CN1813289A - 光学信息记录再现装置及记录光强度学习方法 - Google Patents

光学信息记录再现装置及记录光强度学习方法 Download PDF

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Abstract

提供一种进行能够决定记录功率不会过大而降低了波形畸变的最佳记录条件的记录功率学习的光学信息记录再现装置。记录功率改变电路(12)将从记录功率产生电路(5)输出的功率学习用记录图案的前端部及后端部处的记录功率Po与中间部处的记录功率Pm的比率为一定，改变设定记录功率Po、Pm，来记录记录功率学习用数据。在记录功率学习用数据的再现时，容许功率范围决定电路(11)将由功率计算电路(8)根据从再现信号中检测到的调制度与容许上限调制度计算出的记录功率作为上限值、将由容许波形畸变功率计算电路(10)根据从再现信号中检测到的波形畸变量与容许波形畸变量计算出的记录功率作为下限值，来决定记录功率的容许范围。

Description

光学信息记录再现装置及记录光强度学习方法
技术领域
本发明涉及对光学记录媒体进行信息的记录和再现的光学信息记录再现装置，以及学习记录信息时的记录光强度的方法。
背景技术
下面参照图15到图21说明以往的光学信息记录再现装置及记录光强度学习方法。
图15是表示以往的光学信息记录再现装置的结构例的框图(例如参照日本特表平7-833261号公报)。在图15中，光学信息记录再现装置包括以下部件构成：作为光学记录媒体的光盘1；拾波器2，装载有对光盘1照射光束的激光二极管；激光驱动电路3，驱动拾波器2内的激光二极管；激光输出控制电路4，对激光驱动电路3指示期望的激光器输出；初始功率读入电路6，读入记录在光盘1上的初始记录功率；记录功率改变电路20，根据所读取的初始记录功率改变记录功率；非对称检测电路18，根据记录在光盘1上的记录图案检测表示再现信号对称性的非对称值；目标非对称记录功率决定电路19，根据所检测到的非对称值，来决定实现期望的非对称值的记录功率；记录图案产生电路5，产生记录在光盘1上的记录图案。
在光盘1上，如图16所示，除了记录信息的数据区域21以外，在光盘1的内周部设有在信息记录之前根据需要而学习记录功率的记录功率学习区域(PCA：Power Calibration Area)22。
在光学信息记录再现装置进行记录功率学习时，首先通过初始功率读入电路6读入记录在光盘1上的推荐记录功率及目标非对称值。该推荐记录功率是在基于一定条件记录时能够实现最佳的记录状态的记录功率。目标非对称值是最佳的记录状态时的非对称值，非对称值与记录状态具有一定的相关性，所以被用作记录功率学习时的指标。
在实际记录信息的情况下，会因记录时的温度状态导致的记录媒体的光灵敏度变化、拾波器2的尘埃等导致的激光传送效率降低、焦点位置偏差等定位误差、倾斜偏差等机械误差等，使最佳记录功率发生偏差，所以，需要在记录功率学习区域22中学习对应于记录时状态的最佳记录功率。
接着，使拾波器2移动到设于光盘1内周部的记录功率学习区域22，由记录图案产生电路5产生记录功率学习用图案，并且根据由初始功率读入电路6读入的推荐记录功率，如图17所示，通过记录功率改变电路20从初始记录功率Pw1开始以记录功率增量ΔPw、分5阶段改变记录功率，使用记录功率学习区域22内的一部分范围即记录功率学习扇区，来记录记录功率学习用图案。
在非对称检测时，由拾波器2再现对应于各记录功率的再现波形，通过非对称检测电路18检测各记录功率下的非对称值。
图18表示通过适当的记录功率记录时的再现波形。记录功率学习用图案以与记录信息时相同的记录图案来记录，所以在记录单位时间T的基准下，由3T～11T的记录标记(以后只简称作标记)和未记录空间(以后只简称作空间)构成。
非对称检测电路18，根据再现信号的振幅值A中的对应于最长空间、最短空间、最长标记、最短标记的各个再现信号的振幅值AH1、AH2、AL1、AL2，用以下的式(1)计算非对称值As。
As＝(((AH2+AL2)/2)-((AH1+AL1)/2))
    /(AH1-AL1)                                  ……(1)
非对称检测电路18根据记录功率和检测到的非对称值，求出图19所示的各记录功率和非对称值的关系。
目标非对称记录功率决定电路19根据记录功率和非对称值的关系，决定实现目标非对称值As_t的记录功率Pw_t。
将信息记录到数据区域21中时，激光输出控制电路4动作，以便成为进行记录功率学习后决定的记录功率，以在信息记录时的状态下的最佳记录功率来记录信息。
此外，近年来，高记录密度且对应于高速记录的记录型DVD媒体也逐渐普及，逐渐从图20所示那样的记录图案波形由多个脉冲构成的多脉冲方式，向图21所示那样的记录图案波形由1个脉冲构成的非多脉冲方式转变。
例如，在作为记录型DVD媒体的高速记录标准的“DVDSpecifications for Recordable Disc for General Partl OptionalSpecifications 4x-SPEED DVD-R”中记载有记录图案波形。
图20是表示以在记录速度较低时使用的多脉冲方式进行高速记录时的记录数据波形、记录图案波形(以下简称为记录波形)、此时的激光发光波形、所记录的标记形状、以及再现波形的图。由图20可知，在激光器发光中没有足够的频带，激光较弱，达不到足够的记录发光水平，所以不能充分记录想要记录的标记，其再现波形也变弱。
图21是表示使用非多脉冲方式进行高速记录时的记录数据波形、记录波形、此时的激光发光波形、所记录的标记形状、以及再现波形的图。由图21可知，即使在激光器发光中没有足够的频带，也能够使记录波形前端部的脉冲足够长，所以激光发光波形也能够达到规定的发光值，并且由于与记录波形后端部对应的激光发光波形也只要是从与记录波形的中间部对应的发光水平上升就可以，所以能够达到规定的发光值，所记录的标记也能够形成规定的标记形状。
与此时的记录波形的前端部及后端部对应的记录功率发光值Po与对应于中间部的记录功率发光值Pm的比率，作为光盘制造厂商的推荐值记录在光盘上，所以记录装置通过初始功率读入电路6取得该推荐值，可以以记录功率比率ε(ε＝Po/Pm)来形成记录波形。
