CN115754676A - 一种用于柔性电路板电性测试的测试设备及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,柔性电路板包括软板和Z I F连接器,Z I F连接器的槽口位于所述软板的侧面,包括机架、测试仪、载板组件、天板组件以及侧位测试针模;载板组件包括载板、产品嵌块;天板组件包括驱动组件、天板以及定位组件;侧位测试针模包括平移组件以及侧位针模。本发明所提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,适用于具有Z I F连接器的柔性电路板的电性性能测试使用,能够对具有侧向槽口的Z I F连接器进行扎针测试,通过设置于载板组件上的侧位测试针模中呈水平设置的测试探针对Z I F连接器进行扎针测试。本发明还提供了一种采用上述一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及基站柔性电路板测试技术领域,尤其是涉及一种用于柔性电路板电性测试的测试设备及测试方法。
背景技术
随着移动电子产品的普及以及5G时代的到来,手机、PAD、笔记本电脑、智能穿戴设备以及各种电子产品对其自身体积和功能都提出了越来越高的要求。因此,柔性电路板作为智能电子产品中广泛使用的部件,其产品结构也随着智能电子产品的不同功能需求以及体积需求做出了适应性的改进,而对于柔性电路板的测试项目、测试难度以及测试要求都提出了更高的要求。
在传统的柔性电路板进行电性性能测试时,常见的测试项目一般都是对设置于柔性电路板软板上的B2B连接器、ACF、顶部开槽的ZI F连接器等等测试点进行扎针测试。而这些常规的测试项目的测试点均是在柔性电路板的软板的顶部或底部开槽,方便测试针模的测试探针可以由柔性电路板的软板的顶面或底面沿着竖直方向插入连接器的槽口内,并扎至连接器的测试点上,利用测试仪和测试针模对其进行扎针测试。
但是,随着产品的不断升级,新设计的柔性电路板中所布置的ZI F连接器,将槽口开设于软板的侧面,这种具有侧向槽口的ZI F连接器就无法使用传统的测试设备为其进行扎针测试。即新设计的柔性电路板因为具有侧向槽口的ZI F 连接器,而无法使用传统的测试设备为其进行扎针测试。传统的用于柔性电路板的测试设备无法从柔性电路板的软板的顶部或者底部伸出探针至侧向槽口的 ZI F连接器的测试点处,也就无法对侧向槽口的测试点进行扎针。
发明内容
本发明的目的在于解决传统的用于柔性电路板的测试设备无法用于新设计的具有侧向槽口的Z I F连接器的电性性能测试使用的缺点,提供一种用于柔性电路板电性测试的测试设备。
本发明解决其技术问题采用的技术方案是:一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,所述柔性电路板包括软板和设置于所述软板上的ZI F连接器,所述ZI F连接器的槽口位于所述软板的侧面,包括机架、设置于所述机架内的测试仪、设置于所述机架内的载板组件、设置于所述机架内位于所述载板组件上方的天板组件以及设置于所述载板组件上的侧位测试针模;
所述载板组件包括固定于所述机架上的载板以及设置于所述载板上用于承托所述ZI F连接器的产品嵌块;
所述天板组件包括固定于所述机架上的驱动组件、由所述驱动组件带动的天板以及设置于所述天板上的定位组件;
所述侧位测试针模包括固定于所述载板上的平移组件以及由所述平移组件带动的侧位针模,所述侧位针模包括若干条与所述测试仪电连接的呈水平设置的测试探针。
在其中一个实施例中,所述侧位针模还包括由若干个针模板依次水平排布的针模板组,若干条所述测试探针穿设于所述针模板组内。
在其中一个实施例中,所述针模板组在靠近所述产品嵌块的一侧设置有对接头,当所述平移组件带动所述侧位针模移动至所述产品嵌块处,所述对接头伸入所述ZI F连接器的槽口内,使得位于所述针模板组内的测试探针由所述对接头处伸出。
在其中一个实施例中,所述平移组件包括固定于所述载板上的安装板、设置于所述安装板顶部的平移支架以及设置于所述安装板底部的驱动件,所述侧位针模的针模板组固定于所述平移支架上。
在其中一个实施例中,所述产品嵌块包括基块、设置于所述基块顶面承托所述Z IF连接器的承托平面以及设置于所述承托平面上的真空吸附口。
在其中一个实施例中,所述定位组件包括弹性连接于所述天板底部的定位压块、设置于所述定位压块内的预压压块以及固定于所述天板上方驱动所述预压压块竖直升降的第二驱动部件,所述定位压块的底部设置有可供所述ZI F连接器嵌入的精定位槽。
在其中一个实施例中,所述定位压块上设置有由上至下贯穿至所述精定位槽的安装孔,所述预压压块穿设于所述安装孔内。
在其中一个实施例中,所述驱动组件包括固定于所述机架顶部的水平移动平台以及固定于所述水平移动平台上的竖直升降部件,所述天板固定于所述竖直升降部件的底部。
在其中一个实施例中,所述天板的底部上设置有若干个定位柱,所述载板上设置有若干个可供所述定位柱插入的定位孔。
本发明所提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的有益效果在于:该测试设备适用于具有ZI F连接器的柔性电路板的电性性能测试使用,能够对具有侧向槽口的ZI F连接器进行扎针测试,利用载板组件上的产品嵌块对 ZI F连接器进行基础支撑,天板组件上的定位组件对ZI F连接器进行精确定位与固定,再通过设置于载板组件上的侧位测试针模中呈水平设置的测试探针对 ZI F连接器进行扎针测试。
