CN1719524A - 光信息记录装置和光拾取器装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种在与进行记录同时地进行校正的实时校正中,对于提高记录、追踪、再现的精度有效的光信息记录装置和光拾取器装置。通过将由激光二极管输出的激光使用衍射光栅进行分岔,从而形成记录用光束点(20A)、再现用光束点(20D)和(20E)、以及追踪用光束点(20B)和(20C)。这样,通过各自独立地设置记录、再现、追踪用的光束点,从而一方面维持追踪的精度,一方面获得再现劣化少的信号。

Description

光信息记录装置和光拾取器装置
技术领域
本发明涉及一种光信息记录装置和光拾取器(pick-up)装置,特别涉及对实时的记录条件的校正有效的光信息记录装置和光拾取器装置。
背景技术
对光盘等光信息记录介质的信息记录是通过以下动作来进行的,即:以EFM(Eight to Fourteen Modulation)方式对记录数据进行调制,根据该调制信号形成记录脉冲,根据该记录脉冲控制激光的强度或照射定时,在光盘上形成记录坑。
在此,记录坑的形成是利用因激光的照射而产生的热来进行的,因此,要求对记录脉冲的设定考虑蓄热效果和热干扰等。因此,以往按光盘的种类以策略(strategy)的形式对构成记录脉冲的各种参数的设定进行多个定义,从这些策略中选择最适于该记录环境的策略,对光盘进行记录。
该策略不只依赖于例如光拾取器的点径偏差、机构精度偏差等光信息记录装置的个体差别,还依赖于用于记录再现的光盘的制造商类别和记录速度,因此设定最佳策略会提高记录品质。
为此,人们提出了这样的方法,即:求出与各制造商类别对应的光盘的最佳策略,将其与制造商类别对应地预先存储在存储器中,在对光盘进行信息记录时,读取记录在光盘上的光盘的制造商类别,从上述存储器中读出与该所读取的制造商类别对应的最佳策略并进行使用。
但是,根据上述方法,虽然可以对预先存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录,但是却不能对未存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录,并且,即使是预先存储在存储器中的制造商类别的光盘,当记录速度不同时,也不能进行最佳记录。
因此,如下述的专利文献1~专利文献4所示,提出了多个按记录条件预先进行测试记录,根据该测试记录确定最佳策略,从而能应对各种光盘的方法。
[专利文献1]日本特开平5-144001号公报
[专利文献2]日本特开平4-137224号公报
[专利文献3]日本特开平5-143999号公报
[专利文献4]日本特开平7-235056号公报
然而,上述专利文献1~4所示的方法,由于在开始信息记录前需要进行测试记录,因此无法在记录的同时校正策略,难以应对内外周的最佳条件不同的情况。
作为解决该问题,即由于存在着光盘从内周部到外周部若干个记录特性有差异,记录装置一方也在内周部和外周部的记录速度不同的情况,因此记录品质产生内外差的问题的方法,以下的专利文献揭示了通过调整激光输出来缓解内外差的技术。
[专利文献5]日本特开昭53-050707号公报
[专利文献6]日本特开2001-312822号公报
在上述专利文献5和6中,公开了通过检测出辅助光束的光量变化,自动地进行激光输出的优化的方法,该种方法被称为OPC。
上述这样的OPC,由于是调整功率的方法,能够通过不对称(asymmetry)值等统计上的指标求出校正条件,因此也可以实现一边记录一边进行校正的实时校正,但是,在校正脉冲宽度和脉冲的相位条件时,由于需要记录脉冲与在光盘上所形成的坑之间的偏移量,因此用以往的OPC难以进行应对。
因此,为了进行脉冲条件的实时校正,就需要在记录的同时检测出坑的位置和长度的技术。作为解决这一问题的一个方法,在下述专利文献中公开了通过独立使用记录用光束和再现用光束,从而同时进行记录和再现的方法。
[专利文献7]日本特开平7-129956号公报
[专利文献8]日本特开平9-147361号公报
在上述专利文献7中,公开了一边用主光束进行记录,一边用辅助光束进行再现的方法,在专利文献8中,公开了一边用主光束进行记录,一边用辅助光束进行再现和追踪(tracking)的方法。
但是,在专利文献7所公开的方法中,没有考虑对追踪的应对,此外,在专利文献8所公开的方法中,存在以下的问题,即:由于以追踪为目的,使用配置于岸(Land)和沟槽(Groove)的边界上的光束来进行再现,因此在追踪时,容易产生再现信号的劣化。
发明内容
因此,本发明提供一种在与进行记录同时地进行记录条件的校正的实时校正中,对提高记录、追踪、再现的精度有效的方法。
