CN218099256U - 二极管测试片和二极管测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种二极管测试片和二极管测试装置，二极管测试片包括主片体和L型接触件，所述主片体长度方向的两端分别为接线端和接触端，所述接线端开设有接线孔，所述L型接触件设置于所述接触端，形成所述主片体上面的凸起结构，所述L型接触件包括横段和竖段，所述横段的底面与所述主片体的上面相接，所述竖段的外侧面与所述接触端的端部边缘平齐，所述竖段的顶面作为二极管引脚的接触面。本实用新型能够提高二极管的电性能测试效果。

Description

二极管测试片和二极管测试装置

技术领域

本实用新型涉及器件电性能测试技术领域，具体涉及一种二极管测试片和一种二极管测试装置。

背景技术

二极管在封装后进行电性能测试是一道非常关键的工序，电性能测试包括二极管的耐压测试、电流测试等，而在测试过程中测试片的设计好坏不直接会影响到测试结果。

目前的测试片的设计大多考虑到了开尔文设计，开尔文的测试架构如图1所示，两组共四个测试片安装于测试台上，将二极管引脚搭接于两组测试片之间便可实现二极管的电性能测试。然而，由于一些二极管在封装后，引脚周边会存在黑胶，这样在引脚搭接到测试片平面时，可能会存在接触不良甚至接触失败的情况，这无疑会影响测试效果，增加误踢率。

实用新型内容

本实用新型为解决上述技术问题，提供了一种二极管测试片和二极管测试装置，能够提高二极管的电性能测试效果。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种二极管测试片，包括主片体和L型接触件，所述主片体长度方向的两端分别为接线端和接触端，所述接线端开设有接线孔，所述L型接触件设置于所述接触端，形成所述主片体上面的凸起结构，所述L型接触件包括横段和竖段，所述横段的底面与所述主片体的上面相接，所述竖段的外侧面与所述接触端的端部边缘平齐，所述竖段的顶面作为二极管引脚的接触面。

所述接触端在所述主片体宽度方向的一侧开设矩形缺口，所述横段朝向所述主片体宽度方向的一侧的侧面与所述矩形缺口沿所述主片体长度方向的边缘平齐。

所述接触端在所述主片体宽度方向的另一侧开设倒角。

所述主片体还开设有安装孔。

所述竖段的顶部朝向所述主片体宽度方向的一侧开设矩形缺口。

所述主片体采用铍铜材料，所述L型接触件采用钨铜材料。

一种二极管测试装置，包括：测试台；四个上述的二极管测试片，四个所述二极管测试片均固定安装于所述测试台上，其中，四个所述二极管测试片的L型接触件均位于二极管放置区域，且第一个二极管测试片与第二个二极管测试片关于二极管放置区域的纵向中轴线对称，第三个二极管测试片与第一个二极管测试片关于二极管放置区域的横向中轴线对称，第四个二极管测试片与第二个二极管测试片关于二极管放置区域的横向中轴线对称。

本实用新型的有益效果：

本实用新型通过在接触端设置L型接触件，使二极管引脚中部能够接触到L型接触件竖段的顶面，避免了因二极管引脚周边存在黑胶而导致引脚与整片平面接触失败或接触不良的情况，从而能够提高二极管的电性能测试效果。

附图说明

图1为相关技术中的二极管片及其应用场景示意图；

图2为本实用新型一个实施例的二极管测试片的俯视图；

图3为本实用新型一个实施例的二极管测试片的主视图；

图4为本实用新型另一个实施例的二极管测试片的俯视图；

图5为本实用新型另一个实施例的二极管测试片的主视图；

图6为本实用新型一个实施例的二极管测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图2和图3所示，本实用新型实施例的二极管测试片包括主片体1和L型接触件2，主片体1长度方向的两端分别为接线端和接触端，接线端开设有接线孔3，L型接触件2设置于接触端，形成主片体1上面的凸起结构，L型接触件2包括横段和竖段，横段的底面与主片体1的上面相接，竖段的外侧面与接触端的端部边缘平齐，竖段的顶面作为二极管引脚的接触面。

在本实用新型的一个实施例中，L型接触件2可焊接于主片体1的上面。在本实用新型的另一个实施例中，L型接触件2可与主片体1一体成型。

在本实用新型的一个实施例中，L型接触件2竖段的顶面的宽度小于二极管引脚宽度的一半。可选地，L型接触件2竖段的顶面的宽度为二极管引脚宽度的四分之一。

在本实用新型的一个实施例中，如图2所示，接触端在主片体1宽度方向的一侧开设矩形缺口，横段朝向主片体1宽度方向的一侧的侧面与矩形缺口沿主片体1长度方向的边缘平齐。通过开设矩形缺口，可使得多个二极管测试片组合后形成容纳二极管本体的空间，矩形缺口的尺寸可根据二极管的尺寸来设定。

