CN218298378U - 一种全自动方阻测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种全自动方阻测量仪，涉及电子产品测量技术领域；包括支撑架体、安装板、动力机构以及探针连接块；所述的安装板滑动安装在支撑架体上，所述的动力机构设置于安装板上，通过动力机构的驱动，使安装板在支撑架体上平移；所述的探针连接块上设置有多个用于对薄膜方阻进行检测的探针，该探针连接块与所述的安装板相连接，通过安装板的带动实现平移；本实用新型的有益效果是：实现方阻的全自动测量，提高了测量效率，克服了现有技术中测量效率低下的问题。

Description

一种全自动方阻测量仪

技术领域

本实用新型涉及电子产品测量技术领域，更具体的说，本实用新型涉及一种全自动方阻测量仪。

背景技术

蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的最好方法就是测试它们的方阻。方阻即方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，具体的计算方法为：在一长为l，宽w，高d(即为膜厚)，此时L＝l,S＝w*d,故R＝ρ*l/(w*d)＝(ρ/d)*(l/w).令l＝w于是R＝(ρ/d)，其中ρ为材料的电阻率，此时的R为方阻。

现有技术中的测量方阻的仪器采用一个点一个点的测量，存在着效率低下的问题。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种全自动方阻测量仪，以解决现有技术中方阻测量仪器检测效率低下的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种全自动方阻测量仪，其改进之处在于，包括支撑架体、安装板、动力机构以及探针连接块；

所述的安装板滑动安装在支撑架体上，所述的动力机构设置于安装板上，通过动力机构的驱动，使安装板在支撑架体上平移；

所述的探针连接块上设置有多个用于对薄膜方阻进行检测的探针，该探针连接块与所述的安装板相连接，通过安装板的带动实现平移。

在上述的结构中，所述的动力机构包括平移电机和动力齿轮；

所述的平移电机固定安装在安装板上，动力齿轮固定安装在平移电机的电机轴顶端；所述的支撑架体上固定安装有平移齿条和导轨，且动力齿轮与平移齿条相啮合；

所述的安装板上还固定安装有一滑块，且该滑块滑动安装在导轨上。

在上述的结构中，所述的支撑架体包括处于水平的横梁，所述的平移齿条固定在横梁的上表面，所述的导轨固定安装于横梁的侧面。

在上述的结构中，所述的探针连接块呈圆柱状，多个探针均匀分布在探针连接块的曲面上；

所述的安装板上固定连接着一连杆，所述探针连接块的中心转动安装在连杆的底端。

在上述的结构中，所述的安装板上固定安装有升降电机，该升降电机的电机轴上安装有升降齿轮；

所述安装板上还滑动设置有与升降齿轮相啮合的升降齿条，且所述的探针连接块固定连接在升降齿条的底部。

在上述的结构中，所述的探针连接块上固定安装有探针固定块，所述的探针设置于探针固定块的底部。

本实用新型的有益效果是：当安装板在平移电机的驱动下，沿导轨往复平移过程中，带动探针连接块和探针一同运动，探针则对薄膜的方阻进行测量，以实现方阻的全自动测量，提高了测量效率，克服了现有技术中测量效率低下的问题。

附图说明

图1为本实用新型的一种全自动方阻测量仪的第一实施例图。

图2为本实用新型的一种全自动方阻测量仪的第二实施例图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本实用新型创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。

参照图1所示，本实用新型揭示了一种全自动方阻测量仪，该全自动方阻测量仪包括支撑架体10、安装板20、动力机构以及探针连接块30；所述的安装板20滑动安装在支撑架体10上，所述的动力机构设置于安装板20上，通过动力机构的驱动，使安装板20在支撑架体10上平移；在本实施例中，所述的动力机构包括平移电机401和动力齿轮402；所述的平移电机401固定安装在安装板20上，动力齿轮402固定安装在平移电机401的电机轴顶端；所述的支撑架体10上固定安装有平移齿条403和导轨404，且动力齿轮402与平移齿条403相啮合；所述的安装板20上还固定安装有一滑块201，且该滑块201滑动安装在导轨404上。因此，通过平移电机401的驱动以及动力齿轮402与平移齿条403的啮合，可以带动安装板20在沿导轨404的方向往复平移。

