TWM453854U - 電測治具 - Google Patents

Description

電測治具

本創作涉及一種電測治具，屬於測試技術領域。

FPC的兩個端部通常為導電電極，即金手指，用來與其他電子產品相連通，以達成電性導通。FPC在與其他模組元件如觸控螢幕、顯示面板等連接時，通常由壓著機先將FPC一端的導電電極與模組元件的周邊線路進行壓合，如使FPC的一端與觸控傳感層壓合連通，一端連通後再將FPC的另一端與電路板連通。為了避免FPC壓合後的壓著不良，通常在FPC一端壓合後對其進行電性測試。現有技術中，電性測試採用插拔式，插拔式的電測治具上設置有專門連接FPC的連接卡扣，測試時需人工打開連接卡扣，將FPC另一未壓合端插入連接卡扣，再閉合連接卡扣以固定FPC，然後進行檢測，這種插拔式的檢測方式易損傷FPC及電測治具上的連接卡扣，且插拔過程較費時。

是以，要如何解決上述習用之問題與缺失，即為本創作之創作人與從事此行業之相關廠商所亟欲研究改善之方向所在者。

故，本創作之創作人有鑑於上述缺失，乃搜集相關資料，經由多方評估及考量，並以從事於此行業累積之多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種新型專利者。

本創作所要解決的技術問題是提供一種電測治具，將FPC自由端送入電測治具進行檢測，不損傷FPC及電測治具上的連接卡扣，節省電測時間。

為解決上述技術問題，本創作提供一種電測治具，其特徵是，包括一帶有測試電極的測試板、置於該測試板之上的下壓板、平行置於該下壓板上的可運動的上壓板，該上壓板上設置一帶推動機構的可推動該上壓板向下運動的蓋板；該推動機構可為一壓合蓋板的把手機構；該下壓板、上壓板上包含多個垂直貫通的針孔構成的檢測區，多個該針孔內分別設置有探針，該探針由上端頭、下端頭以及位於兩者之間的探針體組成，該探針體的直徑大於該上端頭和該下端頭的直徑，該探針的下端頭穿過該下壓板與該測試板上的測試電極碰觸；該探針的上端頭可由該上壓板的針孔內伸出；僅當該上壓板向下運動時，該探針的上端頭才伸出該上壓板的針孔，與由該上壓板、該蓋板夾持的待測FPC上的電極碰觸。

檢測區可為一個或多個區域，根據需要檢測的FPC自由端數量設置由多個該針孔構成的相應數量的檢測區域。

該探針包含上端頭和下端頭以及位於兩者之間的探針體，該探針體的直徑大於上端頭的直徑和下端頭的直徑。

該下壓板下部的針孔孔徑小於該下壓板上部的針孔所容置的該探針體的直徑。

該上壓板的針孔孔徑大於該探針的上端頭直徑，小於該探針體直徑。

該下壓板與該上壓板之間設置一中壓板，該中壓板上包含與該下壓板、上壓板對應的針孔，該針孔位於中壓板內上部的孔徑小於位於下部的孔徑所容置的探針體的直徑。

該中壓板固定設置，該上壓板與該中壓板之間設置有可使上壓板恢復初始位置的恢復構件。

該可使上壓板恢復初始位置的恢復構件可為彈簧構件。

該檢測區中的相鄰該針孔相互交錯排列。

該檢測區中的相鄰該針孔相互交錯排列成多排。

該檢測區中的相鄰該針孔相互交錯排列成兩排。

還包含對待測FPC位置進行定位的定位裝置。

本創作所達到的有益效果：

本創作的電測治具，將FPC自由端送入電測治具進行檢測，不損傷FPC及電測治具上的連接卡扣，節省檢測時間，提高了檢測效率。

下面結合附圖對本創作作進一步描述。以下實施例僅用於更加清楚地說明本創作的技術方案，而不能以此來限制本創作的保護範圍。

實施例1

如第一圖所示，本創作的電測治具包括設置在測試台1上的測試板2、置於測試板2之上的下壓板3、平行置於下壓板3上的上壓板5、設置在下壓板3、上壓板5之間的中壓板4，中壓板4與上壓板5之間設置有彈性構件彈簧7，上壓板5上設置一帶操作把手的蓋板6。未操作蓋板6下壓時，上壓板5與蓋板6之間的距離可容納需電性測試的FPC8推入、退出。

下壓板3、中壓板4和上壓板5上包含多個位置對應的針孔31、針孔41、針孔51，針孔內設置有探針9，一根探針9分別穿過下壓板3、中壓板4和上壓板5內的針孔31、針孔41、針孔51。

下壓板3內的針孔31壁上設有臺階，下部的針孔孔徑小於探針體92的直徑，下部針孔內容納探針9的下端頭91，上部的針孔內容納部分探針體92。探針9的下端頭91與測試板2上的測試電極21電性連通。上壓板5的針孔51孔徑大於探針的上端頭93直徑，小於探針體92直徑，用於容納探針9的部分上端頭93。中壓板4內的針孔41壁上設有臺階，上部的針孔孔徑小於探針體92的直徑。下部針孔內容納部分探針體92，上部的針孔內容納部分探針上端頭93。

FPC8推入進行電性測試時，其上的導電電極81面朝向上壓板5，並由定位裝置限定其各導電電極恰好推至位於與上壓板5上的多個針孔51相對的位置。

由於上壓板5、中壓板4和下壓板3上的針孔51、41、31孔徑相對非常小，各孔之間距離非常近，因此，加工難度增加，且由於各孔相距較近，相鄰的探針的上端頭伸出時易發生相互接觸，干擾測試。因此，較佳的針孔的排列方式是將相鄰針孔錯開排列，形成相互交錯的兩排針孔。

