CN219496194U - 一种辅助tape量测的玻璃冶具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了COF封装领域内的一种辅助tape量测的玻璃冶具，包括下框架，所述下框架上设置有玻璃基板，所述下框架的底部设置有支撑软垫，下框架的边侧设置有两个左右对称分布的侧安装支架，与两个侧安装支架相铰接有上框架，上框架的宽度小于两个侧安装支架的间距，所述上框架上设置有玻璃压板，所述玻璃压板对应玻璃基板设置。本实用新型能够将tape抚平在量测平台上进行观测，使tape不翘曲，从而得到真实的量测数据，降低量测误差。
Description
技术领域
本实用新型属于COF封装领域，特别涉及一种辅助tape量测的玻璃冶具。
背景技术
COF封装是将集成电路（IC）固定在柔性线路板（tape）上的晶粒软膜构装技术。为了保证产品性能，需要对柔性线路板（tape）进行量测，以检测其电路线路性能参数是否符合要求。
现有技术中，tape即为料带，通过将tape抚平放置于量测平台上，用显微放大镜来观测tape上的电路线路，以获得量测数据，但是其不足之处在于：tape不可能完全抚平，部分区域存在翘曲，会导致影响量测数据的真实性。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种辅助tape量测的玻璃冶具，能够将tape抚平在量测平台上进行观测，使tape不翘曲，从而得到真实的量测数据，降低量测误差。
本实用新型的目的是这样实现的：一种辅助tape量测的玻璃冶具，包括下框架，所述下框架上设置有玻璃基板，所述下框架的底部设置有支撑软垫，下框架的边侧设置有两个左右对称分布的侧安装支架，与两个侧安装支架相铰接有上框架，上框架的宽度小于两个侧安装支架的间距，所述上框架上设置有玻璃压板，所述玻璃压板对应玻璃基板设置。
本实用新型使用时，将治具放置在显微镜的量测平台上，然后将用于量测的料带放置在玻璃基板上，然后转动玻璃压板使其压住料带，最后用显微镜进行观察量测。与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：通过显微镜量测，得到所需tape的各项数据；增加玻璃治具，不需手动抚平；改善tape量测方式，从而得到真实的量测数据，避免因量测数据误差，从而影响正常的判断。
作为本实用新型的进一步改进，所述下框架包括底板，玻璃基板位于底板上侧，底板的四周分别设置有与玻璃基板四周相对应的限位侧板，限位侧板截面呈L形，限位侧板与玻璃基板的侧面、顶部相贴合。下框架用来安装固定玻璃基板。
作为本实用新型的进一步改进，左侧所述限位侧板上开设有中凹槽。
为了起到减震减磨的作用，所述支撑软垫嵌入底板下侧，支撑软垫的材质为三元乙丙橡胶，支撑软垫的四周均开设有定位凹槽。防止损坏量测平台。
作为本实用新型的进一步改进，所述侧安装支架呈L形，上框架的左右两侧均设置有与对应侧安装支架相转动连接的销轴，玻璃压板嵌入安装在上框架上。
作为本实用新型的进一步改进，所述玻璃基板上放置料带时，玻璃压板压住料带，上框架上对应玻璃压板开设有观测凹槽，料带长度、宽度均小于玻璃压板的长度、宽度。不影响观察料带。
作为本实用新型的进一步改进，所述玻璃压板的长度为7-8cm，宽度为6-8cm，厚度为0.5-0.6cm，玻璃压板和玻璃基板的长度、宽度和厚度均相等。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为图1中A处的放大图。
图3为本实用新型放置在量测平台上的结构示意图。
图4为图3中B处的放大图。
图5为上框架的俯视图。
图6为电子显微下正常量测和使用本治具量测的对比图。
其中，1下框架，1a底板，1b限位侧板，2玻璃基板，3支撑软垫，4侧安装支架，5上框架，6玻璃压板，7中凹槽，8定位凹槽，9销轴，10观测凹槽，11料带，12显微镜，13量测平台。
具体实施方式
如图1-5所示，为一种辅助tape量测的玻璃冶具，包括下框架1，下框架1上设置有玻璃基板2，下框架1的底部设置有支撑软垫3，下框架1的边侧设置有两个左右对称分布的侧安装支架4，与两个侧安装支架4相铰接有上框架5，上框架5的宽度小于两个侧安装支架4的间距，上框架5上设置有玻璃压板6，玻璃压板6对应玻璃基板2设置。
