CN202275827U - 薄外延片上抗辐射eeprom芯片的抗esd器件结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,按照本实用新型提供的技术方案,所述薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,包括P型衬底及位于所述P型衬底上的P型外延层,所述P型外延层上设有EEPROM结构及用于抗ESD的MOS管,所述MOS管包括位于P型外延层内的源区、漏区及位于P型外延层上方的多晶栅,所述源区及漏区对应的侧壁上设有轻掺杂漏区,所述轻掺杂漏区与源区及漏区对应连接;所述P型外延层内设有第二埋层,MOS管的源区、漏区及对应连接的轻掺杂漏区分别被对应的第二埋层包覆,且对应包覆源区及漏区的第二埋层通过P型外延层相隔离;第二埋层在P型外延层内延伸位于多晶栅的正下方。本实用新型结构紧凑,能提高抗ESD器件的可靠性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种具有抗ESD器件的芯片结构,尤其是一种薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,属于集成电路的技术领域。
背景技术
EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)作为非挥发存储设备,大量用于航空与航天领域。但是由于空间应用环境的复杂性,ESD(Electro-Static discharge)保护结构受到一定的破坏,使得常规的ESD保护结构不再有保护芯片内部电路的能力,静电放电对CMOS电路的可靠性构成了很大威胁。
另一方面,单粒子闭锁SEL发生于CMOS电路中。由于CMOS电路固有的PNPN四层结构,构成了寄生的可控硅结构。在正常情况下,寄生的可控硅处于高阻关断状态。粒子的入射可触发其导通,由于可控硅的正反馈特性,流过的电流不断增大,进入大电流再生状态,即发生闭锁。目前发现重离子和质子都可以导致单粒子闭锁。
抗单粒子闭锁SEL效应的解决办法是通过加薄外延和在管子周围加保护环的办法解决。但是在使用薄外延的时候,薄外延会影响NMOS结构的抗ESD能力。
采用P型薄外延的芯片,衬底电阻非常低,使得常规用做ESD保护的NMOS管保护能力急剧下降,甚至失效,在非外延片上的常规NMOS保护管已经很难满足航天用芯片对ESD的高标准要求。
发明内容
本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其结构紧凑,能提高抗ESD器件的可靠性。
按照本实用新型提供的技术方案,所述薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,包括P型衬底及位于所述P型衬底上的P型外延层,所述P型外延层上设有EEPROM结构及用于抗ESD的MOS管,所述MOS管包括位于P型外延层内的源区、漏区及位于P型外延层上方的多晶栅,所述源区及漏区对应的侧壁上设有轻掺杂漏区,所述轻掺杂漏区与源区及漏区对应连接;所述P型外延层内设有第二埋层,MOS管的源区、漏区及对应连接的轻掺杂漏区分别被对应的第二埋层包覆,且对应包覆源区及漏区的第二埋层通过P型外延层相隔离;第二埋层在P型外延层内延伸位于多晶栅的正下方。
所述多晶栅与P型外延层间设有栅氧化层,所述栅氧化层的端部分别延伸至轻掺杂漏区与源区及漏区的结合部;栅氧化层与轻掺杂漏区及第二埋层相接触;栅氧化层上设有侧墙,所述侧墙位于多晶栅的外圈。
所述多晶栅呈环形,所述漏区位于多晶栅的环形结构内,源区位于多晶栅环形结构外。
所述漏区上设有若干漏端孔,所述漏端孔内设有用于与漏区等电位连接的漏端连接金属;源区上设有若干源端孔,所述源端孔内设有用于与源区等电位连接的源端连接金属。
所述多晶栅上设有栅极引出条,所述栅极引出条上设有栅极接触孔,所述栅极接触孔内设有用于与多晶栅等电位连接的多晶栅连接金属。
所述EEPROM结构包括位于P型外延层内的第一埋层,所述第一埋层的上方设有浮栅及多晶栅,所述多晶栅位于浮栅的上方;浮栅与第一埋层间设有栅氧化层及第二氧化层,所述第二氧化层的厚度小于栅氧化层的厚度,形成位于浮栅与第一埋层间的隧道孔。
所述漏端孔与多晶栅间的距离为3μm。所述源端孔与多晶栅间的距离为1μm。
所述MOS管为NMOS管或PMOS管。所述P型外延层的厚度为2~7μm。
