CN1920868A - 信息处理装置及信息处理方法 - Google Patents

Abstract

提供一种信息处理装置，不会增加检查项目，即可进行精度更高的不良原因的推定，且可将推定的不良原因通知给用户。其包括：工序状态收集部，从检查装置取得印刷基板制造时的检查结果；不良位置确定部，根据取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所；偏重方判断部，判断同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因确定部，参照预先存储于存储部中的、至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部中存储有与判断结果对应的偏重信息时，从存储部取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部，使取得的不良原因信息显示在显示部上。

Description

信息处理装置及信息处理方法

技术领域

本发明涉及一种推定不良原因的信息处理装置、信息处理方法、程序、以及记录有程序的计算机可读取记录介质。

背景技术

在工厂的生产线中，大多提出/采用以下工序管理方法：检测出不良(异常)，推定与该不良相对的原因及处理方法。

例如，在印刷基板的生产中，存在产生1000ppm(不良数/安装到一个基板上的部件数)左右的不良的工厂，通过活用上述工序管理方法，会尽量减少不良。

在此，在工厂的生产线中，通过对一个不良预测多个原因，即使是同一个不良，若原因不同则处理方法也不同。因此，在生产管理上重要的是，在某个不良产生时，高精度地推定该不良产生的不良原因。

在此，若是有经验(老手)的生产技术员，可以高精度且高效率地进行这种不良原因的推定，但近年来，有经验的生产技术员严重不足，很难进行高精度且高效率的不良原因的推定。

因此，在生产现场，需要对任何生产技术员都可高精度且高效率地实现不良原因的推定的装置和方法。就这一点，在以下所示的专利文献1中公开了一种印刷基板的生产线中的不良原因分析方法。具体地说，在专利文献1中公开了如下方法：从针对一个不良结果预测的多个不良原因中，根据各不良原因导致该不良结果的概率及频度，推定精确度高的不良原因。

在专利文献2中公开了一种制造数据的解析方法，其包括以下工序：根据制造物的同时处理单位中的与制造工序及制造设备相关的特征数据、及与该特征数据相关的制造历史数据，提取制造物的检查数据所表示的特征度；和按照大小的顺序输出该特征度。此外，上述特征数据包括在制造设备中处理的处理单位特征、处理位置特征、处理时刻特征。

另外，所谓处理单位特征是指，在制造设备中同时处理的单位的特征(例如，对于半导体的制造设备，是指第一腔或第二腔等特征)。此外，所谓处理位置特征是指，制造设备中的处理位置的特征(例如，为同一制造装置内的第几个晶片等特征)。此外，所谓处理时刻特征是指表示处理的顺序的特征。

在专利文献3中公开了一种解析装置，其对由主电路、和受到该主电路的影响而引起动作不良的从电路组构成的电路(存储单元)的检查结果进行解析。进而，该解析装置具有数据库单元，其在各从电路同等地产生动作不良时，将主电路判断为不良原因；在从电路组中存在比其他从电路严重的动作不良的从电路时，判断该从电路为不良原因。另外，主从的关系预先作为连接信息进行存储。此外，该解析装置具有分布图制作单元，其根据各不良数据及数据库单元中保存的电路的位置信息，制作基板上的电路的不良度数分布图。

在专利文献4中公开了一种喷墨记录装置，其使赋予喷嘴的振动的强度发生变化，同时对由喷嘴喷出的墨水施加电压而产生带电的墨水粒子，针对各振动强度检测上述墨水粒子的带电量并存储，研究存储的各带电量数据的值的分布图形。进而，在该喷墨记录装置中，通过对比上述分布图形、和预先查出的各种故障时所呈现的带电量数据的分布图形，判断设备有无故障并预测故障原因。

专利文献1：日本专利第3511632号(平成16年3月29日发行)

专利文献2：日本特开2004-186374号(平成16年7月2日公开)

专利文献3：日本专利第3111931号(平成12年11月27日发行)

专利文献4：日本特公平6-84078号(平成6年10月26日公告)

在专利文献1中，在同一不良产生的不良部位中，无论有无场所上的偏重，均是从预测的多个不良原因中推定相同的不良原因。但是，在有上述偏重时、和没有时，实际的不良原因大多不同。因此，在专利文献1中无法进行高精度的不良原因的推定。

此外，在专利文献2中，需要取得处理单位特征、处理位置特征、及处理时刻特征。即，必须在制造装置内取得一般检查所不需要的各特征。此外，处理单位特征及处理位置特征，取决于制造装置中的制造的工序，因此在为了制造其他产品而改变了制造工序时，需要重新改变上述各特征的取得方法。

此外，在专利文献3中，如上所述，需要表示主从的关系的连接信息。但是，例如在将电子部件安装到基板上的领域中，在可以推定的不良原因和各部件之间，不存在上述连接关系。因此，在电子部件的安装的领域，利用该专利文献3的技术，无法推定不良原因。

此外，在专利文献4中，虽然只要连续检查制造设备内的单一部件的状态(即，测定喷嘴的带电量)即可，但在电子部件的安装中，不是检查制造设备内的部件的状态，而使检查制造出的产品的状态。因此，在电子部件的安装领域，利用专利文献4的技术，无法推定不良原因。

此外，以上举出了电子部件的安装的例子，但不限于此。在组合多个部件制造而成的产品中，会产生同样的问题。

发明内容

本发明正是鉴于上述问题产生的，其目的在于提供一种信息处理装置、信息处理方法、程序、及记录有程序的计算机可读取记录介质，其不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定(确定)，且可将推定出的不良原因通知给用户。

为了解决上述问题，本发明的信息处理装置，其特征在于，包括：检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所；判断单元，判断由上述确定单元确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

根据上述构成，可由检查结果取得单元从检查装置取得组合多个部件制造而成的产品在制造时的检查结果。此外，可由确定单元根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所。进而可由判断单元，判断由上述确定单元确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重。

此外，在第一存储装置中预先存储有：至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在第一存储装置中，将表示不良的产生场所有偏重时、及/或不良的产生场所无偏重时的各情况的信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应，并进行存储。

并且，当第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，不良原因信息取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，在由判断单元判断为有偏重、且第一存储装置中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，在由判断单元判断为无偏重、且第一存储装置中存储有表示无偏重的信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

不良的产生场所的偏重方和不良原因具有密切的关系。因此，预先将表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息建立关联，并存储到第一存储装置中，且参照该建立了关联的信息，由此不良原因取得单元可以取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本发明中，可根据不良的产生场所有无偏重来推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

进而，根据从检查装置得到的检查结果判断有无偏重。

因此，起到以下效果：可得到一种信息处理装置，其不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

另外，上述检查结果可包括中间检查的检查结果。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置中，其特征在于，上述偏重信息，在表示上述产生场所有偏重时，还表示出上述产生场所的偏重方，上述判断单元，在判断为上述产生场所有偏重时，还判断上述产生场所的偏重方，当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的偏重方相同的偏重方的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

根据上述构成，在判断为上述产生场所有偏重时，可由上述判断单元判断上述产生场所的偏重方。此外，当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的偏重方相同的偏重方的偏重信息时，不良原因取得单元，从上述第一存储装置取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

从而，在不良的产生场所有偏重时，可由不良原因取得单元取得考虑到偏重方的、表示不良原因的不良原因信息。

因此，起到在不良的产生场所有偏重时可进一步推定详细的不良原因的效果。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理装置，其特征在于，包括：检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

根据上述构成，可通过检查结果取得单元，从检查装置取得组合多个部件制造而成的产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息。此外，可通过确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻。进而可通过判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重。

此外，第一存储装置中预先存储有：至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在第一存储装置中，将表示不良的检出时刻有偏重时、及/或不良的检出时刻无偏重时的各情况的信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应，并进行存储。

并且，当第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，不良原因信息取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，在由判断单元判断为有偏重、且第一存储装置中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，在由判断单元判断为无偏重、且第一存储装置中存储有表示无偏重的信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

不良的检出时刻的偏重方和不良原因具有密切的关系。因此，预先将表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息建立关联，并存储到第一存储装置中，且参照该建立了关联的信息，由此不良原因取得单元可以取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本发明中，可根据不良的检出时刻有无偏重来推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

进而，根据从检查装置得到的检查结果判断有无偏重。

因此，起到以下效果：可得到一种信息处理装置，其不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

另外，上述检查结果可包括中间检查的检查结果。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理装置，其特征在于，包括：检查结果取得单元，从检查装置实时地取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

根据上述构成，可通过检查结果取得单元，从检查装置取得组合多个部件制造而成的产品在制造时的检查结果。此外，可通过确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻。此外，可通过判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重。

此外，第一存储装置中预先存储有：至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在第一存储装置中，将表示不良的检出时刻有偏重时、及/或不良的检出时刻无偏重时的各情况的信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应，并进行存储。

