CN219168968U - 一种多功能芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种多功能芯片测试装置,测试腔与收集腔之间贯穿固定有空心圆台,空心圆台上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔,空心圆台内部顶端且位于摆放腔的一侧均嵌入固定有电机,控制器与电机信号连接,电机的下部输出端连接有旋转架,旋转架两端均固定有支撑板,支撑板与摆放腔相对应,收集腔内部滑动连接有收集盒。通过将芯片放在摆放腔内,并使芯片位于支撑板上方,这样当检测该芯片为不合格时,则支撑板呈圆周运动一百八十度角,使两块支撑板调换位置,但是不合格的芯片会调换位置的过程中往下掉落入收集盒内部,这样统一收集不合格的芯片,从而减轻了工作人员的工作量。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种多功能芯片测试装置。
背景技术
芯片又称微电路、微芯片、集成电路,芯片是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分,芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式,并通常制造在半导体晶圆表面上,晶圆测试是对晶片上的每个晶粒进行针测,利用针卡上的探针与晶粒上的接点接触,测试其电气特性。经检索,一篇专利号为202122799873.1的实用新型公开了一种多芯片测试装置,该多芯片测试装置在对多块芯片进行测试的时候,使气阀开启,利用限位片上的气孔,将芯片吹出,从而便于对不合格芯片进行筛选,但是吹出的芯片还需要工作人员去拾起再回收,这样当有两块以上的芯片被吹起时,则给工作人员增加了工作量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种多功能芯片测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
一种多功能芯片测试装置,包括测试箱,所述测试箱前端上下两侧分别设有测试腔和收集腔,所述测试腔内顶部安装有测试机构,所述测试箱前端且位于测试腔与收集腔之间安装有控制面板,所述测试箱后部安装有与测试机构连接的控制器,所述测试箱右端安装有与控制器连接的显示屏;
所述测试腔与收集腔之间贯穿固定有空心圆台,所述空心圆台上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔,所述空心圆台内部顶端且位于摆放腔的一侧均嵌入固定有电机,所述控制器与电机信号连接,所述电机的下部输出端连接有旋转架,所述旋转架两端均固定有支撑板,所述支撑板与摆放腔相对应,所述收集腔内部滑动连接有收集盒。
具体的,所述测试机构包括电动推杆、滑动座、集线器和测试探针,所述电动推杆固定安装在测试腔内顶部,所述滑动座安装在电动推杆下部,所述集线器安装在滑动座上端,所述滑动座下端呈环形均匀安装有三组测试探针,所述测试探针与摆放腔上下一一对应,所述测试探针与集线器连接,所述集线器与控制器连接,所述控制面板与电动推杆连接。
具体的,所述测试箱上端安装有报警器,所述控制器与报警器信号连接。
具体的,所述支撑板的外径大于摆放腔的口径。
具体的,所述测试箱右端且位于显示屏前方开有滑道,所述滑动座右端固定有滑杆,所述滑杆右部延伸出滑道且与滑道滑动连接。
具体的,所述滑杆后部粘接有子魔术贴,所述子魔术贴后部连接有母魔术贴,所述母魔术贴后部缝合有抹布,所述抹布后部与显示屏前部滑动连接。
有益效果:通过将芯片放在摆放腔内,并使芯片位于支撑板上方,这样当检测该芯片为不合格时,则支撑板呈圆周运动一百八十度角,使两块支撑板调换位置,但是不合格的芯片会调换位置的过程中往下掉落入收集盒内部,这样统一收集不合格的芯片,从而减轻了工作人员的工作量。
附图说明
图1为本实用新型整体示意图;
图2为本实用新型空心圆台俯视剖面示意图。
图3为本实用新型图2中支撑板不遮挡摆放腔的示意图。
图中:1-测试箱、2-显示屏、3-控制器、4-报警器、5-电动推杆、6-滑动座、7-集线器、8-测试探针、9-空心圆台、10-摆放腔、11-支撑板、12-控制面板、13-收集腔、14-收集盒、15-测试腔、16-滑道、17-滑杆、18-抹布、19-电机、20-旋转架。
具体实施方式
请参阅图1-图3,一种多功能芯片测试装置,包括测试箱1,所述测试箱1前端上下两侧分别设有测试腔15和收集腔13,所述测试腔15内顶部安装有测试机构,所述测试箱1前端且位于测试腔15与收集腔13之间安装有控制面板12,所述测试箱1后部安装有与测试机构连接的控制器3,所述测试箱1右端安装有与控制器3连接的显示屏2,所述测试机构包括电动推杆5、滑动座6、集线器7和测试探针8,所述电动推杆5固定安装在测试腔15内顶部,所述滑动座6安装在电动推杆5下部,所述集线器7安装在滑动座6上端,所述滑动座6下端呈环形均匀安装有三组测试探针8,所述测试探针8与摆放腔10上下一一对应,所述测试探针8与集线器7连接,所述集线器7与控制器3连接,所述控制面板12与电动推杆5连接,通过控制面板12,可以使电动推杆5带动滑动座6升降,这样滑动座6可以带动集线器7和测试探针8同步移动;
所述测试腔15与收集腔13之间贯穿固定有空心圆台9,所述空心圆台9上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔10,所述空心圆台9内部顶端且位于摆放腔10的一侧均嵌入固定有电机19,所述控制器3与电机19信号连接,所述电机19的下部输出端连接有旋转架20,所述旋转架20两端均固定有支撑板11,所述支撑板11与摆放腔10相对应,所述支撑板11的外径大于摆放腔10的口径,所述收集腔13内部滑动连接有收集盒14,通过将芯片放在摆放腔10内,由于支撑板11上下两面与空心圆台9内壁上下两面紧贴,使得芯片位于支撑板11上方,之后通过电动推杆5,使滑动座6下降,这样测试探针8会下移插入摆放腔10内部对芯片进行接触,测试探针8接触芯片之后,将测试信号发送集线器7,利用集线器7对各测试探针8进行编号并发送到控制器3进行处理,控制器3对集线器7发送的信号进行处理;
