CN109696601B - 针床老化及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种针床老化及检测装置，包括上夹具、下夹具、升降驱动机构、导通件和绝缘件，所述上夹具包括多个第一转接针，所述多个第一转接针与待测针床的多个弹簧针一一对应；所述下夹具设置于所述上夹具的下方，所述下夹具包括多个第二转接针，所述多个第二转接针与待测针床的多个弹簧针一一对应，且第二转接针与电路测试机构连接；所述升降驱动机构连接于所述上夹具；所述导通件设置于所述上夹具上，用于将所述多个第一转接针导通；所述绝缘件可移除的设置于所述上夹具和所述下夹具之间，用于阻隔第一转接针与待测针床的弹簧针之间的连接。本发明能够提供的针床老化及检测装置，既能够对针床进行老化，又能够对针床进行开短路检测。

Description

针床老化及检测装置

技术领域

本发明涉及老化装置技术领域，尤其涉及一种针床老化及检测装置。

背景技术

在高阶电子产品领域，高精机是专门用于测试PCB板的测试机，针床是高精机中的重要组成部分，且针床的安装和调试所需要的时间较长，针床安装调试完成后，一旦发现针床的弹簧针损坏、有开路或短路等情况，就需要较长的时间进行更改，会严重影响及其的生产进度。因此，在针床安装之前，需要对针床进行老化以及开短路检测，确保针床能够长时间地正常使用。

而高精机自身的结构并不适合对针床做老化，且目前没有其他装置能够同时对针床进行老化及开短路检测。因此，需要提供一种专门用于针床的老化及检测装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种针床老化及检测装置，既能够对针床进行老化，又能够对针床进行开短路检测。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种针床老化及检测装置，包括：

上夹具，所述上夹具包括多个第一转接针，所述多个第一转接针与待测针床的多个弹簧针一一对应；

升降驱动机构，所述升降驱动机构连接于所述上夹具；

下夹具，设置于所述上夹具的下方，所述下夹具包括多个第二转接针，所述多个第二转接针与待测针床的多个弹簧针一一对应，且第二转接针与电路测试机构连接；

导通件，设置于所述上夹具上，用于将所述多个第一转接针导通；

绝缘件，可移除的设置于所述上夹具和所述下夹具之间，用于阻隔第一转接针与待测针床的弹簧针之间的连接。

进一步的，还包括64PIN牛角连接器，所述第二转接针通过导线与所述64PIN牛角连接器连接，所述64PIN牛角连接器用于与所述电路测试机构连接。

进一步的，所述电路测试机构包括相连接的自动测试模块和反馈模块，所述自动测试模块用于提供测试信号并获取测试结果，所述反馈模块用于将所述测试结果进行显示。

进一步的，还包括自动控制机构，所述自动控制机构分别与所述升降驱动机构和所述电路测试机构连接。

进一步的，所述升降驱动机构包括气缸和连接头，所述气缸的活塞杆通过所述连接头连接于所述上夹具。

进一步的，所述待测针床的顶侧设置有第一定位部，所述上夹具上对应设置有第二定位部，所述第一定位部与第二定位部相配合。

进一步的，所述第一定位部为定位销钉，所述第二定位部为定位孔。

进一步的，所述待测针床的底侧设置有第三定位部，所述下夹具上对应设置有第四定位部，所述第三定位部与所述第四定位部相配合。

进一步的，所述第三定位部为定位柱，所述第四定位部为定位孔。

进一步的，所述导通件与所述上夹具可拆卸连接。

实施本发明实施例，将具有如下有益效果：

使用上述针床的老化及检测装置，既能够对针床进行老化，又能够对针床进行开短路检测，需要对针床进行老化时，可将绝缘件移除，把待测针床放置在下夹具上，使下夹具的第二转接针与待测针床的弹簧针一一对应接触，然后升降驱动机构带动上夹具进行反复的上下移动，使第一转接针与待测针床的弹簧针进行反复的接触、分离，使得弹簧针能够进行多次地压缩、复位，从而实现待测针床的老化过程；需要进行开路检测时，使导通件连通所有第一转接针，电路测试机构即可对针床进行开路检测；需要进行短路检测时，将绝缘件放置于待测针床上，避免第一转接针与待测针床的弹簧针接触，电路测试机构即可对针床进行短路检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为本发明实施例的针床的老化及检测装置的整体结构示意图；

