CN211826141U - 一种微针测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于测试治具技术领域，涉及一种省力垂直浮动式微针测试设备，包括底座、翻盖、摆动臂、拨杆、上压片和压块组件，所述翻盖上设置有摆动臂，通过转动摆动臂进而转动拨杆带动上压片，并在压块连接板与压块之间设置弹性件，达到灵活调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，避免损坏探针和刮伤PCB板；所述翻盖上端设置摆动臂，增加使用时按压翻盖的力矩，从而达到操作省力的效果。

Description

一种微针测试设备

技术领域

本实用新型属于测试治具技术领域，涉及一种浮动式微针测试设备。

背景技术

目前，现有的Socket模组与FCT微针测试治具一体化设计，PCB(Printed CircuitBoard，印制电路板)板放置后翻盖结构直接压合在待测PCB板上，直接接触探针连接信号测试；放置PCB板后，PCB板测点与探针直接接触，容易损坏探针且易刮伤PCB板。现有的Socket翻转盖板结构下压测试PCB板时容易出现压块与PCB板不垂直的情况，导致PCB板出现损坏的现象，并且在PCB板测点多时，按压Socket翻转盖板需要更大的压力。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种省力垂直浮动式微针测试设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种微针测试设备，包括底座，所述底座前端设置有下卡槽，与所述底座另一端连接的翻盖，所述翻盖上端设置有一摆动臂，所述摆动臂一端设置有拨杆，所述翻盖前端设置有上压片，所述上压片上部设置有轴承，所述上压片下部设置有上卡勾，所述摆动臂与轴承活动连接，所述翻盖内设置有压块组件。

进一步地，所述翻盖通过第一连接件与所述底座活动相连，所述翻盖绕第一连接件进行上下旋转。

进一步地，所述摆动臂通过第二连接件活动设置于所述翻盖上端的中间位置，所述摆动臂的长度大于第二连接件至翻盖前端的距离。

进一步地，所述上压片下端外侧设置有收纳槽。

进一步地，所述拨杆固定设置于所述摆动臂前端下侧位置，所述拨杆处于开启状态时，所述拨杆与所述轴承活动连接；所述拨杆处于关闭状态时，所述拨杆放置于收纳槽内。

进一步地，在所述翻盖水平时，所述上压片的轴承高度和所述第二连接件的高度相同。

进一步地，所述上压片通过第三连接件与所述翻盖活动连接，所述上压片与所述翻盖之间横向设置有第一弹性件，所述第一弹性件位于所述第三连接件的上部。

进一步地，所述压块组件包括压块连接板、压块和导轴结构，所述压块连接板与所述压块设置于所述翻盖下端内部，所述压块连接板设置于所述压块之上，所述压块连接板与所述压块之间设置有第二弹性件。

进一步地，所述导轴结构包括导轴和第三弹性件，所述第三弹性件围绕所述导轴设置。

进一步地，所述导轴结构设置于所述翻盖内部，位于所述上压片与所述压块之间。

本实用新型的有益效果：本实用新型通过在压块连接板与压块之间设置弹性件，达到灵活调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，避免损坏探针和刮伤PCB板；所述翻盖上端设置摆动臂，增加使用时按压翻盖的力矩，从而达到操作省力的效果。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。

在附图中：

图1为本实用新型实施例所述的微针测试设备结构示意图；

图2为本实用新型实施例所述的微针测试设备截面结构示意图；

图3为图2中的局部放大结构示意图；

图4为图2中的另一个局部放大结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面对本实用新型的实施例作详细说明，本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本实用新型的保护范围不限于下述的实施例。

如图1-2所示，一种微针测试设备，包括底座1，所述底座1前端设置有下卡槽，与所述底座1另一端连接的翻盖2，所述翻盖2上端设置有一摆动臂3；所述摆动臂3一端设置有拨杆4，所述翻盖2前端设置有上压片5，所述上压片 5上部设置有轴承51，所述上压片5下部设置有上卡勾52，所述摆动臂3与轴承51活动连接；所述翻盖2内设置有压块组件，所述压块组件包括压块连接板 61、压块62和导轴631结构，用于翻转固定待测试的印制电路板。具体地，所述微针测试设备用于检测PCB板，所述测试设备包括底座1，所述底座1上通过螺丝固定于无线板上，所述底座1的前端设置有一下卡槽，所述下卡槽的宽度能完全收纳所述上卡勾52，用于底座1与翻盖2闭合对PCB板进行测试。

