CN214473774U - 一种多工位的集成芯片测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板、支架、转动板和芯片体，所述基板上表面固定安装安装有支架，所述支架上避免转动安装有转动板，所述转动板上表面等距安装有芯片体，所述支架上表面固定安装有上料机构，所述支架上表面位于转动板的对应位置固定安装有测试机构，所述基板上表面位于转动板的对应位置固定安装有转动机构，所述转动板位于上料机构的对应位置等距安装有限位机构，此多工位的集成芯片测试设备通过上料机构和测试机构的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。

Description

一种多工位的集成芯片测试设备

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，具体为一种多工位的集成芯片测试设备。

背景技术

集成芯片是现代数字集成芯片主要使用CMOS工艺制造的。CMOS器件的静态功耗很低，但是在高速开关的情况下，CMOS器件需要电源提供瞬时功率，高速CMOS器件的动态功率要求超过同类双极性器件。因此必须对这些器件加去耦电容以满足瞬时功率要求，现代集成芯片有多种封装结构，对于分立元件，引脚越短，EMI问题越小。因为表贴器件有更小的安装面积和更低的安装位置，因此有更好的EMC性能，所以应首选表贴元件，甚至直接在PCB上安装裸片。

目前的集成芯片测试装置大都不具备自动上下料装置，工作时需要人工上料，借助人力将集成芯片摆放在受料槽上，增加工作人员劳动强度，费时费力，生产效率低下，安全性和可靠性不高，现在的架构安装便捷性与使用稳定性都有待提高，为此，我们提出一种多工位的集成芯片测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种安装便捷，方便对集成芯片测试进行自动测试，使用安全性的多工位的集成芯片测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板、支架、转动板和芯片体，所述基板上表面固定安装安装有支架，所述支架上避免转动安装有转动板，所述转动板上表面等距安装有芯片体，所述支架上表面固定安装有上料机构，所述支架上表面位于转动板的对应位置固定安装有测试机构，所述基板上表面位于转动板的对应位置固定安装有转动机构，所述转动板位于上料机构的对应位置等距安装有限位机构。

优选的，所述上料机构包括支撑座、机械手、连接板和气动吸盘，所述支架上表面固定安装有支撑座，所述支撑座上表面固定安装有机械手，所述机械手输出端转动安装有连接板，所述连接板远离机械手的一端等距安装有气动吸盘。

优选的，所述测试机构包括马达、固定架、螺纹杆、移动块、伸缩筒、伸缩柱、伸缩弹簧和测试器，所述支架上表面固定安装有固定架，所述固定架内壁转动安装有螺纹杆，所述螺纹杆一端位于固定架的对应位置固定安装有马达，所述螺纹杆外壁啮合安装有移动块，所述移动块下表面固定安装有伸缩筒，所述伸缩筒内壁固定安装有伸缩弹簧，所述伸缩弹簧一端固定安装有伸缩柱，所述伸缩柱远离伸缩筒的一侧固定安装有测试器。

优选的，所述转动机构包括连接架、电机、转动盘、转轴柱、转动杆、轮槽和限位柱，基板上表面固定安装有连接架，所述连接架内壁固定安装有电机，所述电机输出端固定安装有转轴柱，所述转轴柱外壁固定安装有转动杆，所述转动杆上表面固定安装有限位柱，所述转动杆上表面固定安装有转动盘，所述转动盘外壁位于限位柱的对应位置滑动安装有轮槽，所述轮槽外壁与转动板固定连接。

优选的，所述转动盘外壁呈弧形，且转动盘与轮槽结构配合。

优选的，所述限位机构包括固定筒、安装槽、收缩弹簧、限位板和安装块，所述转动板上表面位于芯片体的对应位置等距固定安装有固定筒，所述固定筒内壁对称开设有安装槽，所述安装槽内壁固定安装有收缩弹簧，所述收缩弹簧一侧固定安装有限位板，所述安装槽内壁对称安装有安装块。

优选的，所述安装块采用软质材质制成。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过机械手带动气动吸盘将芯片体放置于固定筒内壁，通过芯片体挤压收缩弹簧，使芯片体克服收缩弹簧的弹力将芯片体进行限位固定，通过电机驱动转动盘带动转动杆转动，使转动盘配合轮槽结构，实现转动杆上表面的限位柱与轮槽进行滑动卡接限位，使轮槽带动转动板往复间歇转动，通过马达驱动螺纹杆转动，将移动块在螺纹杆外壁进行啮合移动，使移动块带动伸缩柱克服伸缩弹簧的弹力，带动测试器在伸缩筒内壁进行缓冲弹性，便于对芯片体进行测试，此装置的设置通过上料机构和测试机构的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，省时省力，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的上料机构结构示意图；