为了实现上述目的,本发明的第1方案提供一种光信息记录装置,通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑,同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测,其特征在于:在上述记录用激光和再现用激光之外,将该追踪用激光照射在上述介质上,由此进行上述记录用激光和/或上述再现用激光的追踪。
这样,通过独立地设置再现用激光和追踪用激光,即便进行追踪,也能够进行信号劣化少的再现。在此,作为要追踪的对象,有记录用激光和再现用激光,优选的是将这两者设为追踪的对象。另外,作为追踪的方法,可以使用众所周知的三光束法和差动推挽法中的任一者。
此外,本发明的第2方案提供一种光信息记录装置,将一束激光分岔后生成记录用激光和再现用激光,通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑,并且通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测,其特征在于:将上述一束激光进一步分岔后生成追踪用激光,将该追踪用激光照射在上述介质上,由此进行上述一束激光的追踪。
这样,通过在使用了分岔结构的情况下,追踪用的激光也通过分岔生成,将作为分岔源的一束激光作为追踪对象,能够在实质上进行记录用激光和再现用激光这两者的追踪。另外,作为构成追踪的基础的信息,可以使用记录用激光的反射光、再现用激光的反射光的任一者。在此,一束激光,设为包括作为在将由特定的光源照射的激光分成几个阶段进行了分岔时的基础的激光。即,设为也包括由某激光经过中间分岔步骤而生成记录用激光和再现用激光的情况的激光。
此外,本发明的第3方案提供一种光信息记录装置,通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑,同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测,其特征在于:通过照射上述记录用激光在上述介质上形成的记录用点,与通过照射上述再现用激光在上述介质上形成的再现用点之间的距离H,通过下式确定,即:
H≥Vx×T
其中,T为形成上述坑所需要的时间,V为上述介质的线速度。
这样,通过考虑坑形成时间,配置记录用点和再现用点,能够再现反映了记录环境的影响的最终状态的坑,因此可以进行更高精度的实时校正。另外,形成坑所需要的时间,在为色素型介质的情况下,优选的是考虑记录材料的热特性与记录条件之间的关系再进行确定,在为相变型介质的情况下,优选的是考虑无机材料的相变特性再进行确定,更优选的是通过预先测试多个种类的介质,从而预先按不同的坑长进行定义。
此外,本发明的第4方案提供一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由第1和第2检波器,分别对被照射到光记录介质上的第1和第2光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:在进行以下设定的情况下,即:将上述第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1,将光轴水平方向的间隔设为X1,将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly,将光轴水平方向的间隔设为Lx,将上述物镜的焦距设为f1,将上述准直透镜的焦距设为f2,将上述环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y,将上述环形透镜的水平方向的焦距设为f3x,将上述准直透镜与环形透镜的主点间距离设为d,将上述Y2和X2以下式定义,
Y2=[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1
X2=[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1
由此,在上述环形透镜为凸透镜并且f3y>f3x时,上述Y2、X2、Ly、X2,以满足Y2>Ly和X2<Lx的条件构成。
这样,在环形透镜为凸透镜时,将Y2>Ly和X2<Lx设为满足的条件,从而能够避免第1和第2检波器在机械上的重叠。
更详细地说,在将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的宽度设为Wy,将光轴水平方向的宽度设为Wx时,优选的是上述Lx、Wx以满足Lx≥Wx的条件进行配置,在将光轴垂直方向设为Y轴,将光轴水平方向设为X轴,将光轴方向设为Z轴时,优选的是将上述第1检波器的检测面和上述第2检波器的检测面配置在不同的Z坐标上。
