CN214750470U - 一种手动控制的翻盖式测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种手动控制的翻盖式测试装置，涉及产品测试技术领域。该测试装置包括测试装置包括卡扣(1)、翻盖(2)、探针模组(3)、产品定位块(4)、底座(5)、转轴(6)；其中，卡扣(1)固定在翻盖(2)上，翻盖(2)通过转轴(6)与底座(5)装配在一起，并能旋转一定角度，探针模组(3)固定在底座(5)上，产品定位块(4)与底座(5)通过滑动配合装配在一起。本测试装置为纯手动操作，可实现动作的递进式进行，装置结构简单、零部件少、成本低，操作简单易行，工作效率高，可以很好地应用于产品测试领域。

Description

一种手动控制的翻盖式测试装置

技术领域

本实用新型属于产品测试技术领域，具体涉及一种手动控制的翻盖式测试装置。

背景技术

现有的探针测试装置都基于垂直方向下压来防止待测产品被划伤，但其通常为非翻盖式的夹具机构。这种设备在取放待测产品时需要不断将上盖取下，操作较为繁琐，也耽误了工作效率。而现有技术中翻盖设计的探针测试装置，翻盖在扣合时，与底座之间不可避免的存在一个旋转夹角，靠近旋转轴的一端会最先接触待测产品，存在着压伤待测产品、探针将待测产品划伤、待测产品发过来损坏探针、影响探针使用寿命的风险。

如中国专利申请203376355U公开了一种PCB板测试夹具：包括支撑结构、翻盖结构、锁紧结构和数据采集针，所述框体是由上顶板、下底板和四块侧板围成的容置空间，所述脚垫设置于框体的底部起缓冲作用，所述翻盖结构包括两个固定座和盖板，所述盖板通过销钉与所述固定座活动连接，所述锁紧结构包括安装块和锁扣，所述锁扣通过销钉固定在安装块上，所述数据采集针固定在上顶板上。当所述盖板扣合后，所述数据采集针与待测PCB板上的测试位置电连接；该实用新型结构简单，操作方便，能够快速、准确的完成PCB板的性能测试，提高了测试效率和安全性。但是，该PCB板测试夹具缺乏垂直下压的功能，因此在翻盖下压的过程中很容易就造成探针变歪，从而导致使用寿命降低，甚至会造成待测产品的损坏。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术存在的问题，提供了一种手动控制的翻盖式测试装置。本实用新型测试装置纯手动操作，可实现动作的递进式进行：先固定待测产品，再接触探针，最后固定机构实现自锁。本测试装置结构简单、零部件少、成本低，操作简单易行，工作效率高，可以很好地应用于产品测试领域。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种测试装置，包括卡扣(1)、翻盖(2)、探针模组(3)、产品定位块(4)、底座(5)、转轴(6)；其中，卡扣(1)固定在翻盖(2)上，翻盖(2)通过转轴(6)与底座(5)装配在一起并能旋转，探针模组(3)固定在底座(5)上，产品定位块(4)与底座(5)通过滑动配合装配在一起。

进一步地，所述的测试装置工作时，待测产品(7)放在产品定位块(4)内进行定位并跟随产品定位块(4)一起滑动，默认状态下待测产品(7)处于最高位置，探针模组(3)完全处于产品定位块(4)下方。

进一步地，所述的测试装置的探针模组(3)的具体结构为：6-12支探针呈矩阵排列，探针高度28.0-35.0mm。

进一步地，所述的测试装置的翻盖(2)与底座(5)之间所能成最大角度为90°。

进一步地，所述的测试装置中，探针模组(3)的垂直运动行程为2.0-3.0mm；产品定位块(4)的垂直运动行程为15.0-20.0mm。

进一步地，垂直下压产品机构与翻盖机构是相互独立的机构，产品(7)放在产品定位块(4)内，盒盖时通过翻盖(2)作用到产品(7)上的力传导至垂直下压机构实现

测试开始前，因探针自身带有一定的垂直运动行程，为了保护探针不被待测产品碰到而损坏，也避免探针与待测产品接触从而刮花碰上待测产品，待测产品(7)在放入产品定位块(4)时必须避开探针；