更具体地，所述底座1的另一端即后端位置设置有翻盖2，所述翻盖2的形状大小与底座1相当，所述翻盖2与所述底座1闭合后，对PCB板进行测试；所述翻盖2的上端位置设置有所述摆动臂3，通过所述摆动臂3对翻盖2进行上下翻转的操作，所述摆动臂3设置于所述翻盖2的中间位置，使得按压摆动臂3 时同时按压所述翻盖2，增加了摆动臂3按压翻盖2时的力矩达到按压翻盖2时省力的效果；所述摆动臂3的后侧固定有一凸轮，所述凸轮用于在所述翻盖2 闭合后对所述压块连接板61进行按压，所述摆动臂3的前端固定有一拨杆4，所述拨杆4固定于所述摆动臂3的下侧内部，所述拨杆4与轴承51的连接处有一凹槽，所述凹槽用于放置所述轴承51，放止翻盖2开启翻转时轴承51脱落。

进一步地，所述翻盖2前端设置有上压片5，所述上压片5为V形，所述上压片5上部设置有轴承51，所述轴承51设置于所述上压片5上部的中间位置,所述轴承51放置于所述凹槽内与所述摆动臂3活动连接；所述上压片5下部内侧设置有上卡勾52，在翻盖2闭合时，所述上卡勾52固定于所述下卡槽内。

更进一步地，如图3所示，所述翻盖2内设置有压块组件，所述压块组件包括压块连接板61、压块62和导轴631结构，所述压块连接板61与所述压块 62之间通过第二弹性件64进行活动连接；所述翻盖2闭合时，所述摆动臂3通过凸轮对所述压块连接板61进行整体按压，所述第二弹性件64调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，避免损坏探针和刮伤PCB板；所述导轴 631结构设置于所述翻盖2前侧，用于保证所述压块62垂直下压测试PCB板，所述压块组件用于翻转固定待测试的印制电路板，所述第二弹性件可以是软性弹片或者弹簧。

如图2所示，所述翻盖2通过第一连接件21与所述底座1活动相连，所述翻盖2绕第一连接件21进行上下旋转，具体地，所述翻盖2通过所述第一连接件21活动连接于所述底座1后侧，所述第一连接件21优选的是螺栓，使得所述翻盖2绕螺栓进行上下旋转。

如图2所示，所述摆动臂3通过第二连接件31活动设置于所述翻盖2上端的中间位置，所述摆动臂3的长度大于第二连接件31至翻盖2前端的距离，具体地，所述摆动臂3活动设置于所述翻盖2上端面的中间位置，所述摆动臂3 通过后侧的凸轮与所述翻盖2活动连接，所述第二连接件31优选的是螺栓，使得所述摆动臂3绕第二连接件31进行上下旋转。

如图1所示，所述上压片5下端外侧设置有收纳所述拨杆4的收纳槽53，具体地，所述上压片5下端外侧面设置有一收纳槽53，在所述翻盖2闭合时，所述摆动臂3的拨杆4收纳进所述收纳槽53内，并且，在摆动臂3继续旋转下压时，所述上卡勾52受到第一弹性件55的推力，所述上卡勾52与所述下卡槽卡合，从而实现卡合过程中操作省力。

如图1所示，所述拨杆4固定设置于所述摆动臂3前端下侧位置，所述拨杆4处于开启状态时，所述拨杆4与所述轴承51活动连接；所述拨杆4处于关闭状态时，所述拨杆4放置于所述收纳槽53内，具体地，所述拨杆4一端固定设置于所述摆动臂3前端下侧位置，所述拨杆4的另一端与所述轴承51活动连接，所述拨杆4处于开启状态时，所述拨杆4的凹槽与所述轴承51活动连接，在所述拨杆4逐渐向下按压的过程中，所述拨杆4向下移动，所述轴承51沿拨杆4相对向上移动；在所述拨杆4处于关闭状态时，所述拨杆4一端放置于所述收纳槽53内。

如图1所示，在所述翻盖2水平时，所述上压片5的轴承51高度和所述第二连接件的高度相同，具体地，所述上压片5的轴承51高度和所述第二连接件的高度相同，所述摆动臂3到第二连接件31的距离大于所述轴承51到第三连接件54的距离，在按压摆动臂3时使得所述摆动臂3的力矩大于所述轴承51 的力矩，已达到按压操作省力的目的。

如图2所示，所述上压片5通过第三连接件54与所述翻盖2活动连接，所述上压片5与所述翻盖2之间横向设置有第一弹性件55，所述第一弹性件55位于所述第三连接件54的上部，具体地，所述上压片5通过第三连接件54与所述翻盖2进行活动连接，所述第三连接件54的位置位于所述翻盖2前端，所述上压片5与所述翻盖2之间横向设置有第一弹性件55，所述第一弹性件55位于所述第三连接件54上侧位置，在所述上卡勾52未与所述下卡槽闭合时，所述第一弹性件55的推力推动所述上压片5的上卡勾52一侧翘起，避免向下按压所述摆动臂3时，出现所述上卡勾52难以与所述下卡槽时卡合的情况，所述第一弹性件可以是软性弹片或者弹簧。

