CN218974503U - 一种便于更换的igbt模块测试装置 - Google Patents

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臧传龙
姚晨阳
苗硕
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Abstract

本实用新型公开了一种便于更换的IGBT模块测试装置,属于IGBT模块检测技术领域,包括基座,所述基座上设有夹持模组、定位板和探针板;所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔,所述基座上固定连接有多个导柱,所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔,所述导柱通过第三通孔与定位板连接;所述探针板上设有多个探针,所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试;所述探针底部连接有导线,所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头;所述插头与外置电源连接;当遇到不同种类的IGBT模块进行电性能测试时,只需更换与待测IGBT模块型号相同的定位板和探针板即可,进一步增强了测试装置的适用性能。

Description

一种便于更换的IGBT模块测试装置
技术领域
本实用新型属于IGBT模块检测技术领域,具体涉及一种便于更换的IGBT模块测试装置。
背景技术
绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor, IGBT)是第三代电力电子器件中最具先进性的功率半导体器件,具有高频率、高电压、大电流等优点,是柔性交直流输电、新能源发电、电能质量治理等领域的核心器件,目前已在相关行业得到广泛应用。IGBT完成封装后需要对模块进行电性能测试,由于IGBT封装种类繁多,通常需要针对不同的电气结构和封装类型设计不同的测试夹具,这样才可以保证模块中每个芯片的电性能得到有效的评估;
目前都是采用一个IGBT模块采用一个测试装置的方式,一般工厂根据产品应用需求的不同,通常会设计生产几十上百款产品,大量的测试装置给日后的维护保养带来了巨大的工作量,影响检测工作效率。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种便于更换的IGBT模块测试装置,能够适应不同种类的IGBT模块进行电性能测试,进一步提升了IGBT模块测试装置的适用性能。
为了解决上述问题,本实用新型采用如下技术方案:一种便于更换的IGBT模块测试装置,包括基座,所述基座上设有用于压紧IGBT模块的夹持模组、定位板和探针板;所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔,所述基座上固定连接有多个导柱,所述导柱弹性设置,所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔,所述导柱通过第三通孔与定位板连接;
所述定位板下方设置有探针板,所述探针板上设有多个探针,所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试;所述探针底部连接有导线,所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头,所述插头与外置电源连接。
优选的,所述探针板的两侧设有延伸板,所述探针包括信号探针和功率探针,所述信号探针设于探针板的面板上,且与第二通孔位置相互对应;所述功率探针设于延伸板上,且与第一通孔位置相互对应。
优选的,所述夹持模组包括沿基座竖直方向设置的安装板,所述安装板上设有肘夹,所述肘夹用于向下按压IGBT模块。
优选的,所述第一通孔和第二通孔孔径不一,所述第一通孔设置于定位板的两侧,所述第二通孔沿定位板的内侧边缘环绕设置。
优选的,所述导线上设有插孔,所述基座上设有与插孔相互匹配的插头,所述导线通过插孔连接至插头, 多个插头矩形阵列分布于所述基座的侧壁上。
优选的,所述插孔为香蕉插孔,所述插孔的直径小于或者等于4mm。
与现有技术相比,本实用新型所达到的有益效果是:
本实用新型在基座上设有用于压紧IGBT模块的夹持模组、定位板和探针板;所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔,所述基座上固定连接有多个导柱,所述导柱弹性设置,所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔,所述导柱通过第三通孔与定位板连接;所述定位板下方设置有探针板,所述探针板上设有多个探针,所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试;所述探针底部连接有导线,所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头,所述插头与外置电源连接;当遇到不同种类的IGBT模块进行电性能测试时,便于根据需求更换定位板和探针板即可,增加了测试装置的适用性能,在提高测试效率的同时也节省了工装物料成本。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种一种便于更换的IGBT模块测试装置结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的定位板示意图;
图3是本实用新型实施例提供的探针板结构示意图;
图4是本实用新型实施例提供的插头结构示意图;