对于这种光学信息记录再现装置，在由光盘制造厂商的评价装置中使用的基准装置和实际的记录装置中，因束斑的形状及激光发光波形的频率特性等拾波器的特性、倾斜等机械偏差、散焦等控制偏差等，实际的记录波形会发生偏差、记录功率会减小，因为这些理由，光盘制造厂商的推荐值不会直接成为最佳记录条件，而需要对各记录装置求出最佳条件。
特别是，在通过非多脉冲方式进行的记录中，如果与记录波形的前端部及后端部对应的记录功率发光值Po和对应于中间部的记录功率发光值Pm的比率不是适当的比率，则会产生如下问题，即长标记的中间部不能被正常记录而使再现波形的中间部发生畸变，最差的情况下会发生标记长度的误检测，结果在再现数据中发生错误。
此外，光学记录媒体在以比最佳记录功率高的记录功率进行记录时，一般会使记录轨槽变差，记录轨与光束的相对位置信息即寻轨误差信号的振幅会减小，最差的情况下还会发生不能进行寻轨控制的情况。此外，如果轨槽变差，则例如形成在轨槽中的作为位置信息的摆动信号、或作为地址信息的岸台预制凹坑(Land Pre-Pit)不能正常地再现，所以需要检测记录功率的上限，以便不以该上限记录功率记录。
发明内容
本发明是鉴于上述问题而做出的，其目的是提供一种进行能够决定最佳记录条件的记录功率学习的光学信息记录再现装置及记录光强度学习方法，所述最佳记录条件不会设定为使寻轨控制及通过轨槽进行的信息检测变差的高的记录功率，并且可降低波形畸变。
为了达到上述目的，本发明的光学信息记录再现装置的第1技术方案是，其具有：光学记录媒体(光盘)，通过多个长度的标记来存储信息；光照射机构(拾波器)，通过对光学记录媒体照射光束而形成标记；光驱动机构(激光驱动电路，激光输出控制电路)，使光照射机构以期望的光强度发光；记录波形控制机构(记录图案产生电路)，根据所记录的标记长度控制记录波形；记录输出改变机构(记录功率改变电路)，对光驱动机构发出指令，使其在光学记录媒体内的光功率学习区域以期望的光强度进行测试记录；调制度检测机构(调制度检测电路)，根据对测试记录的标记的再现信号的振幅来检测调制度；波形畸变检测机构(波形畸变检测电路)，检测对测试记录的标记的再现信号的波形畸变；第1光强度计算机构(容许调制度功率计算电路)，根据对以多个光强度测试记录在光强度学习区域(记录功率学习区域：PCA)中的多个标记的再现信号的各调制度(m)和容许上限调制度(ms)，计算与对光学记录媒体的容许上限调制度对应的记录光强度(Po_ms)；第2光强度计算机构(容许波形畸变功率计算电路)，根据对以多个光强度测试记录在光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各波形畸变量(ζ)和容许波形畸变量(ζs)，计算与对光学记录媒体的容许畸变量对应的记录光强度(Po_ζs)；容许光强度范围决定机构(容许功率范围决定电路)，根据对应于容许上限调制度的记录光强度和对应于容许波形畸变量的记录光强度，决定将信息记录在光学记录媒体时的光强度范围(Po_ζs～Po_ms)；最佳光强度决定机构(最佳记录功率决定电路)，在由容许光强度范围决定机构决定的光强度范围内，决定最佳记录光强度。
为了达到上述目的，本发明的光学信息记录再现装置的第2技术方案是，具有：光学记录媒体(光盘)，通过多个长度的标记来存储信息；光照射机构(拾波器)，通过对光学记录媒体照射光束而形成标记；光驱动机构(激光驱动电路，激光输出控制电路)，使光照射机构以期望的光强度发光；记录波形控制机构(记录图案产生电路)，在记录的标记长度比第1标记长度(例如5T)短的标记的情况下，输出具有光强度较强的第1记录光强度(Po)的记录波形，在记录的标记长度为第1标记长度以上的标记的情况下，输出在记录波形的前端部及后端部具有第1记录光强度、在记录波形的中间部具有第1记录光强度以下的第2记录光强度(Pm)的记录波形；记录输出改变机构(中间部记录功率改变电路)，对光驱动机构发出指令，使其将在第1记录光强度维持为恒定、改变设定第2记录光强度，从而在光学记录媒体内的光强度学习区域(记录强度学习区域：PCA)中进行测试记录；调制度检测机构(调制度检测电路)，根据对测试记录的标记的再现信号的振幅来检测调制度；波形畸变检测机构(波形畸变检测电路)，检测对测试记录的标记的再现信号的波形畸变；第1光强度计算机构(容许调制度功率计算电路)，根据对以多个第2记录光强度测试记录在光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各调制度(m)和容许上限调制度(ms)，计算与对光学记录媒体的容许上限调制度对应的记录光强度(Pm_ms)；第2光强度计算机构，根据对以多个第2记录光强度测试记录在光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各波形畸变量(ζ)和目标波形畸变量(ζt)，计算与对光学记录媒体的目标畸变量对应的记录光强度(Pm_ζt)；光强度比率决定机构(记录功率比决定电路)，根据对应于容许上限调制度的记录光强度和对应于目标波形畸变量的记录光强度，决定将信息记录在光学记录媒体时的记录波形的各部分的记录光强度的比率(Po/Pm_ζt)；最佳光强度决定机构(最佳记录功率决定电路)，通过由光强度比率决定机构决定的记录光强度比率，决定最佳的记录光强度。
为了达到上述目的，本发明的记录光强度学习方法的第1技术方案，是光学信息记录再现装置的记录光强度学习方法，通过对具有光强度学习区域(记录功率学习区域：PCA)的光学记录媒体(光盘)照射光束而形成多个长度的标记来记录信息、在规定的标记长度(例如5T)以上的标记形成中，通过用在记录波形的前端部及后端部设定为强度较强的第1记录光强度(Po)、在记录波形的中间部设定为第1记录光强度以下的第2记录光强度(Pm)的记录波形照射光束，从而形成标记，其具有：(a)一边将第1记录光强度与第2记录光强度的比率(Po/Pm)保持为恒定，一边使第1记录光强度与第2记录光强度分别以规定的变化量(ΔPo、ΔPm)阶段性地变化，将由包括大致最长标记(例如11T标记)的多个标记(3T～11T)构成的光强度学习图案记录到光强度学习区域中的步骤；(b)检测出对记录的光强度学习图案中的多个标记的再现信号的调制度的步骤；(c)检测出对记录的光强度学习图案中的多个标记的再现信号的波形畸变量的步骤；(d)根据检测到的调制度(m)和容许上限调制度(ms)，求出对应于容许上限调制度的记录光强度(Po_ms)的步骤；(e)根据检测到的波形畸变量(ζ)和容许波形畸变量(ζs)，求出对应于容许波形畸变量的记录光强度(Po_ζa)的步骤；(f)将对应于容许上限调制度的记录光强度与对应于容许波形畸变量的记录光强度进行比较的步骤；(g)在对应于容许上限调制度的记录光强度是对应于容许波形畸变量的记录光强度以上的情况下，将对应于容许上限调制度的记录光强度作为上限值，将对应于容许波形畸变量的记录光强度作为下限值，将记录信息时的记录光强度设定在上限值和下限值之间的步骤。
