CN212424502U - 一种芯片测试分选机辅助给料装置 - Google Patents

一种芯片测试分选机辅助给料装置 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试分选机辅助给料装置包括进料箱、下料机构和传送带,进料箱内壁底部设置有卡槽与卡块,卡块与支撑板两端卡接,支撑板上固定连接有小挡环和大挡环,下料机构内壁中央位置与轮轴固定连接,轮轴与辘轳转动连接,辘轳弧度面上均匀等距固定连接有多个隔断板,下料机构内部底端通过支撑板固定连接有缓冲滑槽,轮轴右端穿过下料机构右侧内壁与齿轮环套接,下料机构左侧设置有电机,电机左侧转动连接有齿轮转轴,齿轮转轴与齿轮环啮合连接,本新型通过支撑板、大挡环、小挡环辘轳、隔断板和缓冲滑槽的配合使用,使得芯片有序定距的出料,解决了下落过程中磕碰损坏,避免了芯片下料斗出口处堵塞,影响芯片的给料输送速度。

Description

一种芯片测试分选机辅助给料装置
技术领域
本实用新型属于芯片给料技术领域,具体涉及一种芯片测试分选机辅助给料装置。
背景技术
现有的芯片送料机构通常都是从一个大的进料箱进入多个工件,然后从一个出料口导出,再一个个顺序落入输送链上,通过输送链输送至目标位置。不具有均匀上料的功能,都是将物料之间放在送料机上并将其输送至加工设备内进行加工,且芯片下料斗出口处扎堆下料,下料不均匀,甚至形成堵塞,影响芯片的给料输送速度,现有的送料机构不适用于工件有序定距的出料,因此不能够满足人们的使用需要。
现有的芯片给料技术存在以下问题:1、由于芯片从出料口导出,再一个个顺序落入输送链上,因而没有对芯片的下落过程进行防护措施,导致芯片损坏,降低生产效率,提高生产成本。
2、芯片下料斗出口处扎堆下料,下料不均匀,甚至形成堵塞,影响芯片的给料输送速度。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种芯片测试分选机辅助给料装置,以解决上述背景技术中提出的:由于芯片从出料口导出,再一个个顺序落入输送链上,因而没有对芯片的下落过程进行防护措施,导致芯片损坏,降低生产效率,提高生产成本,芯片下料斗出口处扎堆下料,下料不均匀,甚至形成堵塞,影响芯片的给料输送速度问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种芯片测试分选机辅助给料装置,包括进料箱、下料机构和传送带,其特征在于:所述进料箱内壁底部固定连接有两个定位卡槽和与定位卡槽相对于的卡快,所述卡块与支撑板两端卡接,所述支撑板上固定连接有小挡环和大挡环,且小挡环和大挡环的圆心均为支撑板的中点,所述进料箱下端与下料斗顶部通过焊接的方式固定连接,所述下料斗底部与下料机构顶部活动连接;
所述下料机构内壁中央位置与轮轴固定连接,轮轴与转动辘轳转动连接,转动辘轳弧度面上均匀等距固定连接有多个隔断板,所述下料机构内部底端通过支撑板固定连接有缓冲滑槽,所述缓冲滑槽沿Y轴向上倾斜,缓冲滑槽左端与出料口固定连接,所述轮轴左端与下料机构左侧内壁固定连接,轮轴右端穿过下料机构右侧内壁与齿轮环套接,下料机构左侧设置有电机,电机左侧转动连接有齿轮转轴,所述齿轮转轴与齿轮环啮合连接。
优选的,所述进料箱为梯台型,进料箱上端和下端均为开口端,所述下料斗为锥形,下料斗上端和下端均为开口端,且下料斗底部的开口端成一字型。
优选的,所述下料斗底部活动连接有抽板,抽板宽度略小于下料斗底端开口宽度。
优选的,所述下料机构底部设置有传送带a,传送带a的一端表面与出料口贴合,传送带a另一端与传送带b左端紧密连接。
优选的,所述缓冲滑槽的宽度略大于隔断板的宽度,缓冲滑槽且上表面平稳光滑。
优选的,所述隔断板表面光滑,转动辘轳弧度面上相邻两隔断板之间的弧度面光滑平稳。
优选的,所述小挡环外弧与大挡环内弧存有间隔,且每处间隔相等。
