CN215984431U - 一种u型同步测厚仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测厚仪领域，特别地，涉及一种U型同步测厚仪，包括机架，所述机架内部设有用于移动片材的传送辊，所述机架上还设有立架，所述立架上下两端分别设有一个滑轨，所述滑轨上滑设有滑座，两个所述滑座对向设置且二者其中之一上设有X射线发射器，另一个上设有X射线接收器，所述机架上还设有绕绳辊以及用于控制绕绳辊转动的动力轴，所述绕绳辊外侧缠绕有拉绳，所述拉绳中部与所述绕绳辊固定连接，所述拉绳一端与一个所述滑座固定连接；本实用新型目的是克服现有技术的不足而提供一种U型同步测厚仪，实现避免电磁精度问题与齿间间隙对X射线接收器与X射线发射器的移动位置影响的效果。

Description

一种U型同步测厚仪

技术领域

本实用新型涉及测厚仪领域，特别地，涉及一种U型同步测厚仪。

背景技术

测厚仪主要用于测量片材的厚度，由于部分频率的光谱穿过不同厚度的片材时光谱强度会减弱，因此通过检测特定频率、固定强度的光谱穿过片材前后的强度变化经计算可得出片材厚度。

现有的片材厚度光谱检测设备通常包括一个X射线发射器与一个X射线接收器，二者分别安装于片材两侧的滑轨上，采用两个步进电机利用程序控制X射线发射器与X射线接收器同步移动，实现X射线接收器始终接收X射线发射器发出的光谱进而检测不同区域的片材厚度情况，然而程序控制步进电机移动可能由于晶振频率的精度问题导致计时不够准确或者由于两个步进电机中的齿间间隙不一致，导致X射线接收器与X射线发射器相对位置发生偏移，进而导致光谱损耗使检测结果发生偏差，因此如何设计一种同步测厚仪，可避免电磁精度问题与齿间间隙对X射线接收器与X射线发射器的移动位置影响成为了本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型目的是克服现有技术的不足而提供一种U型同步测厚仪，实现避免电磁精度问题与齿间间隙对X射线接收器与X射线发射器的移动位置影响的效果。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：

一种U型同步测厚仪，包括机架，所述机架内部设有用于移动片材的传送辊，所述机架上还设有立架，所述立架上下两端分别设有一个滑轨，所述滑轨上滑设有滑座，两个所述滑座对向设置且二者其中之一上设有X射线发射器，另一个上设有X射线接收器，所述机架上还设有绕绳辊以及用于控制绕绳辊转动的动力轴，所述绕绳辊外侧缠绕有拉绳，所述拉绳中部与所述绕绳辊固定连接，所述拉绳一端与一个所述滑座固定连接，所述拉绳另一端与另一个所述滑座固定连接，所述滑座与所述立架之间还设有用于控制所述滑座复位的压簧。

较之现有技术，本实用新型的优点在于：

本实用新型检测片材厚度前，X射线发射器持续发射光谱给X射线接收器，处理器记录X射线接收器返回的信号，传送辊转动带动片材移动至X射线发射器与X射线接收器之间，X射线发射器发射给X射线接收器的光谱发生改变，处理器再次记录X射线接收器返回的信号并进行比对计算得出当前位置的片材厚度；需要检测其他位置的片材厚度时，动力轴带动绕绳辊转动，拉绳缠绕于绕绳辊外侧，拉绳的两端分别带动一个滑座移动，两个滑座分别带动X射线发射器与X射线接收器移动，两个压簧压缩，由于拉绳中部卷绕与绕绳辊外侧，拉绳的两端分别带动一个滑座同步向绕绳辊移动，两个滑座分别带动X射线发射器与X射线接收器同步移动，X射线接收器在移动过程中始终接收X射线发射器发出的光谱。

进一步的，所述立架上还设有用于改变所述拉绳的移动方向的定滑轮。

进一步的，一个所述滑座上连接有第一伸缩线，另一个所述滑座上连接有第二伸缩线，所述第一伸缩线一端连接有处理器，所述第一伸缩线另一端与所述X射线发射器电性连接，所述第二伸缩线一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线另一端与所述X射线接收器电性连接，实现对X射线发射器与X射线接收器进行供电与信号传输。

进一步的，所述滑轨一端与所述立架固定连接，所述立架另一端设有用于限制所述滑座滑动范围的限位块，所述限位块与所述滑轨固定连接，实现限制滑座的滑动范围。

附图说明

图1为本实用新型的工作状态结构示意图；

图2为本实用新型的结构示意图；

图3为本实用新型的轴侧剖视示意图；

图4为图3的A处放大示意图。

附图标记：10、机架；11、传送辊；12、立架；20、滑轨；21、滑座；22、压簧；23、定滑轮；24、拉绳；25、绕绳辊；26、动力轴；30、限位块；31、X射线发射器；32、X射线接收器；33、第一伸缩线；34、第二伸缩线。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步详述，以使本实用新型技术方案更易于理解和掌握。