为了达到上述目的，本发明的记录光强度学习方法的第2技术方案，是光学信息记录再现装置的记录光强度学习方法，通过对具有光强度学习区域(记录功率学习区域：PCA)的光学记录媒体(光盘)照射光束而形成多个长度的标记来记录信息、在规定的标记长度(例如5T)以上的标记形成中，通过用在记录波形的前端部及后端部设定为强度较强的第1记录光强度(Po)、在记录波形的中间部设定为第1记录光强度以下的第2记录光强度(Pm)的记录波形照射光束，从而形成标记，其具有：(a)使第1记录光强度为恒定而使第2记录光强度以规定的变化量(ΔPm)阶段性地变化，将由包括大致最长标记(例如11T标记)的多个标记(3T～11T)构成的光强度学习图案记录到光强度学习区域中的步骤；(b)检测出对记录的光强度学习图案中的多个标记的再现信号的调制度的步骤；(c)检测出对记录的光强度学习图案中的多个标记的再现信号的波形畸变量的步骤；(d)根据检测到的调制度(m)和容许上限调制度(ms)，求出对应于容许上限调制度的记录光强度(Pm_ms)的步骤；(e)根据检测到的波形畸变量(ζ)和目标波形畸变量(ζt)，求出对应于目标波形畸变量的记录光强度(Pm_ζt)的步骤；(f)将对应于容许上限调制度的记录光强度与对应于目标波形畸变量的记录光强度进行比较的步骤；(g)在对应于容许上限调制度的记录光强度是对应于目标波形畸变量的记录光强度以上的情况下，将对应于目标波形畸变量的记录光强度设定为第2记录光强度，将第1记录光强度与所设定的第2记录光强度的比率(Po/Pm_ζt)决定为最佳光强度比率的步骤。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式的光学信息记录再现装置的一结构例的框图。
图2是表示本发明的第一实施方式的记录光强度学习方法的步骤的流程图。
图3是表示正常记录时的记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光器驱动信号波形(b)、11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。
图4是表示记录功率比Po/Pm恒定、记录功率Po、Pm都较大时的记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光器驱动信号波形(b)、11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。
图5是表示记录功率比Po/Pm恒定、记录功率Po、Pm都较小时的记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光器驱动信号波形(b)、11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。
图6是表示记录功率比Po/Pm恒定、使记录功率Po、Pm变化时的调制度m、波形畸变量ζ及容许上限调制度ms、容许波形畸变量ζs的关系的曲线图。
图7是相对于图6，表示在记录图案的中间部生成了具有第1记录功率Po的中间脉冲时的、记录功率Po与波形畸变量ζ的关系变化的曲线图。
图8是表示在记录图案的中间部生成了具有第1记录功率Po的中间脉冲时的、记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光器驱动信号波形(b)、11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。
图9是表示本发明的第二实施方式的光学信息记录再现装置的一结构例的框图。
图10是表示本发明的第二实施方式的记录光强度学习方法的步骤的流程图。
图11是表示记录功率比Po/Pm较大、第2记录功率Pm较小时的记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光器驱动信号波形(b)、11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。
图12是表示记录功率比Po/Pm较小、第2记录功率Pm较大时的记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光器驱动信号波形(b)、11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。
图13是表示第1记录功率Po保持恒定、而使第2记录功率Pm变化时的调制度m、波形畸变量ζ及容许上限调制度ms、目标波形畸变量ζt的关系的曲线图。
图14是相对于图13，表示在记录图案的中间部生成了具有第1记录功率Po的中间脉冲时的、记录功率Po与波形畸变量ζ的关系变化的曲线图。
图15是表示以往的光学信息记录再现装置的结构例的框图。
图16是示意地表示具有记录功率学习区域的光盘结构的俯视图。
图17是表示以往的记录功率学习时的记录功率的阶段性变化的图。
图18是用于说明非对称值的、表示用适当的记录功率记录信息时的再现波形的图。
图19是表示记录功率Pw与再现信号的非对称值As的关系的曲线图。
图20是表示以多脉冲方式进行高速记录时的记录数据波形、记录图案波形、激光发光波形、所记录的标记形状、以及再现波形的图。
图21是以非多脉冲方式进行高速记录时的记录数据波形、记录波形、此时的激光发光波形、所记录的标记形状、以及再现波形的图。
具体实施方式
