CN218885376U - 一种显示模组检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种显示模组检测设备,包括:检测载台、第一检测单元、第二检测单元以及第三检测单元;第一检测单元包括位于检测载台上的第一检测工位以及第一检测机构,第一检测机构包括可用于对显示模组进行光学检测的色度相机模组以及Gamma探头模组;第二检测单元包括位于检测载台上的第二检测工位以及第二检测机构,第二检测机构包括可用于对显示模组进行检测的AOI检测模组;第三检测单元包括位于检测载台上的第三检测工位以及第三检测机构,第三检测机构包括用于对显示模组进行复判检测的复判相机模组。本实用新型具有复判检测功能,可大程度减少错检率,更好的对Micro LED屏进行检测,降低错检率。
Description
技术领域
本实用新型涉及显示模组检测技术领域。更具体地,涉及一种显示模组检测设备。
背景技术
目前,Micro LED作为一种主流的显示技术相对于其它微显示技术虽然具有无与伦比的优势,但是Micro LED微显示器在出货之前,均需要进行相关测试,才可以有效地降低配至有Micro LED微显示器的故障率。目前针对Micro LED屏,特别是1寸以下的MicroLED屏幕,还没有一套完整的检测设备或方式以对显示模组的芯片,灯珠,芯粒进行检测,且检测效率以及准确性有待完善。
实用新型内容
鉴于上述问题,本实用新型的至少一个目的在于提供一种显示模组检测设备,以提高检测设备的检测效率及良品率。
为达到上述目的,本实用新型采用下述技术方案:
本实用新型提供一种显示模组检测设备,所述检测设备包括:
检测载台;
位于检测载台上的第一检测单元、第二检测单元以及第三检测单元;
所述第一检测单元包括位于检测载台上的第一检测工位以及第一检测机构,所述第一检测机构包括可用于对显示模组进行光学检测的色度相机模组以及Gamma探头模组;
所述第二检测单元包括位于检测载台上的第二检测工位以及第二检测机构,所述第二检测机构包括可用于对显示模组进行检测的AOI检测模组;
所述第三检测单元包括位于检测载台上的第三检测工位以及第三检测机构,所述第三检测机构包括可用于对显示模组进行复判检测的复判相机模组。
此外,优选地方案是,所述第一检测单元包括可将显示模组与第一检测机构对位的第一输送模组;
第一输送模组包括安装于检测载台上的线性模组,以及可被线性模组驱动的用以承载显示模组的第一承载台;
所述第一输送模组包括连接器,所述连接器被配置为可与显示模组电连接端导通,以点亮显示模组。
此外,优选地方案是,所述检测设备包括有用以将显示模组在第二检测工位以及第三检测工位之间流转的第二输送模组;
所述第二输送模组包括用以承载显示模组的第二承载台;
第二输送模组包括两组直线模组,两组直线模组的运动方向交叉设置。
此外,优选地方案是,所述检测载台上设有上料工位、下料工位以及搬运机构;
所述搬运机构用以将显示模组由上料工位搬运至第一检测工位,将显示模组由第一检测工位搬运至第二检测工位,以及将显示模组由第三检测工位搬运至下料工位。
此外,优选地方案是,所述上料工位包括有上料移载平台,上料移载平台可承托显示模组由上架工位至上料工位;
所述下料工位包括有下料移载平台,下料移载平台可承托显示模组由下料工位至下架工位。
此外,优选地方案是,所述第一检测单元包括设置于检测载台的安装支架;所述色度相机模组以及Gamma探头模组分别通过Z向直线模组安装于所述安装支架。
此外,优选地方案是,所述第二检测单元包括设置于检测载台的第一支座;AOI检测模组通过Z向直线模组安装于所述第一支座;
所述第一支座上包括有测距传感器以及光源;
所述测距传感器位于AOI检测模组的旁侧;
AOI检测模组包括AOI相机,所述光源位于AOI相机镜头下方位置。
此外,优选地方案是,所述第三检测单元包括设置于检测载台的第二支座;复判相机模组通过Z向直线模组安装于所述第二支座;所述复判相机模组包括复判相机以及配置于复判相机上的高倍率显微镜头。
此外,优选地方案是,所述搬运机构为六轴机械手或四轴机器手。
此外,优选地方案是,所述第一承载台上以及第二承载台上均包括有真空吸附孔。
本实用新型的有益效果如下:
本实用新型提供检测设备包括三个检测单元,其中第一检测单元利用色度相机模组以及Gamma探头模组以对显示模组进行光学检测,第二检测单元利用AOI检测模组以对显示模组进行AOI检测,该检测设备还包括第三检测单元,第三检测单元利用复判相机模组用于对显示模组进行复判检测。本实用新型提供检测设备增加复判功能,复判检测可大程度减少错检率,通过将AOI检测模组检测出的数据进行分析整理,利用复判相机模组在第三检测工位对显示模组进行复判检测,复判相机模组可放大和检测视觉缺陷,能进一步更好的对Micro LED屏进行检测,降低错检率。
附图说明
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1示出本实用新型提供检测设备的结构示意图。