本发明的第5方案提供一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由第1和第2检波器,分别对被照射到光记录介质上的第1和第2光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:在进行以下设定的情况下,即:将上述第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1,将光轴水平方向的间隔设为X1,将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly,将光轴水平方向的间隔设为Lx,将上述物镜的焦距设为f1,将上述准直透镜的焦距设为f2,将上述环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y,将上述环形透镜的水平方向的焦距设为f3x,将上述准直透镜与上述环形透镜的主点间距离设为d,将上述Y2和X2以下式定义,
Y2=[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1
X2=[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1
由此,在上述环形透镜为凹透镜并且f3y>f3x时,上述Y2、X2、Ly、X2,以满足Y2<Ly和X2>Lx的条件构成。
这样,通过在环形透镜为凹透镜时,将Y2<Ly和X2>Lx设为满足的条件,能够避免第1和第2检波器在机械上的重叠。
更详细地说,在将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的宽度设为Wy,将光轴水平方向的宽度设为Wx时,优选的是上述Ly、Wy以满足Ly≥Wy的条件进行配置,在将光轴垂直方向设为Y轴,将光轴水平方向设为X轴,将光轴方向设为Z轴时,优选的是将上述第1检波器的检测面和上述第2检波器的检测面配置在不同的Z坐标上。
此外,本发明的第6方案提供一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由检波器对被照射到光记录介质上的光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:在将上述光束点的垂直方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dy,将上述光束点的水平方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dx,将上述检波器的检测面与上述环形透镜的主点间的距离设为d的情况下,由此,在上述环形透镜为凸透镜并且f3y>f3x时,上述dx、dy、D,以满足dx<D<dy的条件构成。
这样,通过在环形透镜为凸透镜时,将dx<D<dy设为满足的条件,能够在象散法的可执行范围内配置检波器,在此,所谓水平方向像面,是指使水平方向的点宽度成为最小的聚焦位置,所谓垂直方向像面,是指使垂直方向的点宽度成为最小的聚焦位置。
此外,本发明的第7方案提供一种光拾取器装置,在经由物镜、准直透镜、环形透镜,由检波器对被照射到光记录介质上的光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:在将上述光束点的垂直方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dy,将上述光束点的水平方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dx,将上述检波器的检测面与上述环形透镜的主点间的距离设为D的情况下,由此,在上述环形透镜为凹透镜并且f3y>f3x时,上述dx、dy、D,以满足dx>D>dy的条件构成。
这样,通过在环形透镜为凹透镜时,将dx>D>dy设为满足的条件,从而能够在象散法的可执行范围内配置检波器。
如上所述,根据本发明,因为追踪和再现是独立地进行,因此可以进行更高精度的实时校正。
附图说明
图1是表示本发明的驱动的内部结构的框图。
图2是表示被编入图1所示的驱动内的光拾取器的构造的分解斜视图。
图3是表示照射在光盘的盘面上的点的配置的平面图。
图4是表示照射在光盘的盘面上的点与检波器的关系的概念图。
图5是表示在光盘的盘面上照射4个点时上述各点与检波器之间的关系的概念图。
图6是表示在光盘的盘面上照射9个点时上述各点与检波器之间的关系的概念图。
图7是表示记录用光束与再现用光束的间隔的平面图。
图8是表示设置于图1所示的光拾取器的内部的各光学元件的配置关系的分解斜视图。
图9是表示图8所示的物镜118、准直透镜119、环形透镜120的垂直和水平布置(layout)、与各检波器之间的距离的关系的概念图。