图中:1-基座;2-夹持模组;21-安装板;22-肘夹;3-定位板;31-导柱;32-第一通孔;33-第二通孔;34-第三通孔;4-探针板;41-延伸板;42-信号探针;43-功率探针;5-导线;6-插孔;7-插头。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述,以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案,而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、 “底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
如图1所示,本实用新型实施例提供一种便于更换的IGBT模块测试装置,包括基座1,所述基座1上设有用于夹持IGBT模块的夹持模组2,定位板3和探针板4;所述夹持模组2包括沿基座竖直方向设置的安装板21,所述安装板21上设有肘夹22,所述肘夹22用于向下按压IGBT模块,将IGBT模块与探针板4接触;
如图2所示,所述定位板3与安装板21垂直,所述定位板3用于装载IGBT模块,所述基座1上固定连接有多个导柱31,所述导柱31与定位板3连接;所述导柱31弹性设置,使肘夹22下压时保持压紧力,所述定位板3外边缘处布设有多个第三通孔34,所述导柱31通过第三通孔34与定位板3固定连接,当需要更换定位板3时,将定位板3套设于导向柱31上即可;所述定位板3上开设有多个第一通孔32和第二通孔33,所述第一通孔32和第二通孔33孔径不一,本实施例中,所述第一通孔32设置于定位板3的两侧,所述第二通孔33沿定位板3的内侧边缘环绕设置;
如图3所示,所述定位板3下方设置有探针板4,所述探针板4的两侧设有延伸板41,所述探针板4上设有多个探针,所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔32和第二通孔33与探针接触进行电性能测试;进一步地,所述信号探针42设于探针板4的面板上,且与第二通孔33位置相互对应;所述功率探针43设于延伸板41上,且与第一通孔32位置相互对应;将所述IGBT模块放置于定位板3上后,IGBT模块上的端子一部分穿过第二通孔32与探针板4上的信号探针42接触进行电性能测试,另一部分穿过第一通孔31与探针板4上的功率探针43接触进行电性能测试;所述延伸板41上开设有固定孔44,螺栓穿过固定孔44将探针板4与基座1连接;
如图4所示,所述探针底部连接有导线5,所述信号探针42和功率探针43通过导线5连接于基座1,具体地,所述导线5上设有插孔6,所述插孔6为香蕉插孔,所述插孔6的直径小于或者等于4mm,所述基座1的内壁上设有与插孔6相互匹配的插头7,多个插头7矩形阵列分布于所述基座1的侧壁上;所述探针板4上的探针穿过基座1通过导线5电性连接于基座1的插头7,所述插头7与外置电源连接;当需要更换探针板4时,将导线5上的插孔6与插头7分离,取出固定孔44内的螺栓,取下探针板4将新的探针板4通过导线5与基座1上的插头7连接即可。
本实用新型与现有技术相比,通过在基座1上设置便于更换的定位板3和探针板4,当遇到不同种类的IGBT模块进行电性能测试时,只需更换与待测IGBT模块型号相同的定位板3和探针板4即可,更换时上抬肘夹22,取走定位板3,将探针板4底部的导线5与基座1上的插头7分离完成更换,便于根据需求更换定位板3和探针板4,增加了测试装置的适用性能,在提高测试效率的同时也节省了工装物料成本。
以上所述仅为本实用新型的优选实例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种便于更换的IGBT模块测试装置,其特征在于,包括基座(1),所述基座(1)上设有用于压紧IGBT模块的夹持模组(2)、定位板(3)和探针板(4);所述定位板(3)上开设有多个第一通孔(32)和第二通孔(33),所述基座(1)上固定连接有多个导柱(31),所述导柱(31)弹性设置,所述定位板(3)外边缘处布设有与导柱(31)数量一致的第三通孔(34),所述导柱(31)通过第三通孔(34)与定位板(3)连接;
所述定位板(3)下方设置有探针板(4),所述探针板(4)上设有多个探针, IGBT模块上的端子穿过第一通孔(32)和第二通孔(33)与探针接触进行电性能测试;所述探针底部连接有导线(5),所述探针板(4)上的探针穿过基座(1)通过导线(5)电性连接于基座(1)的插头(7);所述插头(7)与外置电源连接。
2.根据权利要求1所述的一种便于更换的IGBT模块测试装置,其特征在于,所述探针板(4)的两侧设有延伸板(41),所述探针包括信号探针(42)和功率探针(43),所述信号探针(42)设于探针板(4)的面板上,且与第二通孔(33)位置相互对应;所述功率探针(43)设于延伸板(41)上,且与第一通孔(32)位置相互对应。
3.根据权利要求1所述的一种便于更换的IGBT模块测试装置,其特征在于,所述夹持模组(2)包括沿基座(1)竖直方向设置的安装板(21),所述安装板(21)上设有肘夹(22),所述肘夹(22)用于向下按压IGBT模块。
4.根据权利要求1所述的一种便于更换的IGBT模块测试装置,其特征在于,所述第一通孔(32)和第二通孔(33)孔径不一,所述第一通孔(32)设置于定位板(3)的两侧,所述第二通孔(33)沿定位板(3)的内侧边缘环绕设置。
5.根据权利要求1所述的一种便于更换的IGBT模块测试装置,其特征在于,所述导线(5)上设有插孔(6),所述导线(5)通过插孔(6)连接至插头(7);多个插头(7)矩形阵列分布于所述基座(1)的侧壁上。
6.根据权利要求5所述的一种便于更换的IGBT模块测试装置,其特征在于,所述插孔(6)为香蕉插孔,所述插孔(6)的直径小于或者等于4mm。
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