CN216117729U - 一种用于测试治具的翻转垂直下压机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于测试治具的翻转垂直下压机构，涉及测试治具领域。其包括开设有第一安装孔的底座及设于底座上端的且可相对底座上下移动的浮动组件，底座与浮动组件之间设有第一弹性件，浮动组件的一侧连接有可相对浮动组件翻转的盖板，盖板上设有压合件，盖板与压合件之间设有第二弹性件，第一安装孔内安装有探针固定模组，压合件与所述探针固定模组相对应。该翻转垂直下压机构结构设计合理紧凑，待测产品受力均衡，探针与待测产品精准接触，提高测试效率；通过第一弹性件和第二弹性件，使压合件下压与待测产品之间弹性接触，既可以对待测产品进行有效的压制，又避免压力过大压伤待测产品或探针，适用于不同厚度尺寸的待测产品。

Description

一种用于测试治具的翻转垂直下压机构

技术领域

本实用新型属于测试治具技术领域，尤其涉及一种用于测试治具的翻转垂直下压机构。

背景技术

在电子设备的制造中，需要使用大量的PCB板，为了保证产品的可靠性，需要对产品的PCB板进行测试；针点测试治具是PCBA测试治具的一个分支，主要测试PAD点(PCB板上一些要焊电子元器件的焊点)，引脚(指用于焊一些带脚的电子元器件，比如电阻，形状常常是孔状)的导通及其他相关功能性测试；测试治具的压板在设计时位置一定要精确，不能让产品在测试时把产品或探针压坏，同时也要保证测试产品与探针精准接触。传统的下压方式导致结构繁琐，成本增加，容易因产品受压力不均匀导致压伤产品。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有的下压机构存在着上述的问题，提供了一种结构设计合理紧凑，压合件下压与待测产品之间弹性接触，使待测产品受力均衡，同时测试产品能够与探针精准接触的用于测试治具的翻转垂直下压机构。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种用于测试治具的翻转垂直下压机构，包括开设有第一安装孔的底座及设于底座上端的且可相对底座上下移动的浮动组件，所述底座与浮动组件之间设有第一弹性件，所述浮动组件的一侧连接有可相对浮动组件翻转的盖板，所述盖板上设有压合件，所述盖板与压合件之间设有第二弹性件，所述第一安装孔内安装有探针固定模组，所述压合件与所述探针固定模组相对应；所述盖板可相对浮动组件翻转并与其相贴合，浮动组件可带动盖板和压合件向下移动，压合件可下压待测产品使其与探针固定模组相接触。

优选的，所述盖板上设有第二安装孔，所述第二安装孔的一端固定连接有挡块，所述压合件包括设于第二安装孔的另一端的压块，所述压块的一端限位于第二安装孔内并可位于第二安装孔内直线移动，所述压块的另一端延伸出第二安装孔；所述第二弹性件位于挡块与压块之间。

优选的，所述压块包括位于第二安装孔内的第二限位部及连接于第二限位部一端的下压部；环绕所述第二安装孔远离挡块的一端内壁设有用于抵挡第二限位部的抵挡凸缘，所述第二限位部限位于挡块与抵挡凸缘之间。

优选的，所述探针固定模组包括固定于第一安装孔的一端的下针块及设于第一安装孔的另一端的上针块，所述上针块的一端限位于第一安装孔内，所述上针块的另一端延伸出第一安装孔；所述上针块与下针块之间设有第三弹性件。

优选的，所述上针块包括第一限位部及连接于第一限位部一端的承载部；所述第一限位部限位于第一安装孔内，所述承载部延伸出第一安装孔；所述上针块可沿第一安装孔上下直线移动。

优选的，所述第一弹性件、第二弹性件、第三弹性件均为压缩弹簧。

优选的，所述上针块的上端设有用于放置待测产品的限位槽。

优选的，所述上针块与下针块上均设有相对应的穿插孔，所述穿插孔内适配有探针，所述探针的一端延伸出上针块的一端并位于限位槽内，所述探针的另一端延伸出下针块。

优选的，所述浮动组件包括浮动支架，所述浮动支架与底座之间设有限位轴，所述浮动支架与底座上均设有与限位轴相适配的限位孔，所述浮动支架可沿着限位轴相对底座上下直线移动。

