CN221726108U - 陶瓷覆铜板模组的检测治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种陶瓷覆铜板模组的检测治具，包括测试台以及设于测试台上的第一支撑板和第二支撑板，测试台上设置有陶瓷覆铜板模组的安装位，第一支撑板与第二支撑板之间还固定连接有安装板，安装板上连接有升降机构，升降机构的底部安装有针模组，陶瓷覆铜板模组包括第一陶瓷覆铜板部以及第二陶瓷覆铜板部，针模组包括探针组，探针组包括第一探针组和第二探针组，基板上还设置有拨码开关组，拨码开关组用于切换第一探针组和第二探针组以分别检测第一陶瓷覆铜板部和第二陶瓷覆铜板部。本实用新型陶瓷覆铜板模组的检测治具通过在晶圆的CP测试和封装后的FT测试中间插入对陶瓷覆铜板模组的测试，可以提早发现不良品，提高良率并节约成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及IGBT制造领域，尤其涉及一种陶瓷覆铜板模组的检测治具。
背景技术
现阶段，IGBT模块制程主要包含两种测试，一是针对IGBT晶圆的CP(Chip Probe)测试，二是模块封装完成后的FT(Final Test)测试，在整个制程的首和尾两个节点。然而，一组IGBT模块是由多颗IGBT芯片组合而成，其中一颗芯片出现异常，整组模块就会判定为不良品，如何提高封装后模块的良率，减少封装成本的浪费，显得尤为重要。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种陶瓷覆铜板模组的检测治具，以提高陶瓷覆铜板模组封装后的良率并节约成本。
为了实现上述目的，本实用新型提供的一种陶瓷覆铜板模组的检测治具，包括测试台以及设于所述测试台上的第一支撑板和第二支撑板，所述测试台上设置有陶瓷覆铜板模组的安装位，所述安装位位于所述第一支撑板和第二支撑板之间，所述第一支撑板和所述第二支撑板相对设置且均竖直设置于所述测试台上；所述第一支撑板与所述第二支撑板之间还固定连接有安装板，所述安装板上连接有升降机构，所述升降机构的底部安装有针模组以对所述安装位上的陶瓷覆铜板模组进行测试，所述陶瓷覆铜板模组包括第一陶瓷覆铜板部以及第二陶瓷覆铜板部，所述针模组包括基板以及设于所述基板上探针组，所述探针组包括对应所述第一陶瓷覆铜板部以及第二陶瓷覆铜板部设置的第一探针组和第二探针组，所述基板上还设置有位于所述升降机构外侧的拨码开关组，所述拨码开关组用于切换所述第一探针组和所述第二探针组以分别检测所述第一陶瓷覆铜板部和所述第二陶瓷覆铜板部。
优选地，所述陶瓷覆铜板模组还包括第三陶瓷覆铜板部以及第四陶瓷覆铜板部，所述基板上对应所述第三陶瓷覆铜板部以及第四陶瓷覆铜板部设置有第三探针组和第四探针组，第一陶瓷覆铜板部、第二陶瓷覆铜板部、第三陶瓷覆铜板部以及第四陶瓷覆铜板部两两并排设置形成矩形。
优选地，所述升降机构包括安装于所述安装板上的推拉式快速夹以及与所述推拉式快速夹连接的连接板，所述连接板上连接有所述针模组。
优选地，所述连接板朝向所述第一支撑板的一侧向外延伸有第一导向块，所述连接板朝向所述第二支撑板的一侧向外延伸有第二导向块，所述第一支撑板沿竖直方向开设有第一槽孔，所述第二支撑板沿竖直方向开设有第二槽孔，所述第一导向块与所述第一槽孔滑动连接，所述第二导向块与所述第二槽孔滑动连接。
优选地，所述针模组还包括固定座，所述固定座呈U型且包括第一侧板、第二侧板以及与所述第一侧板以及所述第二侧板连接的底板，所述底板上对应所述探针组开设有通孔组，所述基板嵌设于所述第一侧板与所述第二侧板之间并使得所述探针组自所述通孔组伸出，所述连接板盖设于所述第一侧板、所述第二侧板上并与所述第一侧板、所述第二侧板均连接，所述基板夹设于所述固定座与所述连接板之间。
