CN216525933U - 一种芯片检测用支撑装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片检测用支撑装置，属于芯片检测支撑装置技术领域；现有的检测支撑装置结构固定，在对不同大小的芯片支撑固定时，需要不同的检测支撑装置，增加生产成本；包括工作台，所述工作台上表面固定设有两对支撑柱，所述支撑柱上端固定设有放置板，所述放置板上表面固定设有一对限位块，所述工作台上表面固定设有支撑杆，所述支撑杆上端固定设有支撑板；通过转动旋转环带动螺纹杆进行转动，螺纹杆沿着支撑板上移动，带动下端的限位盘同步移动，限位盘卡在限位槽内，从而带动固定环沿着圆形杆进行移动，调整椭圆块高度，使滚轮与其竖向接触面不同，旋转杆向中聚拢的距离也就不同，方便固定形状不同的芯片。

Description

一种芯片检测用支撑装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测支撑装置技术领域，具体为一种芯片检测用支撑装置。

背景技术

集成电路英语：integratedcircuit，缩写作IC；或称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，晶体管发明并大量生产之后，各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用，取代了真空管在电路中的功能与角色。到了20世纪中后期半导体制造技术进步，使得集成电路成为可能。相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步。集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管，芯片检测时需要使用芯片支撑装置；

现有的检测支撑装置结构固定，在对不同大小的芯片支撑固定时，需要不同的检测支撑装置，增加生产成本，为此我们提出一种芯片检测用支撑装置用于解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测用支撑装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片检测用支撑装置，包括工作台，所述工作台上表面固定设有两对支撑柱，所述支撑柱上端固定设有放置板，所述放置板上表面固定设有一对限位块，所述工作台上表面固定设有支撑杆，所述支撑杆上端固定设有支撑板，所述放置板一端固定设有一对连接板，所述放置板上设有夹持机构。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述夹持机构包括中心轴，所述中心轴下端与连接板固定连接，所述中心轴上转动设有旋转杆，所述旋转杆靠近放置板一端固定设有橡胶块，所述旋转杆远离放置板一端固定设有连接块，所述连接块远离旋转杆一端转动设有滚轮。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述旋转杆上表面固定设有固定柱，所述固定柱上固定设有弹簧，所述固定柱位于旋转杆端部位置。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述支撑板上转动设有圆形杆，所述圆形杆下端滑动设有固定环，所述固定环下端固定设有椭圆块，所述固定环外壁开设有限位槽。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述支撑板上表面固定设有固定块，所述固定块上固定设有电机，所述电机输出端固定设有锥齿轮组，所述锥齿轮组另一端与圆形杆上端固定连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述支撑板远离支撑杆一端转动设有螺纹杆，所述螺纹杆下端固定设有限位盘，所述限位盘与限位槽内壁相贴合，所述螺纹杆上端固定设有旋转环。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述圆形杆上端贯穿支撑板，所述圆形杆下端两侧固定设有矩形块，所述圆形杆和矩形块与固定环内壁相贴合。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述中心轴位于旋转杆靠近连接块一端，所述连接块长度小于旋转杆。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1.通过转动旋转环带动螺纹杆进行转动，螺纹杆沿着支撑板上移动，带动下端的限位盘同步移动，限位盘卡在限位槽内，从而带动固定环沿着圆形杆进行移动，调整椭圆块高度，使滚轮与其竖向接触面不同，旋转杆向中聚拢的距离也就不同，方便固定形状不同的芯片；

2.将芯片放置在两个限位块中间位置，接着通过电机带动锥齿轮组进行转动，锥齿轮组带动圆形杆进行转动，圆形杆带动下端的固定环和椭圆块进行转动，由于椭圆块呈椭圆形状，通过转动使滚轮沿椭圆面滚动，从而通过连接块带动旋转杆沿着中心轴进行旋转，使旋转杆远离连接块一端带动橡胶块向中聚拢，将芯片位置固定。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图，

图2为本实用新型夹持机构结构示意图，

图3为本实用新型椭圆块结构示意图。

图中：1、工作台；11、支撑柱；12、放置板；13、限位块；14、支撑杆；15、支撑板；16、连接板；2、夹持机构；21、中心轴；22、旋转杆；23、橡胶块；24、连接块；25、滚轮；3、固定柱；31、弹簧；4、圆形杆；41、固定环；42、椭圆块；43、限位槽；5、固定块；51、电机；52、锥齿轮组；6、螺纹杆；61、限位盘；62、旋转环。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例：如图1-3所示，本实用新型提供了一种芯片检测用支撑装置，包括工作台1，工作台1上表面固定设有两对支撑柱11，支撑柱11上端固定设有放置板12，放置板12上表面固定设有一对限位块13，工作台1上表面固定设有支撑杆14，支撑杆14上端固定设有支撑板15，放置板12一端固定设有一对连接板16，放置板12上设有夹持机构2，支撑柱11位于放置板12四个角，用来支撑放置板12，限位块13呈弧形，两个限位块13位置相对，用来对芯片进行限位，将芯片放置在两个限位块13中间位置，然后通过夹持机构2对芯片进行固定，方便检测。

