CN214409207U - 电测设备 - Google Patents

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Abstract

本揭露提供一种用以测试待测电路板的电测设备。电测设备包含下治具以及输送装置。输送装置包含承载板、驱动模块以及两轨道。驱动模块设置于承载板上。两轨道可动地支撑于承载板上,并配置以承载与输送待测电路板。驱动模块配置以独立地驱动两轨道移动,致使待测电路板移动于下治具上方。借此,当待测电路板为小板时,可采用小体积的下治具。并且,不论待测电路板是大板或小板,驱动模块可驱动两轨道相对于上治具置中,因此在压床模块驱动上治具下压时,不会造成上治具受力位置偏向其中一轨道而导致机台变形。

Description

电测设备
技术领域
本实用新型是有关于一种电测设备。
背景技术
以电子产品来说,产品于构装完成前必须进行电性功能测试,以确保出厂的电子产品于功能上的完整性;同时透过电性测试结果来作分类,借以作为不同等级产品的评价依据。待测电路板与电测设备之间必须透过转换接口-电测治具,以让测试作业顺畅进行。一般来说,电测治具通常采用垂直式电测方法。具体来说,电测治具包含上治具与下治具。电测时会先将待测电路板放置于下治具上,再使上治具随着压床机构逐渐靠近待测电路板,使设置于治具上的探针与待测电路板表面的焊点接触,从而进行电测。由此可知,电测治具是用来连接电测设备的测试接点与待测电路板的接脚,以作为电性信号传递桥梁。
然而,不论待测电路板是大板或小板,现有的电测治具的尺寸都需以输送机的前基准轨的最大板宽尺寸制作,因此制作成本与治具尺寸无法减少。另外,若待测电路板的尺寸较小,则待测电路板会偏向输送基准轨一侧,这会造成压床下压时受力偏向一边,容易导致机台变形。
因此,提出一种可解决上述问题的电测设备,是目前业界亟欲投入研发资源解决的问题之一。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的一目的在于提出一种可有效解决前述问题的电测设备。
为了达到上述目的,依据本实用新型的一实施方式,一种电测设备用以测试待测电路板。电测设备包含下治具以及输送装置。输送装置包含承载板、驱动模块以及两轨道。驱动模块设置于承载板上。两轨道可动地支撑于该承载板上,并配置以承载与输送待测电路板。驱动模块配置以独立地驱动两轨道移动,致使待测电路板移动于下治具上方。
于本实用新型的一或多个实施方式中,驱动模块包含线性马达。
于本实用新型的一或多个实施方式中,驱动模块包含滑轨以及两动子。两轨道分别固定至两动子,并经由两动子可滑动地衔接滑轨。
于本实用新型的一或多个实施方式中,滑轨的延伸方向垂直于前述两轨道的输送方向。
于本实用新型的一或多个实施方式中,电测设备进一步包含机架。机架包含底座。下治具设置于底座上。输送装置位于底座上方。
于本实用新型的一或多个实施方式中,机架进一步包含至少一导引柱。此至少一导引柱设置于底座上,并与承载板可滑动地衔接。
于本实用新型的一或多个实施方式中,前述至少一导引柱垂直于前述两轨道的输送平面。
于本实用新型的一或多个实施方式中,电测设备进一步包含压床模块以及上治具。压床模块设置于机架上。下治具位于底座与压床模块之间。压床模块配置以将上治具朝向下治具压抵。
于本实用新型的一或多个实施方式中,上治具具有底面。底面具有中心。驱动模块配置以驱动两轨道移动,致使垂直于底面且通过中心的轴线等距地位于两轨道之间。
于本实用新型的一或多个实施方式中,下治具具有顶面。上治具上设有罩体。罩体配置以在上治具朝向下治具压抵时罩住顶面的至少一部分。
于本实用新型的一或多个实施方式中,罩体配置以气密地罩住顶面的前述至少一部分。
于本实用新型的一或多个实施方式中,罩体为铝罩。
综上所述,于本实用新型的电测设备中,由于输送装置的驱动模块可独立地驱动两轨道移动,因此下治具的制作并不受限于任一轨道的位置。借此,当待测电路板为小板时,可采用小体积的下治具。并且,不论待测电路板是大板或小板,驱动模块可驱动两轨道相对于上治具置中,因此在压床模块驱动上治具下压时,不会造成上治具受力位置偏向其中一轨道而导致机台变形。
