CN218240316U - 内存芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种内存芯片测试装置，其中，内存芯片测试装置包括机架、定位治具、压合机构及测试组件。机架设有第一滑轨槽；定位治具设于机架且沿第一方向延伸设置，并设有供内存芯片放置的测试空间；压合机构上设有抵接件，压合机构滑动连接于第一滑轨槽，以使抵接件在测试空间上方随压合机构滑动而升降；测试组件包括测试板和控制板，控制板设于机架，测试板插接于定位治具并位于测试空间的下侧，测试板电性连接控制板。本实用新型技术方案涉及内存芯片测试技术领域，将待测芯片容置于定位治具内的测试空间，通过压合机构使其抵接测试组件并进行测试，优化内存芯片测试流程，提高内存芯片测试效率。

Description

内存芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及内存芯片测试技术领域，特别涉及一种内存芯片测试装置。

背景技术

PCB即印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备，只要有集成电路等电子元件，为了使各个元件之间的电气互连，都需要使用印制板。印制线路板通常由板体和焊接在板体上的若干内存芯片组成，内存芯片在焊接至板体上之前都需要进行性能测试。

测试内存芯片时，通常会先将内存芯片焊接于内存电路板后，再将该内存电路板插入主机板的插槽内进行测试。测试结束后，需熔解焊锡才能将芯片从内存电路板上拆下。

然而，在测试过程中通常使用人工进行内存芯电路板的插置及焊锡溶解，测试效率低，测试过程十分不便。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种内存芯片测试装置，旨在克服上述现有技术的不足，减少人工参与，简化测试过程，提升内存芯片测试效率。

为实现上述目的，本实用新型提出的内存芯片测试装置包括机架、定位治具、压合机构和测试组件。所述机架设有第一滑轨槽；所述定位治具固定连接于所述机架并沿第一方向延伸设置，所述定位治具位于第一方向的一端设有供内存芯片放置的测试空间，所述第一滑轨槽朝向所述定位治具方向延伸设置；所述压合机构上设有抵接件，所述压合机构滑动连接于所述第一滑轨槽，以使所述抵接件在测试空间上方随所述压合机构滑动而升降；所述测试组件包括测试板和控制板，所述控制板设于所述机架，所述测试板插接于所述定位治具并位于所述测试空间的下侧，所述测试板电性连接所述控制板。

在本实用新型一实施例中，定义所述压合机构朝向所述定位治具的延伸方向为第二方向，所述压合机构包括升降结构和导向组件。所述升降结构设于所述机架；所述导向组件包括支撑板、支架及拉手，所述支撑板固定于所述升降结构上侧，所述支架活动连接于所述支撑板，并可沿第二方向滑动，所述拉手固定连接于所述支架，所述第一滑轨槽沿高度方向倾斜设置，所述拉手滑动连接于所述第一滑轨槽，所述抵接件设于所述支架靠近所述定位治具的一侧，所述升降结构驱动所述支撑板升降，所述第一滑轨槽及所述拉手导向所述支撑板在升降时沿第二方向滑动。

在本实用新型一实施例中，所述压合机构还包括导向滑轨和导向滑块。所述导向滑轨设于所述支撑板，所述导向滑轨沿第二方向延伸设置；所述导向滑块设于所述支架，所述导向滑块活动连接于所述导向滑轨并带动所述支架沿第二方向滑动。

在本实用新型一实施例中，所述导向组件包括至少两个拉手，至少两个拉手对称设于所述支架的两侧，所述机架包括至少两个导向板，所述导向板的数量对应所述拉手设置，一所述导向板对应设有一第一滑轨槽，一所述拉手对应活动连接于一所述导向板的第一滑轨槽并沿所述第一滑轨槽方向滑动。

在本实用新型一实施例中，所述导向组件还包括滑动座，所述支架设有第二滑轨槽，所述第二滑轨槽沿第一方向延伸设置，所述滑动座至少部分滑动连接于所述第二滑轨槽，所述抵接件设于所述滑动座靠近所述定位治具的一侧边。

在本实用新型一实施例中，所述定位治具包括基座、夹持件及定位件。所述基座固定连接于所述机架；所述夹持件固定连接于所述基座上侧，所述夹持件与所述基座围合有供所述测试板插置的插入空间；所述夹持件设有安装凹槽，所述定位件活动安装于所述安装凹槽内，所述定位件设有定位孔，所述安装凹槽与所述定位孔围合成供内存芯片放置的测试空间。