进一步的，所述的探针连接块30上设置有多个用于对薄膜方阻进行检测的探针301，该探针连接块30与所述的安装板20相连接，通过安装板20的带动实现平移。在本实施例中，参照图1所示，所述的探针连接块30呈圆柱状，多个探针301均匀分布在探针连接块30的曲面上；所述的安装板20上固定连接着一连杆202，所述探针连接块30的中心转动安装在连杆202的底端。

通过此种结构，当安装板20在平移电机401的驱动下，沿导轨404往复平移过程中，带动探针连接块30和探针301一同运动，探针301则对薄膜的方阻进行测量，以实现方阻的全自动测量，提高了测量效率，克服了现有技术中测量效率低下的问题。并且，此种测量方式对薄膜的褶皱改善明显，跑膜中途未出现褶皱现象。

在上述的实施例中，所述的支撑架体10包括处于水平的横梁，所述的平移齿条403固定在横梁的上表面，所述的导轨404固定安装于横梁的侧面。这种结构设计合理，使测量仪整体的结构更为紧凑。

参照图2所示，为本实用新型提供的一种全自动方阻测量仪的另一实施例，在本实施例中，与上述实施例的不同之处仅在探针的固定结构，支撑架体10、安装板20、动力机构均与图1所述的实施例相同，因此本实施例中则不再详细说明。

继续参照图2所示，所述的安装板20上固定安装有升降电机50，该升降电机50的电机轴上安装有升降齿轮501；所述安装板20上还滑动设置有与升降齿轮501相啮合的升降齿条502，且所述的探针连接块30固定连接在升降齿条502的底部。另外，所述的探针连接块30上固定安装有探针固定块503，所述的探针301设置于探针固定块503的底部。

通过图2所示的结构，平移电机401可以带动安装板20在水平方向上平移，升降电机则可以驱动探针连接块30和探针固定块在垂直方向运动，需要进行方阻测量时，升降齿条向下运动，使探针与薄膜接触，实现测量的过程。

以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (6)

1.一种全自动方阻测量仪，其特征在于，包括支撑架体、安装板、动力机构以及探针连接块；

所述的安装板滑动安装在支撑架体上，所述的动力机构设置于安装板上，通过动力机构的驱动，使安装板在支撑架体上平移；

所述的探针连接块上设置有多个用于对薄膜方阻进行检测的探针，该探针连接块与所述的安装板相连接，通过安装板的带动实现平移。

2.根据权利要求1所述的一种全自动方阻测量仪，其特征在于，所述的动力机构包括平移电机和动力齿轮；

所述的平移电机固定安装在安装板上，动力齿轮固定安装在平移电机的电机轴顶端；所述的支撑架体上固定安装有平移齿条和导轨，且动力齿轮与平移齿条相啮合；

所述的安装板上还固定安装有一滑块，且该滑块滑动安装在导轨上。

3.根据权利要求2所述的一种全自动方阻测量仪，其特征在于，所述的支撑架体包括处于水平的横梁，所述的平移齿条固定在横梁的上表面，所述的导轨固定安装于横梁的侧面。

4.根据权利要求1所述的一种全自动方阻测量仪，其特征在于，所述的探针连接块呈圆柱状，多个探针均匀分布在探针连接块的曲面上；

所述的安装板上固定连接着一连杆，所述探针连接块的中心转动安装在连杆的底端。

5.根据权利要求1所述的一种全自动方阻测量仪，其特征在于，所述的安装板上固定安装有升降电机，该升降电机的电机轴上安装有升降齿轮；

所述安装板上还滑动设置有与升降齿轮相啮合的升降齿条，且所述的探针连接块固定连接在升降齿条的底部。

6.根据权利要求5所述的一种全自动方阻测量仪，其特征在于，所述的探针连接块上固定安装有探针固定块，所述的探针设置于探针固定块的底部。

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