所述测试箱1上端安装有报警器4,所述控制器3与报警器4信号连接,如果芯片存在问题,控制器3会启动报警器4报警提示,并通过显示屏2对芯片的位置进行标注显示,这样当检测该芯片为不合格时,控制器3控制对应的电机19驱动旋转架20旋转一百八十度角,则旋转架20带动支撑板11呈圆周运动一百八十度角,使两块支撑板11调换位置,在调换位置的过程中,首先支撑板11会带动芯片与摆放腔10内壁相抵,然后当这块支撑板11移离开摆放腔10的时候,芯片失去支撑会掉落,并从下方的摆放腔10落入收集腔13的收集盒14内部,可使不合格的芯片在调换位置的过程中往下掉落入收集盒14内部,这样统一收集不合格的芯片,可以减轻工作人员的工作量;
所述测试箱1右端且位于显示屏2前方开有滑道16,所述滑动座6右端固定有滑杆17,所述滑杆17右部延伸出滑道16且与滑道16滑动连接,当滑动座6在上下移动的时候,可带动滑杆17沿着滑道16上下移动,此时起到滑动座6的导向作用;
所述滑杆17后部粘接有子魔术贴,所述子魔术贴后部连接有母魔术贴,所述母魔术贴后部缝合有抹布18,所述抹布18后部与显示屏2前部滑动连接,当滑动座6在上下移动的时候,还可以带动抹布18抹着显示屏2的显示面,以此来起到清洁显示屏2的作用,这样提高了功能性,使得在检测芯片的同时,还可对显示屏2进行清洁工作。
Claims (6)
1.一种多功能芯片测试装置,包括测试箱(1),所述测试箱(1)前端上下两侧分别设有测试腔(15)和收集腔(13),所述测试腔(15)内顶部安装有测试机构,所述测试箱(1)前端且位于测试腔(15)与收集腔(13)之间安装有控制面板(12),所述测试箱(1)后部安装有与测试机构连接的控制器(3),所述测试箱(1)右端安装有与控制器(3)连接的显示屏(2),其特征在于:
所述测试腔(15)与收集腔(13)之间贯穿固定有空心圆台(9),所述空心圆台(9)上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔(10),所述空心圆台(9)内部顶端且位于摆放腔(10)的一侧均嵌入固定有电机(19),所述控制器(3)与电机(19)信号连接,所述电机(19)的下部输出端连接有旋转架(20),所述旋转架(20)两端均固定有支撑板(11),所述支撑板(11)与摆放腔(10)相对应,所述收集腔(13)内部滑动连接有收集盒(14)。
2.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试装置,其特征在于:所述测试机构包括电动推杆(5)、滑动座(6)、集线器(7)和测试探针(8),所述电动推杆(5)固定安装在测试腔(15)内顶部,所述滑动座(6)安装在电动推杆(5)下部,所述集线器(7)安装在滑动座(6)上端,所述滑动座(6)下端呈环形均匀安装有三组测试探针(8),所述测试探针(8)与摆放腔(10)上下一一对应,所述测试探针(8)与集线器(7)连接,所述集线器(7)与控制器(3)连接,所述控制面板(12)与电动推杆(5)连接。
3.根据权利要求2所述的一种多功能芯片测试装置,其特征在于:所述测试箱(1)上端安装有报警器(4),所述控制器(3)与报警器(4)信号连接。
4.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试装置,其特征在于:所述支撑板(11)的外径大于摆放腔(10)的口径。
5.根据权利要求2所述的一种多功能芯片测试装置,其特征在于:所述测试箱(1)右端且位于显示屏(2)前方开有滑道(16),所述滑动座(6)右端固定有滑杆(17),所述滑杆(17)右部延伸出滑道(16)且与滑道(16)滑动连接。
6.根据权利要求5所述的一种多功能芯片测试装置,其特征在于:所述滑杆(17)后部粘接有子魔术贴,所述子魔术贴后部连接有母魔术贴,所述母魔术贴后部缝合有抹布(18),所述抹布(18)后部与显示屏(2)前部滑动连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202223288843.5U CN219168968U (zh) | 2022-12-08 | 2022-12-08 | 一种多功能芯片测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202223288843.5U CN219168968U (zh) | 2022-12-08 | 2022-12-08 | 一种多功能芯片测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN219168968U true CN219168968U (zh) | 2023-06-13 |
Family
ID=86676506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202223288843.5U Active CN219168968U (zh) | 2022-12-08 | 2022-12-08 | 一种多功能芯片测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN219168968U (zh) |
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