CN1763473A - 在线自动测量光学薄板翘曲的方法以及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种在线自动测量光学薄板翘曲的方法以及装置，其中该方法是利用输送带移动光学薄板，并在输送带上设置至少一测量光束，当光学薄板遮挡到测量光束时，判定光学薄板为翘曲的；本发明借由精确的光学测量来实现光学薄板翘曲的在线自动测量，可有效地提高测量的准确度，并大幅度地增快测量速度。
Description
技术领域
本发明涉及一种光学薄板的制造流程与品管方法，且特别是涉及一种可在线实时测量且易于自动化的光学薄板翘曲的测量方法以及装置。
背景技术
液晶显示器具有高画质、体积小、重量轻、低电压驱动、低消耗功率及应用范围广等优点。因此被广泛应用于中、小型可携式电视、移动电话、摄录放影机、笔记型计算机、桌上型显示器、以及投影电视等消费性电子或计算机产品，并已逐渐取代阴极射线管(cathode ray tube，CRT)成为显示器的主流。
在液晶显示器中，偏光板为其液晶面板的主要构成组件之一。偏光板可由一个或一个以上的光学薄板所组成，除了原本的偏光功能外，可更兼具例如防窥、光学补偿等其它的功能。一般而言，光学薄板可能因制备工艺不良而产生翘曲。翘曲的光学薄板在与液晶面板贴合时，无法平整地贴合于液晶面板，而造成液晶显示器质量不佳的问题。
因此，公知技术会在光学薄板刚制造完成时，利用人工测量的方法来测量光学薄板的翘曲，以筛选出翘曲程度合乎品管标准的光学薄板。然而，此种传统的人工测量方法并不方便，而且准确度非常低，容易因测量误差而造成品管不佳的问题。再者，人工测量的测量时间很长，不但拖慢光学薄板的生产速度，而且也十分浪费人力，造成制造成本的负担。
发明内容
本发明的目的就是在提供一种在线自动测量光学薄板翘曲，利用光强度的变化实时地在线测量光学薄板是否翘曲，且易于结合于自动化的生产流程之中。
本发明的另一目的是在提供一种在线自动测量光学薄板翘曲的装置，可提高测量的准确度、增快测量速度、提升品管能力及产能，并节省人力以降低制造成本。
为实现上述目的，本发明提供一种在线自动测量光学薄板翘曲的方法，包含：利用一输送带移动一光学薄板；在该输送带上设置至少一测量光束；以及当该光学薄板遮挡到该测量光束时，判定该光学薄板为翘曲的。
该方法包含在该输送带上设置多个测量光束，且所述多个测量光束的水平高度并不相同。
各测量光束的水平高度是依照该输送带的行进方向依序递减。
该方法还包含依照各测量光束的水平高度，对各测量光束判定为翘曲的光学薄板作等级分类。
本发明还提供一种在线自动测量光学薄板翘曲的装置，包含：一输送带，输送一光学薄板；至少一光源，发射至少一测量光束，其中该测量光束位于该输送带上方；至少一检测器，接收该测量光束，其中当该光学薄板遮挡到该测量光束时，该检测器判定该光学薄板为翘曲的。
该装置包含多个检测器，用以接收多个测量光束，且所述测量光束的水平高度并不相同。
该装置还包含一捡取设备，用以将该翘曲的光学薄板捡取离开该输送带。
该光源为一激光光源或一普通光源。
该检测器为电荷耦合组件、光电倍增管或光二极管。
该装置还包含一针孔，配置于该测量光束的光路中以提高测量的准确性。
也就是说，本发明提出的在线自动测量光学薄板翘曲的方法与装置，是利用输送带移动光学薄板，并在输送带上设置至少一测量光束，当光学薄板遮挡到测量光束时，判定光学薄板为翘曲的。
依照本发明的一较佳实施例，测量光束由一光源所产生，且被一检测器所接收。光源为激光光源或普通光源，且检测器为电荷耦合组件、光电倍增管或光二极管。此外，此装置还包含一针孔，配置于测量光束的光路中，以提高测量的准确性。
依照本发明的另一较佳实施例，亦可在输送带上设置多个水平高度并不相同的测量光束，且各测量光束的水平高度依照输送带的行进方向依序递减。如此，即可依照各测量光束的水平高度，对各测量光束判定为翘曲的光学薄板作等级分类，并利用一捡取设备将翘曲的光学薄板捡取离开输送带。
再者，此较佳实施例中的装置还包含多个检测器，用以接收所述测量光束。所述测量光束可直接由多个光源来发射，或是由多个分光镜与单一光源相互配合来形成。
本发明利用输送带使光学薄板通过光源以及检测器之间，并同时测量光线的光强度变化，如此借由精确的光学测量来达成光学薄板翘曲的在线自动测量，可有效地提高测量的准确度，并大幅地增快测量速度。由于本发明可借由光电组件以及计算机自动控制来完成，因此易于与自动化生产流程结合，不但可提升品管能力及产能，并可节省人力以降低制造成本。
附图说明
为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，对附图详细说明如下：
