CN209910541U - 测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于机械加工领域，特别是涉及一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，解决现有测量同步器副箱滑动齿套锥面跳动的方法，其测量耗时长、工作量大导致成本高且测量效率低，以及某些生产现场无法采用三坐标测量的问题。其中检具包括定位平板、测量杆、锁紧装置及百分表；所述定位平板上放置被测同步器副箱滑动齿套；所述测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙配合，间隙范围为0～0.09mm；所述测量杆上开设有第一通孔以及与第一通孔贯通的第二通孔；所述百分表插入第一通孔后与被测同步器副箱滑动齿套孔口锥面接触；所述锁紧装置设置在第二通孔内用于紧固百分表。

Description

测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具

技术领域

本实用新型属于机械加工领域，特别涉及一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具。

背景技术

随着市场需求的增加，锁销式同步器类零件越来越多的走向市场。同步器零件的质量好坏直接关系到用户换挡操作的舒适性，在诸多影响因素中，与锁止销配合的锥面相对其孔的跳动误差是最容易被忽视的一大因素。

如图1和图2所示，现有同步器副箱滑动齿套06包括与传动轴配合的花键齿套01、与换挡齿轮配合的齿圈04以及支撑环板05，花键齿套01同轴设置在齿圈04内，且通过支撑环板05连接，花键齿套01伸出齿圈04的端面为同步器副箱滑动齿套的凸面，即图2中的A(花键齿套01的上端面)为同步器副箱滑动齿套的凸面，B(花键齿套01的下端面)为同步器副箱滑动齿套的凹面，支撑环板05上设置有6个或者9个锁止销孔02，其中3个锁止销孔02面朝凹面一侧孔口带有倒角锥面03，且均布分布；其余锁止销孔02面朝凸面一侧孔口带有倒角锥面03，工艺要求锥面相对于锁止销孔轴线有0.1mm的跳动要求。

锥面相对于锁止销孔轴线跳动的测量，通常采用三坐标测量，测量一个同步器副箱滑动齿套零件6个锁止销孔的跳动需要15分钟；测量一个同步器副箱滑动齿套零件9个锁止销孔的跳动需要20分钟。这种测量方式虽然测量准确，但是在某些生产现场难以采用三坐标测量锥面相对于锁止销孔轴线跳动，以及测量耗时长、工作量大，导致成本高且测量效率低。

实用新型内容

为了解决现有测量同步器副箱滑动齿套锥面跳动的方法，其测量耗时长、工作量大导致成本高且测量效率低，以及某些生产现场无法采用三坐标测量的问题。本实用新型提供了一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具。

为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案是：

一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特殊之处在于：包括定位平板、测量杆、锁紧装置及百分表；所述定位平板上放置被测同步器副箱滑动齿套；所述测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙配合，间隙范围为0～0.09mm；所述测量杆上开设有第一通孔以及与第一通孔贯通的第二通孔；所述百分表插入第一通孔后与被测同步器副箱滑动齿套孔口锥面接触；所述锁紧装置设置在第二通孔内用于紧固百分表。

进一步地，所述定位平板与被测同步器副箱滑动齿套的凹面接触的面为上表面，所述上表面中部设有凸起；所述凸起需满足以下关系：

H＞H1-H2

其中，H为凸起的高度，H1为被测同步器副箱滑动齿套的花键齿套上端面到支撑环板上端面的距离，H2为被测同步器副箱滑动齿套花键齿套下端面到支撑环板下端面的距离。

进一步地，所述第一通孔的中轴线与被测同步器副箱滑动齿套孔口锥面垂直。

进一步地，所述测量杆有两个系列，其中一个系列测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙为0～0.065mm，另一个系列测量杆与被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔间隙为0.065～0.09mm。

进一步地，所述第一通孔与第二通孔垂直。

进一步地，所述定位平板表面设有盲孔。

进一步地，所述定位平板的下表面开有环形凹槽。

与现有技术相比，本实用新型的优点是：

1、本实用新型的检具由定位平板、测量杆、锁紧装置、百分表组成，通过将被测同步器副箱滑动齿套设置在定位平板上，将测量杆插入被测同步器副箱滑动齿套的锁止销孔内，百分表插入测量杆上的第一通孔内通过锁紧装置固定，百分表的表头压紧被测同步器副箱滑动齿套孔口的锥面，将测量杆旋转一周完成锥面跳动检测，本实用新型测量操作方便，在加工现场可以实时监控跳动大小，提高了产品合格率的检测，同时也减少了三坐标测量的工作量，降本成本且增加检测效率。

2、本实用新型在定位平板上设有凸起，将被测同步器副箱滑动齿套的凹面的花键齿套支撑在定位平板上，可通过一个定位平板对被测同步器副箱滑动齿套的凹面和凸面孔口锥面跳动的测量。