图3为本实用新型的测试机构安装分布结构示意图；

图4为本实用新型的限位机构结构示意图；

图5为本实用新型的转动机构结构示意图；

图6为本实用新型的转动机构安装分布结构示意图。

图中：1、基板；2、支架；3、上料机构；31、支撑座；32、机械手；33、连接板；34、气动吸盘；4、测试机构；41、马达；42、固定架；43、螺纹杆；44、移动块；45、伸缩筒；46、伸缩柱；47、伸缩弹簧；48、测试器；5、转动机构；51、连接架；52、电机；53、转动盘；54、转轴柱；55、转动杆；56、轮槽；57、限位柱；6、转动板；7、限位机构；71、固定筒；72、安装槽；73、收缩弹簧；74、限位板；75、安装块；8、芯片体。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

所述测试器48与现有集成芯片测试设备的工作原理相同，在此不再赘述。

请参阅图1，图示中的一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板1、支架2、转动板6和芯片体8，所述基板1上表面固定安装安装有支架2，所述支架2上避免转动安装有转动板6，所述转动板6上表面等距安装有芯片体8。

请参阅图1，所述支架2上表面固定安装有上料机构3，所述支架2上表面位于转动板6的对应位置固定安装有测试机构4，所述基板1上表面位于转动板6的对应位置固定安装有转动机构5，所述转动板6位于上料机构3的对应位置等距安装有限位机构7，通过上料机构3和测试机构4的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手32将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，省时省力，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。

请参阅图2，所述上料机构3包括支撑座31、机械手32、连接板33和气动吸盘34，所述支架2上表面固定安装有支撑座31，所述支撑座31上表面固定安装有机械手32，所述机械手32输出端转动安装有连接板33，所述连接板33远离机械手32的一端等距安装有气动吸盘34，通过机械手32带动气动吸盘34将芯片体8放置于固定筒71内壁。

请参阅图2和图3，所述测试机构4包括马达41、固定架42、螺纹杆43、移动块44、伸缩筒45、伸缩柱46、伸缩弹簧47和测试器48，所述支架2上表面固定安装有固定架42，所述固定架42内壁转动安装有螺纹杆43，所述螺纹杆43一端位于固定架42的对应位置固定安装有马达41，所述螺纹杆43外壁啮合安装有移动块44，所述移动块44下表面固定安装有伸缩筒45，所述伸缩筒45内壁固定安装有伸缩弹簧47，所述伸缩弹簧47一端固定安装有伸缩柱46，所述伸缩柱46远离伸缩筒45的一侧固定安装有测试器48，通过马达41驱动螺纹杆43转动，将移动块44在螺纹杆43外壁进行啮合移动，使移动块44带动伸缩柱46克服伸缩弹簧47的弹力，带动测试器48在伸缩筒45内壁进行缓冲弹性，便于对芯片体8进行测试。

请参阅图5和图6，所述转动机构5包括连接架51、电机52、转动盘53、转轴柱54、转动杆55、轮槽56和限位柱57，基板1上表面固定安装有连接架51，所述连接架51内壁固定安装有电机52，所述电机52输出端固定安装有转轴柱54，所述转轴柱54外壁固定安装有转动杆55，所述转动杆55上表面固定安装有限位柱57，所述转动杆55上表面固定安装有转动盘53，所述转动盘53外壁位于限位柱57的对应位置滑动安装有轮槽56，所述轮槽56外壁与转动板6固定连接，通过电机驱动转动盘53带动转动杆55转动，使转动盘53配合轮槽56结构，实现转动杆55上表面的限位柱57与轮槽56进行滑动卡接限位，使轮槽56带动转动板6往复间歇转动。

请参阅图5和图6，所述转动盘53外壁呈弧形，且转动盘53与轮槽56结构配合。

请参阅图4，所述限位机构7包括固定筒71、安装槽72、收缩弹簧73、限位板74和安装块75，所述转动板6上表面位于芯片体8的对应位置等距固定安装有固定筒71，所述固定筒71内壁对称开设有安装槽72，所述安装槽72内壁固定安装有收缩弹簧73，所述收缩弹簧73一侧固定安装有限位板74，所述安装槽72内壁对称安装有安装块75，通过芯片体8挤压收缩弹簧73，使芯片体8克服收缩弹簧73的弹力将芯片体8进行限位固定。