优选的，所述盖板的一侧与浮动支架的一侧通过第二销轴翻转连接，所述第二销轴上套设有扭簧。

所述浮动支架为U形结构，所述底座的上表面设有与浮动支架相适配的U形槽；所述浮动支架通过限高螺栓限位于U形槽，所述浮动支架可沿限高螺栓上下移动。

优选的，所述盖板的侧边通过第一销轴连接有扣合板，所述扣合板的一端与盖板之间设有第四弹性件，所述扣合板的另一端与可与底座相扣合。

相比于现有技术，本实用新型的有益效果在于：该翻转垂直下压机构结构设计合理紧凑，通过翻转盖板与浮动组件相贴合及浮动组件带动盖板和压合件向下移动，使压合件下压待测产品使其与探针固定模组相接触，采用压合件对待测产品压制，使其受力均衡，有效地将探针与待测产品精准接触，从而提高对对待测产品的测试效率；底座与浮动组件之间设有第一弹性件，盖板与压合件之间设有第二弹性件，使压合件下压与待测产品之间弹性接触，既可以对待测产品进行有效的压制，又避免压力过大压伤待测产品或探针，适用于不同厚度尺寸的待测产品；浮动支架与底座之间设有限位轴，使浮动支架位于底座上方直线移动，确保压合件下压位置精度，从而保证待测产品能够与探针精准接触；盖板两侧连接有卡扣，盖板与浮动组件贴合后下压，卡扣自动扣紧，可开始测试，避免外力的干扰，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例中翻转垂直下压机构盖板展开状态的结构图；

图2是图1的分解图；

图3是本实用新型实施例中翻转垂直下压机构盖板闭合状态的结构图；

图4是本实用新型实施例中翻转垂直下压机构浮动组件下压的结构图；

图5是图4的剖面图；

图6是本实用新型实施例中翻转垂直下压机构的爆炸图；

图7是本实用新型实施例中翻转垂直下压机构的压合件的结构图；

图8是本实用新型实施例中翻转垂直下压机构的探针固定模组的结构图；

图中：100为底座，110为第一安装孔，111为第一抵挡凸缘，120为容纳槽，200为浮动支架，210为限位轴，220为第一弹性件，230为限高螺栓，240为第二销轴，241为扭簧，300为盖板，310为第二安装孔，311为第二抵挡凸缘，320为端盖，400为挡块，410为压块，411为第二限位部，412为下压部，420为第二弹性件，500为下针块，510为上针块，511为承载部，512为第一限位部，513为限位槽，520为探针，521为穿插孔，530为第三弹性件，540为待测产品，600为扣合板，601为卡勾，610为连接板，620为第四弹性件，630为第一销轴。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中间”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

另外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

实施例：以下实施例参考图1-8，本实施例主要针对现有的针点测试治具中的翻转垂直下压机构存在一些问题，例如：压合件下压时位置容易偏移导致探针或产品受力不均衡，或压合件下压时与产品硬性接触，导致容易损坏产品或探针，从而造成良品率下降，成本增加等，提供了一种用于测试治具的翻转垂直下压机构，该下压机构包括方形体的底座100，底座100的上端连接有浮动组件，浮动组件可相对底座100上下直线移动，浮动组件的一侧连接有可相对浮动组件翻转的盖板300，盖板300上设有压合件；底座100上设有第一安装孔110，第一安装孔110内安装有探针固定模组，在本实施例中，第一安装孔110位于底座100的中间位置，压合件位于盖板300的中间位置，且与探针固定模组相对应；底座100与浮动组件之间设有第一弹性件220，盖板300与压合件之间还设有第二弹性件420，盖板300可相对浮动组件翻转并与其相贴合，浮动组件可带动盖板300和压合件向下移动，压合件可下压待测产品540使其与探针固定模组相接触，通过设置第一弹性件220和第二弹性件420，使盖板300与浮动件下压，带动压合件下压与待测产品540之间弹性接触，既可以对待测产品540进行有效的压制，又避免压力过大压伤待测产品540或探针520。