3、本实用新型的百分表的表头与被测同步器副箱滑动齿套锁止销孔孔口锥面垂直，测量精度高。

4、本实用新型测量杆的尺寸有两个系列，可根据锁止销孔的实际大小选择合适的测量杆，使得精度高。

5、本实用新型在定位平板上设有盲孔，当测量杆不用时，将有盲孔一侧朝上放置，测量杆插入盲孔内，方便管理。

附图说明

图1为现有同步器副箱滑动齿套的结构示意图；

图2为现有同步器副箱滑动齿套的剖视图；

图3为本实用新型检具中定位平板的结构示意图；

图4为图3的仰视图；

图5为实用新型检具中测量杆的结构示意图；

图6为图5的俯视图；

图7为本实用新型检具与被测同步器副箱滑动齿套的装配图一；

图8为本实用新型检具与被测同步器副箱滑动齿套的装配图二。

其中，附图标记如下：

01-花键齿套，02-锁止销孔，03-倒角锥面，04-齿圈，05-支撑环板，A-同步器副箱滑动齿套的凸面，B-同步器副箱滑动齿套的凹面，06-同步器副箱滑动齿套；

1-测量杆，11-第一通孔，12-第二通孔，2-锁紧装置，3-百分表，4-定位平板，41-凸起，42-环形凹槽，43-盲孔。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

如图3至图6所示，一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，包括定位平板4、测量杆1、锁紧装置2及百分表3；定位平板4上放置被测同步器副箱滑动齿套06；测量杆1与被测同步器副箱滑动齿套06的锁止销孔间隙配合，间隙范围为0～0.09mm；测量杆1上开设有第一通孔11以及与第一通孔11贯通的第二通孔12；百分表3插入第一通孔11后与被测同步器副箱滑动齿套06锁止销孔孔口的锥面接触；锁紧装置2设置在第二通孔12内用于紧固百分表3，锁紧装置2优选为螺钉，螺钉可以选用滚花头螺钉。

定位平板4与被测同步器副箱滑动齿套的凹面B接触的面为上表面，所述上表面中部设有凸起41，所述凸起的高度H等于H1-H2；

其中，定义E面为支撑环板05的上端面，F面为支撑环板05的下端面，A面为花键齿套01的上端面，B面为花键齿套01的下端面；

H1为A面到E面的距离，H2为B面到F面的距离。

百分表3的表头与被测同步器副箱滑动齿套06锁止销孔孔口的锥面垂直时，测量精度高，由于通常同步器副箱滑动齿套孔口的倒角锥面为60度，因此第一通孔11轴线与测量杆1轴线的夹角优选为30度，使得百分表3的表杆的中轴线与锥面垂直，测量结果最准确。

本实施例中测量杆沿轴线开有缺口，缺口的底面为平行于测量杆轴线的平面，且缺口位于第一通孔下端面对应的位置，使得百分表与同步器副箱滑动齿套孔口的倒角锥面接触位置可调节。

本实施例的检具包含2个尺寸的测量杆，测量杆的选择根据孔口锥面位于被测同步器副箱滑动齿套的凹面或者凸面，凹面或者凸面锁止销孔的孔径、以及定位平板的凸起高度，测量杆应保证与锁止销孔为间隙配合，并且在测量时测量杆的底部与定位平板接触；每个测量杆1可以有多个直径不同系列，通常为两个系列，测量杆1与被测同步器副箱滑动齿套06的锁止销孔为间隙配合，其中一个系列测量杆1与被测同步器副箱滑动齿套06的锁止销孔间隙为0～0.065mm，另一个系列测量杆1与被测同步器副箱滑动齿套06的锁止销孔间隙为0.065～0.09mm，测量时优先选择间隙小的，若装入后旋转时出现卡滞，再选用间隙大的测量杆1。

本实施例在测量杆1用于固定百分表3的第一通孔11内安装有衬套，避免百分表3与测量杆1第一通孔11之间接触摩擦，减少对百分表3的损害起到保护百分表3的作用；定位平板4上设有盲孔43，当测量杆1不用时，将有盲孔43一侧朝上放置，测量杆1插入盲孔43内，方便管理。本实施例优选第一通孔11与第二通孔12垂直。

为了方便转换定位平板4的上表面或者下表面朝上，在定位平板4的下表面开有环形凹槽42。

本实施例公开了一种利用上述检具测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动的方法，包括以下步骤：

1)被测同步器副箱滑动齿套06凸面锁止销孔孔口锥面的检测

如图7所示，1、1)将定位平板4的上表面朝上放置；

1、2)被测同步器副箱滑动齿套06放置在定位平板4上，且被测同步器副箱滑动齿套的B面支撑在定位平板4的凸起41上；

1、3)根据被测同步器副箱滑动齿套06凸面锁止销孔的孔径大小选择相应测量杆1，并将测量杆1插入被测同步器副箱滑动齿套锁止销孔内；

测量杆有两个尺寸，其中一个测量杆直径尺寸与锁止销孔间隙小，另一个测量杆直径尺寸略小，与锁止销孔间隙大，测量时优先选择间隙小的测量杆，若装入后旋转时出现卡滞，再选用间隙大的测量杆；

1、4)百分表3插入测量杆1上的第一通孔11后与被测同步器副箱滑动齿套锁止5凸面销孔孔口锥面接触，锁紧装置2选择选用滚花头螺钉，滚花头螺钉设置在第二通孔12内将百分表3固定，百分表3的一侧与测量杆1的第一通孔11内紧密贴合；百分表3的量程在0-5，并且百分表3表头接触被测同步器副箱滑动齿套锁止销孔孔口的锥面时，表针在百分表3量程内，并且所述选择的测量杆应保证其底部与定位平板4接触。

