CN220289648U - 一种易清理的芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种易清理的芯片测试装置，属于芯片测试装置技术领域。主要包括适配板，适配板的上端面开设有放置槽，放置槽内设有探针，放置槽用于放置芯片，适配板的上端面一侧开设有配合槽，配合槽内滑动连接有连接板，连接板与配合槽相互配合，配合槽上开设有配合孔，连接板上开设有安装孔，配合孔与安装孔相对应，安装孔与配合孔内设有卡柱，在对装置进行清扫前，先将卡柱取出，随后将连接条拆掉，从而可使在清理时将灰尘等杂物通过配合槽向外扫出，清理过后，推动连接板使得安装孔和配合孔对准，再将卡柱插入即可。

Description

一种易清理的芯片测试装置

技术领域

本申请涉及芯片测试装置技术领域，具体为一种易清理的芯片测试装置。

背景技术

芯片在生产或使用前常常需要进行测试作业，通常将芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，利用卡槽中的探针与芯片的引脚电性连接，从而对芯片完成测试，在使用过程中，需要定期对芯片的卡槽进行清理。

经检索，例如公开号为CN212410778U的中国实用新型专利中，提供了一种芯片测试座，该专利通过设置有防尘外壳与外壳连接槽等的配合，可避免在不使用时芯片测试座沾染外部灰尘，但该专利中，在测试座使用一段时间后，模块的针尖部分还是会残留一些锡渣及灰尘，在用防静电毛刷在对其清洁时，会使较少的锡渣及灰尘堆积于导向块的角落，不易对其进行清理，所以有必要提供一种易清理的芯片测试装置来解决上述问题。

需要说明的是，本背景技术部分中公开的以上信息仅用于理解本实用新型构思的背景技术，并且因此，它可以包含不构成现有技术的信息。

实用新型内容

基于现有技术中存在的上述问题，本申请实施例的目的在于：提供一种易清理的芯片测试装置，达到了方便对放置芯片槽清理的效果。

本申请解决其技术问题所采用的技术方案是：一种易清理的芯片测试装置，包括适配板，所述适配板的上端面开设有放置槽，所述放置槽内设有探针，所述放置槽用于放置芯片，所述适配板的上端面一侧开设有配合槽，所述配合槽内滑动连接有连接板，所述连接板与配合槽相互配合；

所述配合槽上开设有配合孔，所述连接板上开设有安装孔，所述配合孔与安装孔相对应，所述安装孔与配合孔内设有卡柱。

在对装置进行清扫前，先将卡柱取出，随后将连接条拆掉，从而可使在清理时将灰尘等杂物通过配合槽向外扫出，清理过后，推动连接板使得安装孔和配合孔对准，再将卡柱插入即可。

进一步的，所述连接板的两侧端设有连接条，所述配合槽的两端设有滑轨，所述连接条与滑轨配合连接。

进一步的，所述适配板上活动连接有盖板，所述盖板上开设有顶板，所述顶板与放置槽相互对应并配合。

进一步的，所述盖板上开设有凹槽，所述凹槽与卡柱相对应。

进一步的，所述安装孔的端口处设为弧形。

进一步的，所述配合槽的水平面低于探针。

本申请的有益效果是：本申请提供的一种易清理的芯片测试装置，通过设置有连接板，在对装置清理前，先将卡柱取出，随后将连接条拆掉，从而可使在清理时将灰尘等杂物通过配合槽向外扫出，防止灰尘堆落于放置槽的角落内，从而方便对装置进行清理。

除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本实用新型作进一步详细的说明。

附图说明

构成本实用新型的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本申请中一种易清理的芯片测试装置的整体示意图；

图2为图1中整体结构的部分分解示意图；

图3为图2中A区域的放大示意图；

其中，图中各附图标记：

1、适配板；11、固定杆；12、放置槽；13、探针；14、配合槽；15、滑轨；16、配合孔；2、盖板；21、卡合件；22、顶板；23、凹槽；3、连接板；31、安装孔；32、卡柱；33、连接条。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