图2示出本实用新型提供检测设备的结构俯视图。
图3示出本实用新型提供检测设备中第一输送模组的结构示意图。
图4示出本实用新型提供检测设备中第一检测单元的结构示意图。
图5示出本实用新型提供检测设备中第二检测单元的结构示意图。
图6示出本实用新型提供检测设备中第三检测单元的结构示意图。
图7示出本实用新型提供检测设备中第二输送模组的结构示意图。
图8示出本实用新型提供检测设备中上料移载平台的结构示意图。
图9示出本实用新型提供检测设备中搬运机构的结构示意图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本实用新型的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
本实施例提供的检测设备主要对Micro LED屏性能进行检测,借以提高检测效率、降低错检率。下述实施方式中以显示模组作为一种实施方式的Micro LED屏进行阐述。
首先参照图1、图2所示,本实施例提供一种显示模组检测设备,所述检测设备包括检测载台1,位于检测载台1上的第一检测单元、第二检测单元以及第三检测单元。结合图4、5、6所示,所述第一检测单元包括位于检测载台上的第一检测工位以及第一检测机构2,所述第一检测机构2包括可用于对显示模组进行光学检测的色度相机模组21以及Gamma探头模组22。
具体地,参照图4所示,所述第一检测单元包括设置于检测载台1的安装支架20,所述色度相机模组21以及Gamma探头模组22分别通过Z向直线模组10安装于所述安装支架20,色度相机模组21以及Gamma探头模组22分可相对于安装支架20在Z向方向上上下移动,以调整与显示模组之间的距离。
显示模组在被点亮位于第一检测工位时,色度相机模组21以及Gamma探头模组22用以对显示模组进行光学检测,色度相机模组21包括色度相机可对显示模组相关色度信息进行检测,Gamma探头模组22包括Gamma探头,Gamma探头可实现显示模组白平衡预调节测试,可采集显示模组的亮度值以及色坐标值。在一个实施方式中,所述第一检测单元还包括有对位相机23,对位相机23安装于所述安装支架20。对位相机23用以显示模组与第一检测机构之间进行对位补正,以获得准确的利用色度相机模组以及Gamma探头模组对显示模组进行检测的检测结果。
所述第二检测单元包括位于检测载台1上的第二检测工位以及第二检测机构3,所述第二检测机构3包括可用于对显示模组进行检测的AOI检测模组31。结合并参照图5所示,具体地,第二检测单元包括设置于检测载台1的第一支座30,AOI检测模组31包括AOI相机以对显示模组进行AOI检测。AOI检测模组31通过Z向直线模组10安装于所述第一支座30,以使AOI相机具备可相对于第一支座30在Z向方向上上下移动功能,以调整与显示模组之间的距离,实现精确的AOI检测。
继续参照图5所示,本实施例提供检测设备结构中,所述第一支座30上包括有测距传感器32以及光源33。所述测距传感器32位于AOI检测模组31的旁侧,所述光源33位于AOI相机镜头下方位置。测距传感器32用以对显示模组上的待测点进行高度数据的识别,识别数据通过处理后,显示模组移载至对应AOI检测模组31的第二检测工位,AOI相机镜头调节物距后,进而对显示模组进行AOI检测。在一优选地的实施方式中,所述光源33为环状结构,该呈环状结构的光源33与AOI相机镜头同轴设置,以对显示模组进行补光,获得最佳的AOI检测效果。
所述第三检测单元包括位于检测载台1上的第三检测工位以及第三检测机构4,所述第三检测机构4包括用于对显示模组进行复判检测的复判相机模组41。结合并参照图6所示,具体地,所述第三检测单元包括设置于检测载台1的第二支座40,复判相机模组41通过Z向直线模组10安装于所述第二支座40,所述复判相机模组41包括复判相机以及配置于复判相机上的高倍率显微镜头。第三检测单元利用复判相机模组41实现对显示模组进行复判检测。复判检测可大程度减少错检率,通过将AOI检测模组检测出的数据进行分析整理,利用复判相机模组在第三检测工位对显示模组进行复判检测,复判相机模组可放大和检测视觉缺陷,能进一步更好的对Micro LED屏进行检测,降低错检率。
在一个实施方式中,结合并参照图2所示,所述第一检测单元包括可将显示模组与第一检测机构2对位的第一输送模组5。第一输送模组5包括安装于检测载台上的线性模组,以及可被线性模组驱动的用以承载显示模组的第一承载台50,所述线性模组包括两组直线模组511,两组直线模组511的运动方向交叉设置,由此可在检测载台1所限定的平面内,驱动显示模组与第一检测机构对位。所述第一输送模组5包括连接器53,所述连接器53被配置为可与显示模组电连接端导通,以点亮显示模组。
本示例中,所述连接器53采用以压接方式与显示模组电连接端导通的探针组件,探针组件利用伺服电缸或者伺服模组进行驱动,以保证探针组件与显示模组电连接端间的压接质量。