本发明还提供了一种采用上述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的测试方法,包括以下步骤:
上料,将柔性电路板的ZI F连接器放置于载板组件的产品嵌块处;
产品定位,天板组件的驱动组件带动位于天板上的定位组件下压至所述载板组件的产品嵌块处;
产品测试,侧位测试针模的平移组件带动侧位针模平移至所述产品嵌块处,使得测试探针由所述产品嵌块的侧面插入所述ZI F连接器的槽口内,利用测试仪对所述Z I F连接器进行电性测试;
测试复位,所述天板组件的驱动组件带动所述定位组件与所述产品嵌块分离;
下料,将所述柔性电路板由所述产品嵌块中取出。
本发明所提供的一种测试方法的有益效果在于:能够采用上述的测试设备,完成对于具有侧向槽口的Z I F连接器的扎针测试,实现对于具有侧向槽口的Z I F 连接器的电性性能测试。
附图说明
图1是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的立体结构示意图;
图2是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中载板组件和侧位测试针模的立体结构示意图;
图3是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中所测试的柔性电路板的立体结构示意图;
图4是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中产品嵌块的立体结构示意图;
图5是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中天板组件的立体结构示意图;
图6是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中定位压块的立体结构示意图;
图7是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中定位组件的立体结构示意图;
图8是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备中定位组件与产品嵌块配合压紧Z I F连接器时的全剖视图;
图9是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的侧位测试针模中平移组件的立体结构示意图;
图10是本发明提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的侧位测试针模中侧位针模的立体结构示意图;
图11是本发明提供的一种测试方法的流程图。
附图标记说明:
100-用于柔性电路板电性测试的测试设备;
10-机架、90-柔性电路板、91-软板、92-Z I F连接器、93-槽口;
20-载板组件、21-载板、211-定位孔、22-产品嵌块、221-基块、222-承托平面、223-真空吸附口、224-定位销钉、225-定位凸台;
30-天板组件、31-驱动组件、311-水平移动平台、3111-水平驱动气缸、3112- 驱动平台、3113-直线轴承、312-竖直升降部件、32-天板、321-定位柱、33- 定位组件、331-定位压块、3311-精定位槽、3312-安装孔、3313-测试口、3314- 安装凸台、332-预压压块、333-第二驱动部件、3331-支架、3332-竖直驱动气缸、3333-连接架、3334-第一弹性导柱、334-限位框、3341-弹簧;
40-侧位测试针模、41-平移组件、411-安装板、412-平移支架、413-驱动件、4131-传动块、42-侧位针模、421-第一针模、4211-对接头、422-第二针模、 423-第三针模、424-第四针模、425-第五针模、426-测试探针、427-第二弹性导柱、428-支撑柱。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
参见图1-图10,为本发明所提供的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备100。本发明所提供的测试设备100用于对柔性电路板90进行电性测试,能够通过电性测试获得柔性电路板90的各种电性参数,从而通过电性参数判断柔性电路板90的产品品质。如图3所示,为本发明所提供的测试设备100 所能测试的柔性电路部90的立体结构示意图。该柔性电路板90包括软板91 和设置于软板91上的Z I F连接器92。在本实施例中,该柔性电路板90上设置有位于软板91一端端部的Z I F连接器92,以及位于软板91另一端端部的B2B 连接器。并且在B2B连接器的背面设置有钢片、B2B连接器的侧面还设置有两个PAD点。在本实施例中所提供的柔性电路板90上的Z I F连接器92、B2B连接器、钢片以及两个PAD点均需要通过本发明所提供的测试设备100进行电性测试。而该柔性电路板90中的B2B连接器的槽口朝下设置,钢片和两个PAD 点均位于软板91的顶面上,因此在本发明所提供的测试设备100上采用传统的测试针模即可完成对于B2B连接器、钢片、PAD点的电性测试,而该测试设备100中用于B2B连接器、钢片、PAD点的测试针模的结构属于传统的测试结构,并且该测试针模均可以直接通过传统的连接方式固定于测试设备100中,在此不再赘述。
