CN210401475U - 一种垂直下压浮动式微针测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试治具技术领域，涉及一种垂直下压浮动式微针测试设备，包括底座，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，与所述底座一端连接的翻盖，所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，通过旋转轴在限位槽相对位移，保证了压块组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块上增加导向块和在载板上增加导向槽，进一步保证压块下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件转接驱动压块下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

Description

一种垂直下压浮动式微针测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，涉及一种垂直下压浮动式微针测试设备。

背景技术

目前，现有的Socket模组与FCT微针测试治具一体化设计，PCB（Printed CircuitBoard，印制电路板）板放置后翻盖结构直接压合在待测PCB板上，直接接触探针连接信号测试；放置PCB板后，PCB板测点与探针直接接触，容易损坏探针且易刮伤PCB板。现有的Socket翻转盖板结构下压测试PCB板时容易出现压块与PCB板不垂直的情况，导致PCB板出现损坏的现象，使得探针的使用寿命降低，提高了生产成本。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种垂直下压浮动式微针测试设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种微针测试设备，包括底座以及与所述底座一端连接的翻盖，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，所述底座另一侧设置有无线板；所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，所述压块组件包括压块转接板、压块和导轴件。

进一步地，所述测试组件包括针板、载板和测试板，所述载板靠近所述底座一侧设置有针板，所述载板远离所述底座一侧设置有测试板。

进一步地，所述载板上设置有导向槽。

进一步地，所述翻盖靠近所述无线板一侧通过第一连接件与所述底座活动连接。

进一步地，所述翻盖两侧设置有限位槽。

进一步地，所述压块组件两侧对称设置有旋转轴，所述压块组件通过所述旋转轴活动连接于限位槽内。

进一步地，所述上卡勾通过第二连接件与所述翻盖活动连接。

进一步地，所述压块转接板与所述压块设置于所述翻盖靠近所述底座一侧，所述压块转接板靠近所述翻盖一侧，所述压块靠近所述底座一侧。

进一步地，所述压块转接板与所述压块通过导轴件连接，所述压块转接板与所述压块之间设置有弹性件。

进一步地，所述压块靠近所述底座一侧设置有导向块。

本实用新型的有益效果：本实用新型通过旋转轴在限位槽相对位移，保证了压块组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块上增加导向块和在载板上增加导向槽，进一步保证压块下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件转接驱动压块下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。

在附图中：

图1为本实用新型实施例所述的微针测试设备整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例所述的翻盖结构示意图；

图3为本实用新型实施例所述的压块组件结构示意图；

图4为本实用新型实施例所述的压块组件正视示意图；

图5为本实用新型实施例所述的微针测试设备剖面示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体地限定。

在本实用新型实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面对本实用新型的实施例作详细说明，本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体地操作过程，但本实用新型的保护范围不限于下述的实施例。

如图1-图5所示，一种微针测试设备，包括底座1，所述底座1上设置有测试组件，所述底座1一侧设置有下卡勾4，所述底座1另一侧设置有无线板3，与所述底座1一端连接的翻盖5，所述翻盖5上端设置有一上卡勾6，所述翻盖5内设置有压块72组件，所述压块72组件包括压块转接板71、压块72和导轴件73。具体地，所述微针测试设备用于检测PCB板，所述测试设备包括底座1，所述底座1上通过螺丝固定于无线板3上，所述底座1一侧设置有下卡勾4，用于底座1与翻盖5闭合对PCB板进行测试。

更具体地，所述底座1的另一端即后端位置设置有翻盖5，所述翻盖5的形状大小与底座1相当，所述翻盖5与所述底座1通过上卡勾6与下卡勾4闭合后，对PCB板进行测试。

如图1和图5所示，所述测试组件包括针板21、载板22和测试板23，所述载板22靠近所述底座1一侧设置有针板21，所述载板22远离所述底座1一侧设置有测试板23。具体地，所述针板21设置于所述底座1之上，所述载板22上设有测试板23，当翻盖压合所述载板22后，所述针板21上的探针露出与PCB测试点接触，进一步提高探针使用寿命，降低成本。

如图1所示，所述载板22上设置有导向槽221。在其中一个实施例中，所述导向槽221设置于所述载板22靠近所述翻盖5一侧，即所述导向槽221设置于所述载板22上表面，所述导向槽221对称设置于所述载板22两侧，用于使得所述翻盖5通过导向块721垂直落入所述导向槽221内。在一些其他实施例中，所述导向槽221的形状深度与所述导向块721相吻合，使得翻盖5下压测试时保持垂直。

