CN221804192U - 一种用于芯片测试的装夹装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 42
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 101001121408 Homo sapiens L-amino-acid oxidase Proteins 0.000 description 1
- 102100026388 L-amino-acid oxidase Human genes 0.000 description 1
- 101100012902 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) FIG2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100233916 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) KAR5 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于芯片测试的装夹装置，包括检测台，所述检测台的中部两侧分别设置有两个限位柱，所述检测台的两端分别设置有滑台，两个滑台之间形成用于放置待检测芯片的检测空间；所述两个滑台之间还设置有用于吸附芯片的吸附盘；两个滑台上均滑动安装有导通结构，所述导通结构包括滑动块，滑动块的一侧设置有用于与待检测芯片引脚电性连接的检测连接缺口，所述滑动块的背部设置有与检测电笔连接的安装片。本实用新型可以更加轻松的找到待检测芯片的各个引脚的位置，更加准确的分别对各个待检测芯片的引脚进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种用于芯片测试的装夹装置。
背景技术
芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体；在芯片安装在电路板上之前需要对芯片进行故障检测，通常使用万用表对芯片的各个引脚之间的连接进行检测，但是由于芯片的引脚众多，各个引脚之间的间隙比较小；在检测过程中，不同的引脚之间的连接方式并不相同，需要根据内部线路图找到对应的引脚进行测量，现有的芯片装夹装置仅仅是对芯片进行固定，并不能便于寻找对应的芯片引脚进行测量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于芯片测试的装夹装置，以解决上述背景技术中提出的由于芯片的引脚众多，各个引脚之间的间隙比较小；在检测过程中，不同的引脚之间的连接方式并不相同，需要根据内部线路图找到对应的引脚进行测量，现有的芯片装夹装置仅仅是对芯片进行固定，并不能便于寻找对应的芯片引脚进行测量的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片测试的装夹装置，包括检测台，所述检测台的中部两侧分别设置有两个限位柱，所述检测台的两端分别设置有滑台，两个滑台之间形成用于放置待检测芯片的检测空间；所述两个滑台之间还设置有用于吸附芯片的吸附盘；
两个滑台上均滑动安装有导通结构，所述导通结构包括滑动块，滑动块的一侧设置有用于与待检测芯片引脚电性连接的检测连接缺口，所述滑动块的背部设置有与检测电笔连接的安装片。
进一步的，所述限位柱的上端呈圆锥状设置。
进一步的，所述吸附盘的下方设置有连通管道，连通管道与吸附盘内部连通，连通管道铺设在滑台内部，连通管道的另一端伸出检测台，连通管道上设置有控制阀。
进一步的，所述滑台上设置有滑槽，所述滑动块滑动安装在滑槽内部，所述滑槽内部设置有用于导向滑动块移动的滑杆。
进一步的，所述滑动块的背部弯折设置有导通片，所述安装片上设置有检测连接套筒，所述导通片的一端与检测连接套筒电性连接，所述导通片的另一端盖在检测连接缺口上。
进一步的，两个所述滑台相互朝向的端面均设置有用于压紧在待检测芯片侧面的压片，所述压片弯折弹性设置。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本实用新型，通过设置限位柱和压片分别对待检测芯片进行水平方向上的定位，通过在检测台上设置吸附盘对待检测芯片进行高度方向上的定位，可以方便的完成待检测芯片的固定，另外，通过滑动设置的滑动块可以使工作人员可以更加轻松的找到待检测芯片的各个引脚的位置，更加准确的分别对各个待检测芯片的引脚进行检测。
附图说明
图1为本实用新型一种用于芯片测试的装夹装置的整体结构示意图；
图2为本实用新型一种用于芯片测试的装夹装置的去掉芯片的整体结构示意图；
图3为本实用新型一种用于芯片测试的装夹装置的导通结构的整体结构爆炸图；
图4为本实用新型一种用于芯片测试的装夹装置的连通管道与吸附盘连接的结构示意图。
图中：1、检测台；2、芯片；3、滑台；31、压片；4、限位柱；5、导通结构；51、滑动块；5101、检测连接缺口；5102、滑动通孔；52、安装片；53、导通片；54、检测连接套筒；6、连通管道；61、控制阀；7、吸附盘。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
请参阅图1-图4，本实用新型提供一种技术方案：一种用于芯片测试的装夹装置，包括检测台1，所述检测台1的中部两侧分别设置有两个限位柱4，限位柱4刚刚好卡在待检测芯片2两端的弧形凹槽内部，可以对芯片2进行长度方向上的定位；
所述检测台1的两端分别设置有滑台3，两个滑台3之间形成用于放置待检测芯片的检测空间；所述两个滑台3之间还设置有用于吸附芯片2的吸附盘7；
