CN113188904B - 测试装置和测试方法 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种测试装置和一种测试方法,测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件,框架悬空设置,框架的一端固定在工作台上,滑轮组件设置于框架上,牵引件与滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径;通过测试装置连接待测试金属膜层,能通过改变待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径,当待测试金属膜层为覆晶薄膜时,极限弯折半径即为覆晶薄膜的最小拼接间隙。

Description

测试装置和测试方法
技术领域
本申请涉及侧面绑定技术领域,具体涉及一种测试装置和一种测试方法。
背景技术
现有拼接式miniLED产品为实现多个屏幕的拼接,传统的处理方式是将覆晶薄膜朝miniLED背板一侧进行弯折并固定印刷电路板于背板上,此时覆晶薄膜与绑定区连接位置附近将产生较大的弯曲变形,并在玻璃基板侧边出现一个外鼓高度,即拼接间隙,显然印刷电路板的固定位置会影响拼接间隙的大小,印刷电路板拉扯覆晶薄膜越紧,拼接间隙则越小。过大的拼接间隙会导致整体显示效果较差,而过小的拼接间隙会导致覆晶薄膜弯折过大产生破坏,因此拼接式miniLED产品主要技术难点在于需要在拼接间隙的大小和覆晶薄膜强度之间取得平衡,目前还未发现类似的测试装置能测量覆晶薄膜能受到的极限拉拽力以及最小拼接间隙。
因此,现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙之间关系的技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种测试装置,可以缓解现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙之间关系的技术问题。
本申请实施例提供一种测试装置,包括:
工作台;
框架,所述框架悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上;
滑轮组件,设置于所述框架上;以及,
牵引件,所述牵引件与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端;
其中,所述牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,所述牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述框架包括第一滑轨、第二滑轨、第三滑轨、第四滑轨、第五滑轨,所述第一滑轨和所述第二滑轨沿所述印刷电路板长度方向设置,所述第三滑轨和所述第四滑轨沿所述印刷电路板宽度方向设置,其中,所述第三滑轨和所述第四滑轨平行于所述印刷电路板的短边设置,所述第三滑轨和所述第四滑轨与所述第一滑轨和所述第二滑轨固定连接,所述第五滑轨垂直于所述第三滑轨和所述第四滑轨设置,所述第五滑轨与所述第三滑轨和所述第四滑轨固定连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述测试装置还包括固定组件,所述第一滑轨、第二滑轨、第三滑轨、第四滑轨、第五滑轨均设置有通孔,所述固定组件通过所述通孔将所述框架与所述待测试显示模组连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜,所述覆晶薄膜的两端分别连接显示面板和印刷电路板,所述牵引件与所述印刷电路板直接连接,通过牵引件对所述印刷电路板进行拉拽,从而间接拉拽所述待测试金属膜层。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述显示面板朝向所述印刷电路板的一侧表面还设置有背板,所述背板还包括至少四个凹孔,所述第一滑轨通过所述固定组件与两个所述凹孔固定连接,所述第二滑轨通过所述固定组件与另外两个所述凹孔固定连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述滑轮组件包括设置在所述第五滑轨一侧的第一滑轮、第二滑轮、以及T型滑轮组,所述T型滑轮组设置在所述第一滑轮和所述第二滑轮正中间,所述T型滑轮组包括第三滑轮、第四滑轮、第五滑轮,所述第一滑轮、所述第二滑轮、所述第三滑轮、所述第四滑轮为定滑轮,所述第五滑轮为动滑轮。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述牵引件为加载绳,所述质量量具为砝码,所述加载绳一端与所述砝码连接,所述加载绳另一端与所述印刷电路板连接,其中,所述加载绳与所述砝码连接的一端绕第五滑轮设置、再分别绕所述第三滑轮、所述第四滑轮、以及绕过所述第一滑轮、所述第二滑轮与所述印刷电路板连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述测试装置还包括检测组件、反馈组件,所述检测组件用于检测所述待测试金属膜层的拼接间隙大小,所述反馈组件记录所述拼接间隙的大小与所述拉拽力的数据之间的对应关系。