如图3所示,本发明所提供的测试设备100所需要测试的柔性电路板90 中的Z I F连接器92的槽口93位于软板91的侧面。该Z I F连接器92位于柔性电路板90的端部,并且该Z I F连接器92的槽口93的开口方向朝向了软板91 的前侧面。而本发明所提供的测试设备100则是为了能够完成在对其他测试点进行测试的同时,还可以对该Z I F连接器92进行电性测试而设计的测试设备 100。
进一步地,如图1所示,为本发明所提供的测试设备100去除外壳,能够看到其内部结构的整体立体结构示意图。本发明所提供的一种用于柔性电路板 90的电性测试的测试设备100包括机架10、设置于机架10内的测试仪(图中未示出)、设置于机架10内的载板组件20、设置于机架10内位于载板组件20 上方的天板组件30以及设置于载板组件20上的侧位测试针模40。其中,机架 10由中间设置的水平安装板分为上部分的框架结构和下部分的箱体结构。而本发明所提供的载板组件20、天板组件30和侧位测试针模40均位于机架10的水平安装板上部分,并位于框架结构内。而图中并未示出的测试仪、电源、气路部件等均设置于机架10的水平安装板底部,并位于箱体结构内。本发明所提供的测试设备100为了能够完成各种电性性能测试需要通过位于箱体结构内的测试仪对柔性电路板90进行测试操作。
进一步地,如图1所示,本发明所提供的测试设备100中,该载板组件20 位于机架10的水平安装板上方,并且该载板组件20在机架10内相对固定。而该天板组件30位于载板组件20的上方,在实际测试操作过程中,该天板组件 30可以相对于载板组件20水平和竖直移动,实现对接操作。而设置于载板组件20上的侧位测试针模40正是对放置于载板组件20上的待测试的柔性电路板 90的Z I F连接器92进行独立的测试。
具体地,如图2所示,为本发明所提供的测试设备100中载板组件20的立体结构示意图。该载板组件20上所放置的柔性电路板90处不仅可以用于测试 Z I F连接器92,还可以测试该柔性电路板90另一端的B2B连接器,并在载板组件20上设置有对应的测试针模,利用该测试针模完成对于B2B连接器的测试。该测试针模的结构为现有技术,在此不再赘述。如图5所示,为本发明所提供的测试设备100中天板组件30去除驱动组件31的立体结构示意图。该天板组件30上对应设置有用于Z I F连接器92测试所用的定位组件33,同时还具有用于测试柔性电路板90的钢片、PAD点的测试探针和压块等部件,该测试探针和压块结构为现有技术,在此不再赘述。
进一步地,如图2所示,本发明所提供的测试设备100中的载板组件20 包括固定于机架10上的载板21以及设置于载板21上用于承托Z I F连接器92 的产品嵌块22。其中,载板21固定于机架10的水平安装板上,与机架10固定连接。而产品嵌块22固定于载板21上,通过螺钉等连接件实现与载板21 固定连接。该载板21上设置有若干个定位孔211。该定位孔211内均套设有铜套。该载板21上所设置的定位孔211用于在天板组件30和载板组件20对接时,保持两者之间相对位置的部件。该定位孔211可供天板组件30上所设置的定位柱321插入。
如图4所示,为本发明所提供的载板组件20中的产品嵌块22的立体结构示意图。该产品嵌块22包括基块221。基块221呈矩形结构,上面设置有若干个固定孔,通过螺钉等连接件直接固定于载板21上。该产品嵌块22还包括设置于基块221顶面承托Z I F连接器92的承托平面222。该承托平面222用于为放置于载板21上待测试的柔性电路板90提供支撑,同时对柔性电路板90上所设置的Z I F连接器92进行初定位。如图4所示,在承托平面222上设置有若干个定位凸台225,该定位凸台225用于对柔性电路板90的软板91放置位置的初步限定。当柔性电路板90放入载板21上时,仅需将具有Z I F连接器92的一端软板91放入该产品嵌块22的承托平面222上,并通过定位凸台225的侧面与柔性电路板90的软板91的侧边相互抵接,从而达到对于固定于软板91上的 Z I F连接器92的限位作用。
并且,本发明所提供的产品嵌块22还包括设置于承托平面222上的真空吸附口223,该真空吸附口223位于承托平面222上,并且与产品嵌块22侧面的真空接入口连通,通过连接真空发生器,在承托平面222上形成真空吸附的效果。当柔性电路板90放置于产品嵌块22内,并通过定位凸台225进行粗限位之后,该真空吸附口223即可产生真空环境对放置于产品嵌块22上的柔性电路板90的软板91进行吸附,使得该柔性电路板90放置于产品嵌块22后可以在固定于该产品嵌块22内。
如图4所示,本发明所提供的产品嵌块22若干个设置于承托平面222 上的定位销钉224。该定位销钉224与天板组件30的定位组件33对接,以确保该产品嵌块22与定位组件33在竖直方向对接时,两者相对位置的精确性。
