CN218896137U - 一种便于更换的芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种便于更换的芯片测试装置，属于芯片测试装置技术领域。主要包括适配板，安装板，安装板与适配板活动连接，适配板的上端面开设有放置槽，放置槽的内部设有探针，适配板内开设有空槽，空槽的内部设有固定柱，固定柱安装于探针下方的一侧，固定柱上活动连接有压板，压板呈斜面放置于空槽内，当对芯片测试完毕需要更换时，手动将压板向下按压，压板通过固定柱使其内端部向上，带动凸块向上，从而将探针向上推动，使芯片推出放置槽外，方便将芯片取出更换。

Description

一种便于更换的芯片测试装置

技术领域

本申请涉及芯片测试装置技术领域，具体为一种便于更换的芯片测试装置。

背景技术

芯片在生产或使用前常常需要进行测试作业，通常将芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，利用卡槽中的探针与芯片的引脚电性连接，从而对芯片完成测试。

经检索，例如公开号为CN207926808U的中国实用新型专利中，提供了芯片测试座及摄像头芯片测试，该装置通过内外牙螺杆在螺纹孔内的旋紧旋松来压紧被测芯片，但是在使用过程中，芯片在放入芯片测试槽内对其测试完毕后，不易将芯片从测试槽中取出，在更换芯片时需耗费些许时间，影响测试效率，所以有必要提供一种便于更换的芯片测试装置来解决上述问题。

需要说明的是，本背景技术部分中公开的以上信息仅用于理解本实用新型构思的背景技术，并且因此，它可以包含不构成现有技术的信息。

实用新型内容

基于现有技术中存在的上述问题，本申请实施例的目的在于：提供一种便于更换的芯片测试装置，达到方便将芯片进行更换的效果。

本申请解决其技术问题所采用的技术方案是：一种便于更换的芯片测试装置，包括适配板；

安装板，所述安装板与适配板活动连接，所述适配板的上端面开设有放置槽，所述放置槽的内部设有探针，所述适配板内开设有空槽；

所述空槽的内部设有固定柱，所述固定柱安装于探针下方的一侧，所述固定柱上活动连接有压板，所述压板呈斜面放置于空槽内。

当对芯片测试完毕需要更换时，手动将压板向下按压，压板通过固定柱使其内端部向上，带动凸块向上，从而将探针向上推动，使芯片推出放置槽外，方便将芯片取出更换。

进一步的，所述压板的外端突出于空槽，所述压板位于空槽内部的一端固定安装有凸块。

进一步的，所述压板的外端下方固定安装有第一弹性件。

进一步的，所述探针的下端固定安装有第二弹性件。

进一步的，所述安装板上开设有凸板，所述凸板与放置槽相互对应。

进一步的，所述压板的材质均设为非导电性材质。

本申请的有益效果是：本申请提供的一种便于更换的芯片测试装置，通过设置有压板，当对芯片测试完毕需要更换时，手动将压板向下按压，将探针向上推动，使芯片推出放置槽外，方便将芯片取出更换，提高测试效率。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本实用新型作进一步详细的说明。

附图说明

构成本实用新型的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本申请中一种便于更换的芯片测试装置的整体示意图；

图2为图1中整体结构的剖视示意图；

图3为图2中A区域的放大示意图；

其中，图中各附图标记：

1、适配板；11、连接杆；12、放置槽；13、探针；14、空槽；15、第二弹簧；16、固定柱；2、安装板；21、卡合件；22、凸板；3、压板；31、凸块；32、第一弹簧。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

如图1-3所示，本申请提供了一种便于更换的芯片测试装置，包括适配板1，适配板1上端面的一侧铰接有安装板2，适配板1与安装板2未连接的一端设有连接杆11，安装板2与适配板1未连接的一端设有卡合件21，连接杆11和卡合件21之间相互配合，当安装板2与适配板1相贴时，调整卡合件21使其卡于连接杆11上。

适配板1的上端面开设有放置槽12，放置槽12内设置有多组固定块，放置槽12内设置有探针13，本实施方式中，探针13与放置槽12滑动连接，探针13用于与芯片进行接触测试。安装板2上开设有凸板22，凸板22与放置槽12相互对应并配合，当安装板2与适配板1合并夹持时，凸板22会处于放置槽12内。

将芯片放置于放置槽12内，使其与探针13之间相贴，随后将安装板2盖于适配板1上，通过卡合件21与连接杆11的配合使其锁紧，可使凸板22将芯片向探针13挤压，更加贴合于探针13的表面。

适配板1内开设有空槽14，探针13的下端固定安装有多组的第二弹簧15，空槽14的内部设置有两组固定柱16，两组固定柱16分别设置于探针13下方的两侧，固定柱16上活动连接有压板3。

本实施方式中，压板3呈斜面放置于空槽14内，如图3所示，且压板3的外端突出于空槽14，方便对压板3进行控制，压板3位于空槽14内部的一端部上固定安装有凸块31，通过凸块31更加方便的将探针13向上推去。

压板3的外端下方固定安装有第一弹簧32，通过第一弹簧32可使压板3在下压后将压板3进行复位。

可以理解的是，压板3和凸块31的材质均设为非导电性材质，且适配板1底部的接触部与探针13之间通过电线连接。

实施例：当对芯片测试完毕需要更换时，手动将压板3向下按压，此时第一弹簧32收缩，压板3通过固定柱16使其内端部向上，带动凸块31向上，从而将探针13向上推动，使芯片推出放置槽12外，方便将芯片取出更换，更换完毕后松开压板3，第一弹簧32反弹带动压板3复位，同时第二弹簧15收缩带动探针13复位，方便对下次芯片安装并进行测试，提高测试效率。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种便于更换的芯片测试装置，包括适配板(1)；

安装板(2)，所述安装板(2)与适配板(1)活动连接，所述适配板(1)的上端面开设有放置槽(12)，所述放置槽(12)的内部设有探针(13)，其特征在于：所述适配板(1)内开设有空槽(14)；

所述空槽(14)的内部设有固定柱(16)，所述固定柱(16)安装于探针(13)下方的一侧，所述固定柱(16)上活动连接有压板(3)，所述压板(3)呈斜面放置于空槽(14)内。

2.根据权利要求1所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述压板(3)的外端突出于空槽(14)，所述压板(3)位于空槽(14)内部的一端固定安装有凸块(31)。

3.根据权利要求2所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述压板(3)的外端下方固定安装有第一弹性件。

4.根据权利要求2所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述探针(13)的下端固定安装有第二弹性件。

5.根据权利要求1所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述安装板(2)上开设有凸板(22)，所述凸板(22)与放置槽(12)相互对应。

6.根据权利要求1所述的一种便于更换的芯片测试装置，其特征在于：所述压板(3)的材质均设为非导电性材质。

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