以上所述仅是用以阐述本实用新型所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等,本实用新型的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。
附图说明
为让本实用新型的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说明如下:
图1为绘示根据本实用新型一实施方式的电测设备的立体图;
图2为绘示图1中的电测设备的部分元件于一操作阶段的示意图;
图3为绘示图2中的元件于下一操作阶段的示意图;
图4为绘示图3中的元件于下一操作阶段的示意图;
图5为绘示根据本实用新型另一实施方式的电测设备的部分元件的示意图;
图6为绘示根据本实用新型另一实施方式的电测设备的部分元件于一操作阶段的示意图;
图7为绘示图6中的元件于下一操作阶段的示意图。
【符号说明】
100,100’,100”:电测设备
110:机架
111:底座
112:顶板
113:导引柱
120,120’:下治具
121:顶面
130:输送装置
131:承载板
132:驱动模块
132a:滑轨
132b1,132b2:动子
133a,133b:轨道
140:快速插拔模块
150:压床模块
160:上治具
161:底面
170:罩体
900:待测电路板
A:轴线
C:中心
X,Y,Z:轴向
具体实施方式
以下将以附图揭露本实用新型的多个实施方式,为明确说明起见,许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而,应了解到,这些实务上的细节不应用以限制本实用新型。也就是说,在本实用新型部分实施方式中,这些实务上的细节是非必要的。此外,为简化附图起见,一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示,且不同实施方式中的相同元件以相同的元件符号标示。
请参照图1,其为绘示根据本实用新型一实施方式的电测设备100的立体图。如图1所示,于本实施方式中,电测设备100包含机架110、下治具120以及输送装置130。机架110包含底座111、顶板112以及多个导引柱113。导引柱113连接于底座111与顶板112之间。下治具120设置于底座111上。输送装置130位于底座111上方。
进一步来说,输送装置130包含承载板131、驱动模块132以及两轨道133a、133b。驱动模块132设置于承载板131上。两轨道133a、133b配置以承载与输送待测电路板900。驱动模块132配置以独立地驱动两轨道133a、133b移动,致使待测电路板900移动于下治具120上方。
于一些实施方式中,两轨道133a、133b包含可转动的皮带,而皮带可承载待测电路板900,并可通过转动而带动待测电路板900进板与出板。
如图1所示,于本实施方式中,驱动模块132包含线性马达。详细来说,驱动模块132包含滑轨132a以及两动子132b1、132b2。两轨道133a、133b分别固定至两动子132b1、132b2,并经由两动子132b1、132b2可滑动地衔接滑轨132a。滑轨132a上设有光学尺,因此驱动模块132可基于光学尺精准地控制两动子132b1、132b2的移动,从而使其上的两轨道133a、133b精准地移动至进板位置、测试位置以及出板位置。
于一些实施方式中,两轨道133a、133b亦可分别由两驱动模块132驱动。于一些实施方式中,此两驱动模块132可为相同或不同种类的驱动模块。举例来说,此两驱动模块132可为线性马达、步进马达或分别为这两种马达。
如图1所示,于本实施方式中,滑轨132a的延伸方向平行于轴向Y,且两轨道133a、133b的输送方向平行于轴向X。换言之,滑轨132a的延伸方向垂直于前述两轨道133a、133b的输送方向,但本实用新型并不以此为限。另外,导引柱113平行于轴向Z,且两轨道133a、133b的输送平面平行于轴向X与轴向Y。换言之,导引柱113垂直于两轨道133a、133b的输送平面,但本实用新型并不以此为限。