并且，当第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，不良原因信息取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，在由判断单元判断为有偏重、且第一存储装置中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，在由判断单元判断为无偏重、且第一存储装置中存储有表示无偏重的信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

不良的检出时刻的偏重方和不良原因具有密切的关系。因此，预先将表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息建立关联，并存储到第一存储装置中，且参照该建立了关联的信息，由此不良原因取得单元可以取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本发明中，可根据不良的检出时刻有无偏重来推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

进而，根据从检查装置得到的检查结果判断有无偏重。

因此，起到以下效果：可得到一种信息处理装置，其不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

另外，上述检查结果可包括中间检查的检查结果。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置中，其特征在于，上述偏重信息，在表示上述检出时刻有偏重时，还表示出上述检出时刻的偏重方，上述判断单元，在判断为上述检出时刻有偏重时，还判断上述检出时刻的偏重方，当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的偏重方相同的偏重方的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

根据上述构成，在判断为上述检出时刻有偏重时，可由上述判断单元判断上述检出时刻的偏重方。此外，当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的偏重方相同的偏重方的偏重信息时，不良原因取得单元，从上述第一存储装置取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

从而，在不良的检出时刻有偏重时，可由不良原因取得单元取得考虑到偏重方的、表示不良原因的不良原因信息。

因此，起到在不良的检出时刻有偏重时可进一步推定详细的不良原因的效果。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理装置，其特征在于，包括：检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，将包括了上述部件的、构成上述产品的部件作为构成部件时，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，确定不良的构成部件；判断单元，判断由上述确定单元确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

根据上述构成，可由检查结果取得单元，从检查装置取得组合多个部件制造而成的产品在制造时的检查结果。此外，可由确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，确定不良的构成部件。进而，可由判断单元，判断由上述确定单元确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件。

此外，第一存储装置中预先存储有：至少表示与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在第一存储装置中，将表示与不良的产生率相关的构成部件有偏重时、及/或构成部件无偏重时的各情况的信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应，并进行存储。

并且，当第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，不良原因信息取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，在由判断单元判断为有偏重、且第一存储装置中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，在由判断单元判断为无偏重、且第一存储装置中存储有表示无偏重的信息时，不良原因取得单元取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

关于不良的产生，与不良的产生率相关的构成部件的偏重方和不良原因具有密切的关系。因此，预先将表示与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息建立关联，并存储到第一存储装置中，且参照该建立了关联的信息，由此不良原因取得单元可以取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本发明中，可根据构成部件有无偏重来推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过输出控制单元，使与不良的产生率相关的由不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

进而，根据从检查装置得到的检查结果判断有无偏重。

因此，起到以下效果：可得到一种信息处理装置，其不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

另外，上述检查结果可包括中间检查的检查结果。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置中，其特征在于，上述偏重信息，在表示存在上述不良偏多产生的构成部件时，还具有表示上述构成部件的种类的信息，上述判断单元，在判断为存在上述不良偏多产生的构成部件时，还判断上述构成部件的种类，当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的构成部件种类相同的构成部件种类的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

根据上述构成，在判断为上述构成部件有偏重时，可由上述判断单元判断上述构成部件的偏重方。此外，当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的构成部件种类相同的构成部件种类的偏重信息时，不良原因取得单元，从上述第一存储装置取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

从而，在构成部件有偏重时，可通过不良原因取得单元取得考虑到偏重方的、表示不良原因的不良原因信息。

因此，起到在构成部件有偏重时可进一步推定详细的不良原因的效果。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置中，其特征在于，将与表示上述产品在制造时的检查结果的信息同种的信息、且表示了不良的状态的信息，作为不良状态信息时，具有提取单元，其参照预先存储于第二存储装置中的、上述不良状态信息以及与各个该不良状态信息的组合相关联的不良原因信息，从第二存储装置中提取与表示由上述检查结果取得单元取得的检查结果的信息相关联的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有由上述提取单元提取出的不良原因信息时，上述不良原因取得单元，从上述提取出的不良原因信息中进行不良原因信息的取得。

根据上述构成，首先，在第二存储装置中预先存储有上述不良状态信息以及与各个该不良状态信息的组合相关联的不良原因信息。此外，可通过提取单元，参照预先存储于第二存储装置中的信息，从第二存储装置中提取与表示由上述检查结果取得单元取得的检查结果的信息相关联的不良原因信息。

通过产品的检查得到多个不同的不良状态信息时，通常可根据这些不良状态信息，将不良原因精确到某种程度的范围内。因此，在本发明中，在由不良原因取得单元取得不良原因信息之前，先通过提取单元提取不良原因信息。即，通过提取单元精确不良原因信息。

进而，当上述第一存储装置中存储有由上述提取单元提取出的不良原因信息时，不良原因取得单元，从上述提取出的不良原因信息中进行不良原因信息的取得。即，不良原因取得单元，从第一存储装置中取得如下信息：既是提取出的不良原因信息，又是与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息所关联的不良原因信息。

因此，起到可以提供一种可进行更高精度的不良原因的推定的信息处理装置。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置，其特征在于，将与表示上述产品在制造时的检查结果的信息同种的信息、且表示了不良的状态的信息，作为不良状态信息时，分别将上述不良状态信息与预先存储于上述第一存储装置中的偏重信息建立关联，当上述第一存储装置中存储有与表示由上述检查结果取得单元取得的检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息、且为与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置中取得该偏重信息所关联的不良原因信息。

根据上述构成，首先，分别将上述不良状态信息与预先存储于第一存储装置中的偏重信息相关联。即，在第一存储装置中，以不良状态信息为基础时，按照该不良状态信息的种类，区分并存储各偏重信息。

此外，当上述第一存储装置中存储有与表示由上述检查结果取得单元取得的检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息、且为与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置中取得该偏重信息所关联的不良原因信息。即，当不良原因取得单元取得不良原因信息时，利用与表示检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息。

这样一来，在本发明中，与得到的检查结果相对应，取得不良原因时所利用的偏重信息不同。从而，可根据检查结果改变不良原因信息的取得方法。

因此，起到以下效果：可提供一种信息处理装置，其与没有将不良状态信息与偏重信息建立关联的情况相比，可进行更高精度的不良原因的推定。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置，其特征在于，上述输出装置为显示装置，上述输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息显示在显示装置上。

根据上述构成，上述输出装置为显示装置。此外，可通过输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息显示在显示装置上。

因此，起到可由用户识别装置本身推定的不良原因的效果。

此外，本发明的信息处理装置，在上述信息处理装置，其特征在于，上述产品是通过在基板上搭载电子部件而制成的电路基板。

根据上述构成，上述产品为通过在基板上搭载电子部件而制成的电路基板。

因此起到以下效果：可提供一种信息处理装置，其不会增加检查项目，即可高精度地确定电路基板制造时的不良原因。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

通过上述方法，与上述信息处理装置一样，不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

通过上述方法，与上述信息处理装置一样，不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置实时地取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

通过上述方法，与上述信息处理装置一样，不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

此外，为了解决上述问题，本发明的信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，将包括了上述部件的、构成上述产品的部件作为构成部件时，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果，确定不良的构成部件；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

通过上述方法，与上述信息处理装置一样，不会增加检查项目，即可进行高精度的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

此外，为了解决上述问题，本发明的程序，其特征在于，是用于使计算机作为上述信息处理装置的各单元起作用的程序。

因此，起到可通过将上述程序安装到计算机系统中来向用户提供上述信息处理装置的效果。

此外，为了解决上述问题，本发明的记录介质，其特征在于，是记录有上述程序的计算机可读取记录介质。

因此，起到可通过将记录在上述记录介质中的程序安装到计算机系统中来向用户提供上述信息处理装置的效果。

发明效果

本发明的信息处理装置，如上所述，包括：检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所；判断单元，判断由上述确定单元确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理装置，如上所述，包括：检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理装置，如上所述，包括：检查结果取得单元，从检查装置实时地取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理装置，如上所述，包括：检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定单元，将包括了上述部件的、构成上述产品的部件作为构成部件时，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，确定不良的构成部件；判断单元，判断由上述确定单元确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理方法，如上所述，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理方法，如上所述，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理方法，如上所述，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置实时地取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的信息处理方法，如上所述，包括以下步骤：检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；确定步骤，将包括了上述部件的、构成上述产品的部件作为构成部件时，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果，确定不良的构成部件；判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

