CN221686533U - 一种射频元器件电性能快速无损检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种射频元器件电性能快速无损检测装置，主要包括底座、夹持部、射频接头和升降台，底座两侧设置有支撑板，夹持部位于底座上，且其与支撑板内侧通过第一弹性件连接，射频接头设置在夹持部上，升降台通过第二弹性件与底座连接，且升降台设置在夹持部之间。应用本申请的技术方案，能够有效提高检测效率，能够有效的避免了昂贵耗时的金丝键合工艺，连接快速便捷且不会对元器件造成损坏，能够对器件全数检验。夹持部和升降台的配合可以实现装载待测件，并辅助实现快速稳定的射频电性能连接，能够有效的提高测试结果的准确性和一致性，同时降低装配难度，提升测试效率。

Description

一种射频元器件电性能快速无损检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，具体为一种射频元器件电性能快速无损检测装置。

背景技术

有一类射频电子元器件其信号馈入部分是微带线结构，比如环形器，隔离器，贴片衰减器等。其电信号连接端口在元器件的上表面，在产品中使用时需要采用微组装的金丝键合工艺将金线/金带通过施加压力和热能在接头处形成良好的电气连接，将金线/金带的两端分别焊接在电路板和元器件的端口上。

若在元器件的检测中也采用金丝键合工艺，不仅需要使用昂贵的仪器设备，步骤麻烦耗时；且焊接过程是不可逆的，即器件焊接好后无法取下，导致检测样品无法再进行销售使用。这样就对此类元器件的检测造成很大的不便，检测只能采用抽样检验，在一批样本中选取个别元器件，根据元器件封装尺寸制作相应的测试夹具，通过金丝键合焊接在待测夹具上进行测试，无法对每一个元器件进行检测，即便如此也存在操作成本高，工艺耗时长等缺点，且每次测试都会损耗一个测试夹具和待测元器件。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种射频元器件电性能快速无损检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种射频元器件电性能快速无损检测装置，包括底座、夹持部、射频接头和升降台，所述底座两侧设置有支撑板，所述夹持部位于所述底座上，且其与所述支撑板内侧通过第一弹性件连接，所述射频接头设置在所述夹持部上，且相对设置的所述射频接头为同轴心排列，所述升降台通过第二弹性件与所述底座连接，且所述升降台设置在所述夹持部之间。

进一步地，夹持部包括第一部分和第二部分，所述第一部分为L型，且相对设置所述第一部分的两个面相互平行，并且所述射频接头与所述第一部分连接，使其两个所述射频接头相对设置，所述第二部分顶部与所述第一部分底部连接，所述第二部分底部与所述底座相接触，使其所述第二部分能够在所述底座上移动，其中所述第二部分和所述第一部分的一面分别与所述第一弹性件相连接，所述第二部分的另一面为斜面，且两个所述斜面形成一个V字型结构。

进一步地，升降台包括滑动部和载台，所述滑动部设置在所述第二部分之间，且所述滑动部两侧均设置有与所述第二部分斜面相互匹配的切面，使其能够延所述第二部分的斜面上下滑动，并且所述滑动部底部通过所述第二弹性件与所述底座连接，所述载台底部与所述滑动部顶部连接，且所述载台顶部用于承载待检测件，其中所述载台为T型结构。

进一步地，第二弹性件位于所述底座中心位置。

进一步地，底座顶部设置有用于使所述夹持部延预定轨迹滑动的第一导向部。

进一步地，第一部分与第二部分之间设置有可相互平行移动的第二导向部。

进一步地，第一弹性件为弹簧。

进一步地，第二弹性件为拉簧。

通过本实用新型前述公开，相较于现有具有以下特点：

应用本申请的技术方案，能够有效提高检测效率，通过电信号传输部分为同轴射频接头，末端有探针伸出用于和待测件信号端口连接。能够有效的避免了昂贵耗时的金丝键合工艺，连接快速便捷且不会对元器件造成损坏，能够对器件全数检验。

夹持部和升降台的配合可以实现装载待测件，并辅助实现快速稳定的射频电性能连接，能够有效的提高测试结果的准确性和一致性，同时降低装配难度，提升测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作以简单地介绍，显而易见的是，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型结构示意图；以及

图2为本实用新型局部结构示意图。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“轴向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至图2，本实施例提供一种技术方案：一种射频元器件电性能快速无损检测装置，包括底座1、夹持部2、射频接头3和升降台4，所述底座1两侧设置有支撑板11，所述夹持部2位于所述底座1上，且其与所述支撑板11内侧通过第一弹性件21连接，所述射频接头3设置在所述夹持部2上，且相对设置的所述射频接头3为同轴心排列，在本实施例中，同轴射频接头3安装在夹持部2上，其接头末端伸出探针31。需要说明的是在测试时候探针31需要压接在待测件的微带线金属上表面上，同时接头端面和器件端面也必须紧密接触，这样才能保证待测件的电性能。所述升降台4通过第二弹性件43与所述底座1连接，其中进一步的是，第二弹性件43位于所述底座1中心位置。且所述升降台4设置在所述夹持部2之间。其使用时，通过电信号传输部分为同轴射频接头3，末端有探针31伸出用于和待测件信号端口连接。能够有效的避免了昂贵耗时的金丝键合工艺，连接快速便捷且不会对元器件造成损坏，能够对器件全数检验。可选的是，第一弹性件21为弹簧，第二弹性件43为拉簧。