具体的，如图5、图6、图7所示，盖板300上设有第二安装孔310，第二安装孔310的一端固定连接有挡块400，压合件包括设于第二安装孔310的另一端的压块410，压块410的一端限位于第二安装孔310内并可位于第二安装孔310内直线移动，压块410的另一端延伸出第二安装孔310；第二弹性件420位于挡块400与压块410之间。在本实施例中，第二安装孔310位于盖板300的中心位置，盖板300的一侧面环绕第二安装孔310的周缘设有内凹槽，挡块400通过螺钉固定连接于内凹槽内；第二安装孔310的另一端设有压块410，在一具体的实施例中，压块410为凸字形结构，压块410包括位于第二安装孔310内的第二限位部411及连接于第二限位部411一端的下压部412，压块410的一端限位于第二安装孔310内并可位于第二安装孔310内直线移动，即第二限位部411可位于第二安装孔内直线滑动；环绕第二安装孔310远离挡块400的一端内壁设有用于抵挡第二限位部411的第二抵挡凸缘311，第二限位部411限位于挡块400与第二抵挡凸缘311之间；下压部412的一端与第二限位部411固定连接，下压部412的另一端延伸出第二安装孔310，第二安装孔310的孔宽与第二限位部411相对应，第二抵挡凸缘311的形状与下压部412的形状相适配，以保证压块410相对盖板300直线运动，确保压合件下压位置精度，使待测产品540受力均衡。在另一具体的实施例中，盖板300的外侧及设置压块410的一侧通过螺栓连接有端盖320，从而提高治具的美观度。

进一步的，第二弹性件420设置于挡块400与压合件之间，即第二弹性件420位于第二安装孔310内且设置于挡块400与第二限位部411之间，第二限位部411上设有用于容纳第二弹性件420的固定槽，固定槽还可以限制第二弹性件420移动；第二弹性件420为压缩弹簧，第二弹性件420的数量为一个或一个以上，在本实施例中，第二弹性件420的数量为四个，且分别对应第二限位部411的四个边角；浮动支架200限位于容纳槽120内并向下压制时，第二弹性件420压缩，由于挡块400与盖板300固定连接，盖板300向下移动的过程中，如果压块410的下压部412接触到待测产品540，此时压块410可压缩第二弹性件420并位于第二安装孔310内收缩，压块410向上移动，使压块410与待测产品540之间形成弹性接触，从而保证待测产品540能够与探针520精准接触，也可避免压坏待测产品540或探针520，提高了良品率，同时可以适用于不同的厚度的待测产品540，避免重新开发测试治具，降低了测试成本。

具体的，浮动组件包括浮动支架200，浮动支架200与底座100之间设有限位轴210，浮动支架200与底座100上均设有与限位轴210相适配的限位孔，浮动支架200可沿着限位轴210相对底座100上下直线移动。浮动支架200可以为方形框架或多边形框架，在本实施例中，浮动支架200为U形结构的支架，底座100的上表面设有与浮动支架200相适配的容纳槽120，本实施例中的容纳槽120为U形槽，浮动支架200通过限高螺栓230限位收纳于容纳槽120内，限高螺栓230一端穿过浮动支架200并螺接于容纳槽120的底壁，浮动支架200可沿着限高螺栓230上下移动，通过限高螺栓230可避免浮动组件与底座100之间的距离过大。浮动支架200与底座100之间设有限位轴210，浮动支架200与底座100上均设有与限位轴210相适配的限位孔，浮动支架200可沿着限位轴210上下移动，进一步的保证浮动支架200上下直线运动，同时确保压合件对准探针固定模组，避免浮动支架200在水平方向产生位移，影响测试结果。