优选地，所述基板包括依次分布的第一区域、第二区域以及第三区域，所述第一区域位于所述固定座与所述连接板之间且所述第一区域上设置有所述探针组，所述第二区域及所述第三区域位于所述升降机构的外侧，所述第二区域上设置有所述拨码开关组，所述第三区域上设置有BNC接口。
优选地，所述测试台上设置有安装台，所述安装台设于所述第一支撑板和所述第二支撑板之间，所述安装台上设置有所述陶瓷覆铜板模组的安装位，所述安装台上还设置有对位孔，所述连接板上设置有对位栓，测试时，所述对位栓嵌设于所述对位孔中以定位。
优选地，所述安装台上对应所述陶瓷覆铜板模组的尺寸设置有对位凸起，所述对位凸起为至少两个，所述陶瓷覆铜板模组上对应所述对位凸起设有对位通孔，所述对位凸起嵌设于所述对位通孔中以安装所述陶瓷覆铜板模组。
优选地，所述拨码开关组包括并排设置的第一组拨码开关以及第二组拨码开关，所述第一组拨码开关为六个且均为单刀双掷开关，所述第二组拨码开关为十二个且均为单刀单掷开关，所述第一组拨码开关设于所述第二组拨码开关和BNC接口之间。
优选地，所述固定座的材质为电木。
与现有技术相比，本实用新型陶瓷覆铜板模组的检测治具通过在晶圆的CP测试和封装后的FT测试中间插入对陶瓷覆铜板模组的测试，可以提早发现不良品，进而避免后半段制程的浪费，提高陶瓷覆铜板模组封装后的良率并节约成本。另外，本实用新型使用拨码开关组切换第一陶瓷覆铜板部及第二陶瓷覆铜板部以分别单独进行测试，只需将升降机构下压一次，通过拨码开关组切换即可完成一组陶瓷覆铜板模组的测试，无需多次升降升降机构，操作方便，测试效率高，测试结果准确。
附图说明
图1为本实用新型实施例检测治具的结构图。
图2为本实用新型实施例陶瓷覆铜板模组的结构图。
图3为本实用新型实施例陶瓷覆铜板模组安装于检测治具后的结构图。
图4为图3的正视图。
图5为图3的侧视图。
图6为图3的俯视图。
图7为实用新型实施例针模组的一个角度的结构图。
图8为实用新型实施例针模组的另一个角度的结构图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现的效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
如图1至图8所示，本实用新型实施例公开一种陶瓷覆铜板模组10的检测治具，包括测试台1以及设于测试台1上的第一支撑板21和第二支撑板22，测试台1上设置有陶瓷覆铜板模组10的安装位，安装位位于第一支撑板21和第二支撑板22之间，第一支撑板21和第二支撑板22相对设置且均竖直设置于测试台1上；第一支撑板21与第二支撑板22之间还固定连接有安装板3，安装板3上连接有升降机构4，升降机构4的底部安装有针模组50以对安装位上的陶瓷覆铜板模组10进行测试，陶瓷覆铜板模组10包括第一陶瓷覆铜板部101以及第二陶瓷覆铜板部102，针模组50包括基板6以及设于基板6上探针组7，探针组7包括对应第一陶瓷覆铜板部101以及第二陶瓷覆铜板部102设置的第一探针组71和第二探针组72，基板6上还设置有位于升降机构4外侧的拨码开关组8，拨码开关组8用于切换第一探针组71和第二探针组72以分别检测第一陶瓷覆铜板部101和第二陶瓷覆铜板部102。
具体的，如图1至图8所示，陶瓷覆铜板模组10(DBC模组)为62mm IGBT DBC模组，陶瓷覆铜板模组10至少包括第一陶瓷覆铜板部101以及第二陶瓷覆铜板部102，第一陶瓷覆铜板部101以及第二陶瓷覆铜板部102需要单独测试，探针组7按照陶瓷覆铜板模组10的布局设计以在需要测试的点位放置对应的探针组7，每个探针组7包括至少三个探针，探针组7的探针使用0.7mm Pogo pin，在满足电压电流规格的同时，缩小针直径，方便Gate端小信号端子的接触；使用拨码开关组8切换第一陶瓷覆铜板部101及第二陶瓷覆铜板部102以分别单独进行测试，只需将升降机构4下压一次，通过拨码开关组8切换即可完成一组陶瓷覆铜板模组10的测试，无需多次升降升降机构4，操作方便，测试效率高，测试结果准确。
