CN209919472U - 用于芯片测试编带机的打标吸盘装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，包括有一底座，该底座上表面固设有一方形固定座，该方形固定座上表面设有一转动圆盘，所述转动圆盘通过一伺服电机自下而上竖直贯穿底座与方形固定座后电机转轴与转动圆盘相连接并带动旋转，该转动圆盘上均布有四个半导体器件的放置位，通过转动圆盘的旋转实现在不同放置位的打标机构的打标工作和视觉检测系统的检测工作，该用于芯片测试编带机的打标吸盘装置结构合理，稳定高效。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于芯片测试编带机的打标吸盘装置。
背景技术
传统的打标机构一般只能够对一个半导体器件进行打标、检测、放置，完成此流程后再将下一个半导体器件放入该机构进行该流程操作，这样一一打标、检测耗费的时间长，效率低下。
实用新型内容
鉴于现有技术的不足，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，不仅结构合理，而且使用稳定高效。
为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，包括有一底座，该底座上表面固设有一方形固定座，该方形固定座上表面设有一转动圆盘，所述转动圆盘通过一伺服电机自下而上竖直贯穿底座与方形固定座后电机转轴与转动圆盘相连接并带动旋转，该转动圆盘上均布有四个半导体器件的放置位，通过转动圆盘的旋转实现在不同放置位的打标机构的打标工作和视觉检测系统的检测工作。
进一步的，半导体器件的放置位均布在近转动圆盘边缘处，且两相邻放置位与转动圆盘连线形成的角度均为90度，所述放置位中心均上下竖直贯穿转动圆盘设置有通孔，该方形固定座也上下竖直贯穿有与转动圆盘上通孔位置相对应的第二通孔。
进一步的，所述转动圆盘为逆时针旋转，随着旋转方向，转动圆盘上的放置位分别为第一放置位、第二放置位、第三放置位、第四放置位；所述第一放置位上方设置有放置半导体器件的旋转臂，所述打标机构对应设置于第三放置位上方，该视觉检测系统对应设置于第四放置位上方。
进一步的，所述方形固定座上表面朝下凹设一类环形凹槽，除位于第一放置位对应下方的第二通孔外，其余三个放置位下方的第二通孔均位于类环形凹槽内，将转动圆盘放置上后通过该类环形凹槽即形成三个第二通孔相通的空间。
进一步的，所述底座旁侧设置有四个小孔，该小孔将底座外侧的四个通气管道与第二通孔以及通孔相连通，与第一放置位相通的通气管道上设置有可控制吸气与吹气的第一气泵，其余三个放置位对应的通气管道均设置有可控制吸气的第二气泵。
进一步的，所述转动圆盘与电机转轴间设置有一连接柱，该连接柱与转动圆盘通过螺钉自上而下贯穿转动圆盘至连接柱内连接，该连接柱底端竖直朝上开设有一圆柱形的槽孔，该连接柱自其侧边表面朝中心开设有一T形缝，该T形缝与槽孔相连通，该连接柱远离中心一侧通过一螺栓穿过T形缝竖直段将连接柱与电机转轴锁紧连接。
进一步的，所述底座下方设置有一支撑架，该支撑架上通过竖直设置的轴与轴孔过盈配合将底座与支撑架相连接，该支撑架与底座间的轴外均套设有弹簧，该弹簧上端与底座下表面顶接，弹簧下端顶接至支撑架内。
与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：该用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，通过转动圆盘的设计，能够在转动圆盘上不同放置位进行不同的工作，大大增加了工作效率；通过类环形凹槽的设计，将三个第二通孔相连通，所以即便有一个第二气泵损坏停止工作，但其对应的第二通孔仍能够起到吸附作用，提升了设备的容错率。
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细的说明。
附图说明
图1为本实用新型实施例构造示意图；
图2为图1中A的放大示意图；
图3为本实用新型实施例中底座与支撑架的连接结构示意图；
图4为本实用新型实施例中伺服电机与连接柱的连接结构示意图；