夹持机构2包括中心轴21，中心轴21下端与连接板16固定连接，中心轴21上转动设有旋转杆22，旋转杆22靠近放置板12一端固定设有橡胶块23，旋转杆22远离放置板12一端固定设有连接块24，连接块24远离旋转杆22一端转动设有滚轮25，中心轴21位于旋转杆22靠近连接块24一端，连接块24长度小于旋转杆22，旋转杆22上表面固定设有固定柱3，固定柱3上固定设有弹簧31，固定柱3位于旋转杆22端部位置，支撑板15上转动设有圆形杆4，圆形杆4下端滑动设有固定环41，固定环41下端固定设有椭圆块42，固定环41外壁开设有限位槽43，支撑板15上表面固定设有固定块5，固定块5上固定设有电机51，电机51输出端固定设有锥齿轮组52，锥齿轮组52另一端与圆形杆4上端固定连接，滚轮25通过弹簧31的拉力始终与椭圆块42外壁相贴合，椭圆块42下端与上端面积不同，呈递增，通过电机51带动锥齿轮组52进行转动，锥齿轮组52带动圆形杆4进行转动，圆形杆4带动下端的固定环41和椭圆块42进行转动，由于椭圆块42呈椭圆形状，通过转动使滚轮25沿椭圆面滚动，从而通过连接块24带动旋转杆22沿着中心轴21进行旋转，使旋转杆22远离连接块24一端带动橡胶块23向中聚拢，将芯片位置固定。

支撑板15远离支撑杆14一端转动设有螺纹杆6，螺纹杆6下端固定设有限位盘61，限位盘61与限位槽43内壁相贴合，螺纹杆6上端固定设有旋转环62，圆形杆4上端贯穿支撑板15，圆形杆4下端两侧固定设有矩形块，圆形杆4和矩形块与固定环41内壁相贴合，通过矩形块使固定环41跟随圆形杆4进行同步转动，通过限位盘61位于限位槽43内，对固定环41和椭圆块42起到限位作用，通过转动旋转环62带动螺纹杆6进行转动，螺纹杆6沿着支撑板15上移动，带动下端的限位盘61同步移动，限位盘61卡在限位槽43内，从而带动固定环41沿着圆形杆4进行移动，调整椭圆块42高度，使滚轮25与其竖向接触面不同，旋转杆22向中聚拢的距离也就不同，方便固定形状不同的芯片。

工作原理：首先将芯片放置在两个限位块13中间位置，接着通过电机51带动锥齿轮组52进行转动，锥齿轮组52带动圆形杆4进行转动，圆形杆4带动下端的固定环41和椭圆块42进行转动，由于椭圆块42呈椭圆形状，通过转动使滚轮25沿椭圆面滚动，从而通过连接块24带动旋转杆22沿着中心轴21进行旋转，使旋转杆22远离连接块24一端带动橡胶块23向中聚拢，将芯片位置固定，然后通过转动旋转环62带动螺纹杆6进行转动，螺纹杆6沿着支撑板15上移动，带动下端的限位盘61同步移动，限位盘61卡在限位槽43内，从而带动固定环41沿着圆形杆4进行移动，调整椭圆块42高度，使滚轮25与其竖向接触面不同，旋转杆22向中聚拢的距离也就不同，方便固定形状不同的芯片。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种芯片检测用支撑装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)上表面固定设有两对支撑柱(11)，所述支撑柱(11)上端固定设有放置板(12)，所述放置板(12)上表面固定设有一对限位块(13)，所述工作台(1)上表面固定设有支撑杆(14)，所述支撑杆(14)上端固定设有支撑板(15)，所述放置板(12)一端固定设有一对连接板(16)，所述放置板(12)上设有夹持机构(2)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述夹持机构(2)包括中心轴(21)，所述中心轴(21)下端与连接板(16)固定连接，所述中心轴(21)上转动设有旋转杆(22)，所述旋转杆(22)靠近放置板(12)一端固定设有橡胶块(23)，所述旋转杆(22)远离放置板(12)一端固定设有连接块(24)，所述连接块(24)远离旋转杆(22)一端转动设有滚轮(25)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述旋转杆(22)上表面固定设有固定柱(3)，所述固定柱(3)上固定设有弹簧(31)，所述固定柱(3)位于旋转杆(22)端部位置。

4.根据权利要求1所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述支撑板(15)上转动设有圆形杆(4)，所述圆形杆(4)下端滑动设有固定环(41)，所述固定环(41)下端固定设有椭圆块(42)，所述固定环(41)外壁开设有限位槽(43)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述支撑板(15)上表面固定设有固定块(5)，所述固定块(5)上固定设有电机(51)，所述电机(51)输出端固定设有锥齿轮组(52)，所述锥齿轮组(52)另一端与圆形杆(4)上端固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述支撑板(15)远离支撑杆(14)一端转动设有螺纹杆(6)，所述螺纹杆(6)下端固定设有限位盘(61)，所述限位盘(61)与限位槽(43)内壁相贴合，所述螺纹杆(6)上端固定设有旋转环(62)。

7.根据权利要求4所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述圆形杆(4)上端贯穿支撑板(15)，所述圆形杆(4)下端两侧固定设有矩形块，所述圆形杆(4)和矩形块与固定环(41)内壁相贴合。

8.根据权利要求2所述的一种芯片检测用支撑装置，其特征在于：所述中心轴(21)位于旋转杆(22)靠近连接块(24)一端，所述连接块(24)长度小于旋转杆(22)。

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