与现有技术相比,本实用新型提供了一种芯片测试分选机辅助给料装置,具备以下有益效果:
1、本实用新型通过在下料机构底端设置的缓冲滑槽,且缓冲滑槽为软胶材质表面光滑平稳,将经过辘轳和隔断板分离后的芯片安稳有序的收集,芯片经自身重力沿着滑槽光滑的平面,安稳的落至传输带上,经传输带送至分选机目标位置,避免了芯片在下落过程中磕碰损坏,提高生产效率,节约生产成本
2、本实用新型通过进料仓中支撑板、大挡环和小挡环对进入进料仓的芯片进行分割,避免芯片在进入下料斗之前堵塞,由抽板控制下料斗下端口的下料速度,使得芯片由下料斗下端口有序落至两隔断板之间的转动辘轳弧度面,转动辘轳匀速转动,使得本装置对芯片有序定距的出料,解决芯片下料斗出口处易扎堆下料,下料不均匀,甚至形成堵塞,影响芯片的给料输送速度。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制,在附图中:
图1为本实用新型的芯片测试分选机辅助给料装置结构示意图;
图2为本实用新型的芯片测试分选机辅助给料装置侧视图;
图3为本实用新型提出下料机构的结构示意图;
图4为本实用新型提出的进料箱的俯视图;
图5为图2中A处的放大图
图中:1、进料箱;2、下料斗;3、抽板;4、下料机构;5、出料口;6、传送带a;7、传输带b;8、转动辘轳;9、隔断板;10、轮轴;11、缓冲滑槽;12、支撑架;13、电机;14、齿轮转轴;15、齿轮环;17、卡块;18、支撑板;19、大挡环;20、小挡环。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1和图4,本实用新型提供一种技术方案:一种芯片测试分选机辅助给料装置,包括进料箱1、下料机构4和传送带,进料箱1内壁底部固定连接有两个定位卡槽和与定位卡槽相对于的卡块17,所述卡块17与支撑板18两端卡接,支撑板18上固定连接有小挡环20和大挡环19,小挡环20和大挡环19的圆心均为支撑板18的中点,小挡环20外弧与大挡环19内弧存有间隔,且每处间隔相等,支撑板18使得在小挡环20和大挡环19上的芯片更加平稳不一晃动,进料箱1下端与下料斗2顶部通过焊接的方式固定连接,下料斗2底部与下料机构4顶部活动连接,进料箱1为梯台型,进料箱1上端和下端均为开口端,所述下料斗2为锥形,下料斗2上端和下端均为开口端,且下料斗2底部的开口端成一字型,下料斗2底部活动连接有抽板3,抽板3宽度略小于下料斗2底端开口宽度,通过抽拉抽板3,改变下料斗2底端一字型开头大小,控制芯片在下料斗2中下落的速度,有利于装置对芯片有序定距的出料。
参阅图2、图3和图5,下料机构4内壁中央位置与轮轴10固定连接,轮轴10与转动辘轳8转动连接,转动辘轳8弧度面上均匀等距固定连接有多个隔断板9,隔断板9为软胶材质,且隔断板9表面光滑,转动辘轳8弧度面上相邻两隔断板9之间的弧度面光滑平稳,隔断板9与转动转动辘轳8均为软胶材质,使得经下料斗2下端安稳落至两隔断板之间的转动辘轳8弧度面,下料机构4内部底端通过支撑架12固定连接有缓冲滑槽11,所述缓冲滑槽11沿Y轴向上倾斜,芯片落至缓冲滑槽11后,可依靠自身重力沿着滑槽光滑的平面,经出料口5安稳的落至传输带上,缓冲滑槽11左端与出料口5固定连接,所述轮轴10左端与下料机构4左侧内壁固定连接,轮轴10右端穿过下料机构4右侧内壁与齿轮环15套接,下料机构4左侧设置有电机13,电机13左侧转动连接有齿轮转轴14,所述齿轮转轴14与齿轮环15啮合连接,电机13通过齿轮转轴14、齿轮环15和轮轴10间接带动转动辘轳8的匀速转动,由抽板3控制下料斗2下端口的下料速度,使得芯片由下料斗下端口有序落至两隔断板之间的转动辘轳8弧度面,转动辘轳8经由程序指令控制可匀速转动,使得本装置对芯片有序定距的出料。
请参阅图1,下料机构4底部设置有传送带a6,传送带a6的一端表面与出料口5贴合,传送带a6另一端与传送带b7左端紧密连接,芯片经由传输带分选机目标位置处。