在本实用新型的一个实施例中，如图2所示，接触端在主片体1宽度方向的另一侧开设倒角。通过在接触端处开设倒角，可使设置有L型接触件2的接触端更容易被下压，便于对二极管进行测试。

在本实用新型的一个实施例中，如图2所示，主片体1还开设有安装孔4。通过开设的接线孔3和安装孔4，一方面，可在通过接线柱将导线固定于接线孔3的同时，将二极管测试片固定于测试台，另一方面，螺栓通过安装孔4将测试片固定于测试台，两点的配合固定可实现二极管测试片的稳固安装。

在本实用新型的一个实施例中，如图4和图5所示，竖段的顶部朝向主片体1宽度方向的一侧可开设矩形缺口。通过在竖段顶部开设矩形缺口，可使得多个二极管测试片组合后形成容纳二极管引脚的空间，实现对二极管引脚多面的包裹，增强了二极管在检测位的稳定性和接触性。

在本实用新型的一个实施例中，主片体1可采用铍铜材料，导电效果较好，L型接触件2可采用钨铜材料，不仅导电效果好，而且耐磨。

根据本实用新型实施例的二极管测试片，通过在接触端设置L型接触件，使二极管引脚中部能够接触到L型接触件竖段的顶面，避免了因二极管引脚周边存在黑胶而导致引脚与整片平面接触失败或接触不良的情况，从而能够提高二极管的电性能测试效果。

基于上述实施例的二极管测试片，本实用新型还提出一种二极管测试装置。

如图6所示，本实用新型实施例的二极管测试装置包括测试台10和四个上述实施例的二极管测试片20，四个二极管测试片20均固定安装于测试台10上，其中，四个二极管测试片20的L型接触件2均位于二极管放置区域，且第一个二极管测试片20a与第二个二极管测试片20b关于二极管放置区域的纵向中轴线对称，第三个二极管测试片20c与第一个二极管测试片20a关于二极管放置区域的横向中轴线对称，第四个二极管测试片20d与第二个二极管测试片20b关于二极管放置区域的横向中轴线对称。

如图6所示，使用时，将待测试的二极管放置于二极管放置区，二极管的一个引脚与第一个二极管测试片20a和第二个二极管测试片20b的L型接触件2接触，二极管的另一个引脚与第三个二极管测试片20c和第四个二极管测试片20d的L型接触件2接触，第一个二极管测试片20a和第二个二极管测试片20b的接线孔3所连接的导线连接电源一极，第三个二极管测试片20c和第四个二极管测试片20d的接线孔3所连接的导线连接电源另一极，可向二极管施加测试电压，实现二极管的电性能测试。

根据本实用新型实施例的二极管测试装置，能够提高二极管与测试片之间的接触效果，从而提高二极管的电性能测试效果。

在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (7)

1.一种二极管测试片，其特征在于，包括主片体和L型接触件，所述主片体长度方向的两端分别为接线端和接触端，所述接线端开设有接线孔，所述L型接触件设置于所述接触端，形成所述主片体上面的凸起结构，所述L型接触件包括横段和竖段，所述横段的底面与所述主片体的上面相接，所述竖段的外侧面与所述接触端的端部边缘平齐，所述竖段的顶面作为二极管引脚的接触面。

2.如权利要求1所述的二极管测试片，其特征在于，所述接触端在所述主片体宽度方向的一侧开设矩形缺口，所述横段朝向所述主片体宽度方向的一侧的侧面与所述矩形缺口沿所述主片体长度方向的边缘平齐。

3.如权利要求2所述的二极管测试片，其特征在于，所述接触端在所述主片体宽度方向的另一侧开设倒角。

4.如权利要求1所述的二极管测试片，其特征在于，所述主片体还开设有安装孔。

5.如权利要求3所述的二极管测试片，其特征在于，所述竖段的顶部朝向所述主片体宽度方向的一侧开设矩形缺口。

6.如权利要求1-5中任一项所述的二极管测试片，其特征在于，所述主片体采用铍铜材料，所述L型接触件采用钨铜材料。

7.一种二极管测试装置，其特征在于，包括：

测试台；

四个如权利要求1-6中任一项所述的二极管测试片，四个所述二极管测试片均固定安装于所述测试台上，其中，四个所述二极管测试片的L型接触件均位于二极管放置区域，且第一个二极管测试片与第二个二极管测试片关于二极管放置区域的纵向中轴线对称，第三个二极管测试片与第一个二极管测试片关于二极管放置区域的横向中轴线对称，第四个二极管测试片与第二个二极管测试片关于二极管放置区域的横向中轴线对称。

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