CN220584327U - 一种提高测试速度的双测治具及其形成的耐压测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种提高测试速度的双测治具及其形成的耐压测试装置，其中，所述双测治具的正面设置有第一测试针和第二测试针，背面设置有第三测试针和第四测试中，所述第一测试针和第二测试针用于连接第一PCB板背面的焊盘，所述第三测试针和第四测试针用于连接第二PCB板正面的焊盘。本实用新型提供的一种提高测试速度的双测治具及其形成的耐压测试装置，确保不影响测试时长要求的情况下使得测试效率翻倍，进而显著提高PCB板耐压测试的效率。

Description

一种提高测试速度的双测治具及其形成的耐压测试装置

技术领域

本实用新型涉及耐压测试领域，尤其涉及一种提高测试速度的双测治具及其形成的耐压测试装置。

背景技术

在PCB制造行业中，针对电源板出厂一般要求做耐电压测试，耐电压测试的工作原理是：通过将绝缘部分和带电部分之间施加一定时间额定值的交直流高压电流来检测仪器绝缘材料所能承受的耐压值，因为在仪器的日常工作中不仅仅要考虑到仪器的额定工作电压所造成的影响，还要考虑短时间内大大高于额定电压值的过电压影响(比如短路或操作失误等)，在过电压的作用下，绝缘材料的结构会发生损坏，当超过绝缘材料所能承受的最大值时就会发生击穿并导致设备运行异常，还会造成操作人员触电危害人身安全。耐压测试就是通过施加一个高于正常电压几倍的值在产品上并持续一段时间，如果在规定时间内漏电电流在规定范围内，则绝缘性能正常，如果发生击穿则不正常；

目前行业内一般测试方法为使用全自动耐电压耐压测试机测试，能实现自动收放板和自动耐电压测试，但由于耐电压测试的参数包括升压时间、保压时间、降压时间、以及最高电压值等多个测试参数；这些测试参数为固定值、无法通过提高单片PCB板的测试速度来提升整体测试速度，导致PCB的耐压测试效率非常低，针对29组测试点的PCB板，测试速度只能做到为100片/h；无法满足测试效率上的要求。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的问题之一。为此，本实用新型的目的之一在于提供一种提高测试速度的双测治具及其形成的耐压测试装置，确保不影响测试时长要求的情况下使得测试效率翻倍，进而显著提高PCB板耐压测试的效率。

为了实现上述目的，本申请采用如下技术方案：一种提高测试速度的双测治具，所述双测治具的正面设置有第一测试针和第二测试针，背面设置有第三测试针和第四测试针，所述第一测试针和第二测试针用于连接第一PCB板背面的焊盘，所述第三测试针和第四测试针用于连接第二PCB板正面的焊盘。

进一步地，所述双测治具的正面设置有第一导向柱，所述第一PCB板中设置有与所述第一导向柱对应的第一对位孔。

进一步地，所述第一测试针和第三测试针一一对应，所述第二测试针和第四测试针一一对应，第一PCB板和第二PCB板结构相同，且相互对应的第一测试针和第三测试针连接两个PCB板中相同的网络；相互对应的第二测试针和第四测试针连接两个PCB板中相同的网络。

进一步地，所述第一测试针和第三测试针通过导线连接，所述第二测试针和第四测试针通过导线连接。

一种耐压测试装置，包括M个如上所述的一种提高测试速度的双测治具；M为大于0的整数。

进一步地，还包括测试底板，M个双测治具依次堆叠置于所述测试底板的上方，每个双测治具的正面和背面放置一个PCB板。

进一步地，所述测试底板靠近双测治具的一侧设置有伸缩测试针。

进一步地，所述测试底板靠近双测治具的一侧设置有第二导向柱，所述第二PCB板设置有所述第二导向柱对应的第二对位孔。

进一步地，所述伸缩测试针包括第一伸缩测试针和第二伸缩测试针，所述第一伸缩测试针和第三测试针连接至第二PCB板相同网络中的焊盘；所述第二伸缩测试针和第四测试针连接至第二PCB板相同网络中的焊盘；所述第一伸缩测试针和第二伸缩测试针分别连接至电源正极和电源负极。

进一步地，所述测试底板位于下压支架中，所述测试底板的上方设置有下压板，所述下压板正对所述双测治具的正面，所述测试底板和下压板之间设置有下压导向柱。

进一步地，包括若干个双测治具，每个双测治具的正面和背面放置一个PCB板，所述下压板位于最上方的PCB板的上方。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请提供的一种提高测试速度的双测治具，所述双测治具的正面设置有第一测试针和第二测试针，背面设置有第三测试针和第四测试针，所述第一测试针和第二测试针用于连接第一PCB板背面的焊盘，所述第三测试针和第四测试针用于连接第二PCB板正面的焊盘；本申请双测治具可以同时连接至两个PCB板，确保不影响测试时长要求的情况下使得耐压测试效率翻倍。