本申请实施例提供一种测试方法,包括:
提供一所述测试装置,所述测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件、以及质量量具;
将待检测金属膜层固定在所述框架上,所述待检测金属膜层一端与印刷电路板连接,另一端与显示面板连接;
将质量量具与所述牵引件的一端连接,所述牵引件的另一端与所述印刷电路板连接,通过更换质量量具改变牵引件的拉拽力,对印刷电路板施加多个垂直于印刷电路板的拉拽力;
通过检测组件检测不同拉拽力下,所述待检测金属膜层的拼接间隙大小;
通过反馈组件记录并得到所述拼接间隙的大小与所述拉拽力的数据之间的对应关系,同时得到所述待测试金属膜层断裂时的极限弯折半径的大小。
可选的,在本申请的一些实施例中,改变牵引件的拉拽力的步骤还包括:所述质量量具为砝码,所述牵引件为加载绳,通过更换不同的所述砝码得到不同的拉拽力,并分别记录砝码的质量。
本申请实施例提供的测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件,所述框架悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上,所述滑轮组件设置于所述框架上,所述牵引件与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,所述牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,所述牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径;通过所述测试装置连接待测试金属膜层,能通过改变所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径,当待测试金属膜层为覆晶薄膜时,所述极限弯折半径即为最小拼接间隙,缓解了现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙之间关系的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的测试装置的第一种示意图;
图2是本申请实施例提供的待测试显示模组的截面示意图;
图3是本申请实施例提供的滑轨的示意图;
图4是本申请实施例提供的待测试显示模组的俯视示意图;
图5是本申请实施例提供的测试装置的第一种组装示意图;
图6是本申请实施例提供的测试装置的第二种组装示意图;
图7是本申请实施例提供的测试装置的第三种组装示意图;
图8是本申请实施例提供的测试装置的第四种组装示意图;
图9是本申请实施例提供的测试装置测得的拼接间隙与拉拽力F之间关系的曲线示意图;
图10是本申请实施例提供的测试方法的流程图。
附图标记说明:
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。此外,应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请,并不用于限制本申请。在本申请中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下,具体为附图中的图面方向;而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
本申请实施例提供一种测试装置。以下分别进行详细说明。需说明的是,以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。
如图1所示,本申请提供的测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件30,所述框架底部悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上,所述滑轮组件设置于所述框架上,所述牵引件30与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,所述牵引件30的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,所述牵引件30的第二连接端连接有质量量具40,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力F以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径。