如图2所示的本实施方式示例中,线性模组的数量为两套,为了便于阐述两套线性模组分别以第一线性模组51和第二线性模组52加以区分。第一线性模组51的行程范围大于第二线性模组52的行程范围,第一承载台50位于第二线性模组52上,第二线性模组52被设置于第一线性模组51上。具体地,第一线性模组51工作于上料移栽平台与第一检测机构2之间,第二线性模组52用以对位于第一承载台50上的显示模组的位置进行微调,以配合连接器53对应于显示模组电连接端,保证二者之间的压接精度,提高压接导通效率以及可靠性。
参照图7所示,本实施例提供检测设备结构中,还包括用以将显示模组在第二检测工位以及第三检测工位之间流转的第二输送模组6,所述第二输送模组6包括用以承载显示模组的第二承载台60。第二输送模组6包括两组直线模组61,两组直线模组61的运动方向交叉设置。为了更加简单方便的,使显示模组在第二检测机构所包括的定位部件、检测部件(对位相机、AOI相机)以及第三检测机构所包括的复判相机之间位置切换以及调整,第二输送模组包括运动方向交叉设置的两组直线模组,由此使得第二承载台在由检测载台所限定的平面内具有X、Y方向的移动功能,以缩短显示模组与检测机构之间的对位时间,提高检测效率。
结合图1、2、9所示,在一个实施例中,所述检测载台上设有上料工位、下料工位以及搬运机构7。所述搬运机构7用以将显示模组由上料工位搬运至第一检测工位,将显示模组由第一检测工位搬运至第二检测工位,以及将显示模组由第三检测工位搬运至下料工位。
所述上料工位包括有上料移载平台8,上料移载平台8可承托显示模组由上架工位至上料工位。所述下料工位包括有下料移载平台9,下料移载平台9可承托显示模组由下料工位至下架工位。在检测设备上料工位设置上料移载平台,以及在检测设备下料工位设置下料移载平台的作用在于,以配合显示模组由生产线上架至检测设备的需要,合理避让或规划搬运机构的操作范围。需要说明书的是,为节省制造成本,使不同检测设备部件之间具有互通性,本实施方式中,上料移载平台8以及下料移载平台9采用了如图8所示的结构相同的移栽平台结构,对此本实用新型不做限制。
所述搬运机构7为六轴机械手或四轴机器手。结合图9所示,本实施方式中,所述搬运机构包括底座71,转动臂72,吸爪组件73以及扫码组件74,可选地所述转动臂72不仅限于四轴运动副结构,同样可选用六轴运动副结构,吸爪组件73包括有可调节吸盘,用以实现对显示模组更好的抓取,防止显示模组意外跌落,且可调节吸盘设计还便于适用不同规格尺寸的显示模组。
参照图3、图7所示,在一个实施方式中,所述第一承载台50上以及第二承载台60上均包括有真空吸附孔100。以增加显示模组在第一承载台上或第二承载台上运送时的稳定性以及可靠性。
结合上述内容,本实用新型提供检测设备的操作流程如下,
将显示模组放上架至位于上架工位的上料移载平台8,上料移载平台8承载显示模组至上料工位,搬运机构7对显示模组进行扫码并抓取显示模组,并将其搬运至第一输送模组5的第一承载台50,第一输送模组5所包括的第一线性模组51工作于上料移栽平台8与第一检测机构2之间,将显示模组移栽至第一检测工位,第二线性模组52用以对位于第一承载台50上的显示模组的位置进行微调,以配合连接器53对应于显示模组电连接端,二者压接导通点亮显示模组。Gamma探头、色度相机分别对显示模组进行检测,第一检测机构2检测完成后,搬运机构7将显示模组搬运至第二输送模组6,显示模组位于第二检测工位,测距传感器32用以对显示模组上的待测点进行高度数据的识别,识别数据通过处理后,显示模组移载至对应AOI检测模组31的第二检测工位,AOI相机镜头调节物距后,进而对显示模组进行AOI检测。随后第二输送模组6将显示模组流转至第三检测工位,通过复判相机对显示模组进行复判,复判合格后的显示模组最后由搬运机构7将搬运至下料移载平台9,下料移载平台9承托显示模组由下料工位至下架工位下料。
显然,本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例,而并非是对本实用新型的实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动,这里无法对所有的实施方式予以穷举,凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。
Claims (10)
1.一种显示模组检测设备,其特征在于,所述检测设备包括:
检测载台;
位于检测载台上的第一检测单元、第二检测单元以及第三检测单元;
所述第一检测单元包括位于检测载台上的第一检测工位以及第一检测机构,所述第一检测机构包括可用于对显示模组进行光学检测的色度相机模组以及Gamma探头模组;
所述第二检测单元包括位于检测载台上的第二检测工位以及第二检测机构,所述第二检测机构包括可用于对显示模组进行检测的AOI检测模组;
所述第三检测单元包括位于检测载台上的第三检测工位以及第三检测机构,所述第三检测机构包括用于对显示模组进行复判检测的复判相机模组。
