CN209014616U - 一种测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及差分信号线测试技术领域，公开了一种测试治具，其包括基座、固定于基座上的两个射频连接器和射频线，两个射频连接器的后端相交固定，每一射频连接器后端设有供差分信号线插入的插接孔，所述射频连接器的前端连接射频线。本实用新型中射频信号通过射频连接器传导，不需要经过PCB板，减少射频信号衰减的影响，能基本真实的反馈出待测差分信号线本身的相关性能参数，避免因测试误差而引起对差分信号线性能的误判，同时，该测试治具未设有PCB板，其结构简单、制作成本低。

Description

一种测试治具

技术领域

本实用新型涉及差分信号线测试技术领域，尤其涉及一种测试治具。

背景技术

高速差分信号线生产出来后需要对其进行高频测试，传统的测试治具的射频接头是焊接在PCB板上的，其通过压接待测高速差分信号线，使之接触于PCB板上的微带线进行测试。因射频信号通过PCB板，电性能损耗变化大，已影响了高速差分信号线本身的性能，再者测试结果在高频（20GHz以上或更高到35GHz以上）环境下，插损比较大，掉坑严重，致使测试结果失真，影响线材的设计以及产品的性能检测。

因此，亟需一种测试治具，以解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种测试治具，其能够解决因射频信号通过PCB板引起的上述问题。

能够使得系统具有较高的安全性、稳定性及可靠性。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测试治具，包括基座、固定于所述基座上的两个射频连接器及射频线，两个所述射频连接器的后端相交固定，每一射频连接器后端设有供差分信号线插入的插接孔，所述射频连接器的后端连接差分信号线，前端连接射频线。

优选地，所述射频连接器包括中心导体和绝缘体，所述绝缘体套设于所述中心导体上，所述中心导体的后端与所述差分信号线相连，前端与所述射频线相连。

优选地，所述射频连接器还包括射频接头，所述射频接头与所述差分信号线连接，所述插接孔设于所述中心导体的后端，所述射频接头插接于所述插接孔内。

优选地，所述射频连接器还包括套设于所述绝缘体上的主体和连接于所述主体的一端的连接头，所述连接头与所述射频线的接线头相匹配，所述主体远离所述连接头的一端固定连接；所述中心导体的前端设置有与所述射频线的插头相匹配的插口，所述插口位于所述连接头内。

优选地，所述中心导体的前端套设有藕芯绝缘体，所述藕芯绝缘体嵌于所述主体内。

优选地，所述基座上设置有用于容置差分信号线的线槽。

优选地，所述测试治具还包括盖板，所述盖板与所述基座转动连接，所述盖板能够盖设于所述线槽上以固定所述差分信号线。

优选地，所述连接头包括相连接的固定部和连接部，所述固定部与所述基座固定连接，所述连接部与所述射频线的接线头连接。

优选地，所述中心导体的材质为铍铜。

优选地，所述中心导体表面镀金属层。

本实用新型的有益效果为：本实用新型中射频信号通过射频连接器传导，不需要经过PCB板，减少射频信号衰减的影响，能基本真实的反馈出待测差分信号线本身的相关性能参数，避免因测试误差而引起对差分信号线性能的误判，同时，该测试治具未设有PCB板，其结构简单、制作成本低。

附图说明

图1是本实用新型提供的测试治具的结构示意图；

图2是本实用新型提供的测试治具隐去安装座的结构示意图；

图3是本实用新型提供的射频连接器的剖视图；

图4是本实用新型提供的藕芯绝缘体的结构示意图。

图中：

1、基座；11、安装座；12、固定座；121、线槽；

2、射频连接器；21、中心导体；211、插口；212、插接孔；22、绝缘体；23、射频接头；24、主体；25、连接头；251、固定部；252、连接部；26、藕芯绝缘体；27、固定件；

3、盖板。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1至图4所示，本实施例公开了一种测试治具，其包括基座1、两个射频连接器2、盖板3和射频线（图中未示出）。其中，如图1和图2所示，基座1包括安装座11和与安装座11固定连接的固定座12。射频连接器2设置于安装座11上。两个射频连接器2的后端相交并且焊接固定在一起。射频连接器2的后端设有供差分信号线插入的插接孔212。本实施例中定义射频连接器2与差分信号线相连的一端为后端，与射频线相连的一端为前端。

如图3和图4所示，射频连接器2固定于安装座11上，射频连接器2包括中心导体21、绝缘体22、射频接头23、主体24、连接头25、藕芯绝缘体26和固定件27。绝缘体22套设于中心导体21上，插接孔212设置于中心导体21的后端，前端与射频线相连。

