CN203465212U - 小型电镀工件表面缺陷检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型专利为一种小型电镀工件外观缺陷检测系统。其特征在于设置在机架(21)上的上下布置的两条输送带，即输送带一(2)和输送带二(23)，输送带一(2)和和输送带二(23)之间设置有翻面装置(11)，在输送带一(2)上包括至少2个检测工位：工位一(3)，工位二(7)；输送带二(23)上至少包括2个检测工位：工位三(12)，工位四(16)；在输送带二(23)的末端设有剔除装置(20)；工位一(3)的相机一(5)位于被检测小型电镀工件一(6)的正常表面对光源一(4)的正反射区域内；工位二(7)的相机二(9)位于被检测小型电镀工件二(10)的正常表面对光源二(8)的漫反射区域内；工位三(12)的相机三(14)位于被检测小型电镀工件三(15)的正常表面对光源三(13)的正反射区域内；工位四(16)的相机四(18)位于被检测小型电镀工件四(19)的正常表面对光源四(17)的漫反射区域内。它具有如下优点：通过合理布置各检测工位中光源，被检测工件，摄像头三者的位置关系，使得产品外观缺陷被很好的表现出来，大大提高了检测精度和准确度。

Description

小型电镀工件表面缺陷检测系统

技术领域：

本实用新型专利涉及一种检测系统，尤其是小型电镀工件表面缺陷检测系统的结构改良。 

背景技术：

小型电镀工件在电镀完成后，正常的产品表面应该是色泽均匀，具有部分镜面反光效果。但是部分工件表面会残留有生产过程造成的缺陷，比如：掉角，裂纹，刀痕，沙眼等表面缺陷。工件的外观缺陷主要可以分为三类，第一类是平面型缺陷，例如脏污，变色等高度很小的缺陷；第二类是高宽比比较大的缺陷，例如划痕，裂纹，沙眼，掉角等缺陷，这类缺陷的特征是缺陷的高度与宽度的比值比较大。第三类是高宽比相对较小的缺陷，例如刀痕，鼓泡等，这类缺陷的特征是缺陷的高度与宽度的比值比较小。这些表面缺陷一方面影响工件的外观，另一方面也影响了工件的功能性。 

而对小型电镀工件的表面缺陷检测，目前主要是依靠人工目测来进行。由于人工目测存在很多局限性和缺点：一方面是由于生产环境和工作强度的影响，检测人员容易疲劳以致发生漏检和错判现象，即不能保证100％检测；另一方面是人工目测效率低，无法满足大批量生产的需求。 

机器视觉技术，用计算机来模拟人的视觉功能，从客观事物的图像中提取信息，进行处理并加以理解，最终用于实际检测、测量和控制。机器视觉技术最大的特点是速度快、信息量大、功能多。国内外已经有一些厂家开发了类似的小型电镀工件外观缺陷检测系统，也取得了一定的应用。但普遍存在的问题是，表面缺陷检测精度比较低，某些形式的表面缺陷检出率很低。 

为了克服已有类似表面缺陷检测系统，我们设计开发了一种小型电镀工件表面缺陷检测系统。 

发明内容：

本实用新型的目的在于提供一种小型电镀工件表面缺陷检测系统，替代人工进行小型电镀工件的外观缺陷检测，不但能够节省人力，而且提高了检测精度和准确度。 

本实用新型的目的在于解决现有技术所存在的表面缺陷检测精度比较低的不足。通过合理布局光源、被检测工件和摄像头三者的空间位置关系，使得产品表面缺陷被很好的表现出来，大大提高了检测精度和准确度。 

本实用新型通过如下所述的技术方案达到了上面所述的目的。一种小型电镀工件表面缺陷检测系统，其特征在于设置在机架(21)上的上下布置的两条输送带，即输送带一(2)和输送带二(23)，输送带一(2)和和输送带二(23)之间设置有翻面装置(11)，在输送带一(2)上包括至少2个检测工位：工位一(3)，工位二(7)；输送带二(23)上至少包括2个检测工位：工位三(12)，工位四(16)；在输送带二(23)的末端设有剔除装置(20)。工位一(3)的相机一(5)位于被检测小型电镀工件一(6)的正常表面对光源一(4)的正反射区域内；工位二(7)的相机二(9)位于被检测小型电镀工件二(10)的正常表面对光源二(8)的漫反射区域内；工位三(12)的相机三(14)位于被检测小型电镀工件三(15)的正常表面对光源三(13)的正反射区域内；工位四(16)的相机四(18)位于被检测小型电镀工件四(19)的正常表面对光源四(17)的漫反射区域内。 