进一步地,如图1和图5所示,本发明所提供的测试设备100中该天板组件30包括固定于机架10上的驱动组件31、由驱动组件31带动的天板32以及设置于天板32上的定位组件33。其中,天板组件30中的驱动部件31位于测试设备100的机架10的顶部,通过该驱动组件31实现天板组件32在水平方向和竖直方向上的移动。当需要对测试设备100上料时,该天板组件30中的天板 32由驱动组件31带动移动至初始位置处。该天板32的初始位置位于机架10 的后侧顶部,从而方便对于载板组件20进行上料。而当需要对上料的柔性电路板90进行测试时,需要通过该驱动组件31将天板32向前移动至载板组件20 的正上方,再通过驱动组件31驱动天板32整体下压,从而将位于天板32上的定位组件33与载板组件20上的产品嵌块22对接,实现对于放置于产品嵌块 22内的Z I F连接器92的固定。
具体地,如图1所示,本发明所提供的测试设备100中,该天板组件30 中的驱动组件31包括固定于机架10顶部的水平移动平台311以及固定于水平移动平台311上的竖直升降部件312,天板32固定于竖直升降部件312的底部。该水平移动平台311包括设置于机架10的顶板上的水平驱动气缸3111、由该水平驱动气缸3111带动在机架10的顶板底面水平平移的驱动平台3112以及设置于驱动平台3112上的直线轴承3113,该直线轴承3113用以确保天板32在竖直方向上的移动方向的精确性。同时,该驱动组件31中的竖直升降部件312 为固定于驱动平台3112上呈竖直设置的驱动气缸,通过该驱动气缸带动设置于驱动平台3112下方的天板32竖直升降。该驱动组件31中的水平移动平台311 和竖直升降部件312实现了天板32在机架10的顶部水平平移和竖直升降的移动操作,从而可以在上料时,将天板32移动至初始位置处(机架10的后侧顶部),并且在产品测试时,先利用水平移动平台311将天板32水平移动至载板组件20的载板21的正上方,再利用竖直升降部件312将天板32整体下压至载板21上,实现天板32与载板21在竖直方向上的对接。
如图5所示,本发明所提供的天板组件30的天板32的底部上设置有若干个定位柱321。对应的,如图2所示,载板组件20的载板21上设置有若干个可供定位柱321插入的定位孔211。当竖直升降部件312带动天板32下压的过程中,该天板32上的定位柱321随着向下移动的过程中插入载板21的定位孔211内,实现载板组件20与天板组件30在对接时位置的精确性和一致性。
具体地,在天板32整体下压的过程中,位于天板32上测试探针、压块等部件也同步下压完成对于柔性电路板92上其他部件的测试。而本发明所提供的测试设备100中用于ZIF连接器92测试的定位组件33弹性连接于天板32上,随着天板32的下压抵接至载板组件20的产品嵌块22处,并与产品嵌块22相互贴合,并实现对于放置于产品嵌块22内的ZI F连接器92的精确限位与固定。如图8所示,为本发明所提供的测试设备100中该定位组件33与产品嵌块22 对接时的剖视图。在天板32下压至载板21上时,该定位组件33和产品嵌块 22能够完全抵压至Z I F连接器92的上表面和下表面,从而完成对于ZI F连接器92的固定和限位。
进一步地,如图7所示,为本发明所提供的测试设备100中位于天板32 上的定位组件33的立体结构示意图。本发明所提供的天板组件30中的定位组件33包括弹性连接于天板32底部的定位压块331、设置于定位压块331内的预压压块332以及固定于天板32上方驱动预压压块332竖直升降的第二驱动部件333。该天板组件30中的定位压块331通过限位块334固定于天板32的底面上,并在定位压块331和天板32之间设置有多个弹簧3341,使得定位压块 331和天板32之间具有一定的弹性空间。当定位压块331随着天板32整体下压至产品嵌块22上时,该弹簧3341所提供的弹性空间,可以确保整个定位压块331的底面可以完全贴合至产品嵌块22上,实现定位压块331与产品嵌块 22之间的对接时的稳定性。而定位压块331的定位压块331的底部设置有可供 ZI F连接器92嵌入的精定位槽3311。该精定位槽3311的轮廓与产品嵌块22 内的ZI F连接器92的端子基座的轮廓一致,且该精定位槽3311的尺寸与ZI F 连接器92的尺寸相当,使得Z I F连接器92可以在定位压块331抵接至产品嵌块22上时完全嵌入定位压块331底部所设置的精定位槽3311内,并通过精定位槽3311实现对于ZI F连接器92的精确定位。同时,如图7所示,该定位压块331的侧面设置有测试口3313,该测试口3313由定位压块331的侧面一直延伸至精定位槽3311内,并且该测试口3313与ZI F连接器92的槽口93连通,使得侧位测试针模40的测试探针426可以穿过该测试口3313进入ZI F连接器 92的槽口93内,与槽口93内的测试点接触。