射频信号通过射频连接器2传导，不需要经过PCB板，减少射频信号衰减的影响，能基本真实的反馈出待测差分信号线本身的相关性能参数，避免因测试误差而引起对差分信号线性能的误判。测试性能稳定，测试方便快捷，提高了测试效率。同时，该测试治具未设有PCB板，其结构简单、制作成本低。

如图1和图2所示，固定座12上设置有线槽121，盖板3与固定座12转动连接。差分信号线容置于线槽121内，盖上盖板3后，盖板3向下遮盖将差分信号线固定于线槽121内，便可对差分信号线进行测试。

作为优选，本实施例中的测试治具主要用于差分信号线的高频测试，测试差分信号线的阻抗、衰减、回波损耗、串音、对内延时差、对间延时差和差分转共模等等。两个射频连接器2呈夹角设置，两个射频连接器2的后端固定连接，两个射频连接器2的主体24的后端焊接在一起。两个射频连接器2的夹角为45°，具体的如图2所示。

作为优选，本实施例中，中心导体21的材质为铍铜，需要经过热处理，然后再在其表面镀有金属层，作为优选，本实施例中在中心导体21的表面做镀金处理。如图3和图4所示，插接孔212设置于中心导体21的后端，前端设置有与射频线的插头相匹配的插口211。差分信号线连接于射频接头23上，然后射频接头23插入插接孔212内实现差分信号线与中心导体21的连接。

射频接头23具有缩口的功能，其插入到插接孔212内便会缩口，不同规格型号的差分信号线使用不同型号的射频接头23，射频接头23的外径尺寸与插接孔212的内径相匹配，然后插入到插接孔212内，由该测试治具对差分信号线进行测试。主体24套设于绝缘体22上。中心导体21的后端套设有固定件27，固定件27嵌于主体24内，实现中心导体21的该端与主体24的固定连接。中心导体21前端套设有藕芯绝缘体26，藕芯绝缘体26嵌于主体24的另一端，实现中心导体21的该端与主体24的固定连接。

继续参照图3，连接头25连接于主体24靠近中心导体21的插口211的一端，连接头25包括固定部251和连接部252，固定部251与安装座11固定连接，实现射频连接器2与安装座11的固定连接。插口211位于连接部252内，连接部252上设置有与射频线的接线头的内螺纹相匹配的外螺纹，射频线的接线头与连接部252螺纹连接的过程中，接线头的插头逐渐插入到中心导体21的插口211中，实现射频线与射频连接器2的连接。

差分信号线的两根信号线的一端分别与两个射频接头25相连，然后射频接头25插接于插接孔212内。差分信号线置于线槽121内，然后盖上盖板3进行固定。射频连接器的连接头25与射频线连接，然后由连接在射频线的另一端的测试仪器对差分信号线进行测试。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试治具，包括基座（1）、固定于所述基座（1）上的两个射频连接器（2）及射频线，其特征在于，两个所述射频连接器（2）的后端相交固定，每一射频连接器（2）后端设有供差分信号线插入的插接孔（212），所述射频连接器（2）的前端与所述射频线连接。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述射频连接器（2）包括中心导体（21）和绝缘体（22），所述绝缘体（22）套设于所述中心导体（21）上，所述中心导体（21）的后端与差分信号线相连，前端与所述射频线相连。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述射频连接器（2）还包括射频接头（23），所述射频接头（23）与所述差分信号线连接，所述插接孔（212）设于中心导体（21）的后端，所述射频接头（23）插接于所述插接孔（212）内。

4.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述射频连接器（2）还包括套设于所述绝缘体（22）上的主体（24）和连接于所述主体（24）的一端的连接头（25），所述连接头（25）与所述射频线的接线头相匹配，所述主体（24）远离所述连接头（25）的一端固定连接；

所述中心导体（21）的前端设置有与所述射频线的插头相匹配的插口（211），所述插口（211）位于所述连接头（25）内。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述中心导体（21）的前端套设有藕芯绝缘体（26），所述藕芯绝缘体（26）嵌于所述主体（24）内。

6.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述基座（1）上设置有用于容置差分信号线的线槽（121）。

7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括盖板（3），所述盖板（3）与所述基座（1）转动连接，所述盖板（3）能够盖设于所述线槽（121）上以固定所述差分信号线。

8.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述连接头（25）包括相连接的固定部（251）和连接部（252），所述固定部（251）与所述基座（1）固定连接，所述连接部（252）与所述射频线的接线头连接。

9.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述中心导体（21）的材质为铍铜。

10.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述中心导体（21）表面镀金属层。