进一步的，第一弹性件220设置于浮动支架200的底面与容纳槽120的底壁之间，第一弹性件220的数量为两个或两个以上，在本实施例中，第一弹性件220的数量为四个，且分别位于浮动支架200的两侧，在本实施例中，第一弹性件220为压缩弹簧，容纳槽120内设有用于限制压缩弹簧移动的固定槽。如图3、图4所示，当浮动支架200限位于容纳槽120内并向下压制时，第一弹性件220压缩收纳于固定槽内，此时压合件可抵接着待测产品540与探针固定模组相接触，当第一弹性件220弹性复位时，浮动支架200受到弹力的作用向上移动，此时，浮动支架200的上端抵接于限高螺栓230，避免浮动支架200向上移动距离过大，通过设置第一弹性件220浮动支架200与底座100之间为弹性接触，可有效的保护待测产品540或探针520被压合件压坏。

具体的，如图1、图2所示，盖板300的一侧与浮动支架200的一侧通过第二销轴240翻转连接，第二销轴240上套设有扭簧241。在本实施例中，浮动支架200的一侧的上表面设有两个凸块，盖板300通过第二销轴240铰接于两个凸块之间，使盖板300可相对浮动支架200翻转。进一步的，第二销轴240上套设有扭簧241，扭簧241一端抵接于底座100的上表面，另一端与盖板300相抵接，以保证盖板300为常开状态，便于取放待测产品540。

具体的，探针固定模组包括固定于第一安装孔110的一端的下针块500及设于第一安装孔110的另一端的上针块510，上针块510的一端限位于第一安装孔110内，上针块510的另一端延伸出第一安装孔110，上针块510可沿第一安装孔110上下直线移动；上针块510与下针块500之间设有第三弹性件530。在本实施例中，如图5、图6、图8所示，第一安装孔110设于底座100的中间位置，下针块500通过螺栓固定于第一安装孔110的下端，上针块510设置于第一安装孔110的上端。在一具体的实施例中，上针块510为凸字形结构，上针块510包括第一限位部512及连接于第一限位部512一端的承载部511；第一限位部512限位于第一安装孔110内并可沿着第一安装孔110直线移动，承载部511延伸出第一安装孔110，第三弹性件530位于下针块500的内壁与第一限位部512之间，第三弹性件530为压缩弹簧，第三弹性件530的数量为一个或一个以上，在本实施例中，第三弹性件530的数量为四个，且分别对应第一限位部512的四个边角；环绕第一安装孔110远离下针块500的一端内壁设有用于抵挡第一限位部512的第一抵挡凸缘111，第二限位部411限位于下针块500与第一抵挡凸缘111之间；承载部511的一端与第一限位部512固定连接，承载部511的另一端延伸出第一安装孔110，第一安装孔110的孔宽与第一限位部512相对应，第一抵挡凸缘111的形状与承载部511的形状相适配，以保证上针块510相对底座100和下针块500直线运动，待测产品540在下压时，压制上针块510向下移动，由于上针块510与下针块500之间设有第三弹性件530，从而保证待测产品540和探针520或上针块510之间弹性接触，进一步避免待测产品540被压坏。

在一具体的实施例中，上针块510的上端设有用于放置待测产品540的限位槽513，待测产品540可放置于限位槽513内；上针块510与下针块500上均设有相对应的穿插孔521，穿插孔521内适配有探针520，探针520的一端延伸出上针块510的一端并位于限位槽513内，探针520的另一端延伸出下针块500，下针块500的下端可设置有测试板，测试板通过探针520与待测产品540进行连通检测。

具体的，参考图3、图4、图5、图6所示，盖板300的侧边通过连接板610连接有扣合板600，扣合板600与连接板610之间通过第一销轴630连接，扣合板600可以第一销轴630为支点转动，扣合板600的上端与盖板300之间设有第四弹性件620，扣合板600的下端端部设有卡勾601；在本实施例中，第四弹性件620为压缩弹簧，如图3、4所示，当浮动支架200位于容纳槽120内下压时，第一弹性件220压缩，使盖板300与底座100之间相贴合，此时卡勾601在第四弹性件620的作用下卡在底座100的另一端，当然在另外的实施例中，底座100的侧面设有与卡勾601相适配的卡槽，卡勾601可卡接于卡槽内，以便于将盖板300与底座100相贴合，压紧待测产品540进行测试，避免其受到外界干扰影响测试结果，当测试完毕时，按压扣合板600靠近第四弹性件620的一端使第四弹性件620压缩，此时卡勾601脱离底座100，浮动支架200在第一弹性件220的作用下，向上移动，盖板300在扭簧241的作用下翻转，从而取出待测产品540，操作便捷，可提高测试效率。

该翻转垂直下压机构结构设计合理紧凑，在使用时，使用流程为图1-图3-图4，通过翻转盖板300与浮动组件相贴合及浮动组件带动盖板300和压合件向下移动，使压合件下压待测产品540使其与探针固定模组相接触，此时扣合板600将盖板300与底座100卡接在一起，从而进行待测产品540的针点测试；采用压合件对待测产品540压制，使其受力均衡，有效地将探针520与待测产品540精准接触，从而提高对对待测产品540的测试效率；底座100与浮动组件之间设有第一弹性件220，盖板300与压合件之间设有第二弹性件420，使压合件下压与待测产品540之间弹性接触，既可以对待测产品540进行有效的压制，又避免压力过大压伤待测产品540或探针520；浮动支架200与底座100之间设有限位轴210，使浮动支架200位于底座100上方直线移动，确保压合件下压位置精度，从而保证待测产品540能够与探针520精准接触；盖板300两侧连接有卡扣，盖板300于浮动组件贴合后下压，卡扣自动扣紧，可开始测试，避免外力的干扰，提高测试效率。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，包括开设有第一安装孔的底座及设于底座上端的且可相对底座上下移动的浮动组件，所述底座与浮动组件之间设有第一弹性件，所述浮动组件的一侧连接有可相对浮动组件翻转的盖板，所述盖板上设有压合件，所述盖板与压合件之间设有第二弹性件，所述第一安装孔内安装有探针固定模组，所述压合件与所述探针固定模组相对应；所述盖板可相对浮动组件翻转并与其相贴合，浮动组件可带动盖板和压合件向下移动，压合件可下压待测产品使其与探针固定模组相接触。

2.根据权利要求1所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述盖板上设有第二安装孔，所述第二安装孔的一端固定连接有挡块，所述压合件包括设于第二安装孔的另一端的压块，所述压块的一端限位于第二安装孔内并可位于第二安装孔内直线移动，所述压块的另一端延伸出第二安装孔；所述第二弹性件位于挡块与压块之间。

3.根据权利要求2所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述压块包括位于第二安装孔内的第二限位部及连接于第二限位部一端的下压部；环绕所述第二安装孔远离挡块的一端内壁设有用于抵挡第二限位部的抵挡凸缘，所述第二限位部限位于挡块与抵挡凸缘之间。

4.根据权利要求1所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述探针固定模组包括固定于第一安装孔的一端的下针块及设于第一安装孔的另一端的上针块，所述上针块的一端限位于第一安装孔内，所述上针块的另一端延伸出第一安装孔；所述上针块与下针块之间设有第三弹性件。

5.根据权利要求4所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述第一弹性件、第二弹性件、第三弹性件均为压缩弹簧。

6.根据权利要求4所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述上针块的上端设有用于放置待测产品的限位槽。

7.根据权利要求4所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述上针块与下针块上均设有相对应的穿插孔，所述穿插孔内适配有探针，所述探针的一端延伸出上针块的一端并位于限位槽内，所述探针的另一端延伸出下针块。

8.根据权利要求1所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述浮动组件包括浮动支架，所述浮动支架与底座之间设有限位轴，所述浮动支架与底座上均设有与限位轴相适配的限位孔，所述浮动支架可沿着限位轴相对底座上下直线移动。

9.根据权利要求8所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述浮动支架为U形结构，所述底座的上表面设有与浮动支架相适配的U形槽；所述浮动支架通过限高螺栓限位于U形槽，所述浮动支架可沿限高螺栓上下移动。

10.根据权利要求1所述的用于测试治具的翻转垂直下压机构，其特征在于，所述盖板的侧边通过第一销轴连接有扣合板，所述扣合板的一端与盖板之间设有第四弹性件，所述扣合板的另一端与可与底座相扣合。

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