CN216387281U - 一种石英晶体总检屏蔽测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子、石英电子制造技术领域，具体涉及一种石英晶体总检屏蔽测试装置。提供一种小型化和自动化的用于小批量的散装石英晶片晶振进行自动识别、检测的石英晶体总检屏蔽测试装置。包括旋转检测台，所述旋转检测台包括驱动装置、校照器载放盘、晶振载盘，校照器载放盘的中心设置晶振载盘的转动轴，转动轴上套合固定设置晶振载盘，设置在校照器载放盘底部的驱动装置利用自身的驱动转轴驱动设置在校照器载放盘上方的晶振载盘进行转动，所述校照器载放盘边沿设置屏蔽校照头，作为匹配在屏蔽校照头设置位置，其顶部的校照器载放盘设置有晶振屏蔽盘，转动轴的顶部还设置有悬挂盘，悬挂盘悬置有连动机械支架，连动机械支架设置有晶振载测器。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子、石英电子制造技术领域，具体涉及一种石英晶体总检屏蔽测试装置。
背景技术
随着石英晶体行业的飞速发展，产品类型也越来越趋于小型化，目前对石英晶片晶振的外观屏蔽检测处于直接观测或用放大镜进行观测。由于存在主观因素，每个人的检验标准会有所不同。且随着产品的小型化，观测难度越来越大，业内一般采用屏蔽式的针脚快速测试方法，如专利号为CN201720979542.7一种用于晶振测试的欧姆校正装置，包括工作台和测试装置，所述测试装置位于工作台的上方，测试装置包括探针，所述工作台上放置有两个欧姆校正台，两个欧姆校正台上分别放置有零欧姆PCB板和五十欧姆PCB板，测试装置通过十字型导轨与工作台相连，十字型导轨包括水平导轨和竖直导轨，竖直导轨上设置有滑槽。本实用新型结构简单、使用方便、校正准确。
实用新型内容
为了解决现有技术存在的问题，提供一种小型化和自动化的用于小批量的散装石英晶片晶振进行自动识别、检测的石英晶体总检屏蔽测试装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案：一种石英晶体总检屏蔽测试装置，包括旋转检测台，其中：所述旋转检测台包括驱动装置、校照器载放盘、晶振载盘，校照器载放盘的中心设置晶振载盘的转动轴，转动轴上套合固定设置晶振载盘，设置在校照器载放盘底部的驱动装置利用自身的驱动转轴驱动设置在校照器载放盘上方的晶振载盘进行转动，所述校照器载放盘边沿设置屏蔽校照头，作为匹配在屏蔽校照头设置位置，其顶部的校照器载放盘设置有晶振屏蔽盘，转动轴的顶部还设置有悬挂盘，悬挂盘悬置有连动机械支架，连动机械支架设置有晶振载测器；晶振载测器、晶振屏蔽盘、屏蔽校照头设置在同一纵向轴线上。将晶振手工或机械手自动放置在晶振载测器，晶振载测器的电参数测试头和阻抗测试头分别对晶振进行检查，如果检测没问题则整个晶振载盘转动至操作员位置或取件机械手安装位置，取走晶振；如果有问题检测如果通过，比如晶振放置位置不正确或晶振本身质量问题，则进行检查程序，由此检测速度高，能通过快速晶振载盘来快速的使得晶振载测器进行对照检测，并且在检测的过程中就完成电参数测试头和阻抗测试头的两种检测流程；检测准确度高，能快速的检测出是晶振是放置检测位置错误导致的错误检测还是真正的本身质量问题。
作为优选，所述旋转检测台侧旁还设置取件机械手和放件机械手。取件机械手和放件机械手能加快自动化和正确率，增加检测效率，增加推广应用范围。
作为优选，所述连动机械支架包括纵向设置的升降架、升降架上连接的左右移动架，左右移动架上悬置设置的晶振载测器。本结构可以比较细致的调节晶振载测器的空间位置，通过升降架调节上下位置，通过左右移动架调节左右位置。
作为优选，所述校照器载放盘上只放置1只屏蔽校照头，屏蔽校照头为CCD工业摄像头。只需要1只即可完成对照校对工作，比较节省相关制作成本。
作为优选，所述屏蔽校照头上设置两只CCD工业摄像头。这样对应晶振载测器可以同时检测两只晶振。
作为优选，所述晶振载测器包括载架、载台、测试器、电参数测试头和阻抗测试头，载架纵向设置，底部横向设置载台，载台头端设置测试器，测试器后方设置电参数测试头和阻抗测试头，电参数测试头和阻抗测试头电连接测试器。电参数测试头和阻抗测试头给予和收取测试器来回的信号来检测晶振的质量，载架用来悬置支撑和调节距离。