如图1所示，所述翻盖5靠近所述无线板3一侧通过第一连接件51与所述底座1活动连接。具体地，所述翻盖5绕第一连接件51进行上下旋转，所述翻盖5通过所述第一连接件51活动连接于所述底座1后侧；在一个实施例中，所述第一连接件51包括螺栓和按压弹簧，通过将螺栓穿过按压弹簧连接所述翻盖5和所述底座1，使得翻盖5绕螺栓进行上下旋转过程中，增加弹力以达到省力的效果。

如图2所示，所述翻盖5两侧设置有限位槽52。具体地，所述限位槽52用于放置旋转轴711，进而使得所述压块72组件活动连接于所述翻盖5内；在本实施例中，所述限位槽52的形状为水滴形，使得压块72组件随着旋转轴711移动重心发生偏转，压块72组件在下压过程中由像右端倾斜转向水平，从而达到下压时保持垂直状态。

如图3-图4所示，所述压块72组件两侧对称设置有旋转轴711，所述压块72组件通过所述旋转轴711活动连接于限位槽52内。具体地，所述旋转轴711对称设置于所述压块转接板71两侧，在一些实施例中，所述旋转轴711可以选择螺丝，所述压块72组件通过所述旋转轴711活动连接于限位槽52内。

如图5所示，所述上卡勾6通过第二连接件61与所述翻盖5活动连接。具体地，所述第二连接件61包括螺栓和弹性件74，所述上卡勾6通过螺栓与所述翻盖5活动连接，所述上卡勾6与所述翻盖5之间横向设置有弹簧，弹簧位于螺栓的上侧位置，所述上卡勾6与所述下卡勾4闭合时，在弹簧的弹力作用下，所述上卡勾6稳定的与所述下卡勾4闭合，防止在测试过程中，翻盖5出现开启的情况。

如图5所示，所述压块转接板71与所述压块72设置于所述翻盖5靠近所述底座1一侧，所述压块转接板71靠近所述翻盖5一侧，所述压块72靠近所述底座1一侧。具体地，所述压块转接板71与所述压块72设置于所述翻盖5下端内部，所述压块转接板71设置于所述压块72上方。

如图4所示，所述压块转接板71与所述压块72通过导轴件73连接，所述压块转接板71与所述压块72之间设置有弹性件74。具体地，所述导轴件73包括螺丝与螺母，通过螺丝将所述连接板与所述压块72连接，所述压块转接板71与所述压块72之间设置有弹簧。更具体地，按压所述翻盖5时，所述压力连接板通过与所述压块72活动连接的二弹簧传递向下的压力，推动所述压块72向下接触待测PCB板，所述压块转接板71与所述压块72之间的弹簧，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

如图3所示，所述压块72靠近所述底座1一侧设置有导向块721。具体地，所述导向块721设置于所述压块72靠近所述底座1一侧，即所述导向块721设置于所述压块72下表面，所述导向块721对称设置于所述压块72两侧，用于使得所述翻盖5通过导向块721垂直落入所述导向槽221内。

具体实施时，将PCB板放置于载板22内，翻盖5旋转下压，压块72接触到测试PCB，下压过程中通过旋转轴711在限位槽52相对位移，保证了压块72组件下压时方向保持垂直，由于分别在压块72上增加导向块721和在载板22上增加导向槽221，进一步保证压块72下压测试PCB时保持垂直，测试PCB不会横向移位，确保测试过程的稳定，并通过弹性件74转接驱动压块72下压测试PCB板，调节对PCB板的压力，防止PCB板直接与探针接触，从而避免损坏探针和刮伤PCB板。

以上所述的实施例，只是本实用新型的较优选的具体方式之一，本领域的技术员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1.一种微针测试设备，其特征在于：包括底座以及与所述底座一端连接的翻盖，所述底座上设置有测试组件，所述底座一侧设置有下卡勾，所述底座另一侧设置有无线板；所述翻盖上端设置有一上卡勾，所述翻盖内设置有压块组件，所述压块组件包括压块转接板、压块和导轴件。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述测试组件包括针板、载板和测试板，所述载板靠近所述底座一侧设置有针板，所述载板远离所述底座一侧设置有测试板。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于：所述载板上设置有导向槽。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述翻盖靠近所述无线板一侧通过第一连接件与所述底座活动连接。

5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述翻盖两侧设置有限位槽。

6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述压块组件两侧对称设置有旋转轴，所述压块组件通过所述旋转轴活动连接于限位槽内。

7.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述上卡勾通过第二连接件与所述翻盖活动连接。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述压块转接板与所述压块设置于所述翻盖靠近所述底座一侧，所述压块转接板靠近所述翻盖一侧，所述压块靠近所述底座一侧。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于：所述压块转接板与所述压块通过导轴件连接，所述压块转接板与所述压块之间设置有弹性件。

10.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述压块靠近所述底座一侧设置有导向块。

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