于一些实施方式中,电测设备100可进一步包含升降模块(图未示)。升降模块配置以驱动输送装置130的承载板131相对于机架110的底座111上升至第一高度以及下降至第二高度。当承载板131相对于底座111在第一高度时,两轨道133a、133b可自由地在下治具120上方移动而不会碰撞下治具120。另外,当两轨道133a、133b承载待测电路板900且待测电路板900恰好位于下治具120的正上方时,相对于底座111下降至第二高度的承载板131可使得待测电路板900被放置于下治具120上。
如图1所示,于本实施方式中,电测设备100进一步包含快速插拔模块140。快速插拔模块140设置于机架110的底座111上,并与下治具120可插拔地连接。于一些实施方式中,快速插拔模块140是采用探针接触或电连接器插接的方式可插拔地连接至下治具120,再透过界面板(interface board)转到排线而连接至测试主机以获得电性测试结果。借此,当欲检测不同类型的待测电路板900时,可快速地更换对应的下治具120。
如图1所示,于本实施方式中,电测设备100进一步包含压床模块150以及上治具160。压床模块150设置于机架110的顶板112上。下治具120位于底座111与压床模块150之间。压床模块150配置以将上治具160朝向下治具120压抵。
于一些实施方式中,压床模块150包含设置于顶板112上的气压缸。气压缸包含穿过顶板112并直接或间接耦接上治具160的驱动杆。驱动杆平行于轴向Z。通过气压缸的作动使得驱动杆移动,即可带动上治具160于轴向Z上朝向或远离下治具120移动。
以下配合图2至图4说明本实用新型的电测设备100的操作流程。
请参照图2,其为绘示图1中的电测设备100的部分元件于一操作阶段的示意图。如图2所示,于本实施方式中,当欲使电测设备100由前一工作站接收待测电路板900时,可利用升降模块将输送装置130的承载板131相对于机架110的底座111维持于第一高度,并利用驱动模块132驱动两轨道133a、133b沿着轴向Y移动至进板位置(即两轨道133a、133b于图2中的位置)。
请参照图3,其为绘示图2中的元件于下一操作阶段的示意图。如图3所示,于本实施方式中,当欲使电测设备100将待测电路板900放置于下治具120上时,可利用驱动模块132驱动两轨道133a、133b沿着轴向Y移动至测试位置(即两轨道133a、133b于图3中的位置),再利用升降模块将输送装置130的承载板131相对于机架110的底座111沿着轴向Z下降至第二高度,以将待测电路板900放置于下治具120上。
请参照图4,其为绘示图3中的元件于下一操作阶段的示意图。如图4所示,于本实施方式中,在待测电路板900放置于下治具120上之后,可利用压床模块150将上治具160朝向下治具120压抵,即可将待测电路板900紧密地夹持且电连接于上治具160与下治具120之间。借此,测试主机即可经由快速插拔模块140与下治具120从待测电路板900获得电性测试结果。
如图3与图4所示,上治具160具有底面161。底面161具有中心C。一轴线A垂直于底面161且通过底面161的中心C。需说明的是,此轴线A亦通过压床模块150的驱动杆。在本实施方式的驱动模块132驱动两轨道133a、133b沿着轴向Y移动至测试位置时,是使得轴线A等距地位于两轨道133a、133b之间。通过此配置,在压床模块150驱动上治具160下压时,不会造成上治具160受力位置偏向轨道133a、133b其中一者而导致机台变形。
请参照图5,其为绘示根据本实用新型另一实施方式的电测设备100’的部分元件的示意图。图2与图5中具有相同元件符号的元件相同,因此可参照前述相关说明,在此恕不赘述。本实施方式相较于图2所示的实施方式的差异处,在于本实施方式的下治具120’的尺寸较小。需说明的是,由于输送装置130的驱动模块132可独立地驱动两轨道133a、133b移动,因此下治具120’的制作并不受限于轨道133a、133b的任一者的位置。相对地,轨道133a、133b的任一者的设置位置也不受限于下治具120’的尺寸。借此,当待测电路板900为小板时,可采用小体积的下治具120’。