具体地,如图5-图8所示,设置于定位压块331内的预压压块332由第二驱动部件333带动在定位压块331内竖直升降。而该定位压块331上设置有由上至下贯穿至精定位槽3311的安装孔3312,预压压块332穿设于安装孔3312 内。预压压块332在天板32整体下压时,由第二驱动部件333带动穿过安装孔 3312进入精定位槽3311内,并在对接时,与进入精定位槽3311内的ZI F连接器92的顶面抵接,实现对于ZI F连接器92在竖直方向上的抵压。该预压压块 332为Z I F连接器92提供向下的压力,使得ZI F连接器92可以在竖直方向上抵压在产品嵌块22的承托平面222上。通过设置于定位压块331内的预压压块 332来限定ZIF连接器92在精定位槽3311内竖直方向的位置。
具体地,如图7所示,位于天板32上的第二驱动部件333包括固定于天板 32顶面的支架3331、固定于该支架3331上的竖直驱动气缸3332、与竖直驱动气缸3332固定连接的连接架3333以及设置于连接架3333上的第一弹性导柱 3334。该第一弹性导柱3334的一端固定于连接架3333上,另一端伸入定位压块331的安装孔3312内,与位于安装孔3312内的预压压块332固定连接。通过该第一弹性导柱3334实现对于预压压块332在竖直方向上的弹性活动空间,以确保该预压压块332可以准确地抵压在ZI F连接器92的顶面上,同时还可以避免预压压块332在下压的过程中由于压力过大而造成不必要的损伤。
进一步地,如图1所示,本发明所提供的测试设备100中,该载板组件20 的载板21在产品嵌块22的前侧镂空,并在该镂空的位置处设置有侧位测试针模40。通过该侧位测试针模40实现对于柔性电路板90的ZI F连接器92的电性测试。该侧位测试针模40包括固定于载板21上的平移组件41以及由平移组件41带动的侧位针模42。该平移组件41带动侧位针模42朝向产品嵌块22的一侧移动,或者远离产品嵌块22的一侧移动。当测试时,该天板组件30下压至载板组件20上时,Z I F连接器92由定位压块331、预压压块332和产品嵌块 22完全固定后,该平移组件41带动侧位针模42整体朝向产品嵌块22一侧移动。而当完成测试后,该平移组件41则带动侧位针模42整体远离产品嵌块22 以利于柔性电路板90的下料。
具体地,如图10所示,为本发明所提供的侧位测试针模40中的侧位针模 42的立体结构示意图。该侧位针模42包括若干条与测试仪电连接的呈水平设置的测试探针46,该测试探针46的数量由柔性电路板90上所设置的Z I F连接器92决定。在测试的过程中个,若干条测试探针46同时水平移动至产品嵌块 22处,每个测试探针46的末端端部均与设置于机架10内的测试仪电性连通,每个测试探针46的前端端部由产品嵌块22的侧面插入Z I F连接器92的槽口 93内,并直接抵接至Z I F连接器92的测试点上,实现Z I F连接器92的测试点与测试仪之间的电性连接,从而实现对于ZI F连接器92电性性能的测试。
如图10所示,该侧位针模42还包括由若干个针模板依次水平排布的针模板组,在本实施例中,该针模板组包括依次水平排布的第一针模421、第二针模422、第三针模423、第四针模424和第五针模425,其中第一针模421位于靠近产品嵌块22的一侧。该第一针模421至第五针模425均呈水平状布置,并且第一针模421至第五针模425内部设置有可供若干条测试探针46穿设的通道。侧位针模42的若干条测试探针46穿设于第一针模421至第五针模425之间,通过第一针模421至第五针模425实现对于若干条水平布置的测试探针426 的支撑与固定。其中,第二针模422和第三针模423之间间距较大,该第二针模422和第三针模423之间通过支撑柱428固定连接。而该第一针模421与第二针模422之间通过第二弹性导柱427连接,使得第一针模421和第二针模422 在水平方向上具有一定的活动空间,当第一针模421与Z I F连接器92相互抵接时,直接挤压第一针模421和第二针模422之间的活动空间,从而将隐藏在第一针模421中的若干条测试探针46的端部伸出。
具体地,如图10所示,该侧位针模42的针模板组在靠近产品嵌块22的一侧设置有对接头4211。在本实施例中,该针模板组中的第一针模421靠近产品嵌块22,该第一针模421靠近产品嵌块22的一侧侧面设置有对接头4211,另一侧侧面与第二针模422连接。在对接头4211上设置有若干个可供测试探针 46穿出的通孔,每个通孔内设置有一条测试探针46。该对接头4211可以由产品嵌块22的侧面直接伸入Z I F连接器92的槽口93内。并且,当平移组件41 带动侧位针模42移动至产品嵌块22处,对接头4211伸入ZI F连接器92的槽口93内,使得位于针模板组的第一针模421内的测试探针46由对接头4211 处伸出。该对接头4211的侧面与ZI F连接器92的槽口93相互抵接,使得对接头4211无法持续插入槽口93深处,而位于对接头4211内的测试探针46在槽口93的挤压下,由对接头4211的通孔内伸出后,直接扎在ZI F连接器92的测试点上,从而实现测试探针46与Z I F连接器92的测试点之间的接触。
具体地,如图9所示,为本发明所提供的侧位测试针模40中的平移组件41包括固定于载板21上的安装板411、设置于安装板411顶部的平移支架 412以及设置于安装板411底部的驱动件413该平移组件41的安装板411直接固定于载板组件20的载板21上,驱动件413为设置于安装板411底部的驱动气缸,该驱动气缸通过传动块4131与位于安装板411上方的平移支架412固定连接,使得平移支架412可以由驱动件413带动沿着水平方向平移。而该侧位测试针模40中的侧位针模42的针模板组固定于平移支架412上,具体地,该针模板组的第二针模422和第三针模423分别与平移支架412的两端固定连接,从而实现侧位针模42与平移组件41之间的固定连接,使得侧位针模42可以由平移组件41带动在水平方向上平移操作。