因此，起到不会增加检查项目即可进行高精度的不良原因的推定、且可将推定出的不良原因通知给用户的效果。

此外，本发明的程序，如上所述，是用于使计算机作为上述信息处理装置的各单元起作用的程序。

因此，起到可通过将上述程序安装到计算机系统中来向用户提供上述信息处理装置的效果。

此外，本发明的记录介质，如上所述，是记录有上述程序的计算机可读取记录介质。

因此，起到可通过将记录在上述记录介质中的程序安装到计算机系统中来向用户提供上述信息处理装置的效果。

附图说明

图1是表示本发明一个实施方式的包括工序管理装置的工序管理系统的功能框图。

图2是表示应用图1所示的工序管理系统的、印刷基板的生产线的示意图。

图3是表示作为图1所示的工序管理装置的构成要素的存储部中存储的不良/原因对应表的内容的一例的示意图。

图4(a)～(c)是表示印刷基板上的不良的产生场所的图，(a)及(b)是不良的产生场所存在偏重的情况的图，(c)是表示不良的产生场所不存在偏重的情况的图。

图5(a)及(b)是为了求出不良的产生场所的偏重而分割了印刷基板上的区域的图，(a)是在与涂刷器的扫描方向垂直的方向上将印刷基板上的区域分割为多个区域的图，(b)是将印刷基板上的区域分割为矩阵状的图。

图6是表示作为图1所示的工序管理装置的构成要素的其他存储部中存储的偏重方/原因对应表的内容的一例的示意图。

图7是表示图1的工序管理装置中的不良原因的推定所涉及的处理流程的流程图。

图8是表示作为图1所示的工序管理装置的构成要素的其他存储部中存储的偏重方/原因对应表的内容的另一例的示意图。

图9(a)是表示关于同种不良、在对该不良的产生进行取样时的波形的图表，(b)是利用直线近似表示除去了偏差后的波形的包络线的图表，(c)是将除去了偏差后的波形除去了的图表。

图10(a)是表示图9(c)的其他例的图表，(b)是表示图9(c)的进一步其他例的图表。

图11(a)是表示各个部件种类的焊锡过多的产生率的图表，(b)是表示各个基板种类的焊锡过多的不良的产生率的图表。

图12是表示作为图1所示的工序管理装置的构成要素的其他存储部中存储的偏重方/原因对应表的内容的进一步另一例的示意图。

图13是表示图1的工序管理装置中的、判断关于部件种类是否有偏重的处理流程的流程图。

具体实施方式

根据图1～图13对本发明的一个实施方式说明如下。

在本实施方式中，对于印刷基板的生产线中应用的工序管理系统进行了说明，但本发明并不限于印刷基板的生产线，可以用于组合多个部件进行制造的产品的生产线中。

在此，在说明本实施方式的工序管理系统之前，根据图2对应用了该工序管理系统的印刷基板的生产线进行说明。

如图2所示，生产线1包括制造印刷基板(电路基板)的各工序(印刷工序、安装工序、回流工序)。具体地说，生产线1，如图2所示，包括：进行在基板上粘贴焊锡的焊锡印刷工序的焊锡印刷装置10；进行在基板上安装电子部件的部件安装工序的部件安装装置20；进行焊接基板上的电子部件的回流工序的回流装置30。即，在从生产线的上游向下游的方向上，按顺序配置有焊锡印刷装置10、部件安装装置20、回流装置30。

此外，在焊锡印刷装置10的附近配置有焊锡印刷检查装置(检查装置)102a，在部件安装装置20的附近配置有部件安装检查装置(检查装置)102b，在回流装置30的附近配置有基板检查装置(检查装置)102c。进而，各检查装置102a、102b、102c，与终端104及工序管理装置(信息处理装置)103一起连接到LAN(Local Area Network)上。

焊锡印刷检查装置102a，用于检查由焊锡印刷装置10处理后的基板的质量。部件安装检查装置102b用于检查由部件安装装置20处理后的基板。基板检查装置102c用于检查由回流装置30处理后的基板。

在这种生产线1中，焊锡印刷装置102a、部件安装检查装置102b、基板检查装置102c、终端104、工序管理装置103、LAN，构成上述工序管理系统。

接下来，参照图1的功能框图对该工序管理系统进行说明。

如图1所示，工序管理系统100具有多个检查装置102、工序管理装置103及终端104。另外，虽然未图示，但各检查装置102、工序管理装置103、终端104，分别具有经由LAN与其他装置进行信息的收发的通信I/F(接口)。

检查装置102，分别与上述生产线中的多个设备(焊锡印刷装置10、部件安装装置20、回流装置30)相对应进行设置，实时地检测各设备中处理的各产品(即基板)的产品编号及质量状态。检查装置102，将测量到的模拟信号转换为数字数据，并将转换的数字数据(检查结果)作为产品编号数据及质量数据实时地发送到工序管理装置103。在此，在质量数据中，除了表示印刷基板上的各部的质量本身的数据之外，还包括表示该各部在印刷基板上的位置的位置信息。

另外，不限于上述说明，也可以是以下构成：从检查装置接收用于识别位置的ID来代替位置信息，工序管理装置103根据预先存储在本装置内的信息掌握位置(即取得位置信息)。

另外，图2中的各检查装置102a、102b、102c，分别与图1中的各检查装置102对应。

工序管理装置103用于管理产品(印刷基板)的生产线。终端104用于对工序管理装置103进行信息的输入输出，被设于生成现场。

以下，对工序管理装置103及终端104进行详细说明。如图1所示，工序管理装置103包括控制部110、存储部(第二存储装置)120、及存储部(第一存储装置)121，终端104包括显示部(输出装置、显示装置)105及输入部106。

控制部110，用于统一控制工序管理装置103内的各种构成的动作。控制部110例如由以PC(Personal Computer)为基础的计算机构成。并且，各种构成的动作控制通过由计算机执行控制程序来进行。该程序，例如可以是读入并使用在CD-ROM(Compact Disc Read OnlyMemory)等可移动介质中记录的程序的方式，也可以是读入并使用安装到硬盘等中的程序的方式。此外，也可以是经由未图示的外部I/F下载上述程序并安装到硬盘等中来执行的方式。另外，关于控制部110中的各框在以下详细说明。

存储部120及存储部121由上述硬盘等非易失性存储装置构成。在此，作为存储部120中存储的内容，包括上述控制程序、OS(OperatingSystem，操作系统)程序、及其他各种程序、以及各种数据。

显示部105由CRT(阴极射线管)、LCD(液晶显示元件)、PDP(等离子显示器)、有机EL(electroluminescence，电致发光)显示器、无机EL显示器等显示设备构成。显示部105，根据从工序管理装置103接收的显示数据，显示输出文字、图像等各种信息。

输入部106用于从操作员(现场作业员)接收各种输入，由输入用按钮、键盘、鼠标等指针设备、其他输入设备构成。输入部106，将由操作员输入的信息转换为输入数据，并发送到工序管理装置103。

接下来，对控制部110的各框、存储部120中存储的数据、以及存储部121中存储的数据进行详细说明。

控制部110包括工序状态收集部(检查结果取得单元)111、不良检测部112、原因信息收集部(提取单元)113、偏重方判断部(判断单元)114、不良原因确定部(不良原因取得单元)115、以及显示控制部(显示控制单元)116。此外，不良检测部112包括不良位置确定部(确定单元)130。

此外，在存储部120中存储有工序状态DB(数据库)、不良/原因对应表、及不良/原因DB。另一方面，在存储部121中预先存储有偏重方/原因对应表。

另外，控制部110中含有的各部件，是通过CPU(Central ProcessingUnit，中央运算处理装置)执行存储于存储部120中的程序、控制未图示的输入输出电路等周边电路来实现的功能框。

工序状态收集部111，用于收集通过上述生产线的各设备(各工序)处理的各产品的状态信息，具体地说，从所有的检查装置102收集由各设备处理的产品的产品编号数据及质量数据。工序状态收集部111，将从检查装置102接收的产品的产品编号数据和该产品的质量数据建立对应，与该接收时刻一起记录到存储部120的工序状态DB中。

不良检测部112，对某一产品批量中的所有产品，由工序状态收集部111进行的向工序状态DB中的产品编号数据及质量数据的记录完成后，参照工序状态DB中记录的数据，对各个产品按顺序检测各个产品中产生的所有不良，并且检测出各个不良的种类。

具体地说，不良检测部112，根据工序状态DB中存储的质量数据及产品编号数据，按照各个产品，根据管理图法进行是否产生不良的判断、以及对产生的各个不良确定不良的种类。另外，该判断及确定可以按照JIS(Japanese Industrial Standard，日本工业标准)中规定的判断规则来进行，也可以由用户独自规定。

此外，不良检测部112，针对被判断为产生了不良的产品，将该产品的产品编号数据、与表示该产品中产生的不良的种类的不良信息的组合建立对应，并发送到原因信息收集部113。在此，所谓不良信息的组合是指，与一个产品对应的至少一个不良信息。即，有时会对一个产品发送多个不良信息。这是因为对于一个产品，有时会有多种不良产生。

