CN211206570U - 测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种测试治具，包括基座、设置在所述基座上的连接器，所述连接器的前端用于与射频线连接，所述连接器的后端用于与差分信号线连接，所述连接器包括设置在后侧的圆柱主体以及设置在所述主体内侧的中心导体，所述中心导体的后端设有连接孔，所述差分信号线插接在所述连接孔内，由此，本实用新型结构简单、制作成本低，且能够适应67GHz频率对信号线进行检测，适用范围广。
Description
技术领域
本实用新型涉及差分信号线测试领域，尤其涉及一种测试治具。
背景技术
为解决传统测试治具只能测试到40GHz差分信号线，不能满足市场及客户所要求的线缆性能指标。传统测试治具测试方式为：射频连接器接头(SMA)通过焊接在PCB板，再通过压接待测高速信号差分线内导体接触于PCB板上的微带线的测试方式，因射频性号通过PCB板，电性能损耗变化大，已影响了高速信号差分线本身的性能，其测试结果在高频(＞20GHz)后或更高到35GHz以上时，插损比较大及掉坑严重的情况，致使测试结果失真，影响线材的设计及产品的真实性能指标。
因此，急需设计出一种能够适应40-67GHz频率对高速差分信号线进行测试的测试治具。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、制作成本低且能够适应67GHz频率对信号线进行检测的测试治具。
为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种测试治具，包括基座、设置在所述基座上的连接器，所述连接器的前端用于与射频线连接，所述连接器的后端用于与差分信号线连接，所述连接器包括设置在后侧的圆柱主体以及设置在所述主体内侧的中心导体，所述中心导体的后端设有连接孔，所述差分信号线插接在所述连接孔内。
作为本实用新型的进一步改进，所述中心导体的后端设有夹持部，所述夹持部包括设置在所述连接孔外周且圆周分布的多个夹爪，所述多个夹爪朝向所述连接孔中心收缩。
作为本实用新型的进一步改进，每个所述夹爪的内侧边缘设有倒角。
作为本实用新型的进一步改进，所述连接器还包括设置在前侧且固定在所述基座上的连接头，所述连接头用于与所述射频线连接。
作为本实用新型的进一步改进，所述连接头内设有中心导孔，所述中心导孔的直径为1.85mm±0.05mm。
作为本实用新型的进一步改进，所述测试治具还包括枢转设置在所述基座平行于所述差分信号线一侧的盖板，所述盖板的下壁设有第一线槽，所述基座上的对应位置设有第二线槽，当所述盖板盖合在所述基座上时，所述差分信号线位于所述第一线槽和第二线槽内。
作为本实用新型的进一步改进，所述连接器设置成两个，两个所述连接器的尾端焊接成一体，两个所述连接器之间的夹角成35度。
作为本实用新型的进一步改进，所述连接器还包括设置在所述中心导体与所述主体之间的圆环状绝缘体，所述绝缘体的内径为0.15mm～0.2mm。
作为本实用新型的进一步改进，所述中心导体的材质为铍铜。
作为本实用新型的进一步改进，所述中心导体的表面镀金属层。
相较于现有技术，本实用新型通过将差分信号线插接在连接器圆柱主体的中心导体的连接孔内，再将连接器的前端与射频线接通，便能够对差分信号线直接进行检测，不需要经过PCB板，减少射频信号衰减的影响，能基本真实的反馈出待测差分信号线本身的相关性能参数，避免因测试误差而引起对差分信号线性能的误判，同时，该测试治具未设有PCB板，其结构简单、制作成本低，且能够适应67GHz频率对信号线进行检测，适用范围广。
附图说明
图1是本实用新型测试治具的立体图。
图2是图1所示结构盖板旋转打开一定角度的立体状态图。
图3是图1所示结构的截面图。
图4是本实用新型测试治具中连接器的截面图。
图5是图4中B处的局部放大图。
具体实施方式
请参考图1所示，本实用新型提供一种测试治具100，包括基座1、设置在基座1上的连接器2以及枢转设置在基座1一侧的盖板3。连接器2的前端用于与射频线(未图示)连接，该射频线为67GHz的矢量网络分析仪相应的端口的测试线；连接器2的后端用于与差分信号线200连接，这样可测试差分信号线200的阻抗、衰减、回波损耗、串音、对内延时差、对间延时差和差分转共模参数。
请参考图1和图2所示，基座1上设置有梯形凸台216，两个连接器2的尾端成35度夹角A焊接成一体。每个连接器2包括位于后侧的主体部21以及位于前侧的连接头22。两个主体部21的尾端成35度角焊接成一体，且两个主体部21嵌设在梯形凸台216内。两个连接头22分别凸出设置于梯形凸台216的两个腰部，并通过使用紧固件将连接头22固定在梯形凸台216的腰部上。
请参考图1至图5所示，主体部21包括圆柱状的主体211、设置在所述主体211内侧的圆环状的绝缘体212以及设置在绝缘体212内侧的中心导体213。中心导体213的后端设有连接孔214，连接孔214外周壁体圆周分布的多个夹爪215，且多个夹爪朝向连接孔214中心收缩，以形成夹持部。当差分信号线200插入至连接孔214内时，多个夹爪215能够夹持住差分信号线200，该夹持部能够有效夹持住信号线，保证差分信号线200与中心导体213的有效电性连接，制造难度低，可降低制造成本。
为了便于引导差分信号线200顺利插入至连接孔214内，每个夹爪215的内侧边缘设有倒角，使得在多个夹爪215的端面中心形成凹槽，差分信号线200剥除外被及绝缘体后可沿该凹槽插入至连接孔214，多个夹爪215收缩的结构可以稳固地夹持信号线。绝缘体212的内径为0.15mm～0.2mm，以能够满足直径规格为0.15mm～0.2mm的差分信号线200，适用范围广。