本发明所提供的一种用于柔性电路板90电性测试的测试设备100适用于具有ZI F连接器92的柔性电路板90的电性性能测试使用,能够对具有侧向槽口 93的ZI F连接器92进行扎针测试。该测试设备100不仅是能够对柔性电路板 90上所设置的具有侧向槽口93的ZI F连接器92进行电性性能测试,还同时能够对柔性电路板90上所设置的其他连接器、测试点进行电性性能测试,从而能够满足对于柔性电路板90上所有测试点的一次性电性性能测试。在对柔性电路板90上的ZI F连接器92进行测试时,首先利用载板组件20上的产品嵌块22 对ZI F连接器92进行基础支撑;然后,通过天板组件30的下压,将天板组件 30上的定位组件33对ZI F连接器92进行精确定位与固定;最后,再通过设置于载板组件20上的侧位测试针模40中呈水平设置的测试探针46对ZI F连接器 92进行扎针,并利用测试探针46将ZI F连接器92内的测试点与机架10内的测试仪电性连接,通过测试仪完成对于ZI F连接器92的电芯性能的测试。
如图11所示,针对上述所提供的测试设备100,本发明还提供了一种采用上述的一种用于柔性电路板90电性测试的测试设备100的测试方法,包括以下步骤:
上料,将柔性电路板90的ZI F连接器92放置于载板组件20的产品嵌块 22处,可以通过机械手或者人工将待测试的柔性电路板90中需要测试的ZI F 连接器92放置于载板组件20的产品嵌块22上,并通过产品嵌块22为ZI F连接器92提供向上的支撑力;
产品定位,天板组件30的驱动组件31带动位于天板32上的定位组件33 下压至载板组件20的产品嵌块22处,通过天板32的下压,使得定位组件33 的定位压块31和预压压块32均抵接至产品嵌块22上所放置的Z I F连接器92 上,利用定位压块31对ZI F连接器92进行精定位,并通过预压压块32将ZI F 连接器92固定于产品嵌块22的承托平面222上,限制ZI F连接器92在产品嵌块22上竖直方向的移动;
产品测试,侧位测试针模40的平移组件41带动侧位针模42平移至产品嵌块22处,使得测试探针46由产品嵌块22的侧面插入ZI F连接器92的槽口93 内,利用测试仪对ZI F连接器92进行电性测试,该侧位针模42上的若干条水平设置的测试探针46由侧位针模40中伸出,并抵接至ZI F连接器92的槽口 93内的测试点处,通过测试探针46将ZI F连接器92的测试点与测试设备100 中的测试仪电性连接,利用测试仪完成对于ZI F连接器92的各种电性性能的测试;
测试复位,天板组件30的驱动组件31带动定位组件33与产品嵌块22分离,该驱动组件31将天板32向上移动至机架10的顶部,并水平移动至加急 10的后侧,使得天板组件30和载板组件20之间相互分离,且相互错开,为载板组件20上的柔性电路部90的上下料操作提供操作空间;
下料,将柔性电路板90由产品嵌块22中取出,可以通过机械手或人工将完成测试的柔性电路板90由产品嵌块22中取出,并根据测试的结果对其进行分类下料。
在上述的上料步骤中,还包括初定位步骤。在上料时,将柔性电路板90 具有ZI F连接器92的软板91由上至下放入产品嵌块22内,并通过产品嵌块 22上的若干个定位凸台225对软板91进行水平方向上的限位,利用产品嵌块 22上的多个定位凸台225围合形成容纳具有ZI F连接器92的软板91的放置空间,从而通过多个定位凸台225的相互作用,对具有ZI F连接器92的软板91 进行水平位置的初定位。
在上述的产品定位步骤中,还包括初固定步骤。当柔性电路板90具有ZI F 连接器92的软板91水平限制于若干个定位凸台225之后,测试设备100中的真空发生器工作,在产品嵌块22处形成真空环境,并在产品嵌块22的真空吸附口223处形成真空吸附力,使得柔性电路板90的软板91被吸附于产品嵌块 22的真空吸附口223上,以确保柔性电路板90与产品嵌块22之间的相对固定。
在上述产品测试步骤中,还包括撤预压压块332步骤。当侧位测试针模40 中的侧位针模42与产品嵌块22对接后,即侧位针模42中的若干个测试探针 426扎在ZI F连接器92的测试点之后,该天板组件30中的定位组件33的第二驱动部件333带动预压压块332在定位压块331的定位孔3312内向上移动,使得预压压块332与ZI F连接器92的顶面分离,从而实现撤预压压块步骤。当完成撤预压压块332步骤后,该测试探针426才与测试仪之间电性导通,实现测试仪对Z I F连接器92内的测试点的测试。该预压压块332在电导通时,与Z I F连接器92完全分离,避免了预压压块332可能对Z I F连接器92测试所造成的干扰,减少定位组件33对于测试影响。
本发明所提供的一种测试方法,能够采用上述的测试设备100,完成对于具有侧向槽口93的Z I F连接器92的扎针测试,实现对于具有侧向槽口93的 Z I F连接器92的电性性能测试。