在本实施例中,测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件30,所述框架底部悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上,所述滑轮组件设置于所述框架上,所述牵引件30与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,所述牵引件30的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,所述牵引件30的第二连接端连接有质量量具40,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力F以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径;通过所述测试装置连接待测试金属膜层,能通过改变所述待测试金属膜层的拉拽力F以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径,当待测试金属膜层为覆晶薄膜50时,所述极限弯折半径即为最小拼接间隙S,缓解了现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙S之间关系的技术问题。
其中,所述框架用于固定在所述工作台上的一端为固定端。
其中,如图2所示,当待测试金属膜层为覆晶薄膜50时,所述覆晶薄膜50分别连接印刷电路板60和显示面板,所述极限弯折半径即为所述覆晶薄膜50的最小拼接间隙S。
其中,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜50时,所述印刷电路板60上设置有至少两个过孔H3。
其中,所述框架包括第一滑轨101、第二滑轨102、第三滑轨103、第四滑轨104、第五滑轨105。
其中,所述滑轮组件包括第一滑轮201、第二滑轮202、以及T型滑轮组203,所述T型滑轮组203包括第三滑轮2031、第四滑轮2032、第五滑轮2033。
在一种实施例中,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜50时,所述测试装置用于测试待测试显示模组1,所述待测试显示模组1的一侧表面与所述框架连接,待测试显示模组1包括显示面板、背板70、设置在所述背板70背面的印刷电路板60、以及连接所述显示面板与所述背板70的所述覆晶薄膜50,所述牵引件30用于对所述印刷电路板60施加一个沿所述覆晶薄膜50弯曲方向且垂直于所述印刷电路板60的拉拽力F,其中,通过牵引件30提供不同的拉拽力F使所述覆晶薄膜50发生不同程度的弯曲,得到所述覆晶薄膜50不同的拼接间隙S大小,再观察并记录覆晶薄膜50的拼接间隙S大小与拉拽力F之间的关系。
在一种实施例中,所述框架包括第一滑轨101、第二滑轨102、第三滑轨103、第四滑轨104、第五滑轨105,所述第一滑轨101和所述第二滑轨102沿所述印刷电路板60长度方向设置,所述第三滑轨103和所述第四滑轨104沿所述印刷电路板60宽度方向设置,其中,所述第三滑轨103和所述第四滑轨104平行于所述印刷电路板60的短边设置,所述第三滑轨103和所述第四滑轨104与所述第一滑轨101和所述第二滑轨102固定连接,所述第五滑轨105垂直于所述第三滑轨103和所述第四滑轨104设置,所述第五滑轨105与所述第三滑轨103和所述第四滑轨104固定连接。
其中,第五滑轨105与待测试金属膜层平行设置,便于施加垂直于待测试金属膜层的拉拽力F。
在一种实施例中,如图3所示,所述测试装置还包括固定组件,所述第一滑轨101、第二滑轨102、第三滑轨103、第四滑轨104、第五滑轨105均设置有通孔H1,所述固定组件通过所述通孔H1将所述框架与所述待测试显示模组1连接。
在本实施例中,所述通孔H1可以为长条状通孔H1,通过设置所述通孔H1,即保证了所述框架的强度和刚度,还可以通过通孔H1结合固定组件来实现多个滑轨间的互相连接以及与背板70或滑轮组件之间的连接。
在一种实施例中,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜50,所述覆晶薄膜50的两端分别连接显示面板和印刷电路板60,所述牵引件30与所述印刷电路板60直接连接,通过牵引件30对所述印刷电路板60进行拉拽,从而间接拉拽所述待测试金属膜层。
在一种实施例中,如图4所示,所述显示面板朝向所述印刷电路板60的一侧表面还设置有背板70,所述背板70还包括至少四个凹孔H2,所述第一滑轨101通过所述固定组件与两个所述凹孔H2固定连接,所述第二滑轨102通过所述固定组件与另外两个所述凹孔H2固定连接。
在一种实施例中,所述固定组件为螺栓。
在一种实施例中,如图5所示,将两根中空的第一滑轨101和第二滑轨102用螺栓安装于背板70的所述凹孔H2上,所述第一滑轨101和所述第二滑轨102的长度方向与待测试金属膜层的长度方向大致一致,防止后续试验时滑轨与所述待测试金属膜层发生干涉。