图2为本发明实施例的上夹具的结构示意图；

图3为本发明实施例的下夹具的结构示意图；

图4为本发明实施例的针床的结构示意图；

标号说明：

1、机架；

2、升降驱动机构；21、气缸；22、连接头；

3、上夹具；31、上固定座；32、上转接板；33、第一转接针；34、第二定位部；

4、下夹具；41、下固定座；42、下转接板；43、第二转接针；44、第四定位部；45、64PIN牛角连接器；

5、针床；51、弹簧针；52、第一定位部；53、第三定位部；

6、电路测试机构；

7、自动控制机构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果所述特定姿态发生改变时，则所述方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个所述特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

请参照图1，本发明的实施例为：一种针床老化及检测装置，用于高精机中的针床5的老化以及开短路检测。

该针床老化及检测装置包括机架1、升降驱动机构2、上夹具3和下夹具4，升降驱动机构2设置于机架1的顶部，升降驱动机构2的动力输出端连接于上夹具3，用于驱动上夹具3进行上下移动。

在一个实施例中，升降驱动机构2包括气缸21和连接头22，气缸21的活塞杆朝下设置，且活塞杆通过连接头22连接于上夹具3。

如图2所示，上夹具3包括上固定座31、上转接板32和多个第一转接针33，上固定座31连接于转接头，上转接板32固定于上固定座31的底侧，多个第一转接针33设置于上转接板32上，且第一转接针33的底端露出上转接板32的底侧面。

可以理解的是，在上夹具3中，上转接板32的数目可以为一个以上，每个上转接板32上的第一转接针33的数量与待测针床5的弹簧针51的数量相同，且第一转接针33之间的间隔布局与弹簧针51之间的间隔布局也相同。在本实施例中，上转接板32的数目为两个。

请结合参考图3，下夹具4设置于上夹具3的正下方，下夹具4包括下固定座41、下转接板42和多个第二转接针43，下固定座41固定于机架1的底部，下转接板42固定于下固定座41的顶侧，多个第二转接针43设置于下转接板42上，且第二转接针43的顶端露出转接板的顶侧面。

可以理解的是，在下夹具4中，下转接板42的数目与上转接板32的数目相同，每个下转接板42上的第二转接针43的数量与待测针床5的弹簧针51的数量相同，且第二转接针43之间的间隔布局与弹簧针51之间的间隔布局也相同。在本实施例中，下转接板42的数目为两个。本实施例的针床老化及检测装置能够同时对两个针床5进行老化和开短路检测，提高了针床5的老化和检测效率。

在其他实施例中，上转接板32和下转接板42的数目可以为两个以上。

将待测针床5放置于下夹具4上，待测针床5的各个弹簧针51的底端能够与下夹具4上的第二转接针43一一对应接触。升降驱动机构2带动上夹具3下移，待测针床5的各个弹簧针51的顶端能够与上夹具3上的第一转接针33一一对应接触。需要对针床5进行老化时，把待测针床5放置在下夹具4上，使下夹具4的第二转接针43与待测针床5的弹簧针51一一对应接触，然后升降驱动机构2带动上夹具3进行反复的上下移动，使第一转接针33与待测针床5的弹簧针51进行反复的接触、分离，使得弹簧针51能够进行多次地压缩、复位，从而实现待测针床5的老化过程。

如图4所示，待测针床5的顶侧设置有第一定位部52，上转接板32上对应设置有第二定位部，第一定位部52与第二定位部相配合。升降驱动机构2带着上夹具3进行下移时，待测针床5上的第一定位部52能够与上转接板32上的第二定位部逐渐配合，从而保证第一转接针33与弹簧针51的顶端能够准确地对应接触。在本实施例中，第一定位部52为定位销钉，第二定位部为定位孔。

同时，待测针床5的底侧设置有第三定位部53，下转接板42上对应设置有第四定位部44，第三定位部53与第四定位部44相配合。将待测针床5放置于下夹具4上时，使第三定位部53对准第四定位部44，即可保证第二转接针43与弹簧针51的底端能够准确地对应接触。在本实施例中，第三定位部53为定位柱，第四定位部44为定位孔。