以上仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,所述柔性电路板包括软板和设置于所述软板上的ZIF连接器,所述ZIF连接器的槽口位于所述软板的侧面,其特征在于,包括机架、设置于所述机架内的测试仪、设置于所述机架内的载板组件、设置于所述机架内位于所述载板组件上方的天板组件以及设置于所述载板组件上的侧位测试针模;
所述载板组件包括固定于所述机架上的载板以及设置于所述载板上用于承托所述ZIF连接器的产品嵌块;
所述天板组件包括固定于所述机架上的驱动组件、由所述驱动组件带动的天板以及设置于所述天板上的定位组件;
所述侧位测试针模包括固定于所述载板上的平移组件以及由所述平移组件带动的侧位针模,所述侧位针模包括若干条与所述测试仪电连接的呈水平设置的测试探针。
2.如权利要求1所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述侧位针模还包括由若干个针模板依次水平排布的针模板组,若干条所述测试探针穿设于所述针模板组内。
3.如权利要求2所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述针模板组在靠近所述产品嵌块的一侧设置有对接头,当所述平移组件带动所述侧位针模移动至所述产品嵌块处,所述对接头伸入所述ZIF连接器的槽口内,使得位于所述针模板组内的测试探针由所述对接头处伸出。
4.如权利要求2所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述平移组件包括固定于所述载板上的安装板、设置于所述安装板顶部的平移支架以及设置于所述安装板底部的驱动件,所述侧位针模的针模板组固定于所述平移支架上。
5.如权利要求1所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述产品嵌块包括基块、设置于所述基块顶面承托所述ZIF连接器的承托平面以及设置于所述承托平面上的真空吸附口。
6.如权利要求1所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述定位组件包括弹性连接于所述天板底部的定位压块、设置于所述定位压块内的预压压块以及固定于所述天板上方驱动所述预压压块竖直升降的第二驱动部件,所述定位压块的底部设置有可供所述ZIF连接器嵌入的精定位槽。
7.如权利要求6所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述定位压块上设置有由上至下贯穿至所述精定位槽的安装孔,所述预压压块穿设于所述安装孔内。
8.如权利要求1所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述驱动组件包括固定于所述机架顶部的水平移动平台以及固定于所述水平移动平台上的竖直升降部件,所述天板固定于所述竖直升降部件的底部。
9.如权利要求1所述的一种用于柔性电路板电性测试的测试设备,其特征在于,所述天板的底部上设置有若干个定位柱,所述载板上设置有若干个可供所述定位柱插入的定位孔。
10.一种采用如权利要求1-9任一项所述一种用于柔性电路板电性测试的测试设备的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
上料,将柔性电路板的ZIF连接器放置于载板组件的产品嵌块处;
产品定位,天板组件的驱动组件带动位于天板上的定位组件下压至所述载板组件的产品嵌块处;
产品测试,侧位测试针模的平移组件带动侧位针模平移至所述产品嵌块处,使得测试探针由所述产品嵌块的侧面插入所述ZIF连接器的槽口内,利用测试仪对所述ZIF连接器进行电性测试;
测试复位,所述天板组件的驱动组件带动所述定位组件与所述产品嵌块分离;
下料,将所述柔性电路板由所述产品嵌块中取出。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115542129A (zh) * | 2022-10-31 | 2022-12-30 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种柔性电路板电测机 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN203981837U (zh) * | 2014-07-30 | 2014-12-03 | 厦门致通网络科技有限公司 | Fct自动测试设备 |
CN108535116A (zh) * | 2018-06-06 | 2018-09-14 | 李桂兰 | 压力测试机 |
CN109358282A (zh) * | 2018-10-23 | 2019-02-19 | 哈尔滨学院 | 一种计算机主板测试用自动控制插拔设备 |
CN208907907U (zh) * | 2018-09-26 | 2019-05-28 | 重庆三安自动化设备有限公司 | 一种三面测试装置 |