下面参照附图说明本发明的优选的实施方式。
(第一实施方式)
图1是表示本发明的第一实施方式的光学信息记录再现装置的一结构例的框图。在图1中，1是作为光学记录媒体的光盘，形成有记录信息的记录轨槽，并且在光盘1的内周部，如图16所示那样，设有作为光强度学习区域的记录功率学习区域(PCA)22。2是作为光照射机构的拾波器，装载有对光盘1照射光束的激光二极管。3是驱动激光二极管的激光驱动电路，4是使用激光驱动电路3控制激光二极管的输出的激光输出控制电路，激光驱动电路3和激光输出控制电路4构成光驱动机构。
5是作为记录波形控制机构的记录图案产生电路，控制激光二极管的发光波形。6是读取记录在光盘1上的初始记录信息的初始记录信息读入电路。
7是作为调制度检测机构的调制度检测电路，根据再现信号的振幅检测出调制度(m)。8是作为第1光功率计算机构的容许调制度功率计算电路，根据由调制度检测电路7检测到的调制度m和容许上限调制度(ms)，计算对应于容许上限调制度ms的记录功率(Po_ms)。
9是作为波形畸变检测机构的波形畸变检测电路，检测对大致最长标记(例如11T标记)的再现信号的波形畸变量(ζ)。10是作为第2光强度计算机构的容许波形畸变功率计算电路，根据由波形畸变检测电路9检测到的波形畸变量ζ和容许波形畸变量(ζs)，计算对应于容许波形畸变量ζs的记录功率(Po_ζs)。
11是作为容许光强度范围决定机构的容许功率范围决定电路，根据由容许调制度功率计算电路8计算出的记录功率Po_ms、和由容许波形畸变功率计算电路10计算出的记录功率Po_ζs，决定将信息记录在光盘1上的最大的记录功率范围。
12是作为记录输出改变机构的记录功率改变电路，在记录功率学习区域中进行记录功率学习时，对激光输出控制电路4发出指令来变更设定记录功率。
13是作为最佳记录光强度决定机构的最佳记录功率决定电路，基于由容许功率范围决定电路11决定的记录功率范围及其他信息，来决定最终用于记录信息的最佳记录功率。
14是切换开关，在进行记录功率学习时将触点切换到A侧，以便将来自记录功率改变电路12的指令供给到激光输出控制电路4；在通常的信息记录时，将触点切换到B侧，以便将来自最佳记录功率决定电路13的指令提供给激光输出控制电路4。
接着，参照图1和图2，说明如上构成的光学信息记录再现装置的记录功率学习方法。图2是表示本实施方式的记录光强度学习方法的步骤的流程图。
光学信息记录再现装置在进行记录功率学习时，首先通过初始记录信息读入电路6读入记录在光盘1上的初始记录信息，即推荐记录功率Poi、推荐记录功率比εi、推荐记录发光波形等(S201)。
并且，初始记录信息读入电路6根据读入的推荐值，将用于求出最佳记录功率的记录开始功率Po、记录功率比ε、记录功率增量ΔPo、记录功率学习用记录图案波形，发送给记录图案产生电路5以及记录功率改变电路12，进行设定(S202)。
接着，使拾波器2移动到设在光盘1内周部的记录功率学习区域22(图16)(S203)。
接着，如下所述地进行步骤S204的处理。首先，记录图案产生电路5接收到例如随机的8-16编码数据，作为记录功率学习用记录数据，记录3T～11T(T表示时钟周期)及14T长度标记，所以输出如下的记录图案(光强度学习图案)，该记录图案用于使激光二极管对于3T和4T标记以记录功率较强的第1记录功率Po发光，对于5T以上的标记，前端部和后端部以记录功率较强的第1记录功率Po、中间部以第1记录功率Po以下的第2记录功率Pm发光。
记录功率改变电路12根据来自初始记录信息读入电路6的功率学习用设定值，一边将第1记录功率Po与第2记录功率Pm之比即记录功率比ε维持为恒定，一边将第1记录功率Po和第2记录功率Pm各自的初始记录功率Po1、Pm1发送给激光输出控制电路4。此外，记录功率改变电路12基于用于改变并记录记录功率的记录功率增量ΔPo、ΔPm，求出以后的记录功率(Po2、Pm2)、(Po3、Pm3)、……(Po(i)、Pm(i)(i＝1、2、3、……)，经由切换开关14传送给激光输出控制电路4。
激光输出控制电路4根据来自记录功率改变电路12的指令，对激光驱动电路3发出使激光二极管发光的指令。并且，在记录功率学习区域内的规定区域中，以记录功率Po1、Pm1记录功率学习用记录数据。接着，以使记录功率增加了ΔPo、ΔPm的Po2、Pm2，在另一个记录功率学习区域中记录功率学习用记录数据。将该操作重复规定次数，例如6次，来记录记录功率学习用记录数据。以上就是步骤S204的处理。
在记录功率学习用记录数据的再现(S205)时，调制度检测电路7检测对以各个记录功率记录的标记的再现信号的调制度m(S206)。这里，参照图3和图4说明记录功率与调制度的关系。
图3是表示在正常记录时的输入到记录图案产生电路5中的记录功率学习用记录数据的11T波形(a)、激光驱动电路3接收到来自记录图案产生电路5及激光输出控制电路4的指令后输出的激光驱动信号波形(b)、记录在光盘1上的11T记录标记的大致形状(c)、11T记录标记的再现波形(d)的图。如图3可知，以适当的记录功率及记录功率比记录的记录标记的调制度是正常的，没有发生因记录标记造成的轨槽的劣化。
图4是在记录功率比Po/Pm恒定、记录功率Po、Pm都较大的情况下、表示各波形及记录标记。在这种情况下，由于所记录的11T记录标记的宽度较大，所以调制度变大，并且记录标记覆盖轨槽而破坏轨槽形状。
所以，容许调制度功率计算电路8根据对以从记录功率Po1到Po6记录的记录标记的再现信号的调制度与容许上限调制度ms，计算对应于容许上限调制度ms的记录功率Po_ms(S207)。
这里，所谓容许上限调制度ms，是在光学信息记录再现装置中，为了防止如果所记录的记录标记变为记录过剩状态则会如图4所示那样使轨槽形状变差、例如发生不能正常地检测到寻轨错误信号的情况，而以再现时的调制度进行判断的调制度基准值。
此外，在功率学习用记录数据的再现时(S205)，波形畸变检测电路9检测例如对11T长度标记的再现信号的波形畸变量ζ(S208)。这里，参照图3和图5，说明记录功率与波形畸变量ζ的关系。
在图3中，在如上述那样正常地记录的情况下，以适当的记录功率及记录功率比记录的记录标记的记录宽度为恒定，再现波形的中间部也是平坦的，没有发生波形畸变。
