CN218630077U - 一种自动化的芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种自动化的芯片测试装置，包括支撑台，支撑台上端固定连接有两侧对应布置的侧板，两侧侧板之间安装有位于支撑台上方的输送带，支撑台设有控制盒，控制盒了内滑动连接有两侧对应布置的滑块，控制盒内设有驱动两侧滑块滑动的调节机构，两侧滑块上端均固定连接有U型杆，两侧侧板上均设有与U型杆配合的滑孔，两侧U型杆延伸至输送带上一端均固定连接有滑动连接于输送带上端的固定夹块，两侧侧板上端固定连接有安装板，安装板下端第一电动推杆，第一电动推杆下端固定连接有测试探针。本实用新型与现有技术相比优点在于，能够自动对芯片进行输送检测，省事省力，大大提高了芯片的加工效率。

Description

一种自动化的芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体是指一种自动化的芯片测试装置。

背景技术

随着半导体工业的不断发展，芯片上将集成更多器件，轻，薄，小，高密度封装形式越来越多，芯片在生产完成后需要对芯片的功能进行检测以确保产品的完好，现有的芯片测试装置均是人工逐一对将芯片放置带测试机构内进行测试，费时费力，难以对较多适量的芯片进行检测，极大影响了芯片的加工效率。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服以上缺陷，提供一种自动化的芯片测试装置，能够自动对芯片进行输送检测，省事省力，大大提高了芯片的加工效率。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案为：一种自动化的芯片测试装置，包括支撑台，所述支撑台上端固定连接有两侧对应布置的侧板，两侧所述侧板之间安装有位于所述支撑台上方的输送带，所述输送带一端设有固定连接于两侧所述侧板之间的底板，所述底板上端固定连接有芯片盒，所述芯片盒内设有上下堆叠布置的芯片，所述支撑台设有控制盒，所述控制盒了内滑动连接有两侧对应布置的滑块，所述控制盒内设有驱动两侧所述滑块滑动的调节机构，两侧所述滑块上端均固定连接有U型杆，两侧所述侧板上均设有与所述U型杆配合的滑孔，两侧所述U型杆延伸至所述输送带上一端均固定连接有滑动连接于所述输送带上端的固定夹块，两侧所述侧板上端固定连接有安装板，所述安装板下端第一电动推杆，所述第一电动推杆下端固定连接有测试探针。

作为改进，所述支撑台底面固定连接有第二电动推杆，所述第二电动推杆延伸至所述支撑台上一端固定连接于所述控制盒下端。

作为改进，所述调节机构包括转动连接于所述控制盒内的双向螺杆，两侧所述滑块分别螺纹连接于所述双向螺杆两侧，所述控制盒一端固定连接有驱动所述双向螺杆转动的第一电机。

作为改进，所述芯片盒内底面滑动插接有推料板，所述芯片盒下端设有两侧对应布置的与所述推料板配合的送料孔，所述推料板一端垂直固定连接有调节板，所述芯片盒外壁固定连接有第二电机，所述第二电机输出端固定连接有送料螺杆，所述调节板上设有与所述送料螺杆配合的螺孔。

作为改进，所述芯片盒一侧固定连接有限位滑杆，所述调节板滑动连接于所述限位滑杆外壁。

本实用新型与现有技术相比的优点在于：通过调节机构驱动两侧的滑块带动两侧的U型杆推动两侧的夹块相互靠近，对芯片进行夹持，启动第一电动推杆推动测试探针下移即可对芯片进行检测，能够自动对芯片进行输送检测，省事省力，大大提高了芯片的加工效率。

附图说明

图1是本实用新型一种自动化的芯片测试装置结构示意图。

图2是本实用新型一种自动化的芯片测试装置侧视图。

图3是本实用新型一种自动化的芯片测试装置A处放大图。

如图所示：1、支撑台；2、侧板；3、输送带；4、控制盒；5、双向螺杆；6、滑块；7、第一电机；8、U型杆；9、滑孔；10、夹块；11、芯片盒；12、安装板；13、第一电动推杆；14、测试探针；15、第二电动推杆；16、送料孔；17、底板；18、第二电机；19、送料螺杆；20、调节板；21、限位滑杆；22、推料板。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。

结合附图，一种自动化的芯片测试装置，包括支撑台1，所述支撑台1上端固定连接有两侧对应布置的侧板2，两侧所述侧板2之间安装有位于所述支撑台1上方的输送带3，所述输送带3一端设有固定连接于两侧所述侧板2之间的底板17，所述底板17上端固定连接有芯片盒11，所述芯片盒11内设有上下堆叠布置的芯片，所述芯片盒11内底面滑动插接有推料板22，所述芯片盒11下端设有两侧对应布置的与所述推料板22配合的送料孔16，所述推料板22一端垂直固定连接有调节板20，所述芯片盒11外壁固定连接有第二电机18，所述第二电机18输出端固定连接有送料螺杆19，所述调节板20上设有与所述送料螺杆19配合的螺孔，所述芯片盒11一侧固定连接有限位滑杆21，所述调节板20滑动连接于所述限位滑杆21外壁。