所述安装块75采用软质材质制成，便于对芯片体8进行限位固定。

本方案中，通过机械手32带动气动吸盘34将芯片体8放置于固定筒71内壁，通过芯片体8挤压收缩弹簧73，使芯片体8克服收缩弹簧73的弹力将芯片体8进行限位固定，通过电机驱动转动盘53带动转动杆55转动，使转动盘53配合轮槽56结构，实现转动杆55上表面的限位柱57与轮槽56进行滑动卡接限位，使轮槽56带动转动板6往复间歇转动，通过马达41驱动螺纹杆43转动，将移动块44在螺纹杆43外壁进行啮合移动，使移动块44带动伸缩柱46克服伸缩弹簧47的弹力，带动测试器48在伸缩筒45内壁进行缓冲弹性，便于对芯片体8进行测试，此装置的设置通过上料机构3和测试机构4的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手32将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，省时省力，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板(1)、支架(2)、转动板(6)和芯片体(8)，所述基板(1)上表面固定安装安装有支架(2)，所述支架(2)上避免转动安装有转动板(6)，所述转动板(6)上表面等距安装有芯片体(8)，其特征在于：所述支架(2)上表面固定安装有上料机构(3)，所述支架(2)上表面位于转动板(6)的对应位置固定安装有测试机构(4)，所述基板(1)上表面位于转动板(6)的对应位置固定安装有转动机构(5)，所述转动板(6)位于上料机构(3)的对应位置等距安装有限位机构(7)。

2.根据权利要求1所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述上料机构(3)包括支撑座(31)、机械手(32)、连接板(33)和气动吸盘(34)，所述支架(2)上表面固定安装有支撑座(31)，所述支撑座(31)上表面固定安装有机械手(32)，所述机械手(32)输出端转动安装有连接板(33)，所述连接板(33)远离机械手(32)的一端等距安装有气动吸盘(34)。

3.根据权利要求1所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述测试机构(4)包括马达(41)、固定架(42)、螺纹杆(43)、移动块(44)、伸缩筒(45)、伸缩柱(46)、伸缩弹簧(47)和测试器(48)，所述支架(2)上表面固定安装有固定架(42)，所述固定架(42)内壁转动安装有螺纹杆(43)，所述螺纹杆(43)一端位于固定架(42)的对应位置固定安装有马达(41)，所述螺纹杆(43)外壁啮合安装有移动块(44)，所述移动块(44)下表面固定安装有伸缩筒(45)，所述伸缩筒(45)内壁固定安装有伸缩弹簧(47)，所述伸缩弹簧(47)一端固定安装有伸缩柱(46)，所述伸缩柱(46)远离伸缩筒(45)的一侧固定安装有测试器(48)。

4.根据权利要求1所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述转动机构(5)包括连接架(51)、电机(52)、转动盘(53)、转轴柱(54)、转动杆(55)、轮槽(56)和限位柱(57)，基板(1)上表面固定安装有连接架(51)，所述连接架(51)内壁固定安装有电机(52)，所述电机(52)输出端固定安装有转轴柱(54)，所述转轴柱(54)外壁固定安装有转动杆(55)，所述转动杆(55)上表面固定安装有限位柱(57)，所述转动杆(55)上表面固定安装有转动盘(53)，所述转动盘(53)外壁位于限位柱(57)的对应位置滑动安装有轮槽(56)，所述轮槽(56)外壁与转动板(6)固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述转动盘(53)外壁呈弧形，且转动盘(53)与轮槽(56)结构配合。

6.根据权利要求1所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述限位机构(7)包括固定筒(71)、安装槽(72)、收缩弹簧(73)、限位板(74)和安装块(75)，所述转动板(6)上表面位于芯片体(8)的对应位置等距固定安装有固定筒(71)，所述固定筒(71)内壁对称开设有安装槽(72)，所述安装槽(72)内壁固定安装有收缩弹簧(73)，所述收缩弹簧(73)一侧固定安装有限位板(74)，所述安装槽(72)内壁对称安装有安装块(75)。

7.根据权利要求6所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述安装块(75)采用软质材质制成。

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