图5表示记录功率比Po/Pm为恒定、记录功率Po、Pm都较小的情况。在这种情况下，所记录的11T记录标记的中间部的记录宽度比前端部及后端部细，再现波形的中间部成为向亮侧畸变的波形。
在例如11T记录标记的再现波形的情况下，波形畸变检测电路9根据以基准再现时钟取样的12个检测值(图5的S0～S11)的最小值(S10)和中间部的极大值(S6)、以及非标记部的检测值(S14)，计算波形畸变量ζ。在图5中，对11T记录标记的再现波形的最小值为S10，中间部的极大值为S6，非标记部的检测值为S14，所以求出波形畸变量ζ为，ζ＝(S6-S10)/(S14-S10)。
容许波形畸变功率计算电路10根据从记录功率Po1到Po6的波形畸变量和容许波形畸变量ζs，计算出对应于容许波形畸变量ζs的记录功率Po_ζs(S209)。
这里，在光学信息记录再现装置中，如果所记录的记录标记变为记录不充分状态，则如图5所示那样再现波形的中间部的振幅减小，最差的情况下有可能被检测为非标记，所谓容许波形畸变量ζs是为了防止这种情况发生而由再现时的波形畸变量进行判断的波形畸变量的基准值。
图6是记录功率比Po/Pm恒定、使记录功率Po、Pm变化时的调制度m、波形畸变量ζ、以及容许上限调制度ms、容许波形畸变量ζs的关系的曲线图。在图6中，根据使记录功率从Po1变化到Po6而记录的记录功率学习用记录数据的再现信号的各记录功率下的调制度与容许上限调制度ms，容许调制度功率计算电路8求出对应于容许上限调制度ms的记录功率Po_ms；并且，根据各记录功率下的波形畸变量与容许波形畸变量ζs，容许波形畸变功率计算电路10求出容许波形畸变记录功率Po_ζs。
由于所容许的调制度范围是容许上限调制度ms以下的范围、所容许的波形畸变范围是容许波形畸变量ζs以下的范围(在图2的S210的判断中为“是”)，所以容许功率范围决定电路11将容许记录功率范围决定为对应于容许波形畸变量ζs的记录功率Po_ζs以上且对应于容许上限调制度ms的记录功率Po_ms以下的范围内(S211)。另外，虽然在本说明书的说明中省略了，但调制度的下限值由标准书等规定，如果对应于容许下限调制度的记录功率比对应于容许波形畸变量ζs的记录功率Po_ζs大，则将容许记录功率范围的下限值决定为对应于容许下限调制度的记录功率。
根据由容许功率范围决定电路11决定的容许记录功率范围，最佳记录功率决定电路13决定记录信息的最佳记录功率Pw(S212)。最佳记录功率Pw是在容许记录功率范围内，通过选择例如时基误差(jitter)值最低的记录功率来决定的。
由最佳记录功率决定电路13决定的最佳记录功率Pw，作为将信息记录在数据区域21(图16)中的记录功率传送给激光输出控制电路4，来记录信息。
这里，因光学信息记录再现装置不同，有时会因光盘1与拾波器2的特性差异而发生不能求出容许记录功率范围的情况。
图7与图6同样，是记录功率比Po/Pm恒定、使记录功率Po、Pm变化时的调制度m、波形畸变量ζ(虚线)、以及容许上限调制度ms、容许波形畸变量ζs的关系的曲线图。由图7可知，对应于容许上限调制度ms的记录功率Po_ms，比对应于容许波形畸变量ζs的记录功率Po_ζs小(在图2的S210的判断中为“否”)，不能决定容许记录功率范围。
在这种情况下，容许功率范围决定电路11对记录功率产生电路5发出指令，使其对例如9T标记长度以上的标记，在中间部的一部分输出第1记录功率的波形(中间脉冲)(在S213的判断中为“否”而分支的S214)。
图8是表示在11T记录图案的中间部的一部分生成了具有第1记录功率Po的中间脉冲时的记录数据波形(a)、激光驱动信号(b)、所记录的11T记录标记的形状(c)、对应于11T记录标记的再现波形(d)的概略图。由图8可知，通过在记录图案的中间部的一部分生成具有第1记录功率Po的中间脉冲，记录标记的中间部的宽度变粗，与图5相比，改善了再现信号的波形畸变。
在图7中，通过在记录标记的中间部的一部分生成具有第1记录功率Po的中间脉冲，在相同的Po、Pm值下、波形畸变量变少(实线)，所以对应于容许波形畸变量ζs的记录功率Po_ζs1变小，能够决定容许记录功率范围。
此外，通过使在该记录标记的中间部的一部分生成的具有第1记录功率的中间脉冲的宽度逐渐增大(在图2的S213的判断中为“是”而分支的S215)，能够逐渐改善波形畸变。因而，在即使生成了一次该中间脉冲，还不能决定容许记录功率范围的情况下，通过增大该中间脉冲的宽度进行再次记录功率学习(返回S204)，则能够求出容许记录功率范围。
另外，也有图7中虚线所示那样的情况发生的可能性很低的情况。在这种情况下，用于插入中间脉冲的构成(步骤S213～步骤S215)并不是必须的。这是因为，即使不能够插入中间脉冲，也没有实用上的障碍。此外，即使在设置了插入中间脉冲的构成的情况下，在实用上有时也可以省略改变脉冲宽度(步骤S215)的构成。
此外，如上所述，通过改变记录功率比Po/Pm而提高第2记录功率Pm，来代替在记录标记的中间部的一部分输出具有第1记录功率Po的中间脉冲，也能够消除图7中虚线所示的不能决定容许记录功率范围的问题。考虑到与其他条件的平衡，采用这种方法就可以。
此外，在以上的说明中，说明了容许调制度功率计算电路、波形畸变功率计算电路、容许功率范围决定电路、最佳记录功率决定电路等的电路结构，当然通过例如微型计算机等的运算来进行与它们等同的处理，也能够得到同样的结果。
(第二实施方式)
图9是表示本发明的第二实施方式的光学信息记录再现装置的一结构例的框图。另外，在图9中，对于与第一实施方式中所参照的图1相同的部分赋予相同的附图标记并省略其说明。下面主要说明与第一实施方式的不同点。
在图9中，110是作为第2光强度计算机构的目标波形畸变功率比计算电路，根据由波形畸变检测电路9检测到的再现信号的波形畸变ζ和目标波形畸变量ζt，计算对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt。
111是作为光强度比决定机构的记录功率比决定电路，根据与由容许调制度功率计算电路8计算的容许上限调制度ms对应的记录功率Pm_ms和与目标波形畸变量ζt对应的记录功率Pm_ζt，决定记录功率比Po/Pmζ。