图10是表示第1检波器和第2检波器的配置例的斜视图。
图11是表示检波器相互之间间隔的可取范围的图像(image)的概念图。
图12是表示第1和第2检波器的宽度与间隔的关系的斜视图。
图13是表示第1检波器与第2检波器的其他的配置例的斜视图。
图14是表示图8所示的物镜118、准直透镜119、环形透镜120的垂直和水平布置、与检波器的光轴方向的位置的关系的概念图。
图15是表示使用了象散法的聚焦的概念的概念图。
图16是表示图1所示的脉冲生成电路的内部结构的电路框图。
图17是表示图1所示LD驱动器的内部结构的电路图。
图18是表示图17所示的记录脉冲的生成过程的时序图。
图19是表示记录用的主光束与再现用的辅助光束的关系的时序图。
具体实施方式
以下,参照附图详细地说明本发明的光信息记录装置。另外,本发明并不限于以下说明的实施方式,可以进行适当的变更。
图1是表示本发明的驱动的内部结构的框图。如图1所示那样,该驱动100,使用由激光二极管110输出的激光,对光盘500进行信息的记录再现,与个人计算机600等外部装置之间进行数据的接收和发送。
在对光盘500进行信息的记录时,经由接口电路218从个人计算机600接收到的记录数据,由EFM编码/解码器216进行编码,通过用CPU212对该已编码的记录数据进行处理,确定成为对于该光盘500的记录条件的策略,由脉冲生成电路300将该策略转换成记录脉冲,将该记录脉冲输出到LD驱动器124。
LD驱动器124根据所输入的记录脉冲驱动激光二极管110,激光二极管110应对于该记录脉冲,控制输出激光,将该被控制的激光经由衍射光栅114、偏振光束分离器116、物镜118,照射到以恒定的线速度或者恒定的角速度旋转着的光盘500上,由此在光盘500上记录由与所希望的记录数据对应的坑、岸串所构成的记录模式(pattern)。
另一方面,在对光盘500上所记录的信息进行再现时,再现激光从激光二极管110经由衍射光栅114、偏振光束分离器116、物镜118,照射到光盘500上。
此时,再现激光使用比记录时的激光强度低的激光,来自光盘500的基于该再现激光的反射光,经由物镜118、偏振光束分离器116、环形透镜120,由检波器122受光,转换成电信号。
从检波器122输出的电信号,与由记录在光盘500上的坑、岸所构成的记录模式对应,该电信号由限幅器210变化为二进制,进而由EFM编码/解码器216解码后作为再现信号进行输出。
光拾取器102,由上述的激光二极管110、衍射光栅114、偏振光束分离器116、物镜118、准直透镜119、环形透镜120、检波器122等光学元件构成,这些设置于光拾取器内部的光学元件,由致动器(actuator)123进行驱动。
这些光学元件的控制位置,由伺服检测部202进行检测,根据该伺服检测部202的检测结果,追踪控制部204驱动致动器123进行追踪控制,聚焦控制部206驱动致动器123进行聚焦控制。
图2是表示被编入图1所示的驱动内的光拾取器的构造的分解斜视图。如图2所示那样,设置于激光二极管110与光盘500的盘面之间的衍射光栅,由2张衍射光栅114-1、114-2构成,在各衍射光栅上,分别形成有方向不同的沟115-1、115-2。
在激光20入射到这样构成的衍射光栅上时,由第1衍射光栅115-1分岔成3道激光,进而,再由第2衍射光栅115-2分岔成3道激光,合计形成9道激光,其中,使用在光盘的盘面上照射出的5个点20A~20E。
图3是表示照射在光盘的盘面上的点的配置的平面图。如图3所示,在光盘500的盘面上,照射有记录用主光束20A、追踪用前辅助光束20B、追踪用后辅助光束20C、再现用前辅助光束20D、再现用后辅助光束20E。
在此,记录用主光束20A,照射在形成于光盘500上的沟槽502-2上,通过该光束点的照射,在沟槽502-2内形成坑506。该记录用主光束20A,为了能够形成基于热模式的坑,将发光强度设为最高。
追踪用前辅助光束20B,照射在与被主光束20A所照射的沟槽502-2邻接的岸504-3,追踪用后辅助光束20C,照射在岸504-2,该岸504-2是与被主光束20A所照射的沟槽502-2相邻的岸、处于与被辅助光束20B所照射的岸的相反侧。
再现用前辅助光束20D,照射在以下的位置,即:与被主光束20A所照射的沟槽相同的沟槽502-2上、比主光束20A靠前的位置,再现用后辅助光束20E,照射在以下的位置,即:与被主光束20A所照射的沟槽相同的沟槽502-2上、比主光束20A靠后的位置。
通过这样配置各点,能够以再现用后辅助光束20E,检测出由主光束20A所形成的记录模式,即由坑506和岸508的组合而构成的记录模式。
图4是表示照射在光盘的盘面上的点与检波器的关系的概念图。如图4所示,图1所示的检波器122,由122A~122E这5个受光部构成,与点20A~20E对应的反射光22A~22E分别照射到各受光部,被转换成电信号。