本申请提供的耐压测试装置，可以采用一个双测治具或多个双测治具进行PCB板的测试，只需要将双测治具正反面对应的测试针连通即可，无需增加新的测试点数，能够实现双测治具中测试针的充分利用，确保多个PCB板进行测试的同时无需增加额外的测试针，显著提高测试装置的测试效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

附图中：

图1为本申请中双测治具的结构示意图；

图2为本申请中双测治具和测试底板以及第一PCB板和第二PCB板的位置示意图；

图3为本申请中测试平台的结构示意图；

附图标号：11、第一测试针；12、第二测试针；13、第三测试针；14、第四测试针；15、第一导向柱；21、测试底板；22、第二导向柱；23、伸缩测试针；31、第一PCB板；32、第一对位孔；41、第二PCB板；51、下压板；52、下压手柄；53、下压导向柱；54、下压支架。

具体实施方式

为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本实用新型的具体实施方式。以下描述中，需要理解的是，“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、“纵”、“横”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“头”、“尾”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系、以特定的方位构造和操作，仅是为了便于描述本技术方案，而不是指示所指的机构或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本实用新型的限制。

还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。当一个元件被称为在另一元件“上”或“下”时，该元件能够“直接地”或“间接地”位于另一元件之上，或者也可能存在一个或更多个居间元件。术语“第一”、“第二”、“第三”等仅是为了便于描述本技术方案，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本实用新型实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本实用新型。在其它情况中，省略对众所周知的系统、机构、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本实用新型的描述。

实施例1

请参阅图1-图2，本申请提供的一种提高测试速度的双测治具，所述双测治具的正面设置有第一测试针11和第二测试针12，背面设置有第三测试针13和第四测试针14，所述第一测试针11和第二测试针12用于连接第一PCB板31背面的焊盘，所述第三测试针13和第四测试针14用于连接第二PCB板41正面的焊盘。

本申请中双测治具上方和下方的第一PCB板31和第二PCB板41的放置方向相同，即第一PCB板31和第二PCB板41均是正面朝上进行放置的。同时，本申请用于测试的PCB板要求同一个网络贯穿PCB板，自正面延伸至背面处，也就是说针对PCB板中同一个网络，正面和背面均设置有焊盘，一个网络指的是PCB板中用于测试的一个区域；耐压测试需要测试两个网络，也即两个区间之间的耐高压性能；因此，双测治具上方和下方的测试针至少为两个，用于连通PCB板中不同的网络。

本申请中第一PCB板31和第二PCB板41相同方向放置主要是为了便于PCB板的上料和下料，相同朝向放置无需进行PCB板的换向等操作，可以提高上下料效率。

本申请双测治具可以同时连接至两个PCB板，确保不影响测试时长要求的情况下使得耐压测试效率翻倍。

实施例2

请参阅图1-图2，本申请提供的一种提高测试速度的双测治具，所述双测治具的正面设置有第一测试针11和第二测试针12，背面设置有第三测试针13和第四测试针14，所述第一测试针11和第二测试针12用于连接第一PCB板31背面的焊盘，所述第三测试针13和第四测试针14用于连接第二PCB板41正面的焊盘。

进一步地，所述双测治具的正面设置有第一导向柱15，所述第一PCB板31中设置有与所述第一导向柱15对应的第一对位孔32。本实施例设定双测治具的正面为双测治具的上表面；背面为双测治具的下表面。

本申请在放置第一PCB板31的时候，为了确保第一PCB板31与第一测试针11和第二测试针12更好地实现电连接，也为了确保测试过程中第一PCB板31的位置固定不动，本申请可以在双测治具的正面设置第一导向柱15，在第一PCB板31中设置第一对位孔32，放置第一PCB板31的时候，只需要将第一对位孔32和第一导向柱15对准进行放置即可。

进一步的，本申请中所述第一测试针11和第三测试针13一一对应，所述第二测试针12和第四测试针14一一对应，第一PCB板31和第二PCB板41结构相同，且相互对应的第一测试针11和第三测试针13连接两个PCB板中相同的网络；相互对应的第二测试针12和第四测试针14连接两个PCB板中相同的网络。