112是作为记录输出改变机构的中间部记录功率改变电路，在记录功率学习区域中进行记录功率学习时，对激光输出控制电路4发出指令，以便在规定标记长度以上的标记形成中，对记录波形的前端部及后端部用记录功率较强的第1记录功率Po照射激光束，对中间部用第1记录功率以下的第2记录功率Pm照射激光束，并且分阶段地改变并设定中间部的记录功率Pm。
接着，参照图9和图10，说明如上述那样构成的光学信息记录再现装置的记录功率学习方法。图10是表示本实施方式的记录光强度学习方法的步骤的流程图。
光学信息记录再现装置在进行记录功率学习时，与第一实施方式同样，首先通过初始记录信息读入电路6读入记录在光盘1上的初始记录信息，即推荐记录功率Poi、推荐记录功率比εi、推荐记录发光波形等(S201)。
并且，初始记录信息读入电路6根据读入的推荐值，将用于求出最佳记录功率的第1记录功率Po、第2记录功率Pm、第2记录功率增量ΔPm、记录功率学习用记录图案波形，发送给记录图案产生电路5和记录功率改变电路12，进行设定(S302)。
接着，使拾波器2移动到设在光盘1内周部的记录功率学习区域22(图16)(S203)。
接着，如下所述地进行步骤S304的处理。首先，记录图案产生电路5接收到例如随机的8-16编码数据，作为记录功率学习用记录数据，记录3T～11T及14T长度标记，所以输出如下的记录功率学习用记录图案，该记录功率学习用记录图案用于使激光二极管对于3T和4T标记以记录功率较强的第1记录功率Po发光，对于5T以上的标记，前端部和后端部以记录功率较强的第1记录功率Po、中间部以第1记录功率Po以下的第2记录功率Pm发光。
中间部记录功率改变电路112根据来自初始记录信息读入电路6的指令，将第1记录功率Po维持为恒定，求出用于改变并记录第2记录功率Pm的初始记录功率Pm1及记录功率比(Po/Pm)的第2记录功率Pm2、Pm3、……(Pm(i)(i＝1、2、3、……))，发送给激光输出控制电路4进行设定。
激光输出控制电路4根据来自中间部记录功率改变电路112的指令，对激光驱动电路3发出指令，以便在记录图案的前端部及后端部成为光功率较强的第1记录图案Po，在中间部成为第2记录功率Pm。并且在记录功率学习区域内的规定区域中，以第1记录功率Po、第2记录功率Pm1记录功率学习用记录数据。接着，以第1记录功率Po、使第2记录功率Pm1增加了ΔPm的Pm2，在记录功率学习区域内的另一个部位记录功率学习用记录数据。将该操作重复规定次数，例如6次，来记录功率学习用记录数据。以上就是步骤S304的处理。
在记录功率学习用记录数据的再现(S205)时，与第一实施方式同样，调制度检测电路7检测对以第1记录功率Po、多个第2记录功率Pm1～Pm6记录的标记的再现信号的调制度m(S306)。容许调制度功率计算电路8根据对以多个第2记录功率Pm1～Pm6记录的标记的再现信号的调制度和容许上限调制度ms，计算对应于容许上限调制度ms的记录功率Pm_ms(S307)。
此外，在记录功率学习用记录数据的再现(S205)时，波形畸变检测电路9检测例如对11T长度标记的再现信号的波形畸变量(S308)。这里，参照图11和图12说明记录功率比与波形畸变的关系。
图11表示增大记录功率比Po/Pm并减小第2记录功率Pm时的各波形及记录标记。此时，所记录的11T记录标记的中间部的记录宽度比前端部及后端部细，成为再现波形的中间部向亮侧畸变的波形。
图12表示减小记录功率比Po/Pm并增大第2记录功率Pm时的各波形及记录标记。此时，所记录的11T记录标记的中间部的记录宽度比前端部及后端部粗，成为再现波形的中间部向暗侧畸变的波形。
所以，目标波形畸变功率比计算电路110根据对以从第2记录功率Pm1到Pm6记录的11T标记的再现信号的波形畸变量与目标波形畸变量ζt，计算对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt(图10的S309)。
这里，在光学信息记录再现装置中，如果所记录的记录标记成为记录不充分状态，则如图11和12所示那样，在再现波形的中间部的振幅减少情况下有可能被检测为非标记，而如果再现波形的中间部的振幅增加过多，则记录标记会覆盖轨槽而破坏轨槽形状，所谓目标波形畸变量ζt是，为了防止上述情况发生而用再现时的适当的波形畸变量判断的波形畸变量的基准值。
图13是将第1记录功率Po维持为恒定、使第2记录功率Pm变化时的调制度m、波形畸变量ζ、以及容许上限调制度ms、目标波形畸变量ζt的关系的曲线图。关于对使记录功率Pm从Pm1变化到Pm6而记录的记录功率学习用记录数据的再现信号，是根据各记录功率下的调制度与容许上限调制度ms，容许调制度功率计算电路8求出对应于容许上限调制度的记录功率Pm_ms，根据各记录功率下的波形畸变量与目标波形畸变量ζt，目标波形畸变功率计算电路110求出对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt。
在对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt，位于对应于容许上限调制度ms的记录功率Pm_ms以下的区域时(在图10的S310的判断中为“是”)，记录功率比决定电路111将第1记录功率Po与对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt之比ε_ζt(＝Po/Pm_ζt)决定为最佳记录功率比(S311)。
根据由记录功率比决定电路111决定的最佳记录功率比，最佳记录功率决定电路13决定记录信息时的最佳记录功率Pw。最佳记录功率Pw是通过利用最佳记录功率比ε_ζt、选择例如非对称值为期望值的记录功率来决定。
由最佳记录功率决定电路13决定的最佳记录功率Pw，作为将信息记录在数据区域21(图16)中的记录功率传送给激光输出控制电路4，来记录信息。
此外，因光学信息记录再现装置不同，有时会因光盘1与拾波器2的特性差异而发生不能求出最佳记录功率比的情况。
图14与图13同样，是将第1记录功率Po维持为恒定、使第2记录功率Pm变化时的调制度m、波形畸变量ζ(虚线)、以及容许上限调制度ms、目标波形畸变量ζt的关系的曲线图。由图14可知，对应于容许上限调制度ms的记录功率Pm_ms比对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt0小(在图10的S310的判断中为“否”)，不能决定最佳记录功率比ε_ζt。
