CN204788182U - 一种磁瓦圆弧测试工装 - Google Patents

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姜明莉
蒋凯歌
张铁军
胡盛青
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Abstract

一种磁瓦圆弧测试工装，包括底板、竖板、定位块、千分表架和千分表；所述底板与竖板垂直连接，呈L形，所述底板水平放置；所述定位块为“双峰型”定位块，呈“凹”字形，所述定位块固定在竖板上，且与底板平行，所述定位块的下凹平面中部开有通孔；所述千分表架安装在底板上，可沿X、Y轴水平移动；所述千分表安装在千分表架上，可沿X、Y、Z轴移动，且千分表的表头从定位块下方垂直于定位块底面穿过通孔。本实用新型结构简单，制造成本低，测量精度高，数值直观，能实时显示测量结果，操作容易，便于在生产现场普及使用。

Description

一种磁瓦圆弧测试工装
技术领域
本实用新型涉及一种磁瓦圆弧测试工装。
背景技术
磁瓦的内、外圆弧是磁瓦的关键尺寸，目前，磁瓦生产行业和电机行业普遍采用光学仪器测量磁瓦圆弧，该方法测量重复性较好，但测量精度受磁瓦垂直度的影响较大，加上不同厂家的仪器存在系统偏差，实际应用中易出现测量争议；此外，光学仪器测量方法的操作过程比较复杂，需要专业测量人员才能完成，不便于在生产现场普及使用。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是，针对现有技术的不足，提供一种测量精度高，操作简单，便于在生产现场普及的磁瓦圆弧测试工装。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种磁瓦圆弧测试工装，包括底板、竖板、定位块、千分表架和千分表；所述底板与竖板垂直连接，呈L形，所述底板水平放置；所述定位块为“双峰型”定位块，呈“凹”字形，所述定位块固定在竖板上，且与底板平行，所述定位块的下凹平面中部开有通孔；所述千分表架安装在底板上，可沿X、Y轴水平移动；所述千分表安装在千分表架上，可沿X、Y、Z轴移动，且千分表的表头从定位块下方垂直于定位块底面穿过通孔。
进一步，所述底板通过螺钉与竖板垂直连接。
进一步，所述定位块通过螺钉固定在竖板上。
进一步，所述通孔的形状为椭圆形。
进一步，所述千分表架为标准磁力表架去掉磁座，通过螺钉固定在底板上。
进一步，所述千分表为具有可清零功能的数显千分表。
本实用新型结构简单，制造成本低，测量精度高，数值直观，能实时显示测量结果，操作容易，便于在生产现场普及使用。
本实用新型作为目前磁瓦圆弧测量的补充，弥补现有圆弧测量方法的不足，有望和客户统一测试标准，具有重要的实际意义。
附图说明
图1为本实用新型实施例的结构示意图；
图2为图1所示实施例使用时的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。
参照图1，本实施例包括底板1、竖板2、定位块3、千分表架5和千分表6；所述底板1通过螺钉与竖板2垂直连接，呈L形，所述底板1水平放置；所述定位块3为“双峰型”定位块，呈“凹”字形，所述定位块3通过螺钉固定在竖板2上，且与底板1平行，所述定位块3的下凹平面中部开有椭圆形通孔4；所述千分表架5安装在底板1上，可沿X、Y轴水平移动；所述千分表6安装在千分表架5上，可沿X、Y、Z轴移动，且千分表6的表头从定位块3下方垂直于定位块3底面穿过椭圆形通孔4。
本实施例中，所述千分表6为具有可清零功能的数显千分表。
本实施例中，所述千分表架5为标准磁力表架去掉磁座，通过螺钉固定在底板上。
使用时，利用数据线7将千分表6与电脑8连接，调节千分表架5，使千分表6探头伸出定位块3下凹平面中部椭圆形通孔4一定长度，打开千分表6，将平面块9置于定位块3上进行零位校正，移去平面块9，将磁瓦圆弧置于定位块3上进行测量，电脑8通过计算直接显示磁瓦圆弧半径。
本实用新型结构简单，制造成本低，测量精度高，操作容易，数值直观，能实时显示测量结果，便于在生产现场普及使用。

Claims (6)

1.一种磁瓦圆弧测试工装，其特征在于：包括底板、竖板、定位块、千分表架和千分表；所述底板与竖板垂直连接，呈L形，所述底板水平放置；所述定位块为“双峰型”定位块，呈“凹”字形，所述定位块固定在竖板上，且与底板平行，所述定位块的下凹平面中部开有通孔；所述千分表架安装在底板上，可沿X、Y轴水平移动；所述千分表安装在千分表架上，可沿X、Y、Z轴移动，且千分表的表头从定位块下方垂直于定位块底面穿过通孔。
2.根据权利要求1所述的磁瓦圆弧测试工装，其特征在于：所述底板通过螺钉与竖板垂直连接。
3.根据权利要求1或2所述的磁瓦圆弧测试工装，其特征在于：所述定位块通过螺钉固定在竖板上。
4.根据权利要求1或2所述的磁瓦圆弧测试工装，其特征在于：所述通孔的形状为椭圆形。
5.根据权利要求1或2所述的磁瓦圆弧测试工装，其特征在于：所述千分表架为标准磁力表架去掉磁座，通过螺钉固定在底板上。
6.根据权利要求1或2所述的磁瓦圆弧测试工装，其特征在于：所述千分表为具有可清零功能的数显千分表。
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