如实施例1所述，本申请中用于测试的PCB板要求同一个网络贯穿PCB板，自正面延伸至背面处，也就是说针对PCB板中同一个网络，正面和背面均设置有焊盘。位于双测治具正面的第一测试针11和第二测试针12用于对第一PCB板31背面的网络进行测试；唯一双测治具背面的第三测试针13和第四测试针14用于对第二PCB板41正面的网络进行测试。不管是对PCB板正面还是背面的网络进行测试，均能够实现对PCB板的耐高压测试。

本申请设置相互对应的第一测试针11和第三测试针13连接两个PCB板中相同的网络；相互对应的第二测试针12和第四测试针14连接两个PCB板中相同的网络；确保在同一测试时间实现两个PCB板中相同网络的测试，使得第一PCB板31和第二PCB板41的测试保持同步。

本申请中PCB板的每个网络中均设置有多个焊盘，且PCB板正面和背面的焊盘位置可能不同，也就是说同一个网络中，位于正面和位于背面的焊盘位置会有偏差，因此，第一测试针11和第三测试针13在竖直方向上不一定对应，第三测试针13和第四测试针14在竖直方向上也不一定对应。本申请中所述第一测试针11和第三测试针13通过导线连接，所述第二测试针12和第四测试针14通过导线连接。

可以看出，本申请中第一PCB板31和第二PCB板41中待测试的其中一个网络通过第一测试针11和第三测试针13连接在一起，待测试的另外一个网络通过第二测试针12和第四测试针14连接在一起。然后再将两个网络对应的测试针分别引出至电源的正极和负极，即可同时实现第一PCB板31和第二PCB板41中相同网络的同步测试。

本申请双测治具可以同时连接至两个PCB板，确保不影响测试时长要求的情况下使得耐压测试效率翻倍。

实施例3

请参阅图1-图3，本申请提供的一种耐压测试装置，包括M个实施例2中的一种提高测试速度的双测治具。M为大于0的任意整数。

本申请中耐压测试装置还包括测试底板21，双测治具位于所述测试底板21的上方，所述第二PCB板41位于所述双测治具和测试底板21之间；第一PCB板31位于双测治具的上方。本申请耐压测试装置中的双测治具可以为一个或多个，当双测治具为一个的时候，可以同时实现两个PCB板的耐压测试；当双测治具为两个的时候，可以同时实现3个PCB板的耐压测试。依次类推，当双测治具为多个的时候，双测治具依次堆叠设置，且相邻的双测治具之间放置PCB板，相邻的双测治具通过相同网络中的焊盘实现并联。

为了便于描述，本实施例以一个双测治具为例进行说明。本申请中所述测试底板21靠近双测治具的一侧设置有伸缩测试针23。伸缩测试针23用于将连接在一起的不同PCB板中的相同网络引出至电源正极或电源负极。

所述伸缩测试针23包括第一伸缩测试针和第二伸缩测试针，所述第一伸缩测试针和第三测试针13分别从第二PCB板41的背面和正面连接至第二PCB板41其中一个网络中的焊盘；所述第二伸缩测试针和第四测试针14分别从第二PCB板41的背面和正面连接至第二PCB板41另外一个网络中的焊盘；所述第一伸缩测试针和第二伸缩测试针分别连接至电源正极和电源负极。PCB板中相同网络中的焊盘是导通的，这样就可以第二PCB板41中两个待测网络连接至电源正极和电源负极。

同时，第一测试针11和第三测试针13通过导线连通，第二测试针12和第四测试针14通过导线连通，且第一测试针11和第二测试针12分别连接至第一PCB板31中两个待测网络，这就使得第一测试针11和第二测试针12通过第三测试针13和第四测试针14连接至电源正极和负极。

如上所示，第一相互对应的第一测试针11和第三测试针13连接两个PCB板中相同的网络；相互对应的第二测试针12和第四测试针14连接两个PCB板中相同的网络，借助双测治具中导通的第一测试针11和第三测试针13，以及导通的第二测试针12和第四测试针14，可以实现第一PCB板31和第二PCB板41中待测网络之间的并联，借助第一伸缩测试针和第二伸缩测试针将第一PCB板31和第二PCB板41中待测网络引出至电源正极和电源负极进行耐电压性能测试。

进一步地，所述测试底板21靠近双测治具的一侧设置有第二导向柱22，所述第二PCB板41设置有所述第二导向柱22对应的第二对位孔。

本申请在放置第二PCB板41的时候，为了确保第二PCB板41与第一伸缩测试针第二伸缩测试针更好地实现电连接，也为了确保测试过程中第二PCB板41的位置固定不动，本申请可以在测试底板21靠近双测治具的一侧设置第一导向柱15，在第二PCB板41中设置第二对位孔，放置第二PCB板41的时候，只需要将第二对位孔和第二导向柱22对准进行放置即可。