图5为图1中方形固定座的零件图；
图6为图1中转动圆盘的零件图。
图中：1-底座，2-方形固定座，3-转动圆盘，4-螺栓，5-伺服电机，6-电机转轴，7-半导体器件，8-放置位，9-打标机构，10-视觉检测系统，11-通孔，12-第二通孔，13-第一放置位，14-第二放置位，15-第三放置位，16-第四放置位，17-旋转臂，18-类环形凹槽，19-小孔，20-通气管道，21-第一气泵，22-第二气泵，23-连接柱，24-螺钉，25-槽孔，26-T形缝，27-支撑架，28-轴，29-轴孔，30-弹簧。
具体实施方式
如图1~6所示，用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，包括有一底座1，该底座上表面固设有一方形固定座2，该方形固定座上表面设有一转动圆盘3，所述转动圆盘通过一伺服电机5自下而上竖直贯穿底座与方形固定座后电机转轴6与转动圆盘相连接并带动旋转，该转动圆盘上均布有四个半导体器件7的放置位8，通过转动圆盘的旋转实现在不同放置位的打标机构9的打标工作和视觉检测系统10的检测工作。
在本实用新型实施例中，半导体器件的放置位均布在近转动圆盘边缘处，且两相邻放置位与转动圆盘连线形成的角度均为90度，所述放置位中心均上下竖直贯穿转动圆盘设置有通孔11，该方形固定座也上下竖直贯穿有与转动圆盘上通孔位置相对应的第二通孔12。
在本实用新型实施例中，所述转动圆盘为逆时针旋转，随着旋转方向，转动圆盘上的放置位分别为第一放置位13、第二放置位14、第三放置位15、第四放置位16；所述第一放置位上方设置有放置半导体器件的旋转臂17，所述打标机构对应设置于第三放置位上方，该视觉检测系统对应设置于第四放置位上方。
在本实用新型实施例中，所述方形固定座上表面朝下凹设一类环形凹槽18，除位于第一放置位对应下方的第二通孔外，其余三个放置位下方的第二通孔均位于类环形凹槽内，将转动圆盘放置上后通过该类环形凹槽即形成三个第二通孔相通的空间。
在本实用新型实施例中，所述底座旁侧设置有四个小孔19，该小孔将底座外侧的四个通气管道与第二通孔以及通孔相连通，与第一放置位相通的通气管道20上设置有可控制吸气与吹气的第一气泵21，其余三个放置位对应的通气管道均设置有可控制吸气的第二气泵22，通过第二气泵的吸气作用，该类环形凹槽内形成负压，借此吸附住上方的半导体器件。
在本实用新型实施例中，所述转动圆盘与电机转轴间设置有一连接柱23，该连接柱与转动圆盘通过螺钉24自上而下贯穿转动圆盘至连接柱内连接，该连接柱底端竖直朝上开设有一圆柱形的槽孔25，该连接柱自其侧边表面朝中心开设有一T形缝26，该T形缝与槽孔相连通，该连接柱远离中心一侧通过一螺栓4穿过T形缝竖直段将连接柱与电机转轴锁紧连接，T形缝的设计能够有效的适应不同规格的伺服电机，增加的设备的适用性，本实施例采用的伺服电机型号为松下MHMF(100W)伺服电机。
在本实用新型实施例中，所述底座下方设置有一支撑架27，该支撑架上通过竖直设置的轴28与轴孔29过盈配合将底座与支撑架相连接，该支撑架与底座间的轴外均套设有弹簧30，该弹簧上端与底座下表面顶接，弹簧下端顶接至支撑架内，上述连接柱下端也延伸至支撑架内，在伺服电机工作时，该弹簧能够减小设备震动，利于设备的稳定性。
本实用新型实施例的工作原理：首先通过旋转臂带来的半导体器件，经旋转臂置于第一放置位上，第一气泵吸气吸附住半导体器件，接着伺服电机通过连接柱带动转动圆盘，转动幅度为每次90度的匀速转动，当第一放置位旋转至第二放置位，通过检测后的半导体器件随第四放置位即旋转至第一放置位，此时第一气泵进行吹气工作，将半导体器件吹起，并由之前放置在第一放置位半导体器件的旋转臂吸附起旋转带走，当第一放置位旋转至第三放置位，半导体器件由打标机构进行激光打标操作，当第一放置位旋转至第四放置位，半导体器件由视觉检测系统进行检测操作，当同一半导体器件旋转一周回到原位完成打标检测后，即完成了四个半导体器件的打标检测工作。
本实用新型不局限于上述最佳实施方式，任何人在本实用新型的启示下都可以得出其他各种形式的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置。凡依本实用新型申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本实用新型的涵盖范围。