本实用新型的优点:有效抑制了辐射对NMOS管的破坏,消除了漏电结构的形成,利用EEPROM结构中第一埋层的工艺形成第二埋层,第二埋层分别覆盖用做ESD保护的NMOS的源区和漏区,并与环形结构的多晶栅有一定尺寸的交叠,包住了轻掺杂漏区结构,消除了轻掺杂漏区的薄弱点,解决了P型外延层引起的ESD失效问题,该ESD保护能力可达到HBM 3500V以上,此NMOS器件不存在正常工作电压下的源区及漏区穿通和热载流子效应。
附图说明
图1为现有用作抗ESD结构的NMOS管截面图。
图2为本实用新型用作抗ESD结构的NMOS管截面图。
图3为本实用新型EEPROM结构的剖视图。
图4为本实用新型NMOS管版图。
图5为本实用新型具有多个NMOS管结构的版图。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
如图2~图5所示:本实用新型包括源区1、漏区2、多晶栅3、P型外延层4、浮栅5、隧道孔7、第一埋层8、P型衬底9、源端孔10、漏端孔11、轻掺杂漏区12、第二埋层13、侧墙14、栅氧化层15、第二氧化层16、栅极接触孔17及栅极引出条18。
如图1所示:为现有EEPROM结构中,用作抗ESD的NMOS管截面图。其中,1表示NMOS管的源极,2表示NMOS管的漏极,3是NMOS管的多晶栅,4是P型外延层,9是P型衬底;EEPROM结构与图3中的结构相同。辐射会形成场焉下反型的漏电结构,所述场氧漏电结构使得NMOS管的源区1及漏区2间产生漏电流,增大了芯片的静态电流,造成EEPROM芯片的功能异常。
如图2所示:为了避免上述情况,以MOS管为NMOS管为例,在所述P型外延层4内设有第二埋层13,所述第二埋层13与图3中现有EEPROM结构的第一埋层8通过同一工艺步骤形成。所述第二埋层13包覆NMOS管的源区1、漏区2及与所述源区1与漏区2对应连接的轻掺杂漏区(LDD)12。所述轻掺杂漏区12与源区1及漏区2对应相邻的外侧壁相接触,第二埋层13包覆对应的源区1、漏区2及对应的轻掺杂漏区12后,相邻的第二埋层13间通过P型外延层4相隔离。第二埋层13的上方设有多晶栅3,第二埋层13延伸进入多晶栅3的正下方,且第二埋层13与多晶栅3间具有一定的交叠面积。所述多晶栅3与P型外延层4间设有栅氧化层15,所述栅氧化层15的端部边缘分别与源区1与轻掺杂漏区12的结合部,以及漏区2与轻掺杂漏区12的结合部相一致,轻掺杂漏区12、第二埋层13与栅氧化层15相接触。栅氧化层15上设有侧墙14,所述侧墙14位于多晶栅3的外圈;通过侧墙14与栅氧化层15的结构,能够在P型外延层4内形成源区1、漏区2与对应轻掺杂漏区12的连接。当MOS管为PMOS管时,需要现在P型外延层4上形成N型结构,然后在N型结构内形成PMOS的结构。
如图3所示:为EEPROM结构的剖视图。所述EEPROM结构包括P型衬底9,所述P型衬底9上设有P型外延层4,所述P型外延层4的厚度为2μm~7μm。P型外延层4的上部设有第一埋层8,所述第一埋层8与第二埋层13为同一工艺步骤形成,能简化工艺步骤;同时第一埋层8为形成EEPROM必要的结构,能与现有工艺相兼容。第一埋层8上方设有浮栅5及多晶栅3,所述多晶栅3位于浮栅5的上方,并与浮栅5相接触。浮栅5与第一埋层8间设有栅氧化层15及第二氧化层16,所述第二氧化层16为栅氧化层15通过减薄后形成。栅氧化层15及第二氧化层16与第一埋层8相接触,浮栅5通过第一埋层8间通过第二氧化层16形成允许电子通过的隧道孔7。图2中的NMOS管结构,用于形成EEPROM结构的抗ESD结构。
如图4和图5所示:为本实用新型NMOS管的版图结构。所述多晶栅3采用环形结构,通过环形的多晶栅3能避免场氧下反型的漏电结构形成,有效抑制辐射对抗ESD结构的影响。所述多晶栅3形成的环形结构内设有漏区2,多晶栅3形成的环形结构外为源区1,所述漏区2内设有若干漏端孔11,所述漏端孔11内设有用于与漏区2等电位连接的漏区连接金属。源区1内设有若干源端孔10,所述源端孔10内设有用于与源区1等电位连接的源区连接金属。为了能够形成栅极的连接,多晶栅3上设有栅极引出条18,所述栅极引出条18伸出源区1外,栅极引出条18上设有栅极接触孔17,所述栅极接触孔17内设有用于与多晶栅3等电位连接的栅极连接金属。通过上述连接后,能够同时形成NMOS管的源极、漏极及栅极。图5中,漏端孔11与多晶栅3的距离为3μm,源端孔10距离多晶栅3的距离为1μm。本实施例中,用作抗ESD结构的能力可以达到HBM 3500V以上。