进一步的，如图3所示，本申请中耐压测试装置还包括下压支架54，测试底板21位于下压支架54中，测试底板21的上方设置有下压板51，所述下压板51正对所述双测治具的正面，所述测试底板21和下压板51之间设置有下压导向柱53。下压板51上还可以设置下压手柄52，下压手柄52用于带动下压板51沿着下压导向柱53朝着靠近或者远离测试底板21方向进行移动。

本申请中测试治具和测试底板21之间的第二PCB板41的正面和背面分别被双测治具和测试底板21固定，下压板51用于在测试过程中对双测治具正面的第一PCB板31进行位置固定。

当本申请耐压测试装置中包括两个以上的双测治具时，每个双测治具的正面和背面放置一个PCB板，所述下压板51位于最上方的PCB板的上方，用于对最上方的PCB板进行固定，双测治具之间的PCB板被相邻的双测治具进行固定。

本申请提供的耐压测试装置，可以采用一个双测治具或多个双测治具进行PCB板的测试，只需要将双测治具正反面对应的测试针连通即可，无需增加新的测试点数，能够实现双测治具中测试针的充分利用，确保多个PCB板进行测试的同时无需增加额外的测试针，显著提高测试装置的测试效率。

可以理解的，以上实施例仅表达了本实用新型的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，可以对上述技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围；因此，凡跟本实用新型权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本实用新型权利要求的涵盖范围。

Claims (10)

1.一种提高测试速度的双测治具，其特征在于，所述双测治具的正面设置有第一测试针(11)和第二测试针(12)，背面设置有第三测试针(13)和第四测试针(14)，所述第一测试针(11)和第二测试针(12)用于连接第一PCB板(31)背面的焊盘，所述第三测试针(13)和第四测试针(14)用于连接第二PCB板(41)正面的焊盘。

2.根据权利要求1所述的一种提高测试速度的双测治具，其特征在于，所述双测治具的正面设置有第一导向柱(15)，所述第一PCB板(31)中设置有与所述第一导向柱(15)对应的第一对位孔(32)。

3.根据权利要求1所述的一种提高测试速度的双测治具，其特征在于，所述第一测试针(11)和第三测试针(13)一一对应，所述第二测试针(12)和第四测试针(14)一一对应，第一PCB板(31)和第二PCB板(41)结构相同，且相互对应的第一测试针(11)和第三测试针(13)连接两个PCB板中相同的网络；相互对应的第二测试针(12)和第四测试针(14)连接两个PCB板中相同的网络。

4.根据权利要求3所述的一种提高测试速度的双测治具，其特征在于，所述第一测试针(11)和第三测试针(13)通过导线连接，所述第二测试针(12)和第四测试针(14)通过导线连接。

5.一种耐压测试装置，其特征在于，包括M个权利要求1-4任意一项所述的一种提高测试速度的双测治具；M为大于0的整数。

6.根据权利要求5所述的一种耐压测试装置，其特征在于，还包括测试底板(21)，M个双测治具依次堆叠置于所述测试底板(21)的上方，每个双测治具的正面和背面放置一个PCB板。

7.根据权利要求6所述的一种耐压测试装置，其特征在于，所述测试底板(21)靠近双测治具的一侧设置有伸缩测试针(23)。

8.根据权利要求7所述的一种耐压测试装置，其特征在于，所述测试底板(21)靠近双测治具的一侧设置有第二导向柱(22)，所述第二PCB板(41)设置有所述第二导向柱(22)对应的第二对位孔。

9.根据权利要求7所述的一种耐压测试装置，其特征在于，所述伸缩测试针(23)包括第一伸缩测试针和第二伸缩测试针，所述第一伸缩测试针和第三测试针(13)连接至第二PCB板(41)相同网络中的焊盘；所述第二伸缩测试针和第四测试针(14)连接至第二PCB板(41)相同网络中的焊盘；所述第一伸缩测试针和第二伸缩测试针分别连接至电源正极和电源负极。

10.根据权利要求6所述的一种耐压测试装置，其特征在于，所述测试底板(21)位于下压支架(54)中，所述测试底板(21)的上方设置有下压板(51)，所述下压板(51)正对所述双测治具的正面，所述测试底板(21)和下压板(51)之间设置有下压导向柱(53)。