下框架1包括底板1a，玻璃基板2位于底板1a上侧，底板1a的四周分别设置有与玻璃基板2四周相对应的限位侧板1b，限位侧板1b截面呈L形，限位侧板1b与玻璃基板2的侧面、顶部相贴合。下框架1用来安装固定玻璃基板2。左侧限位侧板1b上开设有中凹槽7。为了起到减震减磨的作用，支撑软垫3嵌入底板1a下侧，支撑软垫3的材质为三元乙丙橡胶，支撑软垫3的四周均开设有定位凹槽8。防止损坏量测平台13。
侧安装支架4呈L形，上框架5的左右两侧均设置有与对应侧安装支架4相转动连接的销轴9，玻璃压板6嵌入安装在上框架5上。玻璃基板2上放置料带11时，玻璃压板6压住料带11，上框架5上对应玻璃压板6开设有观测凹槽10，料带11长度、宽度均小于玻璃压板6的长度、宽度。不影响观察料带11。
玻璃压板6的长度为7-8cm，宽度为6-8cm，厚度为0.5-0.6cm，玻璃压板6和玻璃基板2的长度、宽度和厚度均相等。
本实用新型使用时，将治具放置在显微镜12的量测平台13上，然后将用于量测的料带11放置在玻璃基板2上，料带的SR面朝上，PR面朝下，然后转动玻璃压板6使其压住料带11，最后用显微镜12进行观察量测。本实用新型通过显微镜12量测，得到所需tape的各项数据；增加玻璃治具，不需手动抚平；改善tape量测方式，从而得到真实的量测数据，避免因量测数据误差，从而影响正常的判断。
如图6，正常量测时：同一影像下，离量测较远区域模糊（未在同一平面），从而影响量测数据的真实性。使用本玻璃治具量测：在玻璃治具下，整个影像不存在模糊区域（证明在同一平面下），量测数据真实，准确。
本实用新型并不局限于上述实施例，在本实用新型公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。
Claims (7)
1.一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，包括下框架，所述下框架上设置有玻璃基板，所述下框架的底部设置有支撑软垫，下框架的边侧设置有两个左右对称分布的侧安装支架，与两个侧安装支架相铰接有上框架，上框架的宽度小于两个侧安装支架的间距，所述上框架上设置有玻璃压板，所述玻璃压板对应玻璃基板设置。
2.根据权利要求1所述的一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，所述下框架包括底板，玻璃基板位于底板上侧，底板的四周分别设置有与玻璃基板四周相对应的限位侧板，限位侧板截面呈L形，限位侧板与玻璃基板的侧面、顶部相贴合。
3.根据权利要求2所述的一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，左侧所述限位侧板上开设有中凹槽。
4.根据权利要求2或3所述的一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，所述支撑软垫嵌入底板下侧，支撑软垫的材质为三元乙丙橡胶，支撑软垫的四周均开设有定位凹槽。
5.根据权利要求1-3任一项所述的一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，所述侧安装支架呈L形，上框架的左右两侧均设置有与对应侧安装支架相转动连接的销轴，玻璃压板嵌入安装在上框架上。
6.根据权利要求5所述的一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，所述玻璃基板上放置料带时，玻璃压板压住料带，上框架上对应玻璃压板开设有观测凹槽，料带长度、宽度均小于玻璃压板的长度、宽度。
7.根据权利要求1-3任一项所述的一种辅助tape量测的玻璃冶具，其特征在于，所述玻璃压板的长度为7-8cm，宽度为6-8cm，厚度为0.5-0.6cm，玻璃压板和玻璃基板的长度、宽度和厚度均相等。
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2023
- 2023-03-31 CN CN202320685179.3U patent/CN219496194U/zh active Active
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