例如，在产品编号数据“0003”的产品中，在焊锡印刷装置10的焊锡印刷工序中产生“焊锡过少”的不良，在回流装置30的回流工序中产生“部件浮起”的不良。此时，不良检测部112，根据工序状态DB中记录的数据中与产品编号数据“0003”对应的各质量数据中、从焊锡印刷检查装置102a接收到的质量数据，检测不良并检测出作为该不良的种类的“焊锡过少”。同时，不良检测部112，根据工序状态DB中记录的信息中与产品编号数据“0003”对应的各质量数据中、从基板检查装置102c接收到的质量数据，检测不良并检测出作为该不良的种类的“部件浮起”。并且，不良检测部112，将产品编号数据“0003”和不良信息“焊锡过少”及不良信息“部件浮起”建立对应，并发送到原因信息收集部113中。

不良检测部112的不良位置确定部130，根据工序状态DB中记录的信息，按照各个不良种类确定印刷基板上的不良的产生场所。并且，不良位置确定部130将确定的产生场所发送到原因信息收集部113。

原因信息收集部113，从不良检测部112按照各个产品接收各不良信息及产品编号数据后，参照不良/原因对应表，按照各个产品读出与接收到的各不良信息的组合对应的不良原因信息。

在此，所谓不良/原因对应表是指，将表示在上述生产线中产生的不良的种类的不良信息的组合、及表示该不良的原因的不良原因信息建立了对应的表。

进而，原因信息收集部113，按照各个产品将不良信息、从不良/原因对应表读出的不良原因信息、和产品编号数据依次记录到不良/原因DB中。此外，对于从不良位置确定部130发送来的上述产生场所的信息，与各不良信息建立关联并存储到不良/原因DB中。

在此，进一步对不良/原因对应表进行详细说明。

图3是对不良/原因对应表的记录内容进行示例的图。在该例的不良/原因对应表中，各纵列中记载的“焊锡过多”“焊锡过少”“偏移”……，分别是表示在工序中产生的不良的种类的不良信息(相当于技术方案中所述的不良状态信息)，各横行中所述的“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”分别是表示该不良的原因的不良原因信息。

并且，不良信息的组合和不良原因信息的对应关系，用由上述各纵列和各横行构成的各框的圆圈表示。

例如，在与焊锡印刷结果相对的不良信息“焊锡过多”、和与回流检查结果相对的不良信息“搭桥”的组合中，该“焊锡过多”及“搭桥”的两个纵列所属的框中标记有圆圈的横行，是“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”所属的横行。即，与焊锡印刷结果相对的不良信息“焊锡过多”及与回流检查结果相对的不良信息“搭桥”这一组合，和“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”这些不良原因信息相对应。

在此，原因信息收集部113，在对于某一产品接收到与焊锡印刷结果相对的不良信息“焊锡过多”、以及与回流检查结果相对的不良信息“搭桥”这一组合时(即，该产品中产生的不良仅是焊锡印刷后的“焊锡过多”及回流后的“搭桥”，而并无其他不良产生时)，参照不良/原因对应表，检索在上述不良信息“焊锡过多”“搭桥”这两个纵列所属的框中标记有圆圈的横行。并且，在上述不良信息“焊锡过多”“搭桥”这两个纵列所属的框中标记有圆圈的横行，是不良原因信息“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”所属的横行。因此，原因信息收集部113，对于某一产品接收到与焊锡印刷结果相对的不良信息“焊锡过多”、以及与回流检查结果相对的不良信息“搭桥”的组合，而没有接收到其他不良信息时，读出不良原因信息“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”。

在此，应该注意的是，图3所示的不良/原因对应表，是表示不良信息的组合与不良原因信息的对应关系的表。针对这一点在以下详细说明。

在生产线中，种类互不相同的各个不良和种类互不相同的各个不良原因，错综复杂，互相关联。具体地说，对于某一产品中产生的一个不良，有时可以预测到多个不良原因，而对于存在一个不良原因的产品有时会带来多个不良(种类互不相同的多个不良)。

因此，在推定与某一产品中检测出的不良相对应的不良原因时，即使关于该不良可列举多个不良原因作为候补，也可通过考虑与其他不良的关系进一步精确该不良原因的候补。具体地说，对于在某一产品中检测出的不良，可列举多个不良原因作为候补时，其中也会成为该产品中没有检测到的不良的原因的不良原因，可从该候补中除去。

例如，在图3中，关于与回流检查结果相对的不良信息“搭桥”，标记有该不良信息“搭桥”的纵列所属的各框中、标记有圆圈的框，为标记有不良原因信息“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”的横行所属的框。由此，作为回流后的不良“搭桥”的原因，将“涂刷器缺陷”“基板的弯曲”“掩模厚”作为候补。

但是，当某一产品中检测出的不良仅为回流后的“搭桥”和焊锡印刷后的“印刷偏移”、而没有其他不良产生时，可将该不良“搭桥”的原因精确为“基板的弯曲”。这是因为，上述不良“搭桥”，如果不仅起因于不良原因“基板的弯曲”，还起因于其他不良原因“涂刷器缺陷”“掩模厚”，则不仅会检测到回流后的“搭桥”这一不良，还应该会检测到“焊锡过多”或“焊锡过少”、部件安装后的“搭桥”等不良(参照图3)。

因此，推定与在一个产品中检测出的各不良相对应的各不良原因时，不是将针对各不良所预测到的所有不良原因作为候补，而是将根据在一个产品中检测到的所有不良的组合预测到的不良原因作为候补即可。由于该理由，在不良/原因对应表中，将不良信息的组合和不良原因信息建立对应。

例如，原因信息收集部113，针对某一产品仅接收到回流后的“搭桥”和焊锡印刷后的“焊锡偏移”这个不良信息的组合时(即，该产品中的不良仅为上述“搭桥”及“焊锡偏移”，而没有其他不良产生时)，参照不良/原因对应表，检索回流后的“搭桥”和焊锡印刷后“焊锡偏移”的不良信息的两个纵列所属的框中标记有圆圈的横行。并且，上述不良信息“搭桥”“焊锡偏移”这两个纵列所属的框中标记有圆圈的横行，仅为不良原因信息“基板的弯曲”所属的横行。因此，原因信息收集部113，在针对某一产品仅接收到回流后的“搭桥”和焊锡印刷后的“焊锡偏移”的不良信息、而没有接收到其他不良信息时，仅读出不良原因信息“基板的弯曲”。

如上所述，原因信息收集部113的构成为，参照预先存储在存储部120中的以下信息而从存储部120中提取与表示实际由工序状态收集部111取得的检查结果的信息相关联的不良原因信息：与表示上述产品制造时的检查结果的信息同种的信息中，表示不良的状态的信息(不良状态信息)；以及分别与各个该信息的组合相关联的不良原因信息。

此外，原因信息收集部113读出了不良原因信息后，原因信息收集部113将读出的不良原因信息发送到不良原因确定部115。

偏重方判断部114，从不良/原因DB中取得上述确定的产生场所。并且，偏重方判断部114，按照各个不良的种类，判断不良的产生场所有无偏重、及在有偏重时确定偏重方。例如，在产生“焊锡过多”这一不良时，对于某一产品批量中的所有产品，根据“焊锡过多”产生的产生场所的位置信息，判断产生场所有无偏重及确定上述偏重方。

在此，在产生场所有偏重的情况中，例如，包括：如图4(a)所示，沿着涂刷器的扫描(移动)方向而在印刷基板上直线状产生的情况；或如图4(b)所示，在印刷基板上的一部分区域集中产生的情况。此外，作为产生场所没有偏重的情况，包括：同种的不良如图4(c)所示，在印刷基板的整个面上产生的情况。

并且，偏重方判断部114，按照各个不良的种类将判断结果(即有无偏重、有偏重时偏重方)发送到不良原因确定部115。在本实施方式中，偏重方判断部114，将上述表示“沿着涂刷器的扫描方向在印刷基板上直线状产生”的有无的信息(以下称为第一状态信息)、表示“在印刷基板上的一部分区域集中产生”的有无的信息(以下称为第二状态信息)、或表示“在印刷基板上的整个面上产生”的有无的信息(以下称为第三状态信息)，发送到不良原因确定部115。

在此，根据图5(a)及(b)对有无偏重、及偏重方的具体判断方法进行说明。

首先，对判断不良信息所示的不良是否“沿着涂刷器的扫描方向在印刷基板上直线状产生”的方法进行说明。

偏重方判断部114，如图5(a)所示，在与涂刷器的扫描方向垂直的方向(图中箭头的方向)上，将印刷基板上的区域分割为多个区域。即，在与涂刷器的扫描方向垂直的方向上进行分割以使分割后的各区域依次排列。