其中,当背板70上的所述凹孔H2数量大于4时,选择背板70上最靠外侧的4个所述凹孔H2来安装,通过适当调整滑轨位置可以满足4个凹孔H2的位置任意性。
在一种实施例中,如图6所示,将第三滑轨103和第四滑轨104通过螺栓安装到第一滑轨101和第二滑轨102上,通过调整第三滑轨103和第四滑轨104的位置,确保第三滑轨103和第四滑轨104的长度方向与待测试显示模组1的侧边平行。
在一种实施例中,如图7所示,将第五滑轨105通过螺栓安装于第三滑轨103和第四滑轨104上,且长度方向与第三滑轨103和第四滑的长度方向垂直。
在一种实施例中,所述滑轮组件包括设置在所述第五滑轨105一侧的第一滑轮201、第二滑轮202、以及T型滑轮组203,所述T型滑轮组203设置在所述第一滑轮201和所述第二滑轮202正中间,所述T型滑轮组203包括第三滑轮2031、第四滑轮2032、第五滑轮2033,所述第一滑轮201、所述第二滑轮202、所述第三滑轮2031、所述第四滑轮2032为定滑轮,所述第五滑轮2033为动滑轮。
在一种实施例中,所述牵引件30为加载绳,所述质量量具40为砝码,所述加载绳一端与所述砝码连接,所述加载绳另一端与所述印刷电路板60连接,其中,所述加载绳与所述砝码连接的一端绕第五滑轮2033设置、再分别绕所述第三滑轮2031、所述第四滑轮2032、以及绕过所述第一滑轮201、所述第二滑轮202与所述印刷电路板60连接。
在一种实施例中,如图8所示,所述滑轮组件的安装过程为:先将第一滑轮201和第二滑轮202通过螺栓分别安装到第五滑轨105上,且确保安装位置与印刷电路板60两端的安装孔位置大致平齐;再将T型滑轮组203通过螺栓安装于第五滑轨105上,且位于第一滑轮201和第二滑轮202正中间;然后使用加载绳绕动第五滑轮2033,再绕第三滑轮2031和第四滑轮2032,以及绕过第一滑轮201和第二滑轮202,并连接印刷电路板60两端的过孔H3;最后再微调各个滑轮的位置同时安装螺栓固定,确保加载绳与印刷电路板60垂直,以及确保与第一滑轮201和第三滑轮2031、第二滑轮202和第四滑轮2032之间的加载绳在同一个水平面。
在一种实施例中,所述测试装置还包括检测组件、反馈组件,所述检测组件用于检测所述待测试金属膜层的拼接间隙S大小,所述反馈组件记录所述拼接间隙S的大小与所述拉拽力F的数据之间的对应关系。
其中,如图9所示,图9为拼接间隙S与印刷电路板60拉拽力F曲线示意图,通过不断增大拉拽力F,可以得到覆晶薄膜50失效时的拉拽力F。
其中,增加拉拽力F的过程中,待测试显示模组1通电工作,当待测试显示模组1工作异常时,即可检测COF失效时的拉拔力;同时通过测量覆晶薄膜50折弯时的拼接间隙S,可得到拉拽力F与拼接间隙S的关系曲线。
如图10所示,本申请实施例提供一种测试方法,包括:
S1:提供一所述测试装置,所述测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件30、以及质量量具40;
S2:将待检测金属膜层固定在所述框架上,所述待检测金属膜层一端与印刷电路板60连接,另一端与显示面板连接;
S3:将质量量具40与所述牵引件30的一端连接,所述牵引件30的另一端与所述印刷电路板60连接,通过更换质量量具40改变牵引件30的拉拽力F,对印刷电路板60施加多个垂直于印刷电路板60的拉拽力F;
S4:通过检测组件检测不同拉拽力F下,所述待检测金属膜层的拼接间隙S大小;
S5:通过反馈组件记录并得到所述拼接间隙S的大小与所述拉拽力F的数据之间的对应关系,同时得到所述待测试金属膜层断裂时的极限弯折半径的大小。
在一种实施例中,改变牵引件30的拉拽力F的步骤还包括:所述质量量具40为砝码,所述牵引件30为加载绳,通过更换不同的所述砝码得到不同的拉拽力F,并分别记录砝码的质量。
本实施例提供的测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件,所述框架悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上,所述滑轮组件设置于所述框架上,所述牵引件与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,所述牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,所述牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径;通过所述测试装置连接待测试金属膜层,能通过改变所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径,当待测试金属膜层为覆晶薄膜时,所述极限弯折半径即为最小拼接间隙,缓解了现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙之间关系的技术问题。