该针床5的老化及检测装置还包括导通件(导通件在图中未示)，导通件可拆卸的设置于上夹具3上，导通件用于将上夹具3上的多个第一转接针33全部导通。下夹具4还包括64PIN牛角连接器45，第二转接针43通过导线与64PIN牛角连接器45连接，64PIN牛角连接器45用于与电路测试机构6连接，电路测试机构6设置于机架1内。具体的，电路测试机构6包括相连接的自动测试模块和反馈模块，所述自动测试模块用于提供测试信号并获取测试结果，所述反馈模块用于将所述测试结果进行显示。

当需要测试针床5的开路情况时，将导通件放置于上夹具3上，使各个第一转接针33处于全部连通的状态，然后升降驱动机构2带动上夹具3下移，第一转接针33与定位于下夹具4上的针床5的弹簧针51接触，如此，每个弹簧针51都处于一个回路当中，电路测试机构6即可对针床5进行开路检测，若有某个弹簧针51出现问题，电路检测机构即可准确检测出该弹簧针51的异常。

可以理解的是，在需要对针床5进行开路检测时，可将导通件设置于上夹具3上，使全部的第一转接针33导通；不需要对针床5进行开路检测时，可将导通件拆除。当然的，导通件也可以一直设置在上夹具3上，使全部第一转接针33一直处于导通状态。

导通件为板状或者片状，导通件的面积须确保能够覆盖所有的第一转接针33。

该针床5的老化及检测装置还包括绝缘件(绝缘件在图中未示)，绝缘件可移除的设置于上夹具3和下夹具4之间，用于阻隔第一转接针33与待测针床5的弹簧针51之间的连接。当需要测试针床5的短路情况时，将绝缘件设置于上夹具3的底侧，避免第一转接针33与待测针床5的弹簧针51相接触，如此，每个弹簧针51都处于开路状态，电路测试机构6可对针床5进行短路检测，若某两个弹簧针51变形，两者之间发生接触，则电路检测机构即可准确地检测出该弹簧针51的异常。当不需要测试针床5的短路情况(例如在老化过程中)时，可将绝缘件移除。

绝缘件为板状或者片状，绝缘件的面积须确保能够覆盖所有的第一转接针33的底端或者覆盖针床5所有的弹簧针51的顶端。

该针床5的老化及检测装置还包括自动控制机构7，自动控制机构7分别与升降驱动机构2和电路测试机构6连接，通过该自动控制机构7可实现老化以及开短路测试的自动化过程。

综上所述，本发明提供的针床5的老化及检测装置既能够对针床5进行老化，使针床5的弹簧针51反复被压缩、复位，以检验针床5是否能够达到寿命要求；同时该装置还能够对针床5进行开路和短路检测，能够有效保证针床5安装前的质量。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种针床老化及检测装置，其特征在于，包括：

上夹具，所述上夹具包括多个第一转接针，所述多个第一转接针与待测针床的多个弹簧针一一对应；

升降驱动机构，所述升降驱动机构连接于所述上夹具；

下夹具，设置于所述上夹具的下方，所述下夹具包括多个第二转接针，所述多个第二转接针与所述多个第一转接针一一对应，且第二转接针与电路测试机构连接；

导通件，设置于所述上夹具上，用于将所述多个第一转接针导通；以及

绝缘件，可移除的设置于所述上夹具和所述下夹具之间，用于阻隔所述第一转接针与待测针床的弹簧针之间的连接。

2.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，还包括64PIN牛角连接器，所述第二转接针通过导线与所述64PIN牛角连接器连接，所述64PIN牛角连接器用于与所述电路测试机构连接。

3.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述电路测试机构包括相连接的自动测试模块和反馈模块，所述自动测试模块用于提供测试信号并获取测试结果，所述反馈模块用于将所述测试结果进行显示。

4.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，还包括自动控制机构，所述自动控制机构分别与所述升降驱动机构和所述电路测试机构连接。

5.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述升降驱动机构包括气缸和连接头，所述气缸的活塞杆通过所述连接头连接于所述上夹具。

6.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述待测针床的顶侧设置有第一定位部，所述上夹具上对应设置有第二定位部，所述第一定位部与第二定位部相配合。

7.如权利要求6所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述第一定位部为定位销钉，所述第二定位部为定位孔。

8.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述待测针床的底侧设置有第三定位部，所述下夹具上对应设置有第四定位部，所述第三定位部与所述第四定位部相配合。

9.如权利要求8所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述第三定位部为定位柱，所述第四定位部为定位孔。

10.如权利要求1所述的针床老化及检测装置，其特征在于，所述导通件与所述上夹具可拆卸连接。

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