并且，偏重方判断部114，确定各区域中的不良的产生部位，针对各区域求得不良的产生率(产生部位数/产生部位的总个数)。在此，分割后的确定区域的不良率比预定值高时，判断为不良“沿着涂刷器的扫描方向在印刷基板上直线状地产生”。在其他情况下，不将其判断为不良“沿着涂刷器的扫描方向在印刷基板上直线状地产生”。另外，确定区域可以是分割后的多个区域(除了所有的区域以外)。

接下来，对判断不良信息所示的不良是否“在印刷基板上的一部分区域集中产生”的方法进行说明。

偏重方判断部114，如图5(b)所示，将印刷基板上的区域分割为矩阵状。例如，偏重方判断部114，如该图所示，将印刷基板上的区域分割为由3行3列总共9个构成的区域。

并且，偏重方判断部114，确定各区域中的不良的产生部位，针对各区域求出不良的产生率。在此，在分割后的确定区域的不良率比预定值高时，判断为不良“在印刷基板上的一部分区域集中产生”。在其他情况下，不将其判断为不良“在印刷基板上的一部分区域集中产生”。另外，确定区域可以是分割后的多个区域(除了所有的区域以外)。

最后，对判断不良信息所示的不良是否“在印刷基板上的整个面产生”的方法进行说明。

此时，与判断是否“在印刷基板上的一部分区域集中产生”同样，如图5(b)所示，分割为矩阵状。并且，偏重方判断部114确定各区域中的不良的产生部位，针对各区域求出不良的产生率。在此，分割后的所有区域的不良率均比预定值高时，判断为不良“在印刷基板上的整个面产生”。在其他情况下，不将其判断为不良“在印刷基板上的整个面产生”。

另外，在采用上述方法的情况下，关于是否“在印刷基板上的一部分区域集中产生”的判断、和是否“在印刷基板上的整个面产生”的判断，前半部分的处理内容相同，因此可以在一个判断中使用另一个判断的处理结果。

另外，上述偏重方的判断方法，仅是一例，并不限于这种判断方法。例如，也可以按照各个不良的种类，求出不良的所有产生部位的重心位置、和为了发现该不良而进行了检查的所有的检查部位的重心位置，在重心位置之间的位置偏离较大时，判断为“在印刷基板上的一部分区域集中产生”。

接下来，根据图6对存储于存储部121中的偏重方/原因对应表进行说明。偏重方/原因对应表，是将有无偏重、及在有偏重时将偏重方分别与不同的不良原因信息建立关联并进行存储的表(数据库)。

换言之，偏重方/原因对应表是表示以下信息的数据库：至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息；和表示分别与上述各个偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。在此，在偏重方/原因对应表中，偏重信息表示有偏重的情况下，偏重信息还表示出不良的产生场所的偏重方。

在该图所示的例中，与上述第一状态信息同内容的信息(第一偏重信息)，和“涂刷器缺陷”这一不良原因信息相关联；与上述第二状态信息同内容的信息(第二偏重信息)，和“基板的弯曲”这一不良原因信息相关联；与上述第三状态信息同内容的信息(第三偏重信息)，和“掩模厚”这一不良原因信息相关联。

不良原因确定部115，从偏重方判断部114接收上述第一状态信息～第三状态信息。进而，不良原因确定部115，从原因信息收集部113接收原因信息收集部113读出的不良原因信息。在以下，以不良原因确定部115从原因信息收集部113接收到“涂刷器缺陷”及“基板的弯曲”这些不良原因信息的情况为例进行说明。

不良原因确定部115，从偏重方判断部114接收到上述第一状态信息～第三状态信息时，参照存储于存储部121中的偏重方/原因对应表。并且，不良原因确定部115，从偏重方/原因对应表中，如下所示，在有偏重时，读出不良原因信息。并且，不良原因确定部115，在读出的不良原因信息与从原因信息收集部113取得的不良原因信息重复(包括部分重复)时，将该读出的不良原因信息发送到显示控制部116。

例如，不良原因确定部115接收到第一状态信息、且其为有偏重的情况下，由于在偏重方/原因对应表内，与该第一状态信息同内容的第一偏重信息和“涂刷器缺陷”这一不良原因信息相关联，因此从偏重方/原因对应表中读出“涂刷器缺陷”这一不良原因信息。并且，由于读出的“涂刷器缺陷”这一不良原因信息与从原因信息收集部113取得的不良原因信息(即，“涂刷器缺陷”、“基板的弯曲”)重复，因此不良原因确定部115将“涂刷器缺陷”确定为真正的不良原因。并且，不良原因确定部115将该“涂刷器缺陷”这一不良原因信息发送到显示控制部116。

此外，不良原因确定部115接收到第二状态信息、且其为有偏重的情况下，由于在偏重方/原因对应表内，与该第二状态信息同内容的第二偏重信息和“基板的弯曲”这一不良原因信息相关联，因此从偏重方/原因对应表中读出“基板的弯曲”这一不良原因信息。并且，由于读出的“基板的弯曲”这一不良原因信息与从原因信息收集部113取得的不良原因信息(即，“涂刷器缺陷”、“基板的弯曲”)重复，因此不良原因确定部115将“基板的弯曲”确定为真正的不良原因。并且，不良原因确定部115将该“基板的弯曲”这一不良原因信息发送到显示控制部116。

此外，不良原因确定部115接收到第三状态信息、且其为有偏重的情况下，由于在偏重方/原因对应表内，与该第三状态信息同内容的第三偏重信息和“掩模厚”这一不良原因信息相关联，因此从偏重方/原因对应表中读出“掩模厚”这一不良原因信息。但是，此时，不良原因确定部115读出的“掩模厚”这一不良原因信息，与从原因信息收集部113取得的不良原因信息(即，“涂刷器缺陷”、“基板的弯曲”)没有重复。

因此，不良原因确定部115不将该“掩模厚”这一不良原因信息确定为真正的不良原因。并且，此时，不良原因确定部115，不将“掩模厚”这一不良原因信息发送到显示控制部116，而结束处理。

这样一来，不良原因确定部115，参照预先存储于存储部121中的、至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息(第一～第三偏重信息)、和表示分别与上述各个偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，从存储部121中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

另外，在上述说明中以“焊锡过多”这一不良信息为例进行了说明，但不限于此，可对每个表示当前产生的不良的不良信息，分别进行上述一系列的处理。但是，未必需要对当前产生的每个不良信息进行上述处理，在确定了不良原因信息(即，确定了不良原因)的时刻，即可停止处理。

此外，以上说明了如下构成：偏重方判断部114按照各个不良的种类确定不良的产生场所有无偏重、及在有偏重时确定偏重方，并将第一状态信息～第三状态信息的某一个发送到不良原因确定部115中。但是，也可以是如下所示的构成。

首先，不良原因确定部115从原因信息收集部113接收到不良原因信息时，不良原因确定部115参照存储于存储部121中的偏重方/原因对应表。并且，不良原因确定部115，在该偏重方/原因对应表中，读出与上述接收到的不良原因信息相关联的偏重信息。并且，不良原因确定部115将该读出的偏重信息发送到偏重方判断部114。

偏重方判断部114从不良原因确定部115接收到上述偏重信息后，仅判断接收到的偏重信息所示的偏重是否产生。并且，当上述接收到的偏重信息所示的偏重产生时，偏重方判断部114将表示该主旨的信息发送到不良原因确定部115。

不良原因确定部115，从偏重方判断部114接收到该信息时，将在偏重方/原因对应表中与发送到偏重方判断部114的偏重信息相关联的不良原因信息发送到显示控制部116。

在该构成的情况下，也可将与之前所示的构成相同的不良原因信息发送到显示控制部116。

显示控制部116从不良原因确定部115接收不良原因信息。并且，显示控制部116将该接收到的不良原因信息显示在显示部105的显示画面上。

如上所述，工序管理装置(信息处理装置)103包括：工序状态收集部(检查结果取得单元)111，从检查装置102取得印刷基板(组合多个部件制造而成的产品)在制造时的检查结果；不良位置确定部(确定单元)130，根据工序状态收集部111取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所；偏重方判断部(判断单元)114，判断由不良位置确定部130确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因确定部(不良原因取得单元)115，参照预先存储于存储部(第一存储装置)121中的、至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息、和表示分别与上述各个偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部(输出控制单元)116，将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部(输出装置)105输出到外部。

根据该构成，可由工序状态收集部111从检查装置102取得印刷基板制造时的检查结果。此外，可由不良位置确定部130，根据工序状态收集部111取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所。进而，可由偏重方判断部114判断：由不良位置确定部130确定的产生场所中，同种不良产生的产生场所有无偏重。

此外，在存储部121中预先存储有：至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息；和表示分别与上述各个偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在存储部121中，将表示不良的产生场所有偏重时、及/或不良的产生场所无偏重时的各情况的偏重信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应并进行存储。