两个滑台3上均滑动安装有导通结构5，所述导通结构5包括滑动块51(在每个滑动块51上均标记有编号，在需要对某个引脚的连接性能进行检测的时候，就将对应的滑动块51移动到靠近引脚的一侧，使引脚与滑动块51电性连接)，滑动块51的一侧设置有用于与待检测芯片2引脚电性连接的检测连接缺口5101，所述滑动块51的背部设置有与检测电笔连接的安装片52。
本实用新型中，在实际的使用过程中，通过推动对应位置的滑动块51，使对应位置的滑动块51与待检测引脚之间相互接触导通，此时将检测电笔与安装片51接触，就可以方便的对这个引脚进行检测；
需要说明的是，各个滑动块51之间相互绝缘设置，滑动块51上的检测连接缺口5101，与倒置放置在检测台1上的待检测芯片2引脚的高度相同，滑动块51朝向引脚移动的时候，待检测芯片2的引脚刚好插入到检测连接缺口5101内部
进一步的，所述限位柱4的上端呈圆锥状设置。
进一步的，所述吸附盘7的下方设置有连通管道6，连通管道6与吸附盘7内部连通，连通管道6铺设在滑台3内部，连通管道6的另一端伸出检测台1，连通管道6上设置有控制阀61；在芯片2检测之后，通过打开控制阀61可以使芯片2可以更加顺利的从检测台1上取出来。
进一步的，所述滑台3上设置有滑槽，所述滑动块51滑动安装在滑槽内部，所述滑槽内部设置有用于导向滑动块51移动的滑杆，在滑动块51上设置有用于供滑轨穿过的滑动通孔5102。
进一步的，所述滑动块51的背部弯折设置有导通片53，所述安装片52上设置有检测连接套筒54，所述导通片53的一端与检测连接套筒54电性连接，所述导通片53的另一端盖在检测连接缺口5101上。
进一步的，两个所述滑台3相互朝向的端面均设置有用于压紧在待检测芯片侧面的压片31，所述压片31弯折弹性设置。
工作原理：通过设置限位柱4和压片31分别对待检测芯片2进行水平方向上的定位，通过在检测台1上设置吸附盘7对待检测芯片2进行高度方向上的定位，可以方便的完成待检测芯片2的固定，另外，通过滑动设置的滑动块51可以使工作人员可以更加轻松的找到待检测芯片2的各个引脚的位置，更加准确的分别对各个待检测芯片2的引脚进行检测。
基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
Claims (6)
1.一种用于芯片测试的装夹装置，包括检测台(1)，其特征在于，所述检测台(1)的中部两侧分别设置有两个限位柱(4)，所述检测台(1)的两端分别设置有滑台(3)，两个滑台(3)之间形成用于放置待检测芯片(2)的检测空间；所述两个滑台(3)之间还设置有用于吸附芯片的吸附盘(7)；
两个滑台(3)上均滑动安装有导通结构(5)，所述导通结构(5)包括滑动块(51)，滑动块(51)的一侧设置有用于与待检测芯片(2)引脚电性连接的检测连接缺口(5101)，所述滑动块(51)的背部设置有与检测电笔连接的安装片(52)。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述限位柱(4)的上端呈圆锥状设置。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述吸附盘(7)的下方设置有连通管道(6)，连通管道(6)与吸附盘(7)内部连通，连通管道(6)铺设在滑台(3)内部，连通管道(6)的另一端伸出检测台(1)，连通管道(6)上设置有控制阀(61)。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述滑台(3)上设置有滑槽，所述滑动块(51)滑动安装在滑槽内部，所述滑槽内部设置有用于导向滑动块(51)移动的滑杆。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述滑动块(51)的背部弯折设置有导通片(53)，所述安装片(52)上设置有检测连接套筒(54)，所述导通片(53)的一端与检测连接套筒(54)电性连接，所述导通片(53)的另一端盖在检测连接缺口(5101)上。
6.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的装夹装置，其特征在于，两个所述滑台(3)相互朝向的端面均设置有用于压紧在待检测芯片侧面的压片(31)，所述压片(31)弯折弹性设置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202323591992.3U CN221804192U (zh) | 2023-12-28 | 2023-12-28 | 一种用于芯片测试的装夹装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202323591992.3U CN221804192U (zh) | 2023-12-28 | 2023-12-28 | 一种用于芯片测试的装夹装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN221804192U true CN221804192U (zh) | 2024-10-01 |
Family
ID=92890291
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202323591992.3U Active CN221804192U (zh) | 2023-12-28 | 2023-12-28 | 一种用于芯片测试的装夹装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN221804192U (zh) |
-
2023
- 2023-12-28 CN CN202323591992.3U patent/CN221804192U/zh active Active
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