Claims (7)
1.一种用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：包括有一底座，该底座上表面固设有一方形固定座，该方形固定座上表面设有一转动圆盘，所述转动圆盘通过一伺服电机自下而上竖直贯穿底座与方形固定座后电机转轴与转动圆盘相连接并带动旋转，该转动圆盘上均布有四个半导体器件的放置位，通过转动圆盘的旋转实现在不同放置位的打标机构的打标工作和视觉检测系统的检测工作。
2.根据权利要求1所述的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：半导体器件的放置位均布在近转动圆盘边缘处，且两相邻放置位与转动圆盘连线形成的角度均为90度，所述放置位中心均上下竖直贯穿转动圆盘设置有通孔，该方形固定座也上下竖直贯穿有与转动圆盘上通孔位置相对应的第二通孔。
3.根据权利要求1所述的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：所述转动圆盘为逆时针旋转，随着旋转方向，转动圆盘上的放置位分别为第一放置位、第二放置位、第三放置位、第四放置位；所述第一放置位上方设置有放置半导体器件的旋转臂，所述打标机构对应设置于第三放置位上方，该视觉检测系统对应设置于第四放置位上方。
4.根据权利要求1所述的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：所述方形固定座上表面朝下凹设一类环形凹槽，除位于第一放置位对应下方的第二通孔外，其余三个放置位下方的第二通孔均位于类环形凹槽内，将转动圆盘放置上后通过该类环形凹槽即形成三个第二通孔相通的空间。
5.根据权利要求1所述的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：所述底座旁侧设置有四个小孔，该小孔将底座外侧的四个通气管道与第二通孔以及通孔相连通，与第一放置位相通的通气管道上设置有可控制吸气与吹气的第一气泵，其余三个放置位对应的通气管道均设置有可控制吸气的第二气泵。
6.根据权利要求1所述的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：所述转动圆盘与电机转轴间设置有一连接柱，该连接柱与转动圆盘通过螺钉自上而下贯穿转动圆盘至连接柱内连接，该连接柱底端竖直朝上开设有一圆柱形的槽孔，该连接柱自其侧边表面朝中心开设有一T形缝，该T形缝与槽孔相连通，该连接柱远离中心一侧通过一螺栓穿过T形缝竖直段将连接柱与电机转轴锁紧连接。
7.根据权利要求1所述的用于芯片测试编带机的打标吸盘装置，其特征在于：所述底座下方设置有一支撑架，该支撑架上通过竖直设置的轴与轴孔过盈配合将底座与支撑架相连接，该支撑架与底座间的轴外均套设有弹簧，该弹簧上端与底座下表面顶接，弹簧下端顶接至支撑架内。
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| CN201920719509.XU CN209919472U (zh) | 2019-05-20 | 2019-05-20 | 用于芯片测试编带机的打标吸盘装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110026824A (zh) * | 2019-05-20 | 2019-07-19 | 福州派利德电子科技有限公司 | 集成电路芯片测试分选机打标装置及控制方法 |
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2019
- 2019-05-20 CN CN201920719509.XU patent/CN209919472U/zh active Active
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