作为优选，所述晶振屏蔽盘设置对照窗，且对照窗底部的晶振载盘对应位置设置对照孔。用于进行屏蔽对照使用。
作为优选，所述校照器载放盘、晶振载盘直径大小一致，或、晶振载盘直径小于校照器载放盘。上小下大实话提供观察方便的空间，如果上下一样大，则可以保证屏蔽密封效果。
本实用新型具有以下优点：具有良好的屏蔽效果，检测效果好，自动化程度高，通过更换或调整晶振屏蔽盘、晶振载测器能适应多种晶振，检测速度高，检测质量高，并且能通过快速晶振载盘来快速的使得晶振载测器进行对照检测，并且在检测的过程中就完成电参数测试头和阻抗测试头的两种检测流程，达到回收或丢弃不合格晶振产品；
检测准确度高，能快速的检测出是晶振是放置检测位置错误导致的错误检测还是真正的本身质量问题；
可以比较细致的调节晶振载测器的空间位置，达到检测对照准确；
通过CCD工业摄像头来进行对照检测，这种对照技术能在1-3秒之类完成位置检测或针脚是否弯折、完整等。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明；
图1是整体结构图。
图2整体结构正面图。
图3侧面结构解剖图。
图4检测模块安装结构图。
图5晶振载测器及其位置调整结构图。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
一种石英晶体总检屏蔽测试装置，如图1包括旋转检测台1，其中：所述旋转检测台1包括驱动装置4、校照器载放盘5、晶振载盘6，校照器载放盘5的中心设置晶振载盘的转动轴7，转动轴7上套合固定设置晶振载盘6，校照器载放盘5、晶振载盘6直径大小一致，如图3所示，设置在校照器载放盘5底部的驱动装置4也就是电机利用自身的驱动转轴8驱动设置在校照器载放盘5上方的晶振载盘6进行转动，所述校照器载放盘5边沿设置用来检测晶振放置位置的屏蔽校照头9，作为匹配在屏蔽校照头9设置位置上，在其顶部的校照器载放盘5设置有晶振屏蔽盘10，也就是中间结构再加入1个间接屏蔽的装置，能起来双重屏蔽，和相互检测对照摄像的位置功能；转动轴7的顶部还设置有悬挂盘11，悬挂盘的直径要小于晶振载盘6，悬挂盘11悬置有连动机械支架12，连动机械支架12设置有晶振载测器13；
如图4所示，所述连动机械支架12包括纵向设置的升降架14、升降架14上连接的左右移动架15，左右移动架15上悬置设置的晶振载测器13。本结构可以比较细致的调节晶振载测器13的空间位置，通过升降架调节上下位置，通过左右移动架调节左右位置。
如图5所示，所述晶振载测器13包括载架17、载台18、测试器19、电参数测试头20和阻抗测试头21，载架17纵向设置，底部横向设置载台18，载台18头端设置测试器19，测试器19后方设置电参数测试头20和阻抗测试头21，电参数测试头20和阻抗测试头21电连接测试器19。电参数测试头20和阻抗测试头21给予和收取测试器19来回的信号来检测晶振的质量，载架用来悬置支撑和调节距离。
如图2所示，晶振载测器13、晶振屏蔽盘10、屏蔽校照头9设置在同一纵向轴线上。将晶振手工或机械手自动放置在晶振载测器13，晶振载测器13的电参数测试头和阻抗测试头分别对晶振进行检查，所述旋转检测台1侧旁还设置取件机械手2和放件机械手3。取件机械手2和放件机械手3能加快自动化和正确率，增加检测效率，增加推广应用范围。
如果检测没问题则整个晶振载盘转动至操作员位置或取件机械手安装位置，取走晶振；如果有问题检测如果通过，比如晶振放置位置不正确或晶振本身质量问题，则进行检查程序，晶振载测器13、晶振屏蔽盘10、屏蔽校照头9统一停留在同一纵轴线上，通电屏蔽校照头透过晶振屏蔽盘，屏蔽对照后检测到是否位置错误，所述校照器载放盘5上只放置1只屏蔽校照头，屏蔽校照头为CCD工业摄像头，通过拍摄对照来检测放置位置和针脚问题，如果不是位置错误则判断为质量问题，取下晶振放入不良品回收，如果是位置问题，则转动到放件机械手3，由放件机械手3按照根据对照检测后的位置信息来进行调整，调整为正确后再次进行检测，如果检测通过，则转动到取件机械手2取下收入良品，如果检测还是不通过则确定为不良品，转动到取件机械手2取下收入不良品。进一步的加强生产速度，屏蔽校照头上设置两只CCD工业摄像头16。这样对应晶振载测器可以同时检测两只晶振；