測試過程為：

如第二圖、第三圖所示，FPC8的一端已與其他電子產品如觸控傳感層壓合，將FPC另一未壓合端推入蓋板6與上壓板5之間的夾縫中，FPC8上的導電電極81面朝向上壓板5，並由定位裝置限定其各導電電極81恰好推至位於與上壓板5上的多個針孔51相對的位置。操作把手使蓋板6向下壓FPC8，FPC8貼於上壓板5上與上壓板5一起向下運動；上壓板5壓縮彈簧7，上壓板5與中壓板4之間的距離隨著彈簧7的壓縮而逐漸靠近，位於上壓板5針孔51內的探針上端頭93會從孔內探出上壓板5的上表面，與置於上壓板5之上的FPC8的導電電極81接觸連通，由探針9實現了將測試板2與FPC8的電極連通，從而進行測試。

實施例2

如第四圖所示，在實施例1的基礎上，本實施例中，以一觸控傳感層上壓合三根FPC為例，根據需檢測的三根FPC的位置，對應設置電測治具中包含三個檢測區11，即上壓板5上包含三個檢測區11，每個檢測區11中設有多個相互交錯成兩排的針孔51，針孔51內設有探針，與上壓板對應的中壓板、下壓板上均包含三個對應檢測區，每個檢測區中都對應設有針孔，其中上壓板對應檢測區向下凹陷(圖中未畫出)，以容置FPC對其定位，在此對中壓板及下壓板結構不再重複敘述，其其餘結構及對應關係與實施例1相同，使電測治具同時對三根FPC進行電性測試，提高了工作效率。

以上所述僅是本創作的優選實施方式，應當指出，對於本技術領域具有通常知識者來說，在不脫離本創作技術原理的前提下，還可以做出若干改進和變形，這些改進和變形也應視為本創作的保護範圍。

綜上所述，本創作於使用時，為確實能達到其功效及目的，故本創作誠為一實用性優異之創作，為符合新型專利之申請要件，爰依法提出申請，盼　審委早日賜准本創作，以保障創作人之辛苦創作，倘若　鈞局審委有任何稽疑，請不吝來函指示，創作人定當竭力配合，實感公便。

1．．．測試台

2．．．測試板

21．．．測試電極

3．．．下壓板

31．．．針孔

4．．．中壓板

41．．．針孔

5．．．上壓板

51．．．針孔

6．．．蓋板

7．．．彈簧

8．．．FPC

81．．．導電電極

9．．．探針

91．．．下端頭

92．．．探針體

93．．．上端頭

10．．．操作把手

11．．．檢測區

第一圖是本創作電測治具一實施例示意圖；

第二圖是第一圖的電測治具未壓合時示意圖；

第三圖是第一圖的電測治具壓合時示意圖；

第四圖是另一實施例上壓板俯視示意圖；

1．．．測試台

2．．．測試板

21．．．測試電極

3．．．下壓板

31．．．針孔

4．．．中壓板

41．．．針孔

5．．．上壓板

51．．．針孔

6．．．蓋板

7．．．彈簧

8．．．FPC

81．．．導電電極

9．．．探針

91．．．下端頭

92．．．探針體

93．．．上端頭

10．．．操作把手

Claims (10)

1. 一種電測治具，其特徵是，包括一帶有測試電極的測試板、置於該測試板之上的下壓板、平行置於該下壓板上的可運動的上壓板，該上壓板上設置一帶推動機構的可推動該上壓板向下運動的蓋板；該下壓板、上壓板上包含多個垂直貫通的針孔構成的檢測區，多個該針孔內分別設置有探針，該探針的下端頭穿過該下壓板與該測試板上的測試電極碰觸；該探針的上端頭可由該上壓板的針孔內伸出；該上壓板向下運動時，該探針的上端頭伸出該上壓板的針孔，與由該上壓板、該蓋板夾持的待測FPC上的電極碰觸。
2. 如申請專利範圍第1項所述的電測治具，其中該探針包含上端頭和下端頭以及位於兩者之間的探針體，該探針體的直徑大於上端頭的直徑和下端頭的直徑。
3. 如申請專利範圍第2項所述的電測治具，其中該下壓板下部的針孔孔徑小於該下壓板上部所容置的探針體的直徑。
4. 如申請專利範圍第2項所述的電測治具，其中該上壓板的針孔孔徑大於該探針的上端頭直徑，小於該探針體直徑。
5. 如申請專利範圍第2項所述的電測治具，其中該下壓板與該上壓板之間設置一中壓板，該中壓板上包含與該下壓板、上壓板對應的針孔，該針孔位於中壓板內上部的孔徑小於位於下部所容置的探針體的直徑。
6. 如申請專利範圍第5項所述的電測治具，其中該中壓板固定設置，該上壓板與該中壓板之間設置有可使上壓板恢復初始位置的恢復構件。
7. 如申請專利範圍第1項所述的電測治具，其中該檢測區中的相鄰該針孔相互交錯排列。
8. 如申請專利範圍第1至7項中任意一項所述的電測治具，其中該檢測區中的相鄰該針孔相互交錯排列成多排。
9. 如申請專利範圍第1至7項中任意一項所述的電測治具，其中該檢測區中的相鄰該針孔相互交錯排列成兩排。
10. 如申請專利範圍第1項所述的電測治具，還包含對待測FPC位置進行定位的定位裝置。