本实用新型的工作原理及使用流程:本实用新型安装好过后,芯片进入进料仓1后,由进料仓1中支撑板18、大挡环19和小挡环20对进入进料仓1的芯片进行分割,由抽板3控制下料斗2下端口的下料速度,使得芯片由下料斗2下端口有序落至两隔断板之间的转动辘轳8弧度面,转动辘轳8经由程序指令控制可匀速转动,芯片经由转动辘轳8和隔断板旋转落至缓冲滑槽11,缓冲滑槽11将芯片安稳有序的收集,芯片经自身重力沿着滑槽光滑的平面,经由出料口5安稳的落至传输带上,使得本装置对芯片有序定距的出料,解决芯片下料斗2出口处易扎堆下料堵塞,下料不均匀,影响芯片的给料输送速度,避免了芯片在下落过程中磕碰损坏,提高生产效率,节约生产成本。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种芯片测试分选机辅助给料装置,包括进料箱(1)、下料机构(4)和传送带,其特征在于:所述进料箱(1)内壁底部固定连接有两个定位卡槽和与定位卡槽相对于的卡块(17),所述卡块(17)与支撑板(18)两端卡接,所述支撑板(18)上固定连接有小挡环(20)和大挡环(19),且小挡环(20)和大挡环(19)的圆心均为支撑板(18)的中点,所述进料箱(1)下端与下料斗(2)顶部通过焊接的方式固定连接,所述下料斗(2)底部与下料机构(4)顶部活动连接;
所述下料机构(4)内壁中央位置与轮轴(10)固定连接,轮轴(10)与转动辘轳(8)转动连接,转动辘轳(8)弧度面上均匀等距固定连接有多个隔断板(9),所述下料机构(4)内部底端通过支撑架(12)固定连接有缓冲滑槽(11),所述缓冲滑槽(11)沿Y轴向上倾斜,缓冲滑槽(11)左端与出料口(5)固定连接,所述轮轴(10)左端与下料机构(4)左侧内壁固定连接,轮轴(10)右端穿过下料机构(4)右侧内壁与齿轮环(15)套接,下料机构(4)左侧设置有电机(13),电机(13)左侧转动连接有齿轮转轴(14),所述齿轮转轴(14)与齿轮环(15)啮合连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机辅助给料装置,其特征在于:所述进料箱(1)为梯台型,进料箱(1)上端和下端均为开口端,所述下料斗(2)为锥形,下料斗(2)上端和下端均为开口端,且下料斗(2)底部的开口端成一字型。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机辅助给料装置,其特征在于:所述下料斗(2)底部活动连接有抽板(3),抽板(3)宽度略小于下料斗(2)底端开口宽度。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机辅助给料装置,其特征在于:所述下料机构(4)底部设置有传送带a(6),传送带a(6)的一端表面与出料口(5)贴合,传送带a(6)另一端与传送带b(7)左端紧密连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机辅助给料装置,其特征在于:所述缓冲滑槽(11)的宽度略大于隔断板(9)的宽度,缓冲滑槽(11)且上表面平稳光滑。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机辅助给料装置,其特征在于:所述隔断板(9)表面光滑,转动辘轳(8)弧度面上相邻两隔断板(9)之间的弧度面光滑平稳。
7.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机辅助给料装置,其特征在于:所述小挡环(20)外弧与大挡环(19)内弧存有间隔,且每处间隔相等。
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