作为优选，所述作为优选，作为优选，所述晶振屏蔽盘10设置对照窗22，且对照窗22底部的晶振载盘6对应位置设置对照孔23。用于进行屏蔽对照使用。
以上述依据本实用新型的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (7)
1.一种石英晶体总检屏蔽测试装置，包括旋转检测台，其特征是：所述旋转检测台包括驱动装置、校照器载放盘、晶振载盘，校照器载放盘的中心设置晶振载盘的转动轴，转动轴上套合固定设置晶振载盘，设置在校照器载放盘底部的驱动装置利用自身的驱动转轴驱动设置在校照器载放盘上方的晶振载盘进行转动，所述校照器载放盘边沿设置屏蔽校照头，作为匹配在屏蔽校照头设置位置，其顶部的校照器载放盘设置有晶振屏蔽盘，转动轴的顶部还设置有悬挂盘，悬挂盘悬置有连动机械支架，连动机械支架设置有晶振载测器；晶振载测器、晶振屏蔽盘、屏蔽校照头设置在同一纵向轴线上。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述连动机械支架包括纵向设置的升降架、升降架上连接的左右移动架，左右移动架上悬置设置的晶振载测器。
3.根据权利要求1所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述校照器载放盘上只放置1只屏蔽校照头，屏蔽校照头为CCD工业摄像头。
4.根据权利要求1或3所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述屏蔽校照头上设置两只CCD工业摄像头。
5.根据权利要求1或2所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述晶振载测器包括载架、载台、测试器、电参数测试头和阻抗测试头，载架纵向设置，底部横向设置载台，载台头端设置测试器，测试器后方设置电参数测试头和阻抗测试头，电参数测试头和阻抗测试头电连接测试器。
6.根据权利要求1所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述晶振屏蔽盘设置对照窗，且对照窗底部的晶振载盘对应位置设置对照孔。
7.根据权利要求1或3所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述校照器载放盘、晶振载盘直径大小一致，或、晶振载盘直径小于校照器载放盘。
Priority Applications (1)
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| CN202122561571.0U CN216387281U (zh) | 2021-10-25 | 2021-10-25 | 一种石英晶体总检屏蔽测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN216387281U true CN216387281U (zh) | 2022-04-26 |
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ID=81247950
Family Applications (1)
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| CN202122561571.0U Active CN216387281U (zh) | 2021-10-25 | 2021-10-25 | 一种石英晶体总检屏蔽测试装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN216387281U (zh) |
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2021
- 2021-10-25 CN CN202122561571.0U patent/CN216387281U/zh active Active
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