05-07 惠州三星电子有限公司 工程自动化短路和/或开路测试方法
CN205353256U (zh) * 2016-01-08 2016-06-29 东莞立德电子有限公司 一种带短路测试功能的ate测试柜
CN106066446A (zh) * 2016-06-29 2016-11-02 南京国电南自美卓控制系统有限公司 一种多通道模拟量输入回路断线检测电路及方法
CN109564261A (zh) * 2016-08-26 2019-04-02 泰拉丁公司 结合由自动测试设备的通道所流出的电流
CN109031088A (zh) * 2018-06-11 2018-12-18 成都京蓉伟业电子有限公司 一种电路板多路电流测试方法及其系统
CN108919037A (zh) * 2018-10-11 2018-11-30 苏州恒境环保科技有限公司 通用型多通道pcba短路检测设备及其检测方法
CN109765453A (zh) * 2019-03-29 2019-05-17 广东电网有限责任公司 一种保护二次回路接线自动检测仪
CN110118891A (zh) * 2019-05-31 2019-08-13 四川英杰电气股份有限公司 电流检测方法、设备终端和可读存储介质

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王展: "元器件开短路测试应用", 《电子质量》 *
许霁等: "一种通用数字IC ATE的自检功能设计", 《四川省电子学会半导体与集成技术专委2009年度学术年会论文集》 *
陈亦富等: "一种快速开短路测试算法", 《电子测量技术》 *

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021184740A1 (zh) * 2020-03-19 2021-09-23 上海御渡半导体科技有限公司 一种测试系统中供电通道的电流校准装置及校正方法
CN113447791A (zh) * 2020-03-25 2021-09-28 北京确安科技股份有限公司 资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备
CN111510516A (zh) * 2020-04-22 2020-08-07 上海御渡半导体科技有限公司 一种测试机分布式系统网络框架及通信方法
CN113504395A (zh) * 2021-08-05 2021-10-15 上海御渡半导体科技有限公司 一种用于检测ate通道连通性的方法
CN113687219A (zh) * 2021-09-15 2021-11-23 上海华岭集成电路技术股份有限公司 测试板的在线检测方法
CN114264996A (zh) * 2021-11-30 2022-04-01 上海御渡半导体科技有限公司 一种ate设备dc校准有效性的检测方法
CN114264996B (zh) * 2021-11-30 2024-05-03 上海御渡半导体科技有限公司 一种ate设备dc校准有效性的检测方法
CN116298802A (zh) * 2023-03-22 2023-06-23 镇江矽佳测试技术有限公司 一种用于测试板质量检测系统及检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110687373A (zh) 一种ate系统的检测结构及方法
US9759760B2 (en) Method and device for testing solenoid valves
US7928744B2 (en) Monitoring circuit having a self test function
US7890822B2 (en) Tester input/output sharing
KR19990082339A (ko) 집적된 회로 장치 시험용 어셈블리 및 방법
US8836338B2 (en) Switching circuits and methods of testing thereof
CN106772012A (zh) 一种继电器故障诊断电路及方法
CN102565619A (zh) 小电流接地故障选线装置状态诊断方法
US20180080979A1 (en) Testing system and method
CN101126783A (zh) 汽车电信号的测试方法与装置
EP1849018A2 (en) Pin electronics with high voltage functionality
CN101145805B (zh) 一种带上拉电阻输入信号线的测试装置和方法
CN102175899B (zh) 一种卫星接口自动测试安全控制方法
CN107271854B (zh) 一种双冗余等电位电缆网混线测试装置及测试方法
CN108254671B (zh) 基于内插器的测试程序评估
JP4597278B2 (ja) 電気回路装置及び検査方法
KR100310971B1 (ko) 와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하기 위한 시스템
CN109163648A (zh) 位移测量故障检测方法及装置
CN112904256B (zh) 一种自动测试机的线路自检方法
CN102128991A (zh) 一种老化测试装置及测试方法
CN201163290Y (zh) 汽车电信号测试装置
US9880195B2 (en) Test systems and methods of testing devices
KR0143536B1 (ko) 전력선 반송 보호 계전 시스템에서의 고장 진단방법 및 장치
KR100672082B1 (ko) 이종 코아를 가진 시스템 온 칩에서의 연결선 지연 고장점검 테스트 제어기 및 이를 구비한 시스템 온 칩
US20020050835A1 (en) Method and apparatus for the simultaneous electrical testing of multiple semiconductor devices

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20200114