如图1-3所示，本申请提供了一种易清理的芯片测试装置，包括用于放置芯片的适配板1，适配板1上活动连接有盖板2，适配板1与盖板2之间活动连接，适配板1的上端面开设有放置槽12，放置槽12用于放置卡合芯片，放置槽12内设置有探针13，探针13用于与芯片进行接触测试。

盖板2上开设有顶板22，顶板22与放置槽12相互对应并配合，当盖板2与适配板1合并夹持时，顶板22会处于放置槽12内，本实施方式中，通过顶板22可将芯片向探针13处顶动，使得芯片更加贴合于探针13。

适配板1与盖板2未连接的一端设有固定杆11，盖板2与适配板1未连接的一端设有卡合件21，固定杆11和卡合件21之间相互配合，将盖板2盖于适配板1上时，调整卡合件21使其卡于固定杆11上。

适配板1的上端面一侧开设有配合槽14，配合槽14的水平面低于探针13，配合槽14内滑动连接有连接板3，连接板3与配合槽14相互配合，连接板3的两侧端设有连接条33，配合槽14的两端设有滑轨15，连接条33与滑轨15相对应并配合连接，在安装连接板3之前先将滑轨15对准并插入滑轨15内，在将连接板3向内推动。

配合槽14上开设有配合孔16，配合孔16开设有两组，且形状设为六边形，便于连接卡合，连接板3上开设有与配合孔16相对应的安装孔31，安装孔31的形状与配合孔16形状相同，本实施方式中，配合孔16与安装孔31的形状也可设为便于连接卡合的形状，例如圆形、方形等。

安装孔31与配合孔16内设有卡柱32，通过将卡柱32插入安装孔31与配合孔16内，可将连接板3固定于适配板1上，可以理解的是，安装孔31的端口处设为弧形，方便将卡柱32卡入安装孔31内。

盖板2上开设有凹槽23，当盖板2与盖于适配板1上时，凹槽23位于卡柱32的上方，将其盖住，故而卡柱32不会影响到盖板2与适配板1的配合。

可以理解的是，将连接板3安装于配合槽14上后，完全与适配板1的表面配合，且并不影响放置槽12的大小和正常使用。

实施例：在对装置进行清扫前，先将卡柱32取出，随后将连接条33拆掉，从而可使在清理时将灰尘等杂物通过配合槽14向外扫出，防止灰尘堆落于放置槽12的角落内，从而方便对装置进行清理。

清理过后，再将连接板3两侧的连接条33插入至滑轨15内，推动连接板3使得安装孔31和配合孔16对准，再将卡柱32插入即可。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种易清理的芯片测试装置，包括适配板(1)，所述适配板(1)的上端面开设有放置槽(12)，所述放置槽(12)内设有探针(13)，所述放置槽(12)用于放置芯片，其特征在于：所述适配板(1)的上端面一侧开设有配合槽(14)，所述配合槽(14)内滑动连接有连接板(3)，所述连接板(3)与配合槽(14)相互配合；

所述配合槽(14)上开设有配合孔(16)，所述连接板(3)上开设有安装孔(31)，所述配合孔(16)与安装孔(31)相对应，所述安装孔(31)与配合孔(16)内设有卡柱(32)。

2.根据权利要求1所述的一种易清理的芯片测试装置，其特征在于：所述连接板(3)的两侧端设有连接条(33)，所述配合槽(14)的两端设有滑轨(15)，所述连接条(33)与滑轨(15)配合连接。

3.根据权利要求1所述的一种易清理的芯片测试装置，其特征在于：所述适配板(1)上活动连接有盖板(2)，所述盖板(2)上开设有顶板(22)，所述顶板(22)与放置槽(12)相互对应并配合。

4.根据权利要求3所述的一种易清理的芯片测试装置，其特征在于：所述盖板(2)上开设有凹槽(23)，所述凹槽(23)与卡柱(32)相对应。

5.根据权利要求1所述的一种易清理的芯片测试装置，其特征在于：所述安装孔(31)的端口处设为弧形。

6.根据权利要求1所述的一种易清理的芯片测试装置，其特征在于：所述配合槽(14)的水平面低于探针(13)。