测试时，待测产品(7)需要保持与探针模组(3)的持续接触，因探针自身带有一定的垂直运动行程，待测产品已避开了探针，所以此处要想保证待测产品(7)与探针进行接触，待测产品(7)必须要在固定好的状态进行垂直下压动作去接触探针，当待测产品(7)与探针接触稳定之后，还要以此状态实现自锁，维持探针与待测产品的接触，才能保证测试的稳定性；

测试完成或开始时，为了保证待测产品(7)不被夹具碰伤刮花并能精准的放入带定位功能的产品定位块(4)内，翻盖(2)必须与产品定位块(4)完全脱离并留出足够大的人工上下料空间，所以此处一定需要保证翻盖(2)能呈大范围角度与产品定位块(4)脱离。

本测试装置与现有技术相比具有以下有益效果：

1.纯手动操作，无任何自动控制部分，无任何外接设备，垂直下压待测产品即可实现两种动作的递进式进行(先固定待测产品，然后再接触探针，最后固定机构实现自锁)，操作简单高效。

2.取放待测产品时，翻盖与底座之间的开口足够大，方便操作员安全、快速、精准取放。

3.本测试装置部件机构简单，外形简约，安装、调试、维护方便；零部件数少，制作成本低。

附图说明

图1为本测试装置未放入待测产品时的立体结构示意图；

图2为本测试装置放入待测产品时的立体结构示意图；

图3为本测试装置中探针模组立体结构示意图。

附图标记：1-卡扣，2-翻盖，3-探针模组，4-产品定位块，5-底座，6-转轴，7-待测产品。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本测试装置一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

如图1-2所示，本测试装置包括卡扣(1)、翻盖(2)、探针模组(3)、产品定位块(4)、底座(5)、转轴(6)；其中，卡扣(1)固定在翻盖(2)上，翻盖(2)通过转轴(6)与底座(5)装配在一起，并能旋转一定角度，探针模组(3)如图3所示，其固定在底座(5)上，产品定位块(4)与底座(5)通过滑动配合装配在一起，待测产品(7)放在产品定位块(4)内进行定位并跟随产品定位块(4)一起滑动，默认状态下待测产品(7)处于最高位置，探针模组(3)完全处于产品定位块(4)下方。其中，探针模组(3)的具体结构为6支探针呈2×3布局排列，探针高度31.7mm；所述翻盖(2)与底座(5)之间所能成最大角度为90度；探针模组(3)的垂直运动行程为2.4mm；产品定位块(4)的垂直运动行程为17mm。

其工作流程如下：

将待测产品(7)放入产品定位块(4)内定位，下拉翻盖(2)沿转轴(6)中心旋转与待测产品进行接触并固定，实现翻盖(2)旋转角度并固定待测产品(7)动作；

继续下压翻盖(2)，翻盖(2)沿转轴(6)中心旋转带着固定好的待测产品进行垂直下压动作直至与探针模组(3)完全接触，实现探针模组安全、稳定接触待测产品，不会误触碰到待测产品其他位置产生刮花、碰伤等问题；

待测产品(7)与产品定位块(4)一起下压运动至探针模组(3)完全接触位置后，卡扣(1)与底座(5)扣合，实现自锁功能，如无外力条件施加在卡扣(1)上，整个机构将无法松脱。

以上技术特征构成了本实用新型的最佳实施例，其具有较强的适应性和最佳实施效果，可根据实际需要增减非必要技术特征，来满足不同情况的需要。最后应当说明的是，以上内容仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，本领域的普通技术人员对本实用新型的技术方案进行的简单修改或者等同替换，均不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (5)

1.一种测试装置，其特征在于：所述测试装置包括卡扣(1)、翻盖(2)、探针模组(3)、产品定位块(4)、底座(5)、转轴(6)；其中，卡扣(1)固定在翻盖(2)上，翻盖(2)通过转轴(6)与底座(5)装配在一起并能旋转，探针模组(3)固定在底座(5)上，产品定位块(4)与底座(5)通过滑动配合装配在一起。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述测试装置工作时，待测产品(7)放在产品定位块(4)内进行定位并跟随产品定位块(4)一起滑动，默认状态下待测产品(7)处于最高位置，探针模组(3)完全处于产品定位块(4)下方。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：所述探针模组(3)的具体结构为6-12支探针呈矩阵排列，探针高度28.0-35.0mm。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述翻盖(2)与底座(5)之间所能成最大角度为90°。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于：探针模组(3)的垂直运动行程为2.0-3.0mm；产品定位块(4)的垂直运动行程为15.0-20.0mm。

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