图5是表示在光盘的盘面上照射4个点时上述各点与检波器之间的关系的概念图。如图5所示,本发明也可以这样构成:不使用图4所示的再现用前辅助光束20D。
图6是表示在光盘的盘面上照射9个点时上述各点与检波器之间的关系的概念图。如图6所示,本发明也可以这样构成:由衍射光栅生成9道分岔光,使用其中的5道分岔光。在这种情况下,预先设为图6中以虚线所示的点不由检波器进行受光的结构。
图7是表示记录用光束与再现用光束的间隔的平面图。如图7所示,记录用主光束20A与再现用辅助光束20E之间的间隔H,在将形成坑所需要的时间设为T,将介质的线速度设为V时,以H≥V×T的范围进行设定。
这是着眼于以下的问题而设计的结构,即:在光记录介质中,到记录结束为止需要一定的时间,在记录未结束的状态下,激光输出和用于脉冲调整的再现信号发生劣化,为了避免在这样未记录的状态下取得再现信号,就对记录用光束点与再现用光束点的间隔进行确定。
此外,在光记录介质中,在进行数据记录时,使用热反应的介质、和使用相位变化的介质已经为人所知,如图7所示那样,通过在光记录介质上预先确定记录点与再现信号取得点之间的距离,就能够可靠地取得数据记录结束后的再现信号。
图8是表示设置于图1所示的光拾取器的内部的各光学元件的配置关系的分解斜视图。如图8所示,在将光轴垂直方向设为Y轴,将光轴水平方向设为X轴,将光轴方向设为Z轴时,物镜118、准直透镜119、环形透镜120被配置在Z轴上,检波器122A~122E被配置在Y轴上。
通过这样的配置,照射到光盘的盘面上的点20A~20E,经由物镜118、准直透镜119、环形透镜120,被照射到各检波器的检测面上。
图9是表示图8所示的物镜118、准直透镜119、环形透镜120的垂直和水平布置、与各检波器间的距离的关系的概念图。图9的(a)表示各光学元件的垂直布置,图9的(b)表示各光学元件的水平布置。
如图9的各图所示,在将第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1,将光轴水平方向的间隔设为X1,将第1检波器和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly,将光轴水平方向的间隔设为Lx,将物镜的焦距设为f1,将准直透镜的焦距设为f2,将环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y,将环形透镜的水平方向的焦距设为f3x,将准直透镜与环形透镜的主点间距离设为d时,Y2和X2能够以下式定义,即:
Y2=[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1
X2=[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1
由此,在环形透镜为凸透镜,并且f3y>f3x时,以满足Y2>Ly和X2<Lx的条件配置第1和第2检波器,在环形透镜为凹透镜,并且f3y>f3x时,以满足Y2<Ly和X2>Lx的条件来配置第1和第2检波器。
图10是表示第1检波器和第2检波器的配置例的斜视图。如图10所示,当假设在XY平面上斜着配置了第1检波器122-1和第2检波器122-2时,各检波器间的距离L,设定成比Lx和Ly大,其结果是,可以成为在各检波器不会发生机械上的重叠的情况下进行点的受光的结构。
图11是表示检波器相互之间间隔的可取范围的图像的概念图。如图11的各图所示,在环形透镜为凸透镜时,检波器相互之间的间隔构成图11的(a)所示的范围,在环形透镜为凹透镜时,检波器相互之间的间隔构成图11的(b)所示的范围。
图12是表示第1和第2检波器的宽度与间隔的关系的斜视图。如该图所示那样,通过在将第1和第2检波器的光轴垂直方向的宽度设为Wy,将光轴水平方向的宽度设为Wx时,在为凹透镜时,以满足Ly≥Wy的条件配置,在为凸透镜时,以满足Lx≥Wx的条件配置,从而形成能够在各检波器不会发生机械上的重叠的情况下进行点的受光的结构。
图13是表示第1检波器和第2检波器的其他的配置例的斜视图。如图13所示那样,在将第1检波器122-1的检测面,与第2检波器122-2的检测面配置在不同的Z坐标上时,由于即使在平面上重叠,也能避开在岸上的重叠,因此形成在各检波器不会发生机械上的重叠的情况下,点能够受光的结构。
图14是表示图8所示的物镜118、准直透镜119、环形透镜120的垂直和水平布置、与检波器的光轴方向的位置的关系的概念图。如图14所示,在将光束点的垂直方向像面与环形透镜的主点之间的距离设为dy,将光束点的水平方向像面与环形透镜的主点之间的距离设为dx,将第1和第2检波器的检测面与环形透镜的主点之间的距离设为D的情况下,在环形透镜为凸透镜且f3y>f3x时,以满足dx<D<dy的条件配置各检波器,在环形透镜为凹透镜且f3y>f3x时,以满足dx>D>dy的条件配置各检波器。