如图2所示，所述压块连接板61与所述压块62设置于所述翻盖2下端内部，所述压块连接板61设置于所述压块62之上，所述压块连接板61与所述压块62之间设置有第二弹性件64，具体地，所述压块连接板61与所述压块62设置于所述翻盖2下端内部，所述压块连接板61设置于所述压块62上方，按压所述摆动臂3时，所述凸轮先向下挤压所述压块连接板61，所述压力连接板通过与所述压块62活动连接的第二弹性件64传递向下的压力，推动所述压块62 向下接触待测PCB板，所述压块连接板61与所述压块62之间的第二弹性件64，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤 PCB板。

如图4所示，所述导轴结构包括导轴631和第三弹性件632，所述第三弹性件632围绕所述导轴631设置，具体地，所述导轴结构包括导轴631和第三弹性件632，所述导轴631竖向设置于所述翻盖2内，所述导轴631围绕所述压块 62四周设置，用于保证所述压块62垂直下压测试PCB板，所述第三弹性件632 围绕所述导轴631设置，垂直方向调节对PCB板的压力，所述第三弹性件可以是软性弹片或者弹簧。

如图2所示，所述导轴结构设置于所述翻盖2前端内部，位于所述上压片5 与所述压块62之间，具体地，所述导轴结构设置于所述翻盖2前端内部，横向方向位于所述上压片5与所述压块62之间。

具体实施时，将PCB板放置于载板内，翻盖2旋转下压，继续旋转下压翻盖2,压块62接触到测试PCB，由于拨杆4与轴承51接触，所述上压片5以旋转的方式与底座1卡入；当摆动臂3继续旋转下压时，上卡勾52受到第一弹性件55的推力，与下卡槽卡合住，从而实现了上卡勾52卡合过程的操作省力。

同时，随着摆动臂3继续旋转下压,所述摆动臂3的凸轮驱动压块连接板61 向下压，下压过程中通过导轴631结构的垂直导向，保证了下压时方向保持垂直，并通过第二弹性件64转接驱动压块62下压测试PCB板，由于所述摆动臂3 到第二连接件31的距离大于所述轴承51到第三连接件54的距离，在按压摆动臂3时使得所述摆动臂3的力矩大于所述轴承51的力矩，从而实现了下压测试 PCB板的过程中操作省力。

测试完成后，开启摆动臂3，拨杆4开始与轴承51接触，继续打开摆动臂 3，拨杆4带动上卡勾52绕第三连接件54旋转与下卡槽脱离，所述摆动臂3到所述第三连接件54的距离大于所述上卡勾52到所述第三连接件54的距离，从而实现了卡勾打开时操作省力。

以上所述的实施例，只是本实用新型的较优选的具体方式之一，本领域的技术员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1.一种微针测试设备，其特征在于:包括底座，所述底座前端设置有下卡槽，与所述底座另一端连接的翻盖，所述翻盖上端设置有一摆动臂，所述摆动臂一端设置有拨杆，所述翻盖前端设置有上压片，所述上压片上部设置有轴承，所述上压片下部设置有上卡勾，所述摆动臂与轴承活动连接，所述翻盖内设置有压块组件。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于:所述翻盖通过第一连接件与所述底座活动相连，所述翻盖绕第一连接件进行上下旋转。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于:所述摆动臂通过第二连接件活动设置于所述翻盖上端的中间位置，所述摆动臂的长度大于第二连接件至翻盖前端的距离。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于:所述上压片下端外侧设置有收纳槽。

5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于:所述拨杆固定设置于所述摆动臂前端下侧位置，所述拨杆处于开启状态时，所述拨杆与所述轴承活动连接；所述拨杆处于关闭状态时，所述拨杆放置于收纳槽内。

6.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于:在所述翻盖水平时，所述上压片的轴承高度和所述第二连接件的高度相同。

7.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于:所述上压片通过第三连接件与所述翻盖活动连接，所述上压片与所述翻盖之间横向设置有第一弹性件，所述第一弹性件位于所述第三连接件的上部。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于:所述压块组件包括压块连接板、压块和导轴结构，所述压块连接板与所述压块设置于所述翻盖下端内部，所述压块连接板设置于所述压块之上，所述压块连接板与所述压块之间设置有第二弹性件。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于:所述导轴结构包括导轴和第三弹性件，所述第三弹性件围绕所述导轴设置。

10.根据权利要求9所述的测试设备，其特征在于:所述导轴结构设置于所述翻盖内部，位于所述上压片与所述压块之间。

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