所述支撑台1设有控制盒4，所述支撑台1底面固定连接有第二电动推杆15，所述第二电动推杆15延伸至所述支撑台1上一端固定连接于所述控制盒4下端，所述控制盒4了内滑动连接有两侧对应布置的滑块6，所述控制盒4内设有驱动两侧所述滑块6滑动的调节机构，两侧所述滑块6上端均固定连接有U型杆8，两侧所述侧板2上均设有与所述U型杆8配合的滑孔9，两侧所述U型杆8延伸至所述输送带3上一端均固定连接有滑动连接于所述输送带3上端的固定夹块10，两侧所述侧板2上端固定连接有安装板12，所述安装板12下端第一电动推杆13，所述第一电动推杆13下端固定连接有测试探针14。

所述调节机构包括转动连接于所述控制盒4内的双向螺杆5，两侧所述滑块6分别螺纹连接于所述双向螺杆5两侧，所述控制盒4一端固定连接有驱动所述双向螺杆5转动的第一电机7。

本实用新型在具体实施时，使用时，启动第二电机18驱动送料螺杆19转动，在限位滑杆21限位下，调节板20沿送料螺杆19外壁滑动，调节板20带动推料板22从一侧的送料孔16伸入芯片盒11内，将最下端的芯片从另一侧的送料孔16内推出，使芯片落到输送带3上，推料板22厚度与芯片厚度相同，将最下端的芯片推出后，倒数第二个芯片则落在推料板22上端，启动第二电机18翻转，使推料板22反向滑动，使倒数第二个芯片落到芯片盒11底面，通过第二电机18的反复转动，即可逐个将芯片盒11内的芯片有序的推送到输送带3上，当芯片输送到两侧夹块10之间使，启动第一电机7驱动双向螺杆5转动，双向螺杆5带动两侧滑块6相互靠近，两侧的滑块6带动两侧的U型杆8相互靠近，两侧的U型杆8推动两侧的夹块10相互靠近对芯片两侧进行夹持，启动第二电动推杆15推动控制盒4上升，控制盒4带动两侧的U型杆8沿两侧的四个滑孔9向上滑动，将芯片向上抬起脱离输送带3，启动第一电动推杆13推动测试探针14下压对芯片进行检测即可，能够自动对芯片进行输送检测，省事省力，大大提高了芯片的加工效率。

以上对本实用新型及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种自动化的芯片测试装置，其特征在于：包括支撑台(1)，所述支撑台(1)上端固定连接有两侧对应布置的侧板(2)，两侧所述侧板(2)之间安装有位于所述支撑台(1)上方的输送带(3)，所述输送带(3)一端设有固定连接于两侧所述侧板(2)之间的底板(17)，所述底板(17)上端固定连接有芯片盒(11)，所述芯片盒(11)内设有上下堆叠布置的芯片，所述支撑台(1)设有控制盒(4)，所述控制盒(4)了内滑动连接有两侧对应布置的滑块(6)，所述控制盒(4)内设有驱动两侧所述滑块(6)滑动的调节机构，两侧所述滑块(6)上端均固定连接有U型杆(8)，两侧所述侧板(2)上均设有与所述U型杆(8)配合的滑孔(9)，两侧所述U型杆(8)延伸至所述输送带(3)上一端均固定连接有滑动连接于所述输送带(3)上端的固定夹块(10)，两侧所述侧板(2)上端固定连接有安装板(12)，所述安装板(12)下端第一电动推杆(13)，所述第一电动推杆(13)下端固定连接有测试探针(14)。

2.根据权利要求1所述的一种自动化的芯片测试装置，其特征在于：所述支撑台(1)底面固定连接有第二电动推杆(15)，所述第二电动推杆(15)延伸至所述支撑台(1)上一端固定连接于所述控制盒(4)下端。

3.根据权利要求1所述的一种自动化的芯片测试装置，其特征在于：所述调节机构包括转动连接于所述控制盒(4)内的双向螺杆(5)，两侧所述滑块(6)分别螺纹连接于所述双向螺杆(5)两侧，所述控制盒(4)一端固定连接有驱动所述双向螺杆(5)转动的第一电机(7)。

4.根据权利要求1所述的一种自动化的芯片测试装置，其特征在于：所述芯片盒(11)内底面滑动插接有推料板(22)，所述芯片盒(11)下端设有两侧对应布置的与所述推料板(22)配合的送料孔(16)，所述推料板(22)一端垂直固定连接有调节板(20)，所述芯片盒(11)外壁固定连接有第二电机(18)，所述第二电机(18)输出端固定连接有送料螺杆(19)，所述调节板(20)上设有与所述送料螺杆(19)配合的螺孔。

5.根据权利要求4所述的一种自动化的芯片测试装置，其特征在于：所述芯片盒(11)一侧固定连接有限位滑杆(21)，所述调节板(20)滑动连接于所述限位滑杆(21)外壁。

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