CN205228425U - 垂直度测量仪器 - Google Patents

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贠宾宾
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Abstract

本实用新型揭示了一种垂直度测量仪器,所述测量仪器包括基座、支架、至少两列探针、与探针数量对应的表盘、处理器、显示单元;所述支架设置于基座上,与基座呈直角;各个探针设置于支架上,形成直线安装,各个探针主体均与基座平行;各个探针上分别设有表盘,表盘设置于探针的一端,各个表盘在基座平面的投影相互重合;各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。本实用新型提出的垂直度测量仪,可提高操作的便捷性,提高测量精确度。本实用新型合理布置支架中探针的数量,可以有效的检测出工件的不同位置垂直度的差值,进而计算出其角度,或直接根据数值对工件进行修正,不需要根据角度和工件高度计算工件侧面上下位置的差值。

Description

垂直度测量仪器
技术领域
本实用新型属于测量技术领域,涉及一种测量仪器,尤其涉及一种垂直度测量仪器。
背景技术
测量仪器广泛使用于生产生活的领域,在工业生产中,大量的工件需要测量,其中垂直度作为一种重要的测量数据,其精度和直观性非常重要。而在现代工业生产中,垂直度的检测却相当繁琐,为了获得一个工件准确的垂直度,必须使用三次元投影仪。
而在生产现场想快速得到工件的垂直度,只能使用直角尺,但是直角尺的测量精度却不能满足现代工业的需求。要得到垂直度的精确数据,只能在三次元投影仪上进行检测,而三次元投影仪这种仪器的体积和相对复杂的操作步骤,严重影响了现代生产的工作效率。
为解决上述问题,迫切需要一种更加简单易操作、且能够满足精度要求的垂直度测量仪。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种垂直度测量仪器,可提高操作的便捷性,提高测量精确度。
为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:
一种垂直度测量仪器,所述测量仪器包括:基座、支架、至少两列探针、与探针数量对应的表盘、处理器、显示单元;
所述支架设置于基座上,与基座呈直角;各个探针设置于支架上,形成直线安装,各个探针主体均与基座平行;
各个探针上分别设有表盘,表盘设置于探针的一端,各个表盘在基座平面的投影相互重合;各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。
一种垂直度测量仪器,所述测量仪器包括:基座、支架、至少两个探测机构;所述支架与基座连接;各个探测机构设置于支架上。
作为本实用新型的一种优选方案,所述测量仪器包括至少两列探测机构,每列探测机构至少包括两个探测机构。
作为本实用新型的一种优选方案,所述支架设置于基座上,与基座呈直角。
作为本实用新型的一种优选方案,所述探测机构包括探针、表盘;表盘设置于探针的一端。
作为本实用新型的一种优选方案,各个探针形成直线安装,各个探针的主体均与基座平行。
作为本实用新型的一种优选方案,各个表盘在基座平面的投影相互重合。
作为本实用新型的一种优选方案,所述测量仪器还包括处理器、显示单元,各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。
作为本实用新型的一种优选方案,所述探测机构设置于支架的一侧,或者,各个探测机构分别设置于支架的两侧。
本实用新型的有益效果在于:本实用新型提出的垂直度测量仪,可提高操作的便捷性,提高测量精确度。本实用新型合理布置支架中探针的数量,可以有效的检测出工件的不同位置垂直度的差值,进而计算出其角度,或直接根据数值对工件进行修正,不需要根据角度和工件高度计算工件侧面上下位置的差值。
附图说明
图1为本实用新型垂直度测量仪器的结构示意图。
图2为本实用新型垂直度测量仪器另一角度的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施例。
实施例一
请参阅图1、图2,本实用新型揭示了一种垂直度测量仪器,所述垂直度测量仪器包括基座1、表盘2、探针3、支架4。所述支架4设置于基座1上,与基座1呈直角。
所述探针3(或/和表盘)设置于支架4的一侧,或者,各个探针3(或/和表盘)分别设置于支架4的两侧。各个探针3形成直线安装,各个探针3的主体均与基座1平行。本实施例中,所述测量仪器包括至少两列探针,每列探针至少包括两个探针3。表盘2设置于探针3的一端;各个表盘2在基座平面的投影相互重合。
基座1保证工件底面平面度,表盘2、探针3用于测量工件侧面不同位置的平面度,支架4保证探针3的固定位置。
如图1所示,本实施例中,所述探针3首先检测垂直度试块,对表盘2数据归零,然后检测工件的侧面平面度,根据表盘中上下数据的差值,得出工件的垂直度。
本实用新型的工作原理为:工件垂直度在理想情况下,其侧面上下位置的差值为零,当工件的垂直度小于90度时,工件底面重合于基座,则其侧面平面度会形成上小下大的数值,根据直角的公式可以计算出工件的角度,同理,在工件垂直度大于90度时,会形成上大下小的数值。
实施例二
一种垂直度测量仪器,所述测量仪器包括:基座、支架、至少两列探针、与探针数量对应的表盘、处理器、显示单元。
所述支架设置于基座上,与基座呈直角;各个探针设置于支架上,形成直线安装,各个探针主体均与基座平行。
各个探针上分别设有表盘,表盘设置于探针的一端,各个表盘在基座平面的投影相互重合;各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。
实施例三
一种垂直度测量仪器,所述测量仪器包括:基座、支架、至少两个探测机构;所述支架与基座连接;各个探测机构设置于支架上。探测机构可以包括探针及表盘,也可以为其他形式的探测机构,本领域技术人员可以根据需要选择。
综上所述,本实用新型提出的垂直度测量仪,可提高操作的便捷性,提高测量精确度。本实用新型通过探针的大量使用和布局,得到工件侧面的平面度差值,经过计算后可以精确的得到工件的偏斜角度,甚至可以通过输入的计算公式,在数显表中直接显示工件侧面的平面度数值和角度。
这里本实用新型的描述和应用是说明性的,并非想将本实用新型的范围限制在上述实施例中。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的,对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是,在不脱离本实用新型的精神或本质特征的情况下,本实用新型可以以其它形式、结构、布置、比例,以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本实用新型范围和精神的情况下,可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。

Claims (9)

1.一种垂直度测量仪器,其特征在于,所述测量仪器包括:基座、支架、至少两列探针、与探针数量对应的表盘、处理器、显示单元;
所述支架设置于基座上,与基座呈直角;各个探针设置于支架上,形成直线安装,各个探针主体均与基座平行;
各个探针上分别设有表盘,表盘设置于探针的一端,各个表盘在基座平面的投影相互重合;各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。
2.一种垂直度测量仪器,其特征在于,所述测量仪器包括:基座、支架、至少两个探测机构;所述支架与基座连接;各个探测机构设置于支架上。
3.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
所述测量仪器包括至少两列探测机构,每列探测机构至少包括两个探测机构。
4.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
所述支架设置于基座上,与基座呈直角。
5.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
所述探测机构包括探针、表盘;表盘设置于探针的一端。
6.根据权利要求5所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
各个探针形成直线安装,各个探针的主体均与基座平行。
7.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
各个表盘在基座平面的投影相互重合。
8.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
所述测量仪器还包括处理器、显示单元,各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。
9.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:
所述探测机构设置于支架的一侧,或者,各个探测机构分别设置于支架的两侧。
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