CN220323448U - 电子元件检测治具 - Google Patents
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Abstract
一种电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测。各所述电子元件包括元件主体及接脚部件。所述电子元件检测治具包含基座及探针组件。所述基座的顶面向下凹陷形成多个在纵向上排列且彼此连通的插槽。所述插槽的开口大小相异且分别对应尺寸不同的所述电子元件。所述探针组件穿设于所述基座且显露于所述插槽。其中，所述插槽的任一者能够供对应的所述电子元件的元件主体设置，使得所述探针组件能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。通过所述插槽的开口大小相异，能够让所述电子元件检测治具运用于尺寸不同的所述电子元件的任一者的插设，以便于进行电性检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电子元件检测治具，特别是涉及一种运用于电容寿命测试机的电子元件检测治具。
背景技术
现有的电容寿命测试机会透过夹具将电容元件与检测装置电连接，以获取电容元件的运行数据。一般的夹具包括用于容置电容元件的容置空间，以及多个分别设置于所述容置空间的两相反侧的内壁的弹片。当电容元件被放置于所述容置空间，电容元件必须按压住弹片使弹片被推移至与检测装置碰触，才能让电容元件与检测装置导通。然而，一般的夹具的容置空间的尺寸是固定的，因此，一般的夹具通常只能运用于特定规格型号的电容元件，在使用上局限性较大。此外，在进行电容寿命测试时，电容元件会产生高温造成弹片损坏。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种便于使用且耐用的电子元件检测治具。
本实用新型电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测。各所述电子元件包括元件主体及接脚部件。所述电子元件检测治具包含基座及探针组件。
所述基座的顶面向下凹陷形成多个在纵向上排列且彼此连通的插槽。所述插槽的开口大小相异且分别对应尺寸不同的所述电子元件。
所述探针组件穿设于所述基座且显露于所述插槽。
其中，所述插槽的任一者能够供对应的所述电子元件的元件主体设置，使得所述探针组件能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。
本实用新型所述的电子元件检测治具，所述电子元件检测治具还包含底座及至少一个弹性件。所述底座间隔地设置于所述基座的下方。所述弹性件的两端分别设置于所述底座与所述基座。所述探针组件的一端穿设于所述底座。所述探针组件的另一端能够位移地穿设于所述基座且显露于所述插槽。其中，所述弹性件能够被压缩，使所述基座朝靠近所述底座的方向移动，进而让所述探针组件突出于所述插槽的长度增加而能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。
本实用新型所述的电子元件检测治具，还包含立壁及顶盖。所述立壁自所述基座向上延伸。所述顶盖枢接于所述立壁的顶部，并能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。
本实用新型所述的电子元件检测治具，所述顶盖包括枢接于所述立壁的顶部且与所述电子元件间隔的盖体，及连接于所述盖体的底面的隔热件。所述隔热件能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。
本实用新型所述的电子元件检测治具，各所述接脚部件具有两个接脚。所述探针组件包括至少两个探针。所述探针彼此间隔且竖立地穿设于所述基座。所述探针显露于所述插槽，并分别能够与相应的所述电子元件的接脚电连接。
本实用新型的有益效果在于：通过所述插槽的开口大小相异，能够让所述电子元件检测治具运用于尺寸不同的所述电子元件的任一者的插设，以便于进行电性检测。此外，通过所述隔热件设置于所述盖体与所述电子元件之间，能够让所述电子元件所产生的热能被所述隔热件阻隔，避免所述电子元件检测治具受热损坏，以达到耐用的效果。另外，通过所述弹性件让所述基座能够相对于所述探针组件移动，能够让所述探针组件突出于所述插槽的长度改变，进而运用于长度不同的所述接脚部件，通用性佳。
附图说明
图1是示意图，说明本实用新型电子元件检测治具的实施例运用于电子元件的实施方式；
图2是示意图，说明所述实施例与所述电子元件在不同于图1的使用状态下的实施方式；
图3是示意图，说明所述实施例与所述电子元件在不同于图1与图2的使用状态下的实施方式。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本实用新型进行详细说明。