如图2~图5所示:工作时,通过控制多晶栅3与第一埋层8间的电压,使电子通过隧道孔7在浮栅5与第一埋层8之间流动,从而改变EEPROM的存储状态。当外部有离子辐射时,由于用作抗ESD结构的NMOS管的源区1及漏区2分别通过对应的第二埋层13包覆,能够消除轻掺杂漏区12带来的缺陷,提高整个EEPROM芯片抗ESD能力。
本实用新型有效抑制了辐射对NMOS管的破坏,消除了漏电结构的形成,利用EEPROM结构中第一埋层8的工艺形成第二埋层13,第二埋层13分别覆盖用做ESD保护的NMOS的源区1和漏区2,并与环形结构的多晶栅3有一定尺寸的交叠,包住了轻掺杂漏区12结构,消除了轻掺杂漏区12的薄弱点,解决了P型外延层4引起的ESD失效问题,该ESD保护能力可达到HBM 3500V以上,此NMOS器件不存在正常工作电压下的源区1及漏区2穿通和热载流子效应。
Claims (10)
1. 一种薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,包括P型衬底(9)及位于所述P型衬底(9)上的P型外延层(4),所述P型外延层(4)上设有EEPROM结构及用于抗ESD的MOS管,所述MOS管包括位于P型外延层(4)内的源区(1)、漏区(2)及位于P型外延层(4)上方的多晶栅(3),所述源区(1)及漏区(2)对应的侧壁上设有轻掺杂漏区(12),所述轻掺杂漏区(12)与源区(1)及漏区(2)对应连接;其特征是:所述P型外延层(4)内设有第二埋层(13),MOS管的源区(1)、漏区(2)及对应连接的轻掺杂漏区(12)分别被对应的第二埋层(13)包覆,且对应包覆源区(1)及漏区(2)的第二埋层(13)通过P型外延层(4)相隔离;第二埋层(13)在P型外延层(4)内延伸位于多晶栅(3)的正下方。
2.根据权利要求1所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述多晶栅(3)与P型外延层(4)间设有栅氧化层(15),所述栅氧化层(15)的端部分别延伸至轻掺杂漏区(12)与源区(1)及漏区(2)的结合部;栅氧化层(15)与轻掺杂漏区(12)及第二埋层(13)相接触;栅氧化层(15)上设有侧墙(14),所述侧墙(14)位于多晶栅(3)的外圈。
3.根据权利要求1所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述多晶栅(3)呈环形,所述漏区(2)位于多晶栅(3)的环形结构内,源区(1)位于多晶栅(3)环形结构外。
4.根据权利要求3所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述漏区(2)上设有若干漏端孔(11),所述漏端孔(11)内设有用于与漏区(2)等电位连接的漏端连接金属;源区(1)上设有若干源端孔(10),所述源端孔(10)内设有用于与源区(1)等电位连接的源端连接金属。
5.根据权利要求3所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述多晶栅(3)上设有栅极引出条(18),所述栅极引出条(18)上设有栅极接触孔(17),所述栅极接触孔(17)内设有用于与多晶栅(3)等电位连接的多晶栅连接金属。
6.根据权利要求1所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述EEPROM结构包括位于P型外延层(4)内的第一埋层(8),所述第一埋层(8)的上方设有浮栅(5)及多晶栅(3),所述多晶栅(3)位于浮栅(5)的上方;浮栅(5)与第一埋层(8)间设有栅氧化层(15)及第二氧化层(16),所述第二氧化层(16)的厚度小于栅氧化层(15)的厚度,形成位于浮栅(5)与第一埋层(8)间的隧道孔(7)。
7.根据权利要求4所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述漏端孔(11)与多晶栅(3)间的距离为3μm。
8.根据权利要求4所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述源端孔(10)与多晶栅(3)间的距离为1μm。
9.根据权利要求1所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述MOS管为NMOS管或PMOS管。
10.根据权利要求1所述的薄外延片上抗辐射EEPROM芯片的抗ESD器件结构,其特征是:所述P型外延层(4)的厚度为2~7μm。
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