CN217879321U - 二极管双轨自动测试线的测试座 - Google Patents

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万鑫
王玉桃
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Changzhou Galaxy Century Microelectronics Co ltd
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Changzhou Galaxy Century Microelectronics Co ltd
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Abstract

本实用新型提供一种二极管双轨自动测试线的测试座,包括第一座体和第二座体,所述第一座体和所述第二座体分离设置,所述第一座体和所述第二座体的上部分别安装有二极管测试片,所述第一座体和所述第二座体的下部分别固定于同一个测试装置上。本实用新型能够有效避免双轨测试工位之间的干扰,提高二极管测试的准确性,并且不会增加测试设备的制造成本。

Description

二极管双轨自动测试线的测试座
技术领域
本实用新型涉及器件电性能测试技术领域,具体涉及一种二极管双轨自动测试线的测试座。
背景技术
目前的二极管双轨自动测试线中,双轨测试座一般为一体式结构,通过在测试座的两个部分分别安装二极管测试片,实现对两个二极管电性能的同时测试,从而提高测试效率。
然而在测试高压(例如1000V及以上)产品时,由于是在一体式的测试座上同时进行的,测试座的绝缘性不够会导致测试数据不准确。而如果为了提高绝缘性去采用更高绝缘程度的材质,则无疑会增加成本。
实用新型内容
本实用新型为解决上述技术问题,提供了一种二极管双轨自动测试线的测试座,能够有效避免双轨测试工位之间的干扰,提高二极管测试的准确性,并且不会增加测试设备的制造成本。
本实用新型采用的技术方案如下:
一种二极管双轨自动测试线的测试座,包括第一座体和第二座体,所述第一座体和所述第二座体分离设置,所述第一座体和所述第二座体的上部分别安装有二极管测试片,所述第一座体和所述第二座体的下部分别固定于同一个测试装置上。
所述第一座体的右侧与所述第二座体的左侧之间为空气间隙。
所述第一座体和所述第二座体的上部分别具有多个第一螺孔,所述第一螺孔用于安装所述二极管测试片。
所述第一座体和所述第二座体的下部分别具有多个第二螺孔,所述第二螺孔用于固定于所述测试装置上。
所述第一座体和所述第二座体均为peek材质。
本实用新型的有益效果:
本实用新型通过双轨的分离式设计,能够有效避免双轨测试工位之间的干扰,提高二极管测试的准确性,并且不会增加测试设备的制造成本。
附图说明
图1为本实用新型一个实施例的二极管双轨自动测试线的测试座的结构示意图;
图2为本实用新型一个实施例的座体的内部结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示,本实用新型实施例的二极管双轨自动测试线的测试座包括第一座体1和第二座体2,第一座体1和第二座体2分离设置,第一座体1和第二座体2的上部分别安装有二极管测试片,第一座体1和第二座体2的下部分别固定于同一个测试装置上。
在本实用新型的实施例中,如图1所示,第一座体1的右侧与第二座体2的左侧之间为空气间隙。空气间隙的大小,即第一座体1与第二座体2之间的距离可根据对绝缘性能的具体要求来设定。
在本实用新型的一个实施例中,如图2所示,第一座体1和第二座体2的上部分别具有多个第一螺孔3,第一螺孔3用于安装二极管测试片,参照图1,每个座体可分别具有四个二极管测试片安装位,从而可分别安装有四个二极管测试片,实现对二极管的开尔文测试。第一座体1和第二座体2的下部分别具有多个第二螺孔4,第二螺孔4用于固定于测试装置上。
在本实用新型的一个实施例中,第一座体1和第二座体2均为peek材质。
根据本实用新型实施例的二极管双轨自动测试线的测试座,通过双轨的分离式设计,能够有效避免双轨测试工位之间的干扰,提高二极管测试的准确性,并且不会增加测试设备的制造成本。
在本实用新型的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必针对相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本实用新型的限制,本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (5)

1.一种二极管双轨自动测试线的测试座,其特征在于,包括第一座体和第二座体,所述第一座体和所述第二座体分离设置,所述第一座体和所述第二座体的上部分别安装有二极管测试片,所述第一座体和所述第二座体的下部分别固定于同一个测试装置上。
2.根据权利要求1所述的二极管双轨自动测试线的测试座,其特征在于,所述第一座体的右侧与所述第二座体的左侧之间为空气间隙。
3.根据权利要求2所述的二极管双轨自动测试线的测试座,其特征在于,所述第一座体和所述第二座体的上部分别具有多个第一螺孔,所述第一螺孔用于安装所述二极管测试片。
4.根据权利要求3所述的二极管双轨自动测试线的测试座,其特征在于,所述第一座体和所述第二座体的下部分别具有多个第二螺孔,所述第二螺孔用于固定于所述测试装置上。
5.根据权利要求4所述的二极管双轨自动测试线的测试座,其特征在于,所述第一座体和所述第二座体均为peek材质。
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