在本实用新型一实施例中，所述定位治具还包括导电件，所述夹持件设有连通所述测试空间与所述插入空间的导电孔，所述导电件穿设于所述导电孔且至少部分凸设于测试空间内，所述测试板对应所述导电孔设有焊盘区，所述导电件背离测试空间的一端抵接所述焊盘区。

在本实用新型一实施例中，所述控制板设有测试板插槽，所述测试板可拆卸的插置于所述测试板插槽内，所述测试板用于插置所述测试板插槽的侧边设有多个金手指，所述金手指用于将所述测试板的数据传递至所述控制板。

在本实用新型一实施例中，所述测试组件还包括固定板和多个固定柱。所述固定板活动连接所述机架；所述固定柱具有相对的两端，所述固定柱的一端固定连接所述固定板，多个所述固定柱间隔排布于所述固定板靠近所述定位治具的一侧，所述固定柱背离所述固定板的一端固定连接所述控制板。

在本实用新型一实施例中，所述机架设有调整座，所述调整座内设有调整槽，所述固定板背离所述定位治具的一侧设有调整块，所述调整块滑动连接于所述调整槽内，以使所述测试组件在高度方向上升降。

本实用新型技术方案通过采用设有滑轨槽的机架导向压合机构滑动并升降，以带动抵接件压合测试空间内放置的待测芯片，进而使待测芯片电性导通设于测试空间下侧的测试组件，完成芯片的测试过程，减少人工参与，简化测试过程，提升内存芯片的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型内存芯片测试装置一实施例的结构示意图；

图2为图1中实施例的爆炸示意图；

图3为图1中实施例沿高度方向一截面的剖视图；

图4为图3中A处的局部放大图；

图5为图1中实施例定位治具的爆炸示意图；

图6为图1中实施例压合机构处于第一滑动槽一端的侧视图；

图7为图6中B处的局部放大图；

图8为图6中实施例的俯视图；

图9为图1中实施例压合机构处于第一滑动槽另一端的侧视图；

图10为图9中实施例的俯视图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	内存芯片测试装置	10	机架
11	第一滑轨槽	13	调整座
				131	调整槽	15	调整块
30	定位治具	31	基座
				33	夹持件	331	安装凹槽
333	导电孔	35	定位件
				351	定位孔	37	导电件
50	压合机构	51	抵接件
				53	升降结构	55	导向组件
551	支撑板	553	支架
				553a	第二滑轨槽	555	拉手
557	滑动座	57	导向滑轨
				59	导向滑块	70	测试组件
71	测试板	711	焊盘区
				713	金手指	73	控制板
731	测试板插槽	75	固定板
				77	固定柱

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

参照图1至图10，本实用新型提出一种内存芯片测试装置100，用于对内存芯片进行测试。

结合参照图1至图4，本实用新型一实施例提出的内存芯片测试装置100包括机架10、定位治具30、压合机构50和测试组件70。机架10上设有第一滑轨槽11；定位治具30固定连接于机架10并沿第一方向延伸设置，定位治具30位于第一方向的一端设有供内存芯片放置的测试空间，第一滑轨槽11朝向定位治具30方向延伸设置；压合机构50上设有抵接件51，压合机构50滑动连接于第一滑轨槽11，以使抵接件51在测试空间上方随压合机构50滑动而升降；测试组件70包括测试板71和控制板73，控制板73设于机架10，测试板71插接于定位治具30并位于测试空间的下侧，测试板71电性连接控制板73。在测试过程中，待测试的内存芯片被水平地放置于定位治具30内围合的测试空间内，压合机构50通过设于机架10上的第一滑轨槽11导向滑动，带动设置于压合机构50靠近定位治具30一侧的抵接件51压合待测试的内存芯片，使内存芯片背离抵接件51的一侧与设置于测试空间下方的测试组件70电性导通以进行测试，在测试过程结束后，抵接件51重新抬起，不再抵接待测试的内存芯片，再将待测试的内存芯片取出，完成测试过程。如此，通过本申请的内存芯片测试装置100，对内存芯片进行软件测试的过程无需人工焊接或定位，减少人工参与，降低人力成本，提高生产效率。

参照图1至图3及图9，在本实用新型一实施例中，定义压合机构50朝向定位治具30的延伸方向为第二方向，压合机构50还包括有升降结构53和导向组件55。升降结构53设于机架10；导向组件55包括支撑板551、支架553及拉手555，支撑板551固定于升降结构53上侧，支架553活动连接于支撑板551，并可沿第二方向滑动，拉手555固定连接于支架553，第一滑轨槽11沿高度方向倾斜设置，拉手555滑动连接于第一滑轨槽11，抵接件51设于支架553靠近定位治具30的一侧，升降结构53驱动支撑板551升降，支撑板551在升降时由第一滑轨槽11及拉手555导向限定沿第二方向滑动。