在这种情况下，记录功率比决定电路16对记录功率产生电路5发出指令，使其对于例如9T标记长度以上的标记，在中间部的一部分输出第1记录功率Po的波形(中间脉冲)(在图10的S213的判断中为“否”而分支的S214)。
在图14中，通过在记录标记的中间部的一部分生成具有第1记录功率Po的中间脉冲，在相同的Pm值下波形畸变量变少(实线)，所以对应于目标波形畸变量ζt的记录功率Pm_ζt变小，因此能够决定最佳记录功率比ε_ζt。
此外，通过逐渐增大在记录标记的中间部的一部分生成的具有第1记录功率Po的中间脉冲的宽度(在图10的S213的判断中为“是”而分支的S215)，可以逐渐改善波形畸变。因而，在即使生成了一次该中间脉冲、但是还不能决定最佳记录功率比ε_ζt的情况下，通过增大该中间脉冲的宽度进行再次记录功率学习(返回图10的S304)，则能够求出最佳记录功率比ε_ζt。
另外，也有图14中虚线所示那样的情况发生的可能性很低的情况。在这种情况下，用于插入中间脉冲的构成(步骤S213～步骤S215)并不是必须的。这是因为即使不能够插入中间脉冲，也没有实用上的障碍。此外，即使在设置了插入中间脉冲的构成的情况下，在实用上有时也可以省略改变脉冲宽度(步骤S215)的结构。
另外，在以上的说明中，说明了容许调制度功率计算电路、目标波形畸变功率计算电路、最佳功率比决定电路、最佳记录功率决定电路等的电路结构，当然通过例如微型计算机等的运算来进行与它们等同的处理，也能够得到同样的结果。
工业实用性
根据本发明，可以得到如下效果：能够防止因记录功率过大造成的轨槽的劣化，并且不会发生波形畸变，能够使信息记录时的记录功率最佳化。
此外，可以得到如下效果：通过在不会发生因记录功率过大造成的轨槽劣化的范围内决定对应于目标波形畸变量的记录功率比，能够使信息记录时的记录功率最佳化。

Claims (13)

1、一种光学信息记录再现装置，具有：
光学记录媒体，利用多种长度的标记来存储信息；
光照射机构，通过对上述光学记录媒体照射光束而形成标记；
光驱动机构，使上述光照射机构以期望的光强度发光；
记录波形控制机构，根据所记录的标记长度控制记录波形；
记录输出改变机构，对上述光驱动机构发出指令，使其在上述光学记录媒体内的光强度学习区域中以期望的光强度进行测试记录；
调制度检测机构，根据对被测试记录的标记的再现信号的振幅来检测出调制度；
波形畸变检测机构，检测对被测试记录的标记的再现信号的波形畸变；
第1光强度计算机构，根据对用多种光强度测试记录在上述光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各调制度和容许上限调制度，计算与对上述光学记录媒体的容许上限调制度相对应的记录光强度；
第2光强度计算机构，根据对用多种光强度测试记录在上述光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各波形畸变量和容许波形畸变量，计算与对上述光学记录媒体的容许畸变量对应的记录光强度；
容许光强度范围决定机构，根据对应于上述容许上限调制度的记录光强度和对应于上述容许波形畸变量的记录光强度，决定将信息记录在上述光学记录媒体时的光强度范围；
最佳光强度决定机构，在由上述光强度范围决定机构决定的光强度范围内决定最佳的记录光强度。
2、如权利要求1所述的光学信息记录再现装置，上述记录波形控制机构在记录比第1标记长度短的标记时，输出具有光强度较强的第1记录光强度的记录波形；在记录上述第1标记长度以上的标记时，输出在记录波形的前端部及后端部具有上述第1记录光强度、在记录波形的中间部具有上述第1记录光强度以下的第2记录光强度的记录波形。
3、如权利要求2所述的光学信息记录再现装置，上述记录输出改变机构一边将上述第1记录光强度与上述第2记录光强度的比率维持为恒定，一边改变设定上述第1及第2记录光强度。
4、如权利要求3所述的光学信息记录再现装置，上述容许光强度范围决定机构将对应于上述容许上限调制度的记录光强度和对应于上述容许波形畸变量的记录光强度进行比较；
在对应于上述容许上限调制度的记录光强度是对应于上述容许波形畸变量的记录光强度以上的情况下，将对应于上述容许上限调制度的记录光强度作为上限值，将对应于上述容许波形畸变量的记录光强度作为下限值，来决定记录光强度范围；
在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述容许波形畸变量的记录光强度小的情况下，对上述记录波形控制机构发出指令，以输出在比上述第1标记长度长的第2标记长度以上的记录波形的中间部的一部分具有上述第1光强度的记录波形。
5、如权利要求3所述的光学信息记录再现装置，上述容许光强度范围决定机构将对应于上述容许上限调制度的记录光强度与对应于上述容许波形畸变量的记录光强度进行比较；
在对应于上述容许上限调制度的记录光强度是对应于上述容许波形畸变量的记录光强度以上的情况下，将对应于上述容许上限调制度的记录光强度作为上限值，将对应于上述容许波形畸变量的记录光强度作为下限值，来决定记录光强度范围；
在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述容许波形畸变量的记录光强度小的情况下，对上述记录输出改变机构发出指令，将上述第1记录光强度与上述第2记录光强度的比率改变为使上述第2记录光强度增大的比率。
6、一种光学信息记录再现装置，具有：
光学记录媒体，利用多种长度的标记来存储信息；
光照射机构，通过对上述光学记录媒体照射光束而形成标记；
光驱动机构，使上述光照射机构以期望的光强度发光；
记录波形控制机构，在记录的标记长度比第1标记长度短的标记的情况下，输出具有光强度较强的第1记录光强度的记录波形，在记录的标记长度为上述第1标记长度以上的标记的情况下，输出在记录波形的前端部及后端部具有上述第1记录光强度、在记录波形的中间部具有上述第1记录光强度以下的第2记录光强度的记录波形；
记录输出改变机构，对上述光驱动机构发出指令，使其将上述第1记录光强度维持为恒定、并改变设定上述第2记录光强度，在上述光学记录媒体内的光强度学习区域中进行测试记录；