1、5)将百分表3调零，旋转测量杆1一周，观察百分表3示数变化，百分表3读数最大值与最小值之差即为被测同步器副箱滑动齿套06凸面锁止销孔孔口锥面的跳动值；

2)翻转被测同步器副箱滑动齿套06和定位平板4

翻转被测同步器副箱滑动齿套06、定位平板4，使定位平板4的上表面朝下放置，且被测同步器副箱滑动齿套的A面支撑在定位平板4的下表面；

3)被测同步器副箱滑动齿套06凹面锁止销孔孔口锥面的检测

如图8所示，3、1)根据被测同步器副箱滑动齿套06凹面锁止销孔的孔径大小选择相应测量杆1，并将测量杆1插入被测同步器副箱滑动齿套锁止销孔内；

测量杆有两个尺寸，其中一个测量杆直径尺寸与锁止销孔间隙小，另一个测量杆直径尺寸略小，与锁止销孔间隙大，测量时优先选择间隙小的测量杆，若装入后旋转时出现卡滞，再选用间隙大的测量杆；

3、2)百分表3插入测量杆1上的第一通孔11后，与被测同步器副箱滑动齿套06凹面锁止销孔孔口锥面接触，锁紧装置2选择选用滚花头螺钉，滚花头螺钉设置在第二通孔12内将百分表3固定，百分表3的一侧与测量杆1的第一通孔11内紧密贴合；百分表3的量程在0-5，并且百分表3表头接触被测同步器副箱滑动齿套锁止销孔孔口的锥面时，表针在百分表3量程内，并且所述选择的测量杆应保证其底部与定位平板4接触。

3、3)将百分表3调零，旋转测量杆1一周，观察百分表3示数变化，百分表3读数最大值与最小值之差即为被测同步器副箱滑动齿套06凹面锁止销孔孔口锥面的跳动值。

本实用新型公开的测量方法，根据被测同步器副箱滑动齿套的凸面或凹面选择定位平板的上表面或下表面朝上，将被测同步器副箱滑动齿套放在定位平板上，根据锁止销孔大小选择测量杆，使表头接触孔口锥面上并保证表针在量程范围内，将百分表固定，百分表调零后，旋转测量杆一周，观察百分表示数变化，得出凸面或凹面孔口锥面的跳动值，然后翻转被测同步器副箱滑动齿套和定位平板，测量另外一面孔口锥面的跳动值。通过翻转被测同步器副箱滑动齿套06和定位平板4，使用一个定位平板与测量杆、锁紧装置、百分表的配合，可实现对测量被测同步器副箱滑动齿套06凹面和凸面孔口锥面的跳动值，操作方便；在测量杆旋转过程中，为了保证被测同步器副箱滑动齿套06和定位平板4不会产生相应移动，采用卡扣将被测同步器副箱滑动齿套06和定位平板4固定，提高了测量的准确性。

Claims (7)

1.一种测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：包括定位平板(4)、测量杆(1)、锁紧装置(2)及百分表(3)；

所述定位平板(4)上放置被测同步器副箱滑动齿套(06)；

所述测量杆(1)与被测同步器副箱滑动齿套(06)的锁止销孔间隙配合，间隙范围为0～0.09mm；

所述测量杆(1)上开设有第一通孔(11)以及与第一通孔(11)贯通的第二通孔(12)；

所述百分表(3)插入第一通孔(11)后与被测同步器副箱滑动齿套(06)孔口锥面接触；

所述锁紧装置(2)设置在第二通孔(12)内用于紧固百分表(3)。

2.根据权利要求1所述测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：

所述定位平板(4)与被测同步器副箱滑动齿套的凹面(B)接触的面为上表面，所述上表面中部设有凸起(41)；所述凸起(41)需满足以下关系：

H＞H1-H2

其中，H为凸起(41)的高度；

H1为被测同步器副箱滑动齿套(06)的花键齿套(01)上端面到支撑环板(05)上端面的距离；

H2为被测同步器副箱滑动齿套(06)花键齿套(01)下端面到支撑环板(05)下端面的距离。

3.根据权利要求1所述测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：所述第一通孔(11)的中轴线与被测同步器副箱滑动齿套(06)孔口锥面垂直。

4.根据权利要求1或2或3所述测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：所述测量杆(1)有两个系列，其中一个系列测量杆与被测同步器副箱滑动齿套(06)的锁止销孔间隙为0～0.065mm，另一个系列测量杆与被测同步器副箱滑动齿套(06)的锁止销孔间隙为0.065～0.09mm。

5.根据权利要求4所述测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：所述第一通孔(11)与第二通孔(12)垂直。

6.根据权利要求5所述测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：所述定位平板(4)表面设有盲孔(43)。

7.根据权利要求6所述的测量同步器副箱滑动齿套孔口锥面跳动检具，其特征在于：所述定位平板(4)的下表面开有环形凹槽(42)。

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