参阅图1与图2，为本实用新型电子元件检测治具的一实施例。首先定义此处说明内容的方向用语。于图1中，位于所述电子元件检测治具左方的定义为「左侧」，位于所述电子元件检测治具右方的定义为「右侧」，位于所述电子元件检测治具下方的定义为「底侧」，位于所述电子元件检测治具上方的定义为「顶侧」。
所述电子元件检测治具适用于装设于图中未示出的电性检测设备，并能够运用于多个尺寸不同的电子元件9的任一者进行电性检测。尺寸不同的所述电子元件9例如可以是电容、电感、晶体管、电阻等电子元件，但不以此为限。各所述电子元件9包括一元件主体91，及一连接于所述元件主体91的接脚部件92。举例来说，尺寸不同的所述电子元件9为尺寸不同的电容元件。各所述电子元件9的元件主体91具有一主体部911及一设置于所述主体部911下方的绝缘部912。各所述绝缘部912在横向上的宽度大于相应的所述主体部911在横向上的宽度，而能撑抵于所述电子元件检测治具以进行电性检测。且各所述接脚部件92自相应的所述主体部911向下延伸，并自相应的所述绝缘部912穿出而显露于相应的所述元件主体91的外侧。且各所述接脚部件92具有两个在横向上间隔设置的接脚921。但尺寸不同的所述电子元件9的绝缘部912也是可以被省略的，所述元件主体91仅具有所述主体部911，或者是各所述电子元件9的绝缘部912在横向上的宽度小于相应的所述主体部911在横向上的宽度，视尺寸不同的所述电子元件9的类型而定。另外，所述接脚921的数量也可以仅一个或是三个以上，同样是视尺寸不同的所述电子元件9的类型而定。此外，在本实施例中，各所述接脚921呈直线状并沿纵向延伸，但各所述接脚921也可以是呈L字形、弧形或点状等任意形状，不以直线状为限。
参阅图1至图3，所述电子元件检测治具包含一底座1、两个弹性件2、一基座3、一立壁4、一顶盖5及一探针组件6。所述底座1例如可以是长方体但不以此为限。所述弹性件2例如可以是弹簧或弹性垫片等能够被压缩或回复长度且具有支撑性的物件，但不以此为限。所述弹性件2分别设置于所述底座1的左右两侧。各所述弹性件2的两端分别穿设于所述底座1与所述基座3，使所述基座3间隔地设置于所述底座1的上方。所述基座3能够上下移动而让所述弹性件2的长度被压缩或回复。在本实施例中，所述弹性件2的数量是以两个示例，使所述基座3左右平衡地设置于所述底座1上方，但所述弹性件2的数量也可以是一个或三个以上，视实际需求而定。
所述基座3的顶面向下凹陷形成多个在纵向上排列且彼此连通的插槽31。所述插槽31的开口大小相异且分别对应尺寸不同的所述电子元件9。较佳地，所述插槽31的开口形状分别与尺寸不同的所述电子元件9的横截面形状相似，且所述插槽31的开口大小由上方至下方是以大至小依序排列。如此，各所述插槽31能够让对应尺寸的所述电子元件9嵌设而更为稳固地装设。后续，为方便说明并简化说明内容，所述插槽31的数量是以两个示例，但不以此为限，所述插槽31的数量也可以是三个以上。并且，将所述插槽31以第一插槽31a、第二插槽31b示例。其中，所述第一插槽31a的开口形成于所述基座3的顶面，而所述第二插槽31b的开口则形成于界定出所述第一插槽31a的底壁。在本实施例中，图中所示的所述电子元件9的元件主体91在横向上的宽度不大于所述第一插槽31a的开口在横向上的宽度，且不小于所述第二插槽31b的开口在横向上的宽度，如此，所述电子元件9能够嵌设于所述第一插槽31a，且被所述第一插槽31a的槽壁限制而无法在横向上移动，进而稳固地安装于所述电子元件检测治具。但在另一些实施态样中，所述电子元件(图未示)的元件主体也可以是在横向上的宽度小于所述第二插槽31b的开口在横向上的宽度，如此，当使用者将所述电子元件置入所述电子元件检测治具，所述电子元件的元件主体会直接通过所述第一插槽31a并嵌设于所述第二插槽31b内，而亦会被所述第二插槽31b的槽壁限制，使所述电子元件无法在横向上移动。由此，尺寸不同的所述电子元件9的任一者能稳固地装设于对应尺寸的插槽31，以便于进行电性检测。
参阅图1与图2，所述立壁4自所述基座3的顶缘向上延伸。所述顶盖5呈板状且枢接于所述立壁4的顶部，并能够以所述顶盖5与所述立壁4的衔接处为轴心枢转，而在如图1所示的与相应的所述电子元件9未接触的位置，以及如图2所示的压抵于相应的所述电子元件9的位置之间变换。当所述顶盖5处于压抵于相应的所述电子元件9的元件主体91的顶面的位置时，会限制所述电子元件9无法向上移动。所述顶盖5包括一枢接于所述立壁4的顶部且与所述电子元件9间隔的盖体51，及一连接于所述盖体51的底面的隔热件52。所述隔热件52例如为耐热橡胶但不以此为限，并能够在所述顶盖5处于如图2所示的位置时，压抵于相应的所述电子元件9的元件主体91的顶面，以阻隔所述电子元件9受测时所产生的热能传导至所述盖体51，避免所述盖体51受热损坏，而能达到耐用的效果。