本实用新型陶瓷覆铜板模组10的检测治具100通过在晶圆的CP测试和封装后的FT测试中间插入对陶瓷覆铜板模组10的测试，可以提早发现不良品，进而避免后半段制程的浪费，提高陶瓷覆铜板模组10封装后的良率并节约成本。
本实用新型实施例中，陶瓷覆铜板模组10还包括第三陶瓷覆铜板部103以及第四陶瓷覆铜板部104，基板6上对应第三陶瓷覆铜板部103以及第四陶瓷覆铜板部104设置有第三探针组73和第四探针组74，第一陶瓷覆铜板部101、第二陶瓷覆铜板部102、第三陶瓷覆铜板部103以及第四陶瓷覆铜板部104两两并排设置形成矩形。具体的，如图2至图3以及图8所示，陶瓷覆铜板模组10可以仅包括需检测的第一陶瓷覆铜板部101和第二陶瓷覆铜板部102，也可以包括需检测的第一陶瓷覆铜板部101、第二陶瓷覆铜板部102、第三陶瓷覆铜板部103以及第四陶瓷覆铜板部104，陶瓷覆铜板模组10的具体结构以实际所需制作的IGBT的结构以及制程进行确定，在此不做限制，探针组7包括对应第一陶瓷覆铜板部101、第二陶瓷覆铜板部102、第三陶瓷覆铜板部103以及第四陶瓷覆铜板部104设置的第一探针组71、第二探针组72、第三探针组73和第四探针组74。
本实用新型实施例中，升降机构4包括安装于安装板3上的推拉式快速夹41以及与推拉式快速夹41连接的连接板42，连接板42上连接有针模组50。具体的，如图1所示，安装板3的中部固定安装有推拉式快速夹41，连接板42呈矩形结构且位于第一支撑板21和第二支撑板22之间，下压推拉式快速夹41可带动针模组50向下运动以与陶瓷覆铜板模组10接触，测试完成后，再利用推拉式快速夹41带动针模组50上升，从而可以取出陶瓷覆铜板模组10，升降机构4采用推拉式快速夹41，使用非常方便，在一些其他实施例中，也可以采用其它升降机构4，在此不做限定，只要能够实现的升降和定位的方式均可。
本实用新型实施例中，连接板42朝向第一支撑板21的一侧向外延伸有第一导向块421，连接板42朝向第二支撑板22的一侧向外延伸有第二导向块422，第一支撑板21沿竖直方向开设有第一槽孔211，第二支撑板22沿竖直方向开设有第二槽孔221，第一导向块421与第一槽孔211滑动连接，第二导向块422与第二槽孔221滑动连接。具体的，如图1至图5所示，第一槽孔211的尺寸略大于第一导向块421的尺寸，第二槽孔221的尺寸略大于第二导向块422的尺寸，通过第一导向块421与第一槽孔211滑动连接，第二导向块422与第二槽孔221滑动连接以保证连接板42移动后的位置精度，确保针模组50与陶瓷覆铜板模组10对位精确，设计巧妙。
本实用新型实施例中，针模组50还包括固定座5，固定座5呈U型且包括第一侧板51、第二侧板52以及与第一侧板51以及第二侧板52连接的底板53，底板53上对应探针组7开设有通孔组，基板6嵌设于第一侧板51与第二侧板52之间并使得探针组7自通孔组伸出，连接板42盖设于第一侧板51、第二侧板52上并与第一侧板51、第二侧板52均连接，基板6夹设于固定座5与连接板42之间。具体的，如图3、图4、图7以及图8所示，基板6为PCB基板，固定座5的材质为电木，固定座5呈U型以形成容置基板6的容置空间，当探针组7包括第一探针组71、第二探针组72、第三探针组73和第四探针组74时，通孔组对应包括第一通孔组、第二通孔组、第三通孔组以及第四通孔组，通孔组由各穿透底板53的通孔组成，第一探针组71自第一通孔组中对应的通孔中伸出，第二探针组72自第二通孔组中对应的通孔伸出，第三探针组73自第三通孔组中对应的通孔伸出，第四探针组74自第四通孔组中对应的通孔伸出以分别对第一陶瓷覆铜板部101、第二陶瓷覆铜板部102、第三陶瓷覆铜板部103以及第四陶瓷覆铜板部104进行测试。