并且，在存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果相对应的偏重信息时，不良原因确定部115从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，由偏重方判断部114判断为有偏重、且存储部121中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因确定部115取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，由偏重方判断部114判断为无偏重、且存储部121中存储有表示无偏重的偏重信息时，不良原因确定部115取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

不良的产生场所的偏重方和不良原因有密切的关系。因此，将表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息预先建立关联并存储到存储部121中，且通过参照该建立了关联的信息，不良原因确定部115可取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本实施方式中，可根据不良的产生场所有无偏重推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过显示控制部116将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部105输出到外部。进而，根据从检查结果102得到的检查结果判断有无偏重。

因此，在工序管理装置103中，不用增加检查项目，即可进行精度更高的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

在上述说明中，以如下构成为例进行了说明：通过原因信息收集部113精确不良原因，在此基础上，不良原因确定部115从上述精确了的不良原因中推定真正的不良原因。但由原因信息收集部113精确不良原因的处理并不是必须进行的处理。即，关于不良原因的推定，可以仅由不良原因确定部115推定不良原因。

接下来，根据图7对工序管理装置103中关于不良原因的推定的处理流程进行说明。另外，以下的流程表示不由原因信息收集部113进行精确不良原因的处理的情况。

首先，工序状态收集部111从检查装置102取得产品编号数据及质量数据(检查结果)(S1)。在S1后，不良检测部112的不良位置确定部130，根据在S1中取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所(S2)。在S2后，偏重方判断部114，判断通过S2确定的产生场所中同种不良产生的产生场所有无偏重、及在有偏重时判断偏重方(S3)。

在S3后，不良原因确定部115，参照预先存储于存储部121中的偏重方/原因对应表，当偏重方/原因对应表中存储有与S3中的判断结果对应的偏重信息时，从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息(S4)。在S4后，显示控制部116将在S4中取得的不良原因信息显示在显示部105的显示画面上(S5)。由此，结束关于不良原因的推定的处理。

在上述说明中，以如下构成(也称为第一构成)为例进行了说明：偏重方判断部114，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所有无偏重、及在有偏重时确定偏重方。以下，对下述构成(也称为第二构成)进行说明：偏重方判断部114，按照各个不良的种类，确定检查装置102中的不良的检出时刻有无偏重、及在有偏重时确定偏重方。另外，在以下，以采用第二构成时与第一构成的不同点为主进行说明。

首先，使不良检测部112具有用于确定不良的检出时刻的时刻确定部(确定单元，未图示)。在此，时刻确定部，根据存储于工序状态DB中的信息，按照各个不良的种类，确定不良的检出时刻。时刻的确定中利用上述接收时刻的信息。并且，时刻确定部将确定了的检出时刻按照各个不良的种类发送到偏重方判断部114。另外，可将上述接收时刻用作不良的检出时刻的原因是，工序管理装置103从检查装置102实时地接收检查结果(质量数据)。

偏重方判断部114，从时刻确定部按照各个不良的种类接收确定了的不良的检出时刻。并且，偏重方判断部114，按照各个不良的种类，确定不良的检出时刻有无偏重、及在有偏重时确定偏重方。例如产生“焊锡过多”这一不良时，对于某一产品批量的所有产品，根据检测出“焊锡过多”这一不良的时刻的信息，确定不良的检出时刻有无偏重、及上述偏重方。

在此，上述检出时刻有偏重的情况，包括“焊锡过多”等各不良例如从过去的某个时刻开始直到现在为止一直产生的情况、及仅在某个产品批量中产生的情况。

并且，偏重方判断部114，按照各个不良的种类，将判断结果(即，有无偏重、在有偏重时将偏重方)发送到不良原因确定部115。在本实施方式中，偏重方判断部114，将上述表示“从过去的某个时刻直到现在为止一直产生”的信息(以下称为第四状态信息)、表示“并无特别”的信息(以下称为第五状态信息)、或表示“仅在某一产品批量中产生”的信息(以下称为第六状态信息)发送到不良原因确定部115。

根据图8对采用上述第二构成时存储于存储部121中的偏重方/原因对应表进行说明。在该图所示的例中，与上述第四状态信息同内容的信息(第四偏重信息)，和“涂刷器缺陷”这一不良原因信息相关联；与上述第五状态信息同内容的信息(第五偏重信息)，和“基板的弯曲”这一不良原因信息相关联；与上述第六状态信息同内容的信息(第六偏重信息)，和“掩模厚”这一不良原因信息相关联。

并且，不良原因确定部115，从偏重方判断部114接收上述第四状态信息、第五状态信息、或第六状态信息。另外，之后的不良原因确定部115中的处理，和上述第一构成的情况相同，因此省略其说明。

如上所述，上述第二构成的情况下，工序管理装置103包括：工序状态收集部(检查结果取得单元)111，从检查装102实时地取得印刷基板制造时的检查结果；时刻确定部(确定单元)，根据工序状态收集部111取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；偏重方判断部(判断单元)114，判断由时刻确定部确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因确定部(不良原因取得单元)115，参照预先存储于存储部121中的、至少表示了不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个该偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部(输出控制单元)116，将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部(输出装置)105输出到外部。

根据该构成，可由工序状态收集部111从检查装置102取得印刷基板制造时的检查结果。此外，可由上述时刻确定部，根据工序状态收集部111取得的检查结果、及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类确定检查装置102中的不良的检出时刻。进而，可由偏重方判断部(判断单元)114判断：由上述时刻确定部确定的检出时刻中，同种不良产生的检出时刻有无偏重。

此外，在存储部121中预先存储有：至少表示了不良的检出时刻有无偏重的偏重信息；和表示分别与上述各个偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在存储部121中，将表示不良的检出时刻有偏重时、及/或不良的检出时刻无偏重时的各情况的偏重信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应并进行存储。

并且，在存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果相对应的偏重信息时，不良原因确定部115从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，由偏重方判断部114判断为有偏重、且存储部121中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因确定部115取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，由偏重方判断部114判断为无偏重、且存储部121中存储有表示无偏重的偏重信息时，不良原因确定部115取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

不良的检出时刻的偏重方和不良原因有密切的关系。因此，将表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息预先建立关联并存储到存储部121中，且通过参照该建立了关联的信息，不良原因确定部115可取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本实施方式中，可根据不良的检出时刻有无偏重推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过显示控制部116将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部105输出到外部。进而，根据从检查装置得到的检查结果判断有无偏重。

因此，在工序管理装置103中，不用增加检查项目，即可进行精度更高的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

另外，在上述说明中，是将工序管理装置103从检查装置102接收到质量数据的时刻用作不良的检出时刻的构成例，但不限于此。

例如，在各检查装置102将检查结果与检查时刻建立关联并进行存储的构成的情况下，工序状态收集部111，代替接收时刻的信息，而将表示上述检查时刻的时刻信息记录到存储部120的工序状态DB中。

并且，可将该记录的检查时刻用作不良的检出时刻。这种构成的情况下，来自检查装置102的工序管理装置103产品编号数据及质量数据的发送，可按照预定周期、按照产品、或按照产品批量进行。

如上所述，此时，工序管理装置103包括：工序状态收集部(检查结果取得单元)111，从检查装置102取得印刷基板制造时的检查结果、以及表示进行了各检查的时刻的时刻信息；时刻确定部，根据工序状态收集部111取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置102中的不良的检出时刻；偏重方判断部(判断单元)114，判断由上述时刻确定部确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；不良原因确定部(不良原因取得单元)115，参照预先存储于存储部121中的、至少表示了不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个该偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部(输出控制单元)116，将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部(输出装置)105输出到外部。

此外，在上述说明中，举例说明了“从过去的某一时刻直到现在为止一直产生”、“仅在某一产品批量中产生”作为检出时刻的偏重，但不限于此。例如也可以是“从过去的某一时刻开始到过去的另一时刻为止的期间产生”、“仅在特定的季节产生”、或“在不良率随时间一起增加的步调中产生”。

此外，对上述检出时刻的偏重方的判断的具体例进行说明。在偏重方判断部114中，对某一定时间内同种不良的产生次数进行取样时，例如，得到图9(a)的波形。此时，偏重方判断部114，如图9(b)所示，利用直线近似表示减去了几乎未产生不良时的平均不良产生次数、或减去了取样整体的平均不良产生次数的波形的包络线(未图示)。并且，偏重方判断部114生成图9(c)所示的波形。

另外，将图9(c)所示的三条直线(线段)按照时间的先后顺序设为直线A、直线B、直线C。此外，将直线A与横轴的交点的时刻设为t1，将直线C与横轴的交点的时刻设为时刻t2。