参阅图1至图3，所述探针组件6穿设于所述基座3且显露于所述插槽31。更具体来说，所述探针组件6的一端穿设于所述底座1与位于所述底座1下方的电路板，并能够透过所述电路板与所述电性检测设备电连接。所述探针组件6的另一端能够位移地穿设于所述基座3且显露于所述插槽31。在本实施例中，所述探针组件6对应所述电子元件9的类型包括至少两个探针61。所述探针61彼此间隔且竖立地穿设于所述基座3。当所述电子元件9嵌设于所述第一插槽31a，所述探针61显露于所述插槽31，而能够分别与所述电子元件9的接脚921电连接。但所述探针61的数量也可以是多于所述接脚921的数量，不以两个为限。此外，所述探针61是以弹簧针示例。当所述顶盖5处于压抵于所述电子元件9的位置时，所述电子元件9会被所述顶盖5带动而向下移动，并压抵所述探针61，使得所述探针61内部设有的弹簧被压缩而让所述探针61的顶部和底部导通，进而让所述电子元件9透过所述探针61与所述电性检测设备电连接。
以下，具体说明所述电子元件检测治具运用于所述电子元件9的电性检测的使用方式。首先，将所述电子元件9的任一个置入对应尺寸大小的所述插槽31，此处是置于所述第一插槽31a，使相应的所述电子元件9稳固地嵌设于所述第一插槽31a，且让所述探针61分别对准所述接脚921。接着，翻转所述顶盖5，使所述顶盖5压抵于所述电子元件9的顶面，进而让所述电子元件9的接脚部件92压抵所述探针组件6，且所述探针61的顶部下压并和所述探针61的底部导通，而能够与所述电性检测设备电连接以进行电性检测。同时，如图3所示，持续施加更大的力道于所述顶盖5，让所述顶盖5连同所述电子元件9、所述基座3向下移动而压缩所述弹性件2，使所述基座3与所述底座1之间的间隙缩小而让所述探针组件6突出于所述插槽31的长度增加，能够确保相应的所述电子元件9的接脚部件92与所述探针组件6碰触并电连接。如此，当所述电子元件9的接脚部件92较短或者是未突出于所述绝缘部912，则仍能透过所述弹性件2被压缩而让所述接脚部件92与所述探针组件6碰触而电连接。
综上所述，通过所述插槽31的开口大小相异，能够让所述电子元件检测治具运用于尺寸不同的所述电子元件9的任一者的插设，以便于进行电性检测。此外，通过所述隔热件52设置于所述盖体51与所述电子元件9之间，能够让所述电子元件9所产生的热能被所述隔热件52阻隔，避免所述电子元件检测治具受热损坏，以达到耐用的效果。另外，通过所述弹性件2让所述基座3能够相对于所述探针组件6移动，能够让所述探针组件6突出于所述插槽31的长度改变，进而运用于长度不同的所述接脚部件92，通用性佳，故确实能达成本实用新型的目的。
Claims (5)
1.一种电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测，各所述电子元件包括元件主体及接脚部件，其特征在于：所述电子元件检测治具包含：
基座，其顶面向下凹陷形成多个在纵向上排列且彼此连通的插槽，所述插槽的开口大小相异且分别对应尺寸不同的所述电子元件；及
探针组件，穿设于所述基座且显露于所述插槽，
其中，所述插槽的任一者能够供对应的所述电子元件的元件主体设置，使得所述探针组件能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。
2.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述电子元件检测治具还包含底座及至少一个弹性件，所述底座间隔地设置于所述基座的下方，所述弹性件的两端分别设置于所述底座与所述基座，所述探针组件的一端穿设于所述底座，所述探针组件的另一端能够位移地穿设于所述基座且显露于所述插槽，其中，所述弹性件能够被压缩，使所述基座朝靠近所述底座的方向移动，进而让所述探针组件突出于所述插槽的长度增加而能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。
3.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述电子元件检测治具还包含立壁及顶盖，所述立壁自所述基座向上延伸，所述顶盖枢接于所述立壁的顶部，并能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。
4.根据权利要求3所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述顶盖包括枢接于所述立壁的顶部且与所述电子元件间隔的盖体，及连接于所述盖体的底面的隔热件，所述隔热件能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。
5.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：各所述接脚部件具有两个接脚，所述探针组件包括至少两个探针，所述探针彼此间隔且竖立地穿设于所述基座，所述探针显露于所述插槽，并分别能够与相应的所述电子元件的接脚电连接。
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