本实用新型实施例中，基板6包括依次分布的第一区域、第二区域以及第三区域，第一区域位于固定座5与连接板42之间且第一区域上设置有探针组7，第二区域及第三区域位于升降机构4的外侧，第二区域上设置有拨码开关组8，第三区域上设置有BNC接口9。具体的，本实用新型62mm IGBT采用开尔文接线法，如图3至图8所示，第一区域上设置有第一探针组71、第二探针组72、第三探针组73和第四探针组74，拨码开关组8包括并排设置的第一组拨码开关81以及第二组拨码开关82，第一组拨码开关81为六个且均为单刀双掷开关，第二组拨码开关82为十二个且均为单刀单掷开关，第一组拨码开关81设于第二组拨码开关82和BNC接口9之间，将第一探针组71和第二探针组72组成第一组探针，将第三探针组73和第四探针组74组成第二组探针，第一组拨码开关81用于选择接通第一组探针还是第二组探针，第二组拨码开关82用于在第一组拨码开关81选择确定后再进行第一组探针内的第一探针组71和第二探针组72的选择或第二组探针内的第三探针组73和第四探针组74的选择，例如，第一组拨码开关81选择接通第一组探针，第二组拨码开关82用于选择接通第一组探针中的第一探针组71，BNC(Bayonet Nut Connector，卡扣配合型连接器)接口可与测试机直接相连，减少信号转接接口带来的阻抗增加及干扰，测试机的电信号传输到陶瓷覆铜板模组10上以进行性能测试。
本实用新型实施例中，测试台1上设置有安装台11，安装台11设于第一支撑板21和第二支撑板22之间，安装台11上设置有陶瓷覆铜板模组10的安装位，安装台11上还设置有对位孔111，连接板42上设置有对位栓43，测试时，对位栓43嵌设于对位孔111中以定位。具体的，如图4所示，对位栓43为两个，分别设于连接板42的两侧并分别自第一侧板51和第二侧板52穿出，对位栓43超出固定座5的长度等于探针组7超出底板53的长度与对位孔111的孔深之和以进行定位和限位。
本实用新型实施例中，安装台11上对应陶瓷覆铜板模组10的尺寸设置有对位凸起112，对位凸起112为至少两个，陶瓷覆铜板模组10上对应对位凸起112设有对位通孔105，对位凸起112嵌设于对位通孔105中以安装陶瓷覆铜板模组10。具体的，如图1所示，对位凸起112为四个，分别设置于安装台11四个角，对位凸起112与对位通孔105的设置，安装方便，便于实施。
本实用新型将陶瓷覆铜板模组10安装在安装台11上并使得对位凸起112嵌设于对位通孔105中，调整拨码开关组8，使线路与要测试的陶瓷覆铜板模组10建立连接，下压推拉式快速夹41，使针模组50与陶瓷覆铜板模组10测试点接触，测试机输出资源完成测试。
以上所揭露的仅为本实用新型的较佳实例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型申请专利范围所作的等同变化，仍属于本实用新型所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，包括测试台以及设于所述测试台上的第一支撑板和第二支撑板，所述测试台上设置有陶瓷覆铜板模组的安装位，所述安装位位于所述第一支撑板和第二支撑板之间，所述第一支撑板和所述第二支撑板相对设置且均竖直设置于所述测试台上；
所述第一支撑板与所述第二支撑板之间还固定连接有安装板，所述安装板上连接有升降机构，所述升降机构的底部安装有针模组以对所述安装位上的陶瓷覆铜板模组进行测试，所述陶瓷覆铜板模组包括第一陶瓷覆铜板部以及第二陶瓷覆铜板部，所述针模组包括基板以及设于所述基板上探针组，所述探针组包括对应所述第一陶瓷覆铜板部以及第二陶瓷覆铜板部设置的第一探针组和第二探针组，所述基板上还设置有位于所述升降机构外侧的拨码开关组，所述拨码开关组用于切换所述第一探针组和所述第二探针组以分别检测所述第一陶瓷覆铜板部和所述第二陶瓷覆铜板部。