2.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述第一检测单元包括可将显示模组与第一检测机构对位的第一输送模组;
第一输送模组包括安装于检测载台上的线性模组,以及可被线性模组驱动的用以承载显示模组的第一承载台;
所述第一输送模组包括连接器,所述连接器被配置为可与显示模组电连接端导通,以点亮显示模组。
3.根据权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述检测设备包括有用以将显示模组在第二检测工位以及第三检测工位之间流转的第二输送模组;
所述第二输送模组包括用以承载显示模组的第二承载台;
第二输送模组包括两组直线模组,两组直线模组的运动方向交叉设置。
4.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述检测载台上设有上料工位、下料工位以及搬运机构;
所述搬运机构用以将显示模组由上料工位搬运至第一检测工位,将显示模组由第一检测工位搬运至第二检测工位,以及将显示模组由第三检测工位搬运至下料工位。
5.根据权利要求4所述的检测设备,其特征在于,所述上料工位包括有上料移载平台,上料移载平台可承托显示模组由上架工位至上料工位;
所述下料工位包括有下料移载平台,下料移载平台可承托显示模组由下料工位至下架工位。
6.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述第一检测单元包括设置于检测载台的安装支架;所述色度相机模组以及Gamma探头模组分别通过Z向直线模组安装于所述安装支架。
7.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述第二检测单元包括设置于检测载台的第一支座;AOI检测模组通过Z向直线模组安装于所述第一支座;
所述第一支座上包括有测距传感器以及光源;
所述测距传感器位于AOI检测模组的旁侧;
AOI检测模组包括AOI相机,所述光源位于AOI相机镜头下方位置。
8.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述第三检测单元包括设置于检测载台的第二支座;复判相机模组通过Z向直线模组安装于所述第二支座;所述复判相机模组包括复判相机以及配置于复判相机上的高倍率显微镜头。
9.根据权利要求4所述的检测设备,其特征在于,所述搬运机构为六轴机械手或四轴机器手。
10.根据权利要求3所述的检测设备,其特征在于,所述第一承载台上以及第二承载台上均包括有真空吸附孔。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202223182506.8U CN218885376U (zh) | 2022-11-29 | 2022-11-29 | 一种显示模组检测设备 |
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CN202223182506.8U CN218885376U (zh) | 2022-11-29 | 2022-11-29 | 一种显示模组检测设备 |
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CN202223182506.8U Active CN218885376U (zh) | 2022-11-29 | 2022-11-29 | 一种显示模组检测设备 |
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CN (1) | CN218885376U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117686886A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-03-12 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 芯片高低温测试与aoi检测设备及检测方法 |
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2022
- 2022-11-29 CN CN202223182506.8U patent/CN218885376U/zh active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN117686886A (zh) * | 2023-12-20 | 2024-03-12 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 芯片高低温测试与aoi检测设备及检测方法 |
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