中心导体213的材质为铍铜，经热处理后表面镀金属层，表面镀金属层优选为镀金处理。
请参考图1至图4所示，连接头22包括连接部221和固定部222。连接部221内设有中心导孔2211，中心导孔2211与绝缘体212同轴，中心导体213轴向延伸至中心导孔2211内。中心导体213靠近连接部221位置套设有藕芯绝缘体217，藕芯绝缘体217嵌于主体211内，用于使得中心导体213与主体211的相对位置固定。固定部222通过紧固件(未标号)固定设置在梯形凸台216的腰部，以将连接头22与基座1固定连接。
请参见图4所示，中心导孔2211的直径为1.85mm±0.05mm，中心导体213在靠近中心导孔2211的前端也设置有上述结构的夹持部，以满足射频线公头芯部直径为1.85mm±0.05mm的公头插接。具体地，中心导体213靠近连接头22一端设有插口2131，连接部221外周设有与射频线的公头的内螺纹相匹配的外螺纹，射频线的公头与连接部221螺纹连接的过程中，公头芯部逐渐插入到中心导体213的插口2131中，实现射频线与连接器2的电性连接。
请参见图2所示，盖板3的下壁设有第一线槽31，基座1上的对应位置设有第二线槽11，当，第一线槽31和第二线槽11上下组合形成一圆柱腔，差分信号线200位于在盖板3盖合在基座1上时第一线槽31和第二线槽11形成的圆柱腔内。盖板3的枢转安装在基座1与差分信号线200平行的侧边缘，便于工人操作。
差分信号线200的测试过程为：将待测差分信号线200按照相应尺寸剥除外被及绝缘体，然后将差分信号线200芯部插入连接孔214内，排布剩余信号线入至线槽内，使得矢量网络分析仪的射频线的公头与连接头22接通，最后旋转盖合盖板3后进行测试。
综上所述，本实用新型通过将差分信号线200插接在连接器圆柱主体的中心导体的连接孔内，再将连接器的前端与射频线接通，便能够对差分信号线200直接进行检测，不需要经过PCB板，减少射频信号衰减的影响，能基本真实的反馈出待测差分信号线200本身的相关性能参数，避免因测试误差而引起对差分信号线200性能的误判，同时，该测试治具未设有PCB板，其结构简单、制作成本低，且能够适应67GHz频率对信号线进行检测，适用范围广。
以上实施例仅用于说明本实用新型而并非限制本实用新型所描述的技术方案，对本说明书的理解应该以所属技术领域的技术人员为基础，例如对“前”、“后”、“左”、“右”、“上”、“下”等方向性的描述，尽管本说明书参照上述的实施例对本实用新型已进行了详细的说明，但是，本领域的普通技术人员应当理解，所属技术领域的技术人员仍然可以对本实用新型进行修改或者等同替换，而一切不脱离本实用新型的精神和范围的技术方案及其改进，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围内。
Claims (10)
1.一种测试治具(100)，包括基座(1)、设置在所述基座(1)上的连接器(2)，所述连接器(2)的前端用于与射频线连接，所述连接器(2)的后端用于与差分信号线(200)连接，其特征在于：所述连接器(2)包括设置在后侧的主体(211)以及设置在所述主体(211)内侧的中心导体(213)，所述中心导体(213)的后端设有连接孔(214)，所述差分信号线(200)插接在所述连接孔(214)内。
2.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述中心导体(213)的后端设有夹持部，所述夹持部包括设置在所述连接孔(214)外周且圆周分布的多个夹爪(215)，所述多个夹爪(215)朝向所述连接孔(214)中心收缩。
3.根据权利要求2所述的测试治具(100)，其特征在于，每个所述夹爪(215)的内侧边缘设有倒角。
4.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述连接器(2)还包括设置在前侧且固定在所述基座(1)上的连接头(22)，所述连接头(22)用于与所述射频线连接。
5.根据权利要求4所述的测试治具(100)，其特征在于，所述连接头(22)内设有中心导孔(2211)，所述中心导孔(2211)的直径为1.85mm±0.05mm。
6.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述测试治具(100)还包括枢转设置在所述基座(1)平行于所述差分信号线(200)一侧的盖板(3)，所述盖板(3)的下壁设有第一线槽(31)，所述基座(1)上的对应位置设有第二线槽(11)，当所述盖板(3)盖合在所述基座(1)上时，所述差分信号线(200)位于所述第一线槽(31)和第二线槽(11)内。
7.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述连接器(2)设置成两个，两个所述连接器(2)的尾端焊接成一体，两个所述连接器(2)之间的夹角成35度。
8.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述连接器(2)还包括设置在所述中心导体(213)与所述主体之间的绝缘体(212)，所述绝缘体的内径为0.15mm～0.2mm。
9.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述中心导体(213)的材质为铍铜。
10.根据权利要求1所述的测试治具(100)，其特征在于，所述中心导体(213)的表面镀金属层。
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