2.如权利要求1所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述陶瓷覆铜板模组还包括第三陶瓷覆铜板部以及第四陶瓷覆铜板部，所述基板上对应所述第三陶瓷覆铜板部以及第四陶瓷覆铜板部设置有第三探针组和第四探针组，第一陶瓷覆铜板部、第二陶瓷覆铜板部、第三陶瓷覆铜板部以及第四陶瓷覆铜板部两两并排设置形成矩形。
3.如权利要求1所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述升降机构包括安装于所述安装板上的推拉式快速夹以及与所述推拉式快速夹连接的连接板，所述连接板上连接有所述针模组。
4.如权利要求3所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述连接板朝向所述第一支撑板的一侧向外延伸有第一导向块，所述连接板朝向所述第二支撑板的一侧向外延伸有第二导向块，所述第一支撑板沿竖直方向开设有第一槽孔，所述第二支撑板沿竖直方向开设有第二槽孔，所述第一导向块与所述第一槽孔滑动连接，所述第二导向块与所述第二槽孔滑动连接。
5.如权利要求3所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述针模组还包括固定座，所述固定座呈U型且包括第一侧板、第二侧板以及与所述第一侧板以及所述第二侧板连接的底板，所述底板上对应所述探针组开设有通孔组，所述基板嵌设于所述第一侧板与所述第二侧板之间并使得所述探针组自所述通孔组伸出，所述连接板盖设于所述第一侧板、所述第二侧板上并与所述第一侧板、所述第二侧板均连接，所述基板夹设于所述固定座与所述连接板之间。
6.如权利要求5所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述基板包括依次分布的第一区域、第二区域以及第三区域，所述第一区域位于所述固定座与所述连接板之间且所述第一区域上设置有所述探针组，所述第二区域及所述第三区域位于所述升降机构的外侧，所述第二区域上设置有所述拨码开关组，所述第三区域上设置有BNC接口。
7.如权利要求3所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述测试台上设置有安装台，所述安装台设于所述第一支撑板和所述第二支撑板之间，所述安装台上设置有所述陶瓷覆铜板模组的所述安装位，所述安装台上还设置有对位孔，所述连接板上设置有对位栓，测试时，所述对位栓嵌设于所述对位孔中以定位。
8.如权利要求7所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述安装台上对应所述陶瓷覆铜板模组的尺寸设置有对位凸起，所述对位凸起为至少两个，所述陶瓷覆铜板模组上对应所述对位凸起设有对位通孔，所述对位凸起嵌设于所述对位通孔中以安装所述陶瓷覆铜板模组。
9.如权利要求3所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述拨码开关组包括并排设置的第一组拨码开关以及第二组拨码开关，所述第一组拨码开关为六个且均为单刀双掷开关，所述第二组拨码开关为十二个且均为单刀单掷开关，所述第一组拨码开关设于所述第二组拨码开关和BNC接口之间。
10.如权利要求5所述的陶瓷覆铜板模组的检测治具，其特征在于，所述固定座的材质为电木。
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant |