CN218956645U - 一种便捷开启的翻盖式芯片测试座 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 210000003811 finger Anatomy 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有安装槽，安装槽内设有芯片连接板，芯片连接板上方设有芯片定位板，底座底部设有与芯片连接板连接的探针连接板，面盖底部设有卡钩，底座内壁设有凹陷形成的卡槽，底座内转动连接有旋转杆，旋转杆一端作为推动端，推动端延伸至卡槽，旋转杆与底座之间连接有用于带动旋转杆复位的扭簧，底座外壁设有按钮，按钮底部设有朝向旋转杆延伸的按压端，通过按钮下压，使得按压端顶压旋转杆以带动旋转杆转动，将卡钩从卡槽内推出。本实用新型具有以下优点和效果：仅需通过按压按钮，便能使卡钩与卡槽相互脱离，从而能够便于面盖的开启，以便于芯片的取出。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试领域，具体涉及一种便捷开启的翻盖式芯片测试座。
背景技术
在半导体领域中，为了对产品的品质进行把控，在出厂前需要对对IC组件进行相应的测试，并且随着时代的发展，采用测试座将芯片与芯片测试机连接的方式，已逐步取代直接将待测芯片焊接于测试电路板上与芯片测试机连接的方式，通过采用测试座连接的方式，能够便于待测芯片的安装，从而有效提高对芯片批量测试的效率。
例如，公告号为CN214409200U的中国专利文件，公开了一种翻盖式PCB芯片测试座，主要包括：底座、翻盖，所述底座和翻盖之间铰接，所述翻盖朝向底座的一面设置有一下压部件，所述底座内设置有针组件，在所述针组件的上方设置有一浮板，所述浮板与针组件之间设置有弹簧，所述浮板处开设有若干通孔，所述浮板的上方设置有芯片导向块，所述芯片导向块的位置与下压部件相对应。
由上述公开的内容可知，通过将芯片放入至芯片导向块内，使得芯片的底部锡球能够与浮板接触连接，在将翻盖盖合后，下压部件能够下压芯片，使得浮板与冲压针接触连接，从而实现芯片与芯片测试机连接，然而，发明人在实施上述方案的过程中发现，由于翻盖与底座之间主要通过卡钩和卡槽的连接结构，实现翻盖和底座的扣合，在需要将芯片取出时，往往需要大力掰动卡钩，才能使得卡钩从卡槽内脱离，导致翻盖的开启存在一定的不便。
发明内容
针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，能够便于面盖的开启，以便于芯片的取出，从而提高整体对芯片的测试效率。
为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，包括底座，所述底座上枢接有面盖，所述底座内设有安装槽，所述面盖用于将安装槽开启或关闭，所述安装槽内设有芯片连接板，所述芯片连接板上方设有芯片定位板，所述底座底部设有与芯片连接板连接的探针连接板，所述面盖底部设有卡钩，所述底座内壁设有凹陷形成的卡槽，所述卡钩可卡入卡槽，并构成两者之间的卡接配合，所述底座内转动连接有旋转杆，所述旋转杆一端作为推动端，所述推动端延伸至卡槽，所述旋转杆与底座之间连接有用于带动旋转杆复位的扭簧，所述底座外壁设有按钮，所述按钮底部设有朝向旋转杆延伸的按压端，通过按钮下压，使得按压端顶压旋转杆以带动旋转杆转动，将卡钩从卡槽内推出。
本实用新型进一步设置为：所述卡钩位于卡槽时，所述卡钩与底座内壁之间设有间隙，所述推动端位于朝向卡钩的一侧设有推动凸缘，所述推动凸缘位于间隙内并与卡钩接触。
本实用新型进一步设置为：所述底座侧壁设有与安装槽连通的通孔，所述按压端位于通孔内，所述通孔内设有向内偏移形成的连接部，所述连接部上固定有弹簧，所述弹簧用于带动按钮复位。
本实用新型进一步设置为：所述底座侧壁设有导向槽，所述导向槽环绕通孔设置，所述按钮底部设有与导向槽相适配的导向凸缘，所述导向凸缘可与导向槽构成滑动配合。
本实用新型进一步设置为：所述芯片定位板与芯片连接板之间为螺纹连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：
通过在底座内转动连接有旋转杆，在底座外壁设有按钮，在需要将盖合于底座的面盖开启时，仅需通过按压按钮，使得按钮底部的按压端能够顶压旋转杆，使得旋转杆转动，从而随着旋转杆的转动，旋转杆的推动端能够推动卡钩，将卡钩从卡槽内推出，进而便能将面盖打开，所以，有效解决了现有的芯片测试座在面盖盖合后，需要大力掰动卡钩，才能将面盖开启的技术问题，进而能够便于面盖的开启，以便于芯片的取出，从而提高整体对芯片的测试效率。
附图说明
图1为本实用新型中面盖扣合时的主视结构示意图；
图2为本实用新型中面盖扣合时的内部结构示意图；
图3为本实用新型中面盖打开时的内部结构示意图；
图4为本实用新型A处局部放大结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
如图1至图4所示，本实用新型公开了一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，包括底座1，底座1上枢接有面盖2，底座1内设有安装槽3，面盖2用于将安装槽3开启或关闭，安装槽3内设有芯片连接板4，芯片连接板4上方设有芯片定位板5，底座1底部设有与芯片连接板4连接的探针连接板6，面盖2底部设有卡钩7，底座1内壁设有凹陷形成的卡槽8，卡钩7可卡入卡槽8，并构成两者之间的卡接配合，底座1内转动连接有旋转杆9，旋转杆9一端作为推动端91，推动端91延伸至卡槽8，旋转杆9与底座1之间连接有用于带动旋转杆9复位的扭簧10，底座1外壁设有按钮11，按钮11底部设有朝向旋转杆9延伸的按压端111，通过按钮11下压，使得按压端111顶压旋转杆9以带动旋转杆9转动，将卡钩7从卡槽8内推出，在需要将盖合于底座1的面盖2开启时，仅需通过按压按钮11，使得按钮11底部的按压端111能够顶压旋转杆9，使得旋转杆9转动，从而随着旋转杆9的转动，旋转杆9的推动端91能够推动卡钩7，将卡钩7从卡槽8内推出，进而便能将面盖2打开，使得面盖2的开启更加方便，以便于芯片的取出，从而提高整体对芯片的测试效率，随后在当芯片放入芯片连接板4后，通过朝向底座1翻转面盖2，使得卡钩7能够卡入到卡槽8内，使得面盖2能够扣合于底座1，实现将安装槽3的关闭，此时面板的凸出部21能够顶压芯片，确保芯片的底部锡球能够与芯片连接板4上的引脚稳定连接。
本实施例中，在卡钩7位于卡槽8时，卡钩7与底座1内壁之间进一步设有间隙81，推动端91位于朝向卡钩7的一侧设有推动凸缘911，推动凸缘911位于间隙81内并与卡钩7接触，通过推动凸缘911能够增加推动端91与卡钩7的接触面积，从而在旋转杆9转动时能够便于推动卡钩7。
本实施例中，在底座1侧壁进一步设有与安装槽3连通的通孔12，按压端111位于通孔12内，通孔12内设有向内偏移形成的连接部121，连接部121上固定有弹簧13，弹簧13用于带动按钮11复位，在停止对按钮11按压后，扭簧10能够带动旋转杆9复位，旋转杆9在复位的过程中能够与按压端111接触，以带动按钮11复位，此时通过在连接部121上进一步设置弹簧13，在停止对按钮11按压后，弹簧13因形变产生的反作用力能够作用到按钮11，以进一步便于按钮11复位，为下次面盖2的开启做准备。
本实施例中，在底座1侧壁进一步设有导向槽14，导向槽14环绕通孔12设置，按钮11底部设有与导向槽14相适配的导向凸缘112，导向凸缘112可与导向槽14构成滑动配合，通过设置导向槽14和导向凸缘112，在按压按钮11时，导向凸缘112能够在导向槽14内滑动，从而对按钮11的移动起到导向的作用，从而防止按钮11在下压的过程中，按压端111与旋转杆9之间产生的倾角增大，进而便于按压端111推动旋转杆9，使其转动。
本实施例中，芯片定位板5与芯片连接板4之间的连接方式为螺纹连接，从而能够根据待测芯片的规格，更换相适配的芯片定位板5，以扩大适用范围。
本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。
Claims (5)
1.一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征在于，包括底座，所述底座上枢接有面盖，所述底座内设有安装槽，所述面盖用于将安装槽开启或关闭，所述安装槽内设有芯片连接板，所述芯片连接板上方设有芯片定位板，所述底座底部设有与芯片连接板连接的探针连接板，所述面盖底部设有卡钩，所述底座内壁设有凹陷形成的卡槽，所述卡钩可卡入卡槽，并构成两者之间的卡接配合，所述底座内转动连接有旋转杆，所述旋转杆一端作为推动端，所述推动端延伸至卡槽，所述旋转杆与底座之间连接有用于带动旋转杆复位的扭簧，所述底座外壁设有按钮，所述按钮底部设有朝向旋转杆延伸的按压端，通过按钮下压，使得按压端顶压旋转杆以带动旋转杆转动，将卡钩从卡槽内推出。
2.根据权利要求1所述的一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述卡钩位于卡槽时，所述卡钩与底座内壁之间设有间隙，所述推动端位于朝向卡钩的一侧设有推动凸缘，所述推动凸缘位于间隙内并与卡钩接触。
3.根据权利要求1所述的一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述底座侧壁设有与安装槽连通的通孔，所述按压端位于通孔内，所述通孔内设有向内偏移形成的连接部，所述连接部上固定有弹簧，所述弹簧用于带动按钮复位。
4.根据权利要求3所述的一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述底座侧壁设有导向槽，所述导向槽环绕通孔设置，所述按钮底部设有与导向槽相适配的导向凸缘，所述导向凸缘可与导向槽构成滑动配合。
5.根据权利要求1所述的一种便捷开启的翻盖式芯片测试座，其特征在于，所述芯片定位板与芯片连接板之间为螺纹连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223273048.9U CN218956645U (zh) | 2022-12-07 | 2022-12-07 | 一种便捷开启的翻盖式芯片测试座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223273048.9U CN218956645U (zh) | 2022-12-07 | 2022-12-07 | 一种便捷开启的翻盖式芯片测试座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN218956645U true CN218956645U (zh) | 2023-05-02 |
Family
ID=86111007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202223273048.9U Active CN218956645U (zh) | 2022-12-07 | 2022-12-07 | 一种便捷开启的翻盖式芯片测试座 |
Country Status (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN117148118A (zh) * | 2023-10-30 | 2023-12-01 | 苏州朗之睿电子科技有限公司 | 一种一键式芯片手测器及其测试方法 |
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- 2022-12-07 CN CN202223273048.9U patent/CN218956645U/zh active Active
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