图15是表示使用了象散法聚焦的概念的概念图。如图15所示那样,照射到检波器的检测面上的反射点22,通过聚焦的调整位置,从而取22-1~22-7这样的形状,在从构成水平方向像面的22-6到构成垂直方向像面的22-3之间形成象散法可执行的范围。因而,在使用象散法进行聚焦的情况下,在dx和dy之间配置各检波器。
图16是表示图1所示的脉冲生成电路的内部结构的电路框图。如图16所示那样,在本脉冲生成电路300中,由脉冲单元生成电路310-1、310-2分别接收从图1的CPU212送出的策略条件SD1、SD2,生成与时钟信号CLK同步的脉冲信号PW1、PW2。
在此,策略条件SD1、SD2,是将脉冲的接通期间和关闭期间的长度,作为以时钟数所表示的数值数据定义,接受了这些数据的脉冲单元生成电路310-1、310-2,使用在驱动内所生成的时钟信号CLK,生成策略条件SD1、SD2表示的条件的脉冲信号。这些脉冲信号PW1、PW2,被输出到图1的LD驱动器124。
图17是表示图1所示的LD驱动器的内部结构的电路图。如图17所示那样,LD驱动器124,由使用了电阻R1、R2的分压电路,和合成这些分压电路的输出电压的合成器126构成,来自脉冲生成电路300的脉冲信号PW1、PW2,经由电阻R1、R2,被放大至预定的输出电平后,由合成器126合成逻辑和,生成记录脉冲PWR,输出到图1的激光二极管110。
图18是表示图17所示的记录脉冲的生成过程的时序图。如图18的各图所示那样,由激光二极管输出的记录脉冲PWR,使用构成记录脉冲的构成要素的脉冲信号PW1、PW2而生成。即,如图18的(b)和(c)所示那样,脉冲信号PW1、PW2与图18的(a)的时钟信号CLK同步生成,如图18的(d)所示那样,通过合成这些脉冲信号PW1、PW2,而生成记录脉冲PWR。
图19是表示记录用的主光束与再现用的辅助光束的关系的时序图。如图19的(a)所示那样,记录用主光束的输出为形成坑所需要的高输出的脉冲模式,另外,通过该脉冲照射在光盘上所形成的坑模式为图19的(b)所示那样。
另一方面,如图19的(c)所示那样,再现用辅助光束的输出,为与记录用主光束的输出模式相同的定时,形成输出比记录用主光束缩小了分岔比率那部分的脉冲模式,以该再现用辅助光束再现的坑模式,如图19的(d)所示那样,形成记录中的坑延迟了时间差τ的模式。
因此,当检测在记录坑14T的记录中被再现的岸4T时,如图19的(e)所示那样,变成只需特定使记录脉冲的模式延迟了时间差τ的脉冲的岸4T,和记录脉冲的坑14T的恒定输出区域重叠的位置即可。即,在记录脉冲中由长坑的恒定输出区域生成第1门信号,并且在使记录脉冲延迟了时间差τ的脉冲模式中,由相当于作为检测对象的短坑或者岸的脉冲生成第2门信号,使用这些第1和第2门信号,对由再现用辅助光束所获得的RF信号进行屏蔽的结构将变得有用。
根据本发明,可以进行更高精度的实时校正,因此能期待将其适用到在光盘的内外周记录条件发生变化的记录环境。

Claims (11)

1.一种光信息记录装置,通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑,同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测,其特征在于:
在上述记录用激光和再现用激光之外,将该追踪用激光照射在上述介质上,由此进行上述记录用激光和/或上述再现用激光的追踪。
2.一种光信息记录装置,将一束激光分岔后生成记录用激光和再现用激光,通过该记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑,并且通过上述再现用激光的照射进行上述坑的检测,其特征在于:
将上述一束激光进一步分岔后生成追踪用激光,将该追踪用激光照射在上述介质上,由此进行上述一束激光的追踪。
3.一种光信息记录装置,通过记录用激光的脉冲照射在光记录介质上形成坑,同时通过再现用激光的照射进行上述坑的检测,其特征在于:
通过照射上述记录用激光在上述介质上形成的记录用点,与通过照射上述再现用激光在上述介质上形成的再现用点之间的距离H,通过下式确定,即:
H≥V×T
其中,T为形成上述坑所需要的时间,V为上述介质的线速度。
4.一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由第1和第2检波器,分别对被照射到光记录介质上的第1和第2光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:
在进行以下设定的情况下,即:将上述第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1,将光轴水平方向的间隔设为X1,将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly,将光轴水平方向的间隔设为Lx,将上述物镜的焦距设为f1,将上述准直透镜的焦距设为f2,将上述环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y,将上述环形透镜的水平方向的焦距设为f3x,将上述准直透镜与环形透镜的主点间距离设为d,将上述Y2和X2以下式定义,
Y2=[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1
X2=[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1
由此,在上述环形透镜为凸透镜并且f3y>f3x时,上述Y2、X2、Ly、X2,以满足Y2>Ly和X2<Lx的条件构成。
5.根据权利要求4所述的光拾取器装置,其特征在于:
在将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的宽度设为Wy,光轴水平方向的宽度设为Wx时,上述Lx、Wx,以满足Lx≥Wx的条件构成。
6.根据权利要求4所述的光拾取器装置,其特征在于:
在将光轴垂直方向设为Y轴,将光轴水平方向设为X轴,将光轴方向设为Z轴时,上述第1检波器的检测面和上述第2检波器的检测面,被配置在不同的Z坐标上。
7.一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由第1和第2检波器,分别对被照射到光记录介质上的第1和第2光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:
在进行以下设定的情况下,即:将上述第1和第2光束点的光轴垂直方向的间隔设为Y1,将光轴水平方向的间隔设为X1,将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的间隔设为Ly,将光轴水平方向的间隔设为Lx,将上述物镜的焦距设为f1,将上述准直透镜的焦距设为f2,将上述环形透镜的垂直方向的焦距设为f3y,将上述环形透镜的水平方向的焦距设为f3x,将上述准直透镜与上述环形透镜的主点间距离设为d,将上述Y2和X2以下式定义,
Y2=[f1·f2·f3y/(f2+f3-d)]·Y1
X2=[f1·f2·f3x/(f2+f3-d)]·X1
由此,在上述环形透镜为凹透镜并且f3y>f3x时,上述Y2、X2、Ly、X2,以满足Y2<Ly和X2>Lx的条件构成。
8.根据权利要求7所述的光拾取器装置,其特征在于:
在将上述第1和第2检波器的光轴垂直方向的宽度设为Wy,将光轴水平方向的宽度设为Wx时,上述Ly、Wy,以满足Ly≥Wy的条件构成。
9.根据权利要求7所述的光拾取器装置,其特征在于:
在将光轴垂直方向设为Y轴,将光轴水平方向设为X轴,将光轴方向设为Z轴时,上述第1检波器的检测面和上述第2检波器的检测面,被配置在不同的Z坐标上。
10.一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由检波器对被照射到光记录介质上的光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:
在将上述光束点的垂直方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dy,将上述光束点的水平方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dx,将上述检波器的检测面与上述环形透镜的主点间的距离设为d的情况下,
由此,在上述环形透镜为凸透镜并且f3y>f3x时,上述dx、dy、D,以满足dx<D<dy的条件构成。
11.一种光拾取器装置,经由物镜、准直透镜、环形透镜,由检波器对被照射到光记录介质上的光束点进行受光处理,该光拾取器装置的特征在于:
在将上述光束点的垂直方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dy,将上述光束点的水平方向像面与上述环形透镜的主点间的距离设为dx,将上述检波器的检测面与上述环形透镜的主点间的距离设为d的情况下,
由此,在上述环形透镜为凹透镜并且f3y>f3x时,上述dx、dy、D,以满足dx>D>dy的条件构成。
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