需要说明的是，设于机架10的升降结构53在本实施例中选用为气缸，气缸作为常见的提供直线往复运动动力的配件，其性能稳定可靠，所需成本不高，体积较小，灵活方便。当然也可以选用油压缸，电动缸或丝杆组件等能够提供直线往复运动动力的配件，在此不对其做具体限定。可以理解的是，选用气缸作为升降结构53时，升降结构53包括气缸本体和活动连接于气缸本体的活塞杆，气缸本体设于机架10，活动连接于气缸本体的活塞杆背离气缸本体的一端固定连接导向组件55的支撑板551。

具体的，在压合机构50的工作过程中，活塞杆在水平设置的气缸本体内沿高度方向垂直地往复运动，以驱动设于支撑板551上的支架553和拉手555在高度方向上运动。需要说明的是，固定连接于支架553的拉手555还活动连接于机架10的第一滑轨槽11，第一滑轨槽11在高度方向倾斜设置，拉手555在高度方向上运动时，由第一滑轨槽11导向并沿第二方向做靠近定位治具30的移动。进一步地，拉手555的移动间接带动设于支架553靠近定位治具30一侧边的抵接件51同样做靠近定位治具30的移动。如此设置，抵接件51可以在上升的同时做远离设于定位治具30的测试空间的运动，相对应的，抵接件51在升降结构53和导向组件55的共同作用下在下降时同时做靠近设置于定位治具30的测试空间的运动。联动设置的升降结构53和导向组件55占用空间小，结构布置紧密，所需空间小，灵活方便，所需成本不高，进一步地降低了内存芯片测试装置100的生产成本。

结合参照图1至图4，在本实用新型一实施例中，压合机构50还包括导向滑轨57和导向滑块59。导向滑轨57设于支撑板551，导向滑轨57沿第二方向延伸设置；导向滑块59设于支架553，导向滑块59活动连接于导向滑轨57并带动支架553沿第二方向滑动。

可以理解的是，为保证设于支架553上的抵接件51能准确的移动到测试空间对应的位置，对支架553与支撑板551活动连接时沿第二方向滑动的精度有一定的要求，滑轨与滑块作为常见的导向直线运动的部件能在不影响导向效果的同时具有较高的精度，满足本实施例对于支架553及支撑板551滑动运动方向的精度要求。同样的，滑轨与滑块的维护成本较低，性能稳定可靠，进一步提升了本实施例中内存芯片测试装置100的工作稳定性并降低了内存芯片测试装置100的生产成本。

如图1至图3所示，在本实用新型一实施例中，导向组件55包括至少两个拉手555，至少两个拉手555对称设于支架553的两侧，机架10包括至少两个导向板，导向板的数量对应拉手555设置，一导向板对应设有一个第一滑轨槽11，一个拉手555对应活动连接于一个导向板的第一滑轨槽11并沿第一滑轨槽11方向滑动。

可以理解的是，滑动连接于第一滑轨槽11内的拉手555既对支架553的运动起导向作用，也承受了支架553及设于支架553靠近定位治具30一侧的抵接件51的重力，对称设于平行设置的支架553两侧的至少两个拉手555均匀分担了支架553及设于支架553靠近定位治具30一侧的抵接件51的重力，增加了内存芯片测试装置100的工作稳定性。同时，设于支架553两侧的拉手555在对支架553的运动起导向作用的同时在两侧相对地限制了支架553的移动，提升了支架553移动时与定位治具30的相对位置，提升了内存芯片测试装置100的工作稳定性。

如图1至图10所示，在本实用新型一实施例中，导向组件55还包括有滑动座557，支架553设有第二滑轨槽553a，第二滑轨槽553a沿第一方向延伸设置，滑动座557至少部分滑动连接于第二滑轨槽553a，抵接件51设置于滑动座557靠近定位治具30的一侧边。

需要说明的是，升降结构53和导向组件55间接带动抵接件51在高度方向及第二方向运动，在测试过程中，抵接件51在压合过程中仍有可能在测试空间上方与其在第一方向上产生一定误差。具体的，在支架553上侧靠近定位治具30的一侧边设置沿第一方向延伸的第二滑轨槽553a，并设置至少部分滑动连接于第二滑轨槽553a的滑动座557，在滑动座557靠近定位治具30的侧边设置固定连接的抵接件51。如此设置，可以进一步调整抵接件51在芯片测试过程中在第一方向上的具体位置，进一步提高压合机构50压合于待测试的内存芯片的准确性，提高内存芯片测试装置100的稳定性及测试精度。