此时，偏重方判断部114判断从上述时刻t1到时刻t2为止的时刻未检测出不良的时刻。偏重方判断部114，利用该判断了的时刻，判断在某一定期间内(即，包括了上述某一定时间的期间内)、不良的检出时刻有无偏重、以及偏重方。

此外，如该图所示，设与直线A对应的时间为时间A、与直线B对应的时间为时间B、与直线C对应的时间为时间C时，可判断如下。例如，如图10(a)所示，时间A、B、C均相当短时，例如在相当于生产的节拍时间(takt time，产品一个一个的制造间隔)的1～2倍的时间以下时，可以判断为不良突发产生。此外，如图10(b)所示，时间A很长，例如为生产的节拍时间的10倍以上时，判断为不良逐渐增加。

此外，但判断不良的检出时刻的偏重方时，由于在生产线中制造非常多的印刷基板，因此可以是以产品批量为基准判断不良的检出时刻的偏重的构成。即，按照每个产品批量划分时间，求出各划分部分的不良率，并根据求出的各不良率判断上述偏重方。

接下来，对如下构成(以下称为第三构成)进行说明：偏重方判断部114，判断有无同种不良的产生次数偏多产生的构成部件(即，构成印刷基板的各部件、焊锡、基板本身等)，以及在判断为有不良偏多产生的构成部件时，判断该构成部件名。另外，在以下，以采用第三构成时与第一构成的不同点为主进行说明。

在此，所谓“不良偏多产生”是指，某一构成部件的不良产生率，与其他构成部件的不良产生率相比，高了预定值以上。此外，作为构成部件中有偏重的情况，包括：“焊锡过多”等各不良仅在某种基板上产生的情况、仅在某种部件上产生的情况等。另外，上述预定值，可适当考虑生产效率及成本等，例如按照产品的各个种类进行设定。

首先，使不良检测部112具有用于确定不良的构成部件的不良部件确定部(确定单元)(未图示)。在此，不良部件确定部，根据存储于工序状态DB中的信息，按照各个不良的种类，确定不良的构成部件。并且，不良部件确定部将确定了的不良部位按照各个不良的种类发送到偏重方判断部114。

另外，不良部件的确定，可以利用上述位置信息、和例如预先存储在存储部120等存储装置中的表示了位置和部件的对应关系的信息。

此外，上述不良产生率的计算，由偏重方判断部114按照不良产生的各个构成部件进行。例如，如图1(a)所示，部件种类C的焊锡过多的产生率，与其他部件种类A、B及D的同产生率相比，高了预定值以上时，偏重方判断部114判断为产生与部件种类相关的偏重，并且判断部件种类C为不良偏多产生的构成部件。此外，例如，如图11(b)所示，虽然基板种类C的焊锡过多的产生率，比其他基板种类A、B及D的同产生率高，但没有高过预定值以上时，偏重方判断部114判断为没有产生与基板种类相关的偏重。另外，作为部件种类(部件的种类)，例如包括IC、电容器、电阻等各个元件。

此外，偏重方判断部114，按照各个不良的种类，将判断结果(即，有无偏重、在有偏重时将有偏重的构成部件的种类)发送到不良原因确定部115。在本实施方式中，偏重方判断部114，将上述表示“仅在某种基板上产生”的信息(以下称为第七状态信息)、或表示“并无特别”的信息(以下称为第八状态信息)发送到不良原因确定部115。

在此，根据图12对采用上述第三构成时存储于存储部121中的偏重方/原因对应表进行说明。在该图所示的例中，与上述第七状态信息同内容的信息(第七偏重信息)，和“基板的弯曲”这一不良原因信息相关联；与上述第八状态信息同内容的信息(第八偏重信息)，和“涂刷器缺陷”及“掩模厚”这些不良原因信息相关联。

并且，不良原因确定部115，从偏重方判断部114接收上述第七状态信息、或第八状态信息。另外，之后的不良原因确定部115中的处理，和上述第一构成的情况相同，因此省略其说明。

如上所述，上述第三构成的情况下，工序管理装置103包括：工序状态收集部(检查结果取得单元)111，从检查装置102取得印刷基板制造时的检查结果；不良部件确定部(确定单元)，将构成上述印刷基板的部件作为构成部件时，根据工序状态收集部111取得的检查结果，确定不良的构成部件；偏重方判断部(判断单元)114，判断由上述不良部件确定部确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；不良原因确定部(不良原因取得单元)115，参照预先存储于存储部121中的、至少表示了与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个该偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部(输出控制单元)116，将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部(输出装置)105输出到外部。

根据该构成，可由工序状态收集部111从检查装置102取得印刷基板制造时的检查结果。此外，可由上述不良部件确定部，根据工序状态收集部111取得的检查结果，确定不良的构成部件。进而，可由偏重方判断部(判断单元)114判断：由上述不良部件确定部确定的构成部件中，有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件。

此外，在存储部121中预先存储有：至少表示了与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息；和表示分别与上述各个偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息。即，在存储部121中，将表示与不良的产生率相关的构成部件有偏重时、及/或构成部件无偏重时的各情况的偏重信息，与表示不良原因的不良原因信息建立对应并进行存储。

并且，在存储部121中存储有与偏重方判断部114的判断结果相对应的偏重信息时，不良原因确定部115从存储部121取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

即，例如，由偏重方判断部114判断为有偏重、且存储部121中存储有表示有偏重的偏重信息时，不良原因确定部115取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。此外，由偏重方判断部114判断为无偏重、且存储部121中存储有表示无偏重的偏重信息时，不良原因确定部115取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

关于不良的产生，与不良的产生率相关的构成部件的偏重方和不良原因有密切的关系。因此，将表示与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息和表示不良原因的不良原因信息预先建立关联并存储到存储部121中，且通过参照该建立了关联的信息，不良原因确定部115可取得与有无偏重对应的不良原因信息。

这样一来，在本实施方式中，可根据与不良的产生率相关的构成部件有无偏重来推定不良原因，因此与不考虑这种偏重的有无的构成相比，可进行高精度的不良原因的推定。

此外，可通过输出控制单元将由不良原因确定部115取得的不良原因信息从显示部105输出到外部。进而，根据从检查装置102得到的检查结果判断有无偏重。

因此，在工序管理装置103中，不用增加检查项目，即可进行精度更高的不良原因的推定，且可将推定出的不良原因通知给用户。

在此，根据图13对判断部件种类有无偏重的处理流程的一例进行说明。

工序管理装置103接收由用户通过输入部106进行的表示不良部位的信息的输入(S11)。另外，此时，可以是如下构成：显示控制部116在显示部105上显示表示产生不良的各部位的信息，用户在输入时，参照该信息输入表示上述不良部位的信息。另外，可根据上述产生不良的产生场所的位置信息，进行产生不良的部位的显示。

在S11后，偏重方判断部114，参照不良/原因DB，确定在S11中输入的不良部位中不良的种类(不良信息)(S12)。在S12后，参照不良/原因DB，确定在S11中输入的不良部位的部件种类(S13)。

在S13后，偏重方判断部114，对于通过S13确定的部件种类及其他所有部件种类，参照不良/原因DB，算出通过S12确定的不良的种类所表示的不良的产生率(S14)。

在S14后，偏重方判断部114比较各个部件种类的不良产生率。即，判断是否存在不良产生率比其他部件种类的不良产生率高的部件种类(S15)。存在时，偏重方判断部114判断为部件种类有偏重(S16)。而在不存在时，偏重方判断部114判断为部件种类无偏重(S17)。由此，结束判断的处理。

在上述实施方式中，构成为，显示控制部116，使不良原因确定部115推定的不良原因显示在显示部105的显示画面上，但不限于此。可构成为，代替显示控制部而设置声音输出控制部(输出控制单元)，该声音输出控制部，使得从扬声器等声音输出装置(输出装置)，声音输出由不良原因确定部115确定的不良原因。

此外，在上述实施方式中，分别对以下构成进行说明：(1)偏重方判断部114，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所有无偏重、及在有偏重时确定偏重方(第一构成)；(2)偏重方判断部114，按照各个不良的种类，确定检查装置102中的不良的检出时刻有无偏重、及在有偏重时确定偏重方(第二构成)；(3)偏重方判断部114，判断有无同种不良的产生次数偏多产生的构成部件、及在判断为有不良偏多产生的构成部件时判断该构成部件名(第三构成)。并且，关于各构成，分别利用准备好的偏重方/原因对应表，由不良原因确定部推定真正的不良原因。

但是，不限于此，也可以构成为，利用第一～第三构成中的多个构成、以及与该多个构成对应的偏重方/原因对应表，由不良原因确定部115推定真正的不良原因。

此外，在上述实施方式中，对所有的不良信息，利用了一个偏重方/原因对应表。即，对于各不良信息，利用共同的偏重方/原因对应表。但是，不限于此。也可对应各个不良信息设置偏重方/原因对应表，并对应各个不良信息使用各自的偏重方/原因对应表。