CN110364850A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-10-22 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | Zif连接器、zif连接器总成及电子设备 |
CN212965298U (zh) * | 2020-09-07 | 2021-04-13 | 深圳晶华显示电子股份有限公司 | 一种带背光端子的显示屏测试系统 |
CN215678715U (zh) * | 2021-03-24 | 2022-01-28 | 深圳市燕麦科技股份有限公司 | 一种立体式频射测试机构 |
CN218866041U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-04-14 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种载板组件及测试设备 |
CN218866042U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-04-14 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种产品定位结构及测试设备 |
CN219016369U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-05-12 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种侧位测试针模模组及测试设备 |
CN219201832U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-06-16 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种天板组件及测试设备 |
-
2022
- 2022-11-18 CN CN202211450722.8A patent/CN115754676A/zh active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN203981837U (zh) * | 2014-07-30 | 2014-12-03 | 厦门致通网络科技有限公司 | Fct自动测试设备 |
CN108535116A (zh) * | 2018-06-06 | 2018-09-14 | 李桂兰 | 压力测试机 |
CN208907907U (zh) * | 2018-09-26 | 2019-05-28 | 重庆三安自动化设备有限公司 | 一种三面测试装置 |
CN109358282A (zh) * | 2018-10-23 | 2019-02-19 | 哈尔滨学院 | 一种计算机主板测试用自动控制插拔设备 |
CN110364850A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-10-22 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | Zif连接器、zif连接器总成及电子设备 |
CN212965298U (zh) * | 2020-09-07 | 2021-04-13 | 深圳晶华显示电子股份有限公司 | 一种带背光端子的显示屏测试系统 |
CN215678715U (zh) * | 2021-03-24 | 2022-01-28 | 深圳市燕麦科技股份有限公司 | 一种立体式频射测试机构 |
CN218866041U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-04-14 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种载板组件及测试设备 |
CN218866042U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-04-14 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种产品定位结构及测试设备 |
CN219016369U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-05-12 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种侧位测试针模模组及测试设备 |
CN219201832U (zh) * | 2022-11-18 | 2023-06-16 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种天板组件及测试设备 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115542129A (zh) * | 2022-10-31 | 2022-12-30 | 燕麦(杭州)智能制造有限公司 | 一种柔性电路板电测机 |
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