如前所属的工件表面缺陷中，第一类缺陷会改变缺陷处的正反射光强度，第三类缺陷会较大的改变缺陷处的正反射光方向。本实用新型工位一(3)中，在光源一(4)的照射下，相机一(5)能够接收被检测工件(6)的正常表面的正反射光、第一类缺陷的正反射光和第三类缺陷的漫反射光。由于正常表面的正反射光的强度与第一类缺陷的正发射光的强度不同，正常表面的正反射光的强度要比第三类缺陷的漫反射光强度大。从而实现对第一类缺陷和第三类缺陷的有效识别。第二类缺陷会轻微改变缺陷处的正反射光方向。本实用新型工位二(7)中，在光源二(8)的照射下，相机二(9)能够接收被检测工件(10)的正常表面的漫反射光和第二类缺陷的正反射光。由于第二类缺陷的正反射光的强度要比正常表面的漫反射 光强度大，从而实现了第二类缺陷的有效识别。 

因此，本实用新型的优点是，通过合理布局光源、被检测工件和摄像头三者的空间位置关系，使得产品表面缺陷被很好的表现出来，大大提高了检测精度和准确度。 

附图说明：

附图1是本实用新型的结构示意图。图中，工位一(3)中包括相机一(5)和光源一(4)，对应被检测工件一(6)。工位二(7)包括相机二(9)和光源二(8)，对应被检测工件二(10)。工位三(12)中包括相机三(14)和光源三(13)，对应被检测工件三(15)。工位四(16)包括相机四(18)和光源四(17)，对应被检测工件四(19)。振动上料盘(1)，输送带一(2)，翻面装置(11)，输送带二(23)，剔除装置(20)，计算机(22)，机架(21)。 

具体实施方式：

下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案做进一步具体的说明。 

实施例： 

一种小型电镀工件表面缺陷检测系统，该系统结构示意图如附图1所示。设置在机架(21)上的振动上料盘(1)将被检测小型电镀工件送到输送带一(2)上。输送带一(2)将被检测小型电镀工件依次输送到检测工位一(3)，检测工位二(7)。相机一(5)，相机二(9)将采集到的被检测小型电镀工件的正面图像传输到计算机(22)。翻面装置(11)将被检测小型电镀工件的正反面翻转。输送带二(23)将被检测小型电镀工件输送到检测工位三(12)，检测工位四(16)。相机三(14)，相机四(18)分别将采集到的被检测小型电镀工件的反面图像的图像传输到计算机(22)。计算机(22)根据图像处理算法，识别出带有外观缺陷的不良品，待不良品到达剔除装置(20)时，计算机(22)控制剔除装置(20)将不良品剔除。 

本实用新型能够对长宽尺寸在20mm×20mm之内的小型电镀工件的外观缺陷进行自动识别，并剔除不良品。 

本文中所述的具体实施例仅仅是对本实用新型的精神做举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。 

Claims (3)

1.一种小型电镀工件表面缺陷检测系统，其特征在于设置在机架(21)上的上下布置的两条输送带，即输送带一(2)和输送带二(23)，输送带一(2)和和输送带二(23)之间设置有翻面装置(11)，在输送带一(2)上包括至少2个检测工位：工位一(3)，工位二(7)；输送带二(23)上至少包括2个检测工位：工位三(12)，工位四(16)；在输送带二(23)的末端设有剔除装置(20)；工位一(3)的相机一(5)位于被检测小型电镀工件一(6)的正常表面对光源一(4)的正反射区域内；工位二(7)的相机二(9)位于被检测小型电镀工件二(10)的正常表面对光源二(8)的漫反射区域内；工位三(12)的相机三(14)位于被检测小型电镀工件三(15)的正常表面对光源三(13)的正反射区域内；工位四(16)的相机四(18)位于被检测小型电镀工件四(19)的正常表面对光源四(17)的漫反射区域内。 

2.根据权利要求1所述的小型电镀工件表面缺陷检测系统，其特征在于所述的光源一(3)和光源三(13)为平面光源。 

3.根据权利要求1所述的小型电镀工件表面缺陷检测系统，其特征在于所述的光源二(8)和光源四(17)为条形光源。

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