即，首先，分别将上述不良状态信息与预先存储于存储部121中的偏重信息建立关联。并且，在存储部121中存储有与表示由工序状态收集部111取得的检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息、且为与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，不良原因确定部115从存储部121取得该偏重信息所关联的不良原因信息。

该构成的情况下，分别将上述不良状态信息与预先存储在存储部121中的偏重信息建立关联。即，在存储部121中，以不良状态信息为基础时，按照该不良状态信息的种类，区分并存储各偏重信息。

此外，在存储部121中存储有与表示由工序管理装置103取得的检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息、且为与偏重方判断部114的判断结果对应的偏重信息时，不良原因确定部115从存储部121取得该偏重信息所关联的不良原因信息。即，当不良原因确定部115取得不良原因信息时，利用与表示检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息。

这样一来，与得到的各个检查结果相对应，取得不良原因信息时所利用的偏重信息不同。因此，可根据检查结果改变不良原因信息的取得方法。因此，与没有将不良状态信息与偏重信息建立关联的情况相比，可以进行精度更高的不良原因的推定。

在上述实施方式中，表示了不良原因确定部115自动从存储部121取得不良原因的构成，当也可为以下构成。即，例如，将各个部件种类的不良的产生率图表化，显示控制部116将该图表显示到显示部105的显示画面上(参照图11(a))。此时，用户观看该图表，判断有无偏重、在有偏重时判断偏重方。

另外，该方法不仅适用于各个部件种类的不良的产生率相关的偏重，也同样适用于各个基板种类的不良的产生率、不良的产生部位、及不良的检出时刻。例如，关于不良的产生部位，在如图5(a)或(b)所示分割了区域的基础上，根据不良的产生次数使各区域的显示色彩变化，向用户表示偏重方。

本发明并不限于上述实施方式，可在权利要求所示的范围内进行各种变更。即，在权利要求所示的范围内组合适当变更了的技术手段得到的实施方式，仍属于本发明的技术范围。

最后，工序管理装置103的各框，特别是控制部110，可以由硬件逻辑构成，也可以如下利用CPU通过软件来实现。

即，工序管理装置103具有：用于执行实现各功能的控制程序的命令的CPU(Central Processing Unit)、存储有上述程序的ROM(ReadOnly Memory)、扩展上述程序的RAM(Random Access Memory)、存储上述程序及各种数据的存储器等存储装置(记录介质)等。并且，本发明的目的可通过如下方式实现：将计算机可读取的记录有作为实现上述功能的软件的工序管理装置103的控制程序的程序代码(执行形式程序、中间代码程序、源程序)的记录介质，提供给上述工序管理装置，由该计算机(或CPU、MPU)读出并执行记录在记录介质中的程序代码。

上述记录介质例如可以使用：磁带、盒式磁带等带类，包括软盘(注册商标)/硬盘等磁盘、CD-ROM/MO/MD/DVD/CD-R等光盘的盘类，IC卡(包括存储卡)/光卡等卡类，或掩模ROM/EPROM/EEPROM/闪存ROM等半导体存储器类等。

并且，工序管理装置103可与通信网络连接，可经由通信网络提供上述程序代码。作为该通信网络没有特别限定，例如可使用因特网、内部网、外部网、LAN、ISDN、VAN、CATV通信网、虚拟专用网(virtualprivate network)、电话线路网、移动体通信网、卫星通信网等。并且，作为构成通信网络的传送介质没有特别限定，例如可以使用IEEE1394、USB、电力线传送、电缆TV线路、电话线、ADSL线路等有线，或者IrDA、摇控器这样的红外线、Bluetooth(注册商标)、802.11无线、HDR、移动电话网、卫星线路、地面波数字网等无线。并且本发明也可通过上述程序代码经电子传送而具体化的嵌入到载波的计算机数据信号的方式来实现。

产业上的可利用性

本发明可适用于各种产品的制造工序。特别是适于印刷基板的生产工序的管理，但不限于此，可用于工业产品的生产工序中。

Claims (15)

1.一种信息处理装置，其特征在于，包括：

检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所；

判断单元，判断由上述确定单元确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；

不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

2.根据权利要求1所述的信息处理装置，其特征在于，

上述偏重信息，在表示上述产生场所有偏重时，还表示出上述产生场所的偏重方，

上述判断单元，在判断为上述产生场所有偏重时，还判断上述产生场所的偏重方，

当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的偏重方相同的偏重方的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

3.根据权利要求1所述的信息处理装置，其特征在于，

将与表示上述产品在制造时的检查结果的信息同种的信息、且表示了不良的状态的信息，作为不良状态信息时，

具有提取单元，其参照预先存储于第二存储装置中的、上述不良状态信息以及与各个该不良状态信息的组合相关联的不良原因信息，从第二存储装置中提取与表示由上述检查结果取得单元取得的检查结果的信息相关联的不良原因信息，

当上述第一存储装置中存储有由上述提取单元提取出的不良原因信息时，上述不良原因取得单元，从上述提取出的不良原因信息中进行不良原因信息的取得。

4.根据权利要求1所述的信息处理装置，其特征在于，

将与表示上述产品在制造时的检查结果的信息同种的信息、且表示了不良的状态的信息，作为不良状态信息时，

分别将上述不良状态信息与预先存储于上述第一存储装置中的偏重信息建立关联，

当上述第一存储装置中存储有与表示由上述检查结果取得单元取得的检查结果的信息相同的不良状态信息所关联的偏重信息、且为与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置中取得该偏重信息所关联的不良原因信息。

5.根据权利要求1所述的信息处理装置，其特征在于，

上述输出装置为显示装置，

上述输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息显示在显示装置上。

6.根据权利要求1所述的信息处理装置，其特征在于，

上述产品是通过在基板上搭载电子部件而制成的电路基板。

7.一种信息处理装置，其特征在于，包括：

检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；

判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；

不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

8.根据权利要求7所述的信息处理装置，其特征在于，

上述偏重信息，在表示上述检出时刻有偏重时，还表示出上述检出时刻的偏重方，

上述判断单元，在判断为上述检出时刻有偏重时，还判断上述检出时刻的偏重方，

当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的偏重方相同的偏重方的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

9.一种信息处理装置，其特征在于，包括：

检查结果取得单元，从检查装置实时地取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定单元，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；

判断单元，判断由上述确定单元确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；

不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

10.一种信息处理装置，其特征在于，包括：

检查结果取得单元，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定单元，将包括了上述部件的、构成上述产品的部件作为构成部件时，根据上述检查结果取得单元取得的检查结果，确定不良的构成部件；

判断单元，判断由上述确定单元确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；

不良原因取得单元，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示与不良的产生率相关的构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断单元的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制单元，使由上述不良原因取得单元取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

11.根据权利要求10所述的信息处理装置，其特征在于，

上述偏重信息，在表示存在上述不良偏多产生的构成部件时，还具有表示上述构成部件的种类的信息，

上述判断单元，在判断为存在上述不良偏多产生的构成部件时，还判断该构成部件的种类，

当上述第一存储装置中存储有表示出与由上述判断单元判断出的构成部件种类相同的构成部件种类的偏重信息时，上述不良原因取得单元，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息。

12.一种信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：

检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果，按照各个不良的种类，确定不良的产生场所；

判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的产生场所中、同种不良产生的产生场所有无偏重；

不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的产生场所有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

13.一种信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：

检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果、以及表示进行各检查的时刻的时刻信息，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果及时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；

判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；

不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

14.一种信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：

检查结果取得步骤，从检查装置实时地取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定步骤，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果、以及表示取得了上述检查结果的时刻的时刻信息，按照各个不良的种类，确定上述检查装置中的不良的检出时刻；

判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的检出时刻中、同种不良产生的检出时刻有无偏重；

不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示不良的检出时刻有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

15.一种信息处理方法，其特征在于，包括以下步骤：

检查结果取得步骤，从检查装置取得产品在制造时的检查结果，所述产品是组合多个部件制造而成；

确定步骤，将包括了上述部件的、构成上述产品的部件作为构成部件时，根据通过上述检查结果取得步骤取得的检查结果，确定不良的构成部件；

判断步骤，判断通过上述确定步骤确定的构成部件中、有无同种不良的产生率偏多产生的构成部件；

不良原因取得步骤，参照预先存储于第一存储装置中的、至少表示构成部件有无偏重的偏重信息、以及表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当上述第一存储装置中存储有与上述判断步骤中的判断结果对应的偏重信息时，从上述第一存储装置中取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；以及

输出控制步骤，使通过上述不良原因取得步骤取得的不良原因信息，从输出装置输出到外部。

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