调制度检测机构，根据对被测试记录的标记的再现信号的振幅来检测出调制度；
波形畸变检测机构，检测对被测试记录的标记的再现信号的波形畸变；
第1光强度计算机构，根据对用多种上述第2记录光强度测试记录在上述光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各调制度和容许上限调制度，计算与对上述光学记录媒体的容许上限调制度对应的记录光强度；
第2光强度计算机构，根据对用多个上述第2记录光强度测试记录在上述光强度学习区域中的多个标记的再现信号的各波形畸变量和目标波形畸变量，计算与对上述光学记录媒体的目标畸变量对应的记录光强度；
光强度比率决定机构，根据对应于容许上限调制度的记录光强度和对应于上述目标波形畸变量的记录光强度，决定将信息记录在上述光学记录媒体时的记录波形的各部分的记录光强度的比率；
最佳光强度决定机构，根据由上述光强度比率决定机构决定的记录光强度比率，决定最佳的记录光强度。
7、如权利要求6所述的光学信息记录再现装置，上述光强度比率决定机构将对应于上述容许上限调制度的记录光强度和对应于上述目标波形畸变量的记录光强度进行比较，
在对应于上述容许上限调制度的记录光强度是对应于上述目标波形畸变量的记录光强度以上的情况下，利用对应于上述目标波形畸变量的记录光强度来决定上述记录光强度的比率；
在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述目标波形畸变量的记录光强度小的情况下，对上述记录波形控制机构发出指令，以输出在比上述第1标记长度长的第2标记长度以上的记录波形的中间部的一部分具有上述第1记录光强度的记录波形。
8、一种记录光强度学习方法，是光学信息记录再现装置的记录光强度学习方法，通过对具有光强度学习区域的光学记录媒体照射光束而形成多种长度的标记来记录信息，在形成规定的标记长度以上的标记时，用在记录波形的前端部及后端部设定为强度较强的第1记录光强度、在记录波形的中间部设定为上述第1记录光强度以下的第2记录光强度的记录波形来照射光束，从而形成标记，其具有如下步骤：
(a)一边将上述第1记录光强度与上述第2记录光强度的比率保持为恒定，一边使上述第1记录光强度与上述第2记录光强度分别按规定变化量阶段性地变化，将由包括大致最长标记的多个标记构成的光强度学习图案记录到上述光强度学习区域中的步骤；
(b)检测出对所记录的上述光强度学习图案中的多个标记的再现信号的调制度的步骤；
(c)检测出对所记录的上述光强度学习图案中的上述大致最长标记的再现信号的波形畸变量的步骤；
(d)根据检测到的上述调制度和容许上限调制度，求出对应于容许上限调制度的记录光强度的步骤；
(e)根据检测到的上述波形畸变量和容许波形畸变量，求出对应于容许畸变量的记录光强度的步骤；
(f)将对应于上述容许上限调制度的记录光强度与对应于上述容许波形畸变量的记录光强度进行比较的步骤；
(g)在对应于上述容许上限调制度的记录光强度是对应于上述容许波形畸变量的记录光强度以上的情况下，将对应于上述容许上限调制度的记录光强度作为上限值，将对应于上述容许波形畸变量的记录光强度作为下限值，将记录信息时的记录光强度设定在上述上限值和上述下限值之间的步骤。
9、如权利要求8所述的记录光强度学习方法，还具有：
(h)在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述容许波形畸变量的记录光强度小、且上述记录波形的中间部被设定为上述第2记录光强度的情况下，将上述中间部的一部分设定为上述第1记录光强度的步骤。
10、如权利要求9所述的记录光强度学习方法，还具有：
(i)在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述容许波形畸变量的记录光强度小、且上述记录波形的中间部的一部分被设定为上述第1记录光强度的情况下，将上述中间部的一部分在时间上延长的步骤。
11、一种记录光强度学习方法，是光学信息记录再现装置的记录光强度学习方法，通过对具有光强度学习区域的光学记录媒体照射光束而形成多种长度的标记来记录信息，在形成规定的标记长度以上的标记时，用在记录波形的前端部及后端部设定为强度较强的第1记录光强度、在记录波形的中间部设定为上述第1记录光强度以下的第2记录光强度的记录波形来照射光束，从而形成标记，其具有如下步骤：
(a)使上述第1记录光强度为恒定、使上述第2记录光强度按规定的变化量阶段性地变化，将由包括大致最长标记的多个标记构成的光强度学习图案记录到上述光强度学习区域中的步骤；
(b)检测出对所记录的上述光强度学习图案中的多个标记的再现信号的调制度的步骤；
(c)检测出对所记录的上述光强度学习图案中的上述大致最长标记的再现信号的波形畸变量的步骤；
(d)根据检测到的上述调制度和容许上限调制度，求出对应于容许上限调制度的记录光强度的步骤；
(e)根据检测到的上述波形畸变量和目标波形畸变量，求出对应于目标波形畸变量的记录光强度的步骤；
(f)将对应于上述容许上限调制度的记录光强度与对应于上述目标波形畸变量的记录光强度进行比较的步骤；
(g)在对应于上述容许上限调制度的记录光强度是对应于上述目标波形畸变量的记录光强度以上的情况下，将对应于上述目标波形畸变量的记录光强度设定为第2记录光强度，将上述第1记录光强度与设定的上述第2记录光强度的比率决定为最佳光强度比率的步骤。
12、如权利要求10所述的记录光强度学习方法，还具有：
(h)在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述目标波形畸变量的记录光强度小、且上述记录波形的中间部被设定为上述第2记录光强度的情况下，将上述中间部的一部分设定为上述第1记录光强度的步骤。
13、如权利要求12所述的记录光强度学习方法，还具有：
(i)在对应于上述容许上限调制度的记录光强度比对应于上述目标波形畸变量的记录光强度小、且上述记录波形的中间部的一部分被设定为上述第1记录光强度的情况下，将上述中间部的一部分在时间上延长的步骤。
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