参照图1、图2、图3和图4所示，本实施例提供一种U型同步测厚仪，主要用于避免电磁精度问题与齿间间隙对X射线接收器与X射线发射器的移动位置影响。

一种U型同步测厚仪，包括机架10，所述机架10内部设有用于移动片材的传送辊11，所述机架10上还设有立架12，所述立架12上下两端分别设有一个滑轨20，所述滑轨20上滑设有滑座21，两个所述滑座21对向设置且二者其中之一上设有X射线发射器31，另一个上设有X射线接收器32，所述机架10上还设有绕绳辊25以及用于控制绕绳辊25转动的动力轴26，所述绕绳辊25外侧缠绕有拉绳24，所述拉绳24中部与所述绕绳辊25固定连接，所述拉绳24一端与一个所述滑座21固定连接，所述拉绳24另一端与另一个所述滑座21固定连接，所述滑座21与所述立架12之间还设有用于控制所述滑座21复位的压簧22。

具体的：

结合图3所示，为了改变所述拉绳24的移动方向，所述立架12上还设有用于改变所述拉绳24的移动方向的定滑轮23。

结合图2和图3所示，为了对X射线发射器31与X射线接收器32进行供电与信号传输，一个所述滑座21上连接有第一伸缩线33，另一个所述滑座21上连接有第二伸缩线34，所述第一伸缩线33一端连接有处理器，所述第一伸缩线33另一端与所述X射线发射器31电性连接，所述第二伸缩线34一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线34另一端与所述X射线接收器32电性连接，实现对X射线发射器31与X射线接收器32进行供电与信号传输。

结合图2和图3所示，为了限制滑座21的滑动范围，所述滑轨20一端与所述立架12固定连接，所述立架12另一端设有用于限制所述滑座21滑动范围的限位块30，所述限位块30与所述滑轨20固定连接，实现限制滑座21的滑动范围。

实施原理：准备检测片材厚度前，X射线发射器31持续发射光谱给X射线接收器32，处理器记录X射线接收器32返回的信号，传送辊11转动带动片材移动至X射线发射器31与X射线接收器32之间，X射线发射器31发射给X射线接收器32的光谱发生改变，处理器再次记录X射线接收器32返回的信号并进行比对计算得出当前位置的片材厚度；

需要检测其他位置的片材厚度时，动力轴26带动绕绳辊25转动，拉绳24缠绕于绕绳辊25外侧，拉绳24的两端分别带动一个滑座21移动，两个滑座21分别带动X射线发射器31与X射线接收器32移动，两个压簧22压缩，由于拉绳24中部卷绕与绕绳辊25外侧，拉绳24的两端分别带动一个滑座21同步向绕绳辊25移动，两个滑座21分别带动X射线发射器31与X射线接收器32同步移动，X射线接收器32在移动过程中始终接收X射线发射器31发出的光谱。

以上只是本实用新型的典型实例，除此之外，本实用新型还可以有其它多种具体实施方式，凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本实用新型要求保护的范围。

Claims (4)

1.一种U型同步测厚仪，包括机架(10)，所述机架(10)内部设有用于移动片材的传送辊(11)，其特征在于，所述机架(10)上还设有立架(12)，所述立架(12)上下两端分别设有一个滑轨(20)，所述滑轨(20)上滑设有滑座(21)，两个所述滑座(21)对向设置且二者其中之一上设有X射线发射器(31)，另一个上设有X射线接收器(32)，所述机架(10)上还设有绕绳辊(25)以及用于控制绕绳辊(25)转动的动力轴(26)，所述绕绳辊(25)外侧缠绕有拉绳(24)，所述拉绳(24)中部与所述绕绳辊(25)固定连接，所述拉绳(24)一端与一个所述滑座(21)固定连接，所述拉绳(24)另一端与另一个所述滑座(21)固定连接，所述滑座(21)与所述立架(12)之间还设有用于控制所述滑座(21)复位的压簧(22)。

2.根据权利要求1所述的一种U型同步测厚仪，其特征在于，所述立架(12)上还设有用于改变所述拉绳(24)移动方向的定滑轮(23)。

3.根据权利要求1所述的一种U型同步测厚仪，其特征在于，一个所述滑座(21)上连接有第一伸缩线(33)，另一个所述滑座(21)上连接有第二伸缩线(34)，所述第一伸缩线(33)一端连接有处理器，所述第一伸缩线(33)另一端与所述X射线发射器(31)电性连接，所述第二伸缩线(34)一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线(34)另一端与所述X射线接收器(32)电性连接。

4.根据权利要求1所述的一种U型同步测厚仪，其特征在于，所述滑轨(20)一端与所述立架(12)固定连接，所述立架(12)另一端设有用于限制所述滑座(21)滑动范围的限位块(30)，所述限位块(30)与所述滑轨(20)固定连接。

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