以上对本申请实施例所提供的一种测试装置和一种测试方法进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (7)

1.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:
工作台;
框架,所述框架悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上;
滑轮组件,设置于所述框架上;以及,
牵引件,所述牵引件与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端;
其中,所述牵引件的第一连接端与待测试金属膜层间接地固定连接,所述牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜时,所述测试装置用于测试待测试显示模组,所述待测试显示模组的一侧表面与所述框架连接,待测试显示模组包括显示面板、背板、设置在所述背板背面的印刷电路板、以及连接所述显示面板与所述背板的所述覆晶薄膜,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜,所述牵引件与所述印刷电路板直接连接,所述牵引件用于对所述印刷电路板施加一个沿所述覆晶薄膜弯曲方向且垂直于所述印刷电路板的拉拽力,其中,通过牵引件提供不同的拉拽力使所述覆晶薄膜发生不同程度的弯曲,得到所述覆晶薄膜不同的拼接间隙大小,再观察并记录覆晶薄膜的拼接间隙大小与拉拽力之间的关系,所述框架包括第一滑轨、第二滑轨、第三滑轨、第四滑轨、第五滑轨,所述第一滑轨和所述第二滑轨沿所述印刷电路板长度方向设置,所述第三滑轨和所述第四滑轨沿所述印刷电路板宽度方向设置,其中,所述第三滑轨和所述第四滑轨平行于所述印刷电路板的短边设置,所述第三滑轨和所述第四滑轨与所述第一滑轨和所述第二滑轨固定连接,所述第五滑轨垂直于所述第三滑轨和所述第四滑轨设置,所述第五滑轨与所述第三滑轨和所述第四滑轨固定连接,所述第五滑轨与所述待测试金属膜层平行设置,所述第一滑轨和所述第二滑轨的长度方向与所述待测试金属膜层的长度方向大致一致,所述测试装置还包括检测组件、反馈组件,所述检测组件用于检测所述待测试金属膜层的拼接间隙S大小,所述极限弯折半径即为最小拼接间隙,所述反馈组件记录拼接间隙S的大小与拉拽力F的数据之间的对应关系。
2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括固定组件,所述第一滑轨、第二滑轨、第三滑轨、第四滑轨、第五滑轨均设置有通孔,所述固定组件通过所述通孔将所述框架与所述待测试显示模组连接。
3.如权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述显示面板朝向所述印刷电路板的一侧表面还设置有背板,所述背板还包括至少四个凹孔,所述第一滑轨通过所述固定组件与两个所述凹孔固定连接,所述第二滑轨通过所述固定组件与另外两个所述凹孔固定连接。
4.如权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述滑轮组件包括设置在所述第五滑轨一侧的第一滑轮、第二滑轮、以及T型滑轮组,所述T型滑轮组设置在所述第一滑轮和所述第二滑轮正中间,所述T型滑轮组包括第三滑轮、第四滑轮、第五滑轮,所述第一滑轮、所述第二滑轮、所述第三滑轮、所述第四滑轮为定滑轮,所述第五滑轮为动滑轮。
5.如权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述牵引件为加载绳,所述质量量具为砝码,所述加载绳一端与所述砝码连接,所述加载绳另一端与所述印刷电路板连接,其中,所述加载绳与所述砝码连接的一端绕第五滑轮设置、再分别绕所述第三滑轮、所述第四滑轮、以及绕过所述第一滑轮、所述第二滑轮与所述印刷电路板连接。
6.一种测试方法,其特征在于,包括:
提供一如权利要求1至5任一项所述测试装置;
将待检测金属膜层固定在所述框架上,所述待检测金属膜层一端与印刷电路板连接,另一端与显示面板连接;
将质量量具与所述牵引件的一端连接,所述牵引件的另一端与所述印刷电路板连接,通过更换质量量具改变牵引件的拉拽力,对印刷电路板施加多个垂直于印刷电路板的拉拽力;
通过检测组件检测不同拉拽力下,所述待检测金属膜层的拼接间隙大小;
通过反馈组件记录并得到所述拼接间隙的大小与所述拉拽力的数据之间的对应关系,同时得到所述待测试金属膜层断裂时的极限弯折半径的大小。
7.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于,所述质量量具为砝码,所述牵引件为加载绳,改变牵引件的拉拽力的步骤还包括:
通过更换不同的所述砝码得到不同的拉拽力,并分别记录砝码的质量。
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