如图1至图7所示，在本实用新型一实施例中，定位治具30包括基座31、夹持件33及定位件35。基座31固定连接于机架10；夹持件33连接于基座31上侧，夹持件33与基座31围合有供测试板71插置的插入空间；夹持件33还设有安装凹槽331，定位件35活动安装于安装凹槽331内，定位件35还开设有定位孔351，安装凹槽331与定位孔351围合成供内存芯片放置的测试空间。

需要说明的是，固定连接于机架10的基座31用于承载位于基座31上的夹持件33及定位件35。基座31与夹持件33围合形成一凹槽的插入空间，在插入空间的上侧，定位件35的定位孔351围合成测试空间。在对内存芯片进行测试的过程中，测试组件70中的测试板71插置于插入空间内，放置于测试空间内的待测试的内存芯片被压合机构50上的抵接件51压合地电性导通位于插入空间内的测试板71。如此设置，可以根据对内存芯片所需进行的测试项目的不同灵活更换不同的测试板71以达到测试目的，在测试板71产生损耗或故障时也同样可以进行更换。如此设置，增加了本申请的内存芯片测试装置100的通用性及适配性，也增加了内存芯片测试装置的使用寿命。

可以理解的是，活动安装于安装凹槽331内的定位件35设置的定位孔351形状与所需测试的内存芯片的外形尺寸相适配，当对不同尺寸的内存芯片进行测试时，也可以通过更换设有不同尺寸定位孔351的不同定位件35以达到测试目的。如此设置，进一步增加内存芯片测试装置100的通用性及适配性。

如图3至图5所示，在本实用新型一实施例中，定位治具30还包括有导电件37，夹持件33设有连通测试空间与插入空间的导电孔333，导电件37穿设于导电孔333且至少部分凸设于测试空间内，测试板71对应导电孔333设有焊盘区711，导电件37背离测试空间的一端抵接焊盘区711。

可以理解的是，以导体材质制成的导电件37具有传输电流的功能，夹持件33对应活动安装于其上的定位件35的定位孔351设置安装导电件37的导电孔333。在芯片的测试过程中，穿设于导电孔333的导电件37凸设于测试空间的一端固定抵接放置于测试空间内的待测试的内存芯片，导电件37背离内存芯片的一端则凸设于测试空间内以固定抵接测试板71上对应的焊盘区711。如此设置，内存芯片被压合机构50上的抵接件51压合时，通过导电件37电性导通位于插入空间内的测试板71。导电件37的设置既保证了电性导通过程的顺畅，也防止了抵接件51压合时，待测试的内存芯片承受过大压力以损坏，进一步增加本申请的内存芯片测试装置100的工作稳定性。

如图1至图5所示，在本实用新型一实施例中，控制板73还设置设有测试板插槽731，测试板71可拆卸的插置于测试板插槽731内，测试板71用于插置测试板插槽731的侧边设有多个金手指713，金手指713用于将测试板71的数据传递至控制板73。

需要说明的是，金手指713是由众多金黄色的导电触片组成的电信号传送部件，因其表面镀金而导电触片排列如手指状故称金手指713。金手指713的信号传递效率高，信号传递过程稳定，内部电路不易腐蚀，不同类型的测试板71可以通过设置相同排布的金手指713与控制板73进行电性连接，进一步增加了内存芯片测试装置100的通用性及适配性。

如图1至图3所示，在本实用新型一实施例中，测试组件70还包括有固定板75和多个固定柱77。固定板75活动连接机架10，固定柱77具有相对的两端，固定柱77的一端固定连接固定板75，多个固定柱77间隔排布于固定板75靠近定位治具30的一侧，固定柱77背离固定板75的一端固定连接控制板73。

需要说明的是，控制板73沿高度方向垂直于机架10设置，控制板73通过多个固定柱77固定连接于固定板75，多个固定柱77既保证了固定柱77与固定板75的连接强度，也保证了较小的固定面积，减少对控制板73上蚀刻的电路可能造成的干扰，增加了内存芯片测试装置100内部结构的紧凑性。

如图1至图3所示，在本实用新型一实施例中，机架10设有调整座13，调整座13内设有调整槽131，固定板75背离定位治具30的一侧设有调整块15，调整块15滑动连接于调整槽131内，以使测试组件70在高度方向上升降。

