CN201049818Y - Ic承载盘 - Google Patents

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黄俊献
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Abstract

本实用新型涉及一种用于存储运输集成电路芯片的IC承载盘,适用于BGA型封装芯片,本实用新型所述IC承载盘由若干承载单元以方形整列结构组成,承载单元之间设有突起的隔离栏结构,其承载面做成双斜面结构,使得承载面与IC间形成线接触式承载。使用本实用新型结构的IC承载盘,结构简单,阻止芯片掉出承载盘或者掉入承载盘底的效果显著,且对承载盘尺寸设计精度要求大大降低,有利于降低生产成本。

Description

IC承载盘
技术领域
本实用新型涉及半导体存储运输领域,尤其涉及一种用于存储运输集成电路芯片的IC承载盘。
背景技术
在半导体领域,集成电路的芯片(IC),特别是通用集成电路芯片被广泛地应用于各类电子产品。而芯片在安装于电路之前,在FAB、封装厂以及系统集成商间存在着大量的存储运输环节。且芯片由于其脆弱的性质以及对环境的苛刻限制,也对其运输承载体有着严格的要求。
对于BGA一类的芯片(IC的一种封装结构),现有的IC承载盘多采用多个承载单元以方形整列组成,类似图1所示。承载面为阶梯平面式,其承载单元的承载剖面如图2所示。芯片1平放在承载盘上承载单元内,周边与阶梯状承载面面接触。
一般为了便于承载及放置IC,一般承载盘2与芯片1会有一定的间隙d,即芯片1侧面A与承载单元的B面的间距。那么芯片1放在承载盘2内就会左右晃动。BGA封装的IC其最脆弱的部位是锡球E,在芯片左右晃动时要保证锡球E不被承载单元的F面撞上,D为锡球E与承载单元的F面间距。这里便要求两个间隙D与d相吻合,承载盘的生产制造具有很高的精度。另一方面,有时芯片由于震动或是其他原因,放置时未保持平衡,当芯片的侧边A面接触到承载单元B面时,另一端上芯片与承载盘的距离Z有可能大于承载单元的承载面宽X,那么IC会由于自身的重力而下落,锡球E会撞在承载盘底面G,造成IC的损坏。
发明内容
本实用新型旨在提供一种新型用于承载BGA芯片的IC承载盘,防止由于芯片的震动,使BGA类芯片锡球与承载盘相撞造成损坏。
为实现以上目的,本实用新型将承载单元的承载面做成双斜面结构,使得承载面与IC间形成线接触式承载,并根据实际需要数量将承载单元以方形整列结构组合成承载盘,承载单元之间设有突起的隔离栏结构。
使用本实用新型结构的IC承载盘,其结构简单,阻止芯片掉出承载盘或者掉入承载盘底的效果显著,对IC的保护性大大提高,同时降低了对承载盘尺寸设计精度要求,提高生产效率。
附图说明
图1为现有的方形整列IC承载盘;
图2为现有的IC承载盘承载单元剖面结构图;
图3为本实用新型所述IC承载盘承载单元剖面结构图。
具体实施方式
下面结合说明书附图,对本实用新型作进一步介绍。
如图3所示,本实用新型所述IC承载盘的承载单元采用双斜面承载结构,其剖面图可见两个斜面C与H。
因为芯片与承载盘在承载斜面上保持线接触,受力垂直于斜面,产生一个向心的分力,所以一旦芯片固定放置下来,受力平衡后不会左右晃动;而由于两侧斜面上宽下窄结构,该承载盘对芯片的承载尺寸具有一定的自适应能力,从而降低了承载盘自身尺寸精度。
另一方面当芯片发生震动或是其他原因,未平衡放置,当有一端翘起,由于芯片的自身重力作用,翘起一端会顺着双斜面H、C自动滑落,而不会卡住,最后恢复平衡,同时也有效杜绝了芯片一端下落,锡球E与承载盘底面G相撞的情况发生。
在其他实施例中双斜面可采取不同倾斜角度,根据承载芯片尺寸、斜面受力情况,经过计算求解一个优化值,保持最佳的承载效果。
另外承载单元之间设有突起的隔离栏结构3,防止在震动时,芯片掉出承载盘的情况发生。

Claims (3)

1.一种IC承载盘,其特征在于:IC承载盘包含多个承载单元,承载单元的承载面为双斜面结构,与承载IC保持线接触。
2.如权利要求1所述的IC承载盘,其特征在于,所述IC承载盘的承载单元为方形整列。
3.如权利要求2所述的IC承载盘,其特征在于,所述IC承载盘的承载单元之间设有突出的分隔栏。
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