利用夹持部2和升降台4的配合可以实现装载待测件，并辅助实现快速稳定的射频电性能连接，能够有效的提高测试结果的准确性和一致性，同时降低装配难度，提升测试效率。

其中，夹持部2包括第一部分22和第二部分23，所述第一部分22为L型，且相对设置所述第一部分22的两个面相互平行，并且所述射频接头3与所述第一部分22连接，使其两个所述射频接头3相对设置，所述第二部分23顶部与所述第一部分22底部连接，所述第二部分23部与所述底座1相接触，使其所述第二部分23能够在所述底座1上移动，其中所述第二部分23和所述第一部分22的一面分别与所述第一弹性件21相连接，所述第二部分23的另一面为斜面，且两个所述斜面形成一个V字型结构，其中底座1顶部设置有用于使所述夹持部2延预定轨迹滑动的第一导向部。

可选的，升降台4包括滑动部41和载台42，所述滑动部41设置在所述第二部分23之间，且所述滑动部41两侧均设置有与所述第二部分23斜面相互匹配的切面，使其能够延所述第二部分23的斜面上下滑动，并且所述滑动部41底部通过所述第二弹性件43与所述底座1连接，所述载台42底部与所述滑动部41顶部连接，且所述载台42顶部用于承载待检测件，其中所述载台42为T型结构。

其中，同轴的两个射频接头3安装在第一部分22上，其中，第一部分22与所述第二部分23之间设置有可相互平行移动的第二导向部。其中第二导向部可以是通过燕尾槽/导轨等定位滑动装置，同时第一部分22可以通过弹簧/压簧/拉杆等施力装置向中间待测件夹紧。

进一步的是，第二部分23通过燕尾槽/导轨等定位滑动装置安装在底座1上，通过弹簧/压簧/拉杆等施力装置向中间夹紧，同时第二部分23的斜面与V型升降台4斜面接触，推动升降台4往上运动，将待测件向上顶起。V型升降台4通过拉簧和导轨等限位装置和底座1相连，保证垂直移动的位置准确性和压力力度。确保待测件端口能够准确的和探针接触并保证一定的压力。

测试不同尺寸的器件，只需要更换不同尺寸的载台即可。

如果待测件有2个以上的端口，只需要在另外一个端口方向添加一个相同结构的第一部分22和射频接头3即可实现多端口器件的测试。

在实际测试方案中，通过V型升降台和滑块设计，可将弹簧在水平方向的推力分解为垂直向上的推力，在弹簧推动滑块往中间靠拢的同时向上顶起升降台，这样就能同时夹紧待测件和将微带线上端面压紧在同轴线探针上，保证器件端面和接头端面，以及探针和待测件微带线金属表面的接触良好。

测试完毕后只需往下按压V型升降台，即可实现待测件和测试夹具的分离，方便待检测的安装和取出，提高了测试效率。

然而，上述所举的例子只是其中一个可行的实施例而并非用以限定本申请。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于，包括：

底座(1)，所述底座(1)两侧设置有支撑板(11)；

夹持部(2)，所述夹持部(2)位于所述底座(1)上，且其与所述支撑板(11)内侧通过第一弹性件(21)连接；

射频接头(3)，所述射频接头(3)设置在所述夹持部(2)上，且相对设置的所述射频接头(3)为同轴心排列；

升降台(4)，所述升降台(4)通过第二弹性件(43)与所述底座(1)连接，且所述升降台(4)设置在所述夹持部(2)之间。

2.根据权利要求1所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述夹持部(2)包括：

第一部分(22)，所述第一部分(22)为L型，且相对设置所述第一部分(22)的两个面相互平行，并且所述射频接头(3)与所述第一部分(22)连接，使其两个所述射频接头(3)相对设置；

第二部分(23)，所述第二部分(23)顶部与所述第一部分(22)底部连接，所述第二部分(23)部与所述底座(1)相接触，使其所述第二部分(23)能够在所述底座(1)上移动，其中所述第二部分(23)和所述第一部分(22)的一面分别与所述第一弹性件(21)相连接，所述第二部分(23)的另一面为斜面，且两个所述斜面形成一个V字型结构。

3.根据权利要求2所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述升降台(4)包括：

滑动部(41)，所述滑动部(41)设置在所述第二部分(23)之间，且所述滑动部(41)两侧均设置有与所述第二部分(23)斜面相互匹配的切面，使其能够延所述第二部分(23)的斜面上下滑动，并且所述滑动部(41)底部通过所述第二弹性件(43)与所述底座(1)连接；

载台(42)，所述载台(42)底部与所述滑动部(41)顶部连接，且所述载台(42)顶部用于承载待检测件，其中所述载台(42)为T型结构。

4.根据权利要求1或3所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述第二弹性件(43)位于所述底座(1)中心位置。

5.根据权利要求1或2所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述底座(1)顶部设置有用于使所述夹持部(2)延预定轨迹滑动的第一导向部。

6.根据权利要求2所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述第一部分(22)与所述第二部分(23)之间设置有可相互平行移动的第二导向部。

7.根据权利要求1或2所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述第一弹性件(21)为弹簧。

8.根据权利要求4所述的一种射频元器件电性能快速无损检测装置，其特征在于：所述第二弹性件(43)为拉簧。