固定板75与调整座13内的调整块15固定连接，通过调整块15可以活动地调整固定板75在高度方向上的位置，以间接带动控制板73、控制板73上插置的测试板71并达到控制其高度方向的位置的目的，提高了本申请所提出的内存芯片测试装置100的使用精度。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种内存芯片测试装置，其特征在于，所述内存芯片测试装置包括：

机架，所述机架设有第一滑轨槽；

定位治具，所述定位治具固定连接于所述机架并沿第一方向延伸设置，所述定位治具位于第一方向的一端设有供内存芯片放置的测试空间，所述第一滑轨槽朝向所述定位治具方向延伸设置；

压合机构，所述压合机构上设有抵接件，所述压合机构滑动连接于所述第一滑轨槽，以使所述抵接件在测试空间上方随所述压合机构滑动而升降；以及

测试组件，所述测试组件包括测试板和控制板，所述控制板设于所述机架，所述测试板插接于所述定位治具并位于所述测试空间的下侧，所述测试板电性连接所述控制板。

2.如权利要求1所述的内存芯片测试装置，其特征在于，定义所述压合机构朝向所述定位治具的延伸方向为第二方向，所述压合机构包括：

升降结构，所述升降结构设于所述机架；和

导向组件，所述导向组件包括支撑板、支架及拉手，所述支撑板固定于所述升降结构上侧，所述支架活动连接于所述支撑板，并可沿第二方向滑动，所述拉手固定连接于所述支架，所述第一滑轨槽沿高度方向倾斜设置，所述拉手滑动连接于所述第一滑轨槽，所述抵接件设于所述支架靠近所述定位治具的一侧，所述升降结构驱动所述支撑板升降，所述第一滑轨槽及所述拉手导向所述支撑板在升降时沿第二方向滑动。

3.如权利要求2所述的内存芯片测试装置，其特征在于，所述压合机构还包括：

导向滑轨，所述导向滑轨设于所述支撑板，所述导向滑轨沿第二方向延伸设置；和

导向滑块，所述导向滑块设于所述支架，所述导向滑块活动连接于所述导向滑轨并带动所述支架沿第二方向滑动。

4.如权利要求2所述的内存芯片测试装置，其特征在于，所述导向组件包括至少两个拉手，至少两个拉手对称设于所述支架的两侧，所述机架包括至少两个导向板，所述导向板的数量对应所述拉手设置，一所述导向板对应设有一第一滑轨槽，一所述拉手对应活动连接于一所述导向板的第一滑轨槽并沿所述第一滑轨槽方向滑动。

5.如权利要求2所述的内存芯片测试装置，其特征在于，所述导向组件还包括滑动座，所述支架设有第二滑轨槽，所述第二滑轨槽沿第一方向延伸设置，所述滑动座至少部分滑动连接于所述第二滑轨槽，所述抵接件设于所述滑动座靠近所述定位治具的一侧边。

6.如权利要求1至5中任一所述的芯片测试装置，其特征在于，所述定位治具包括：

基座，所述基座固定连接于所述机架；

夹持件，所述夹持件固定连接于所述基座上侧，所述夹持件与所述基座围合有供所述测试板插置的插入空间；以及

定位件，所述夹持件设有安装凹槽，所述定位件活动安装于所述安装凹槽内，所述定位件设有定位孔，所述安装凹槽与所述定位孔围合成供内存芯片放置的测试空间。

7.如权利要求6所述的芯片测试装置，其特征在于，所述定位治具还包括导电件，所述夹持件设有连通所述测试空间与所述插入空间的导电孔，所述导电件穿设于所述导电孔且至少部分凸设于测试空间内，所述测试板对应所述导电孔设有焊盘区，所述导电件背离测试空间的一端抵接所述焊盘区。

8.如权利要求1至5中任一所述的芯片测试装置，其特征在于，所述控制板设有测试板插槽，所述测试板可拆卸的插置于所述测试板插槽内，所述测试板用于插置所述测试板插槽的侧边设有多个金手指，所述金手指用于将所述测试板的数据传递至所述控制板。

9.如权利要求1至5中任一所述的芯片测试装置，其特征在于，所述测试组件还包括：

固定板，所述固定板活动连接所述机架；和

多个固定柱，所述固定柱具有相对的两端，所述固定柱的一端固定连接所述固定板，多个所述固定柱间隔排布于所述固定板靠近所述定位治具的一侧，所述固定柱背离所述固定板的一端固定连接所述控制板。

10.如权利要求9所述的芯片测试装置，其特征在于，所述机架设有调整座，所述调整座内设有调整槽，所述固定板背离所述定位治具的一侧设有调整块，所述调整块滑动连接于所述调整槽内，以使所述测试组件在高度方向上升降。

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