请参照图6以及图7。图6为绘示根据本实用新型另一实施方式的电测设备100”的部分元件于一操作阶段的示意图。图7为绘示图6中的元件于下一操作阶段的示意图。图2、图6中具有相同元件符号的元件相同,因此可参照前述相关说明,在此恕不赘述。本实施方式的下治具120具有顶面121。本实施方式相较于图2所示的实施方式的差异处,在于本实施方式的上治具160上设有罩体170。罩体170配置以在上治具160朝向下治具120压抵时罩住顶面121的至少一部分。同时,如图7所示,为了避免罩体170在随着上治具160下压时与两轨道133a、133b干涉,可使驱动模块132相对反向移动而让位给下压的罩体170。
于一些实施方式中,上治具160上的罩体170配置以在压床模块150驱动上治具160朝向下治具120压抵时,气密地罩住顶面121的前述至少一部分。在此结构配置下,电测设备100”可进一步包含抽气装置(图未示),以将罩体170与下治具120的顶面121所构成的密闭空间抽真空,进而使下治具120可紧密地抵接待测电路板900上的电性接点。换言之,本实施方式的上治具160可视为一种真空治具。由此可知,于本实施方式中,下治具120与待测电路板900之间的接合力是由抽气装置产生的真空提供的,并非由压床模块150的下压提供的。
于一些实施方式中,上治具160上的罩体170为铝罩。借此,当欲对待测电路板900进行无线射频测试时,罩住待测电路板900的罩体170即可有效屏蔽外界无线信号的干扰,从而避免检测结果受到影响。
由以上对于本实用新型的具体实施方式的详述,可以明显地看出,于本实用新型的电测设备中,由于输送装置的驱动模块可独立地驱动两轨道移动,因此下治具的制作并不受限于任一轨道的位置。借此,当待测电路板为小板时,可采用小体积的下治具。并且,不论待测电路板是大板或小板,驱动模块可驱动两轨道相对于上治具置中,因此在压床模块驱动上治具下压时,不会造成上治具受力位置偏向其中一轨道而导致机台变形。
虽然本实用新型已以实施方式揭露如上,然其并不用以限定本实用新型,任何熟悉此技艺者,在不脱离本实用新型的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,因此本实用新型的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种电测设备,用以测试一待测电路板,其特征在于,该电测设备包含:
一下治具;以及
一输送装置,包含:
一承载板;
一驱动模块,设置于该承载板上;以及
两轨道,可动地支撑于该承载板上,并配置以承载与输送该待测电路板,其中该驱动模块配置以独立地驱动该两轨道移动,致使该待测电路板移动于该下治具上方。
2.如权利要求1所述的电测设备,其特征在于,该驱动模块包含线性马达。
3.如权利要求2所述的电测设备,其特征在于,该驱动模块包含:
一滑轨;以及
两动子,其中该两轨道分别固定至该两动子,并经由该两动子可滑动地衔接该滑轨。
4.如权利要求3所述的电测设备,其特征在于,该滑轨的一延伸方向垂直于该两轨道的一输送方向。
5.如权利要求1所述的电测设备,其特征在于,进一步包含一机架,该机架包含一底座,该下治具设置于该底座上,且该输送装置位于该底座上方。
6.如权利要求5所述的电测设备,其特征在于,该机架进一步包含至少一导引柱,该至少一导引柱设置于该底座上,并与该承载板可滑动地衔接。
7.如权利要求6所述的电测设备,其特征在于,该至少一导引柱垂直于该两轨道的一输送平面。
8.如权利要求5所述的电测设备,其特征在于,进一步包含:
一压床模块,设置于该机架上,其中该下治具位于该底座与该压床模块之间;以及
一上治具,其中该压床模块配置以将该上治具朝向该下治具压抵。
9.如权利要求8所述的电测设备,其特征在于,该上治具具有一底面,该底面具有一中心,且该驱动模块配置以驱动该两轨道移动,致使垂直于该底面且通过该中心的一轴线等距地位于该两轨道之间。
10.如权利要求8所述的电测设备,其特征在于,该下治具具有一顶面,该上治具上设有一罩体,且该罩体配置以在该上治具朝向该下治具压抵时罩住该顶面的至少一部分。
11.如权利要求10所述的电测设备,其特征在于,该罩体配置以气密地罩住该顶面的该至少一部分。
12.如权利要求10所述的电测设备,其特征在于,该罩体为铝罩。
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