图1是本发明的一较佳实施例的示意图；以及
图2是本发明的另一较佳实施例的示意图。
其中，附图标记说明如下：
102：输送带；104：测量光束；
110：光学薄板；114：光源；
124：检测器；134：针孔；
204a、204b、204c：测量光束；
214：光源；
214a、214b、214c：分光镜；
224a、224b、224c：检测器；
240：捡取设备。
具体实施方式
图1绘示本发明的一较佳实施例的示意图。如图1所示，光学薄板110，例如偏光板，是在输送带102上移动。此较佳实施例是在输送带102上设置至少一测量光束104，当移动中的光学薄板110遮挡到测量光束104时，判定光学薄板110为翘曲的。由于输送带102可轻易地结合于公知的光学薄板制造流程之中，因此利用此较佳实施例的装置与方法即可在生产在线实时地测量出光学薄板110是否为翘曲的。
在此较佳实施例中，测量光束104是由光源114所产生，且被检测器124所接收。光源114可为激光光源或普通光源，例如氦氖激光、二极管激光、卤素灯或其它发出光线的波长会因光学薄板110的遮挡而产生光强度变化者，皆适用于本发明之中。检测器124则可为电荷耦合组件(Charge CoupledDevice；CCD)、光电倍增管(Photomultiplier Tube；PMT)或光二极管(Photodiode)。而且，此检测器124的适用波长应与其对应的光源114所发出光线的波长相配合，以观察测量光束104是否会因被光学薄板110的翘曲部分遮挡而造成其光强度的变化。
此外，此较佳实施例还提供数个方法来提高光学测量时的准确性。举例来说，此较佳实施例在测量光束104的光学路径中，即光源114与检测器124之间，配置至少一针孔134，利用针孔134局限光学路径的特性来提高光学测量的准确性。再者，在测量测量光束104的光强度变化时，亦可借由调整检测器124的临界值(Threshold Value)来控制光学测量的准确性。
简言之，其它在公知技艺中用来提高光学测量准确性的技术皆应符合本发明的精神与范围，熟知此技术者当可轻易理解并使用其于本发明之中，不受限于仅可使用本发明的较佳实施例所揭示的上述技术手段而已。
图2绘示本发明的另一较佳实施例的示意图。如图2所示，此较佳实施例是在输送带102上设置多个测量光束204a、204b以及204c。测量光束204a、204b及204c的水平高度d1、d2及d3并不相同，且测量光束204a、204b以及204c的水平高度d1、d2以及d3是依照输送带102的行进方向依序递减。
如此，即可依照测量光束204a、204b以及204c的水平高度d1、d2以及d3，对被不同测量光束204a、204b或204c判定为翘曲的光学薄板作出翘曲程度的等级分类。此较佳实施例中还配合此翘曲程度的等级分类方式，使用一捡取设备240，例如机械手臂或是真空吸取设备，将被判定为翘曲的光学薄板捡取离开输送带102，并依照其翘曲程度将其分类，如此以实现自动化在线测量光学薄板翘曲程度并完成等级分类的目的。
再者，此较佳实施例是利用多个检测器224a、224b及224c来接收测量光束204a、204b及204c。而另一方面，与检测器224a、224b及224c相对应的光源，可直接由多个光源来发射(即一光源对应一检测器的配置)，或是借由多个分光镜214a、214b及214c与单一光源214相互配合来形成，如图2所示。同样地，上述的提高光学测量准确性的方法亦可运用于此较佳实施例中，此处不再赘述。
本发明利用输送带使光学薄板通过光源以及检测器之间，并同时测量光线的光强度变化，如此借由精确的光学测量来达成光学薄板翘曲的在线自动测量，可有效地提高测量的准确度，并大幅地增快测量速度。由于本发明可借由光电组件以及计算机自动控制来完成，因此易于与自动化生产流程结合，不但可提升品管能力及产能，并可节省人力以降低制造成本。
虽然本发明已以一较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视的申请专利范围所界定者为准。
Claims (10)
1.一种在线自动测量光学薄板翘曲的方法，其特征在于，包含：
利用一输送带移动一光学薄板；
在该输送带上设置至少一测量光束；以及
当该光学薄板遮挡到该测量光束时，判定该光学薄板为翘曲的。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法包含在该输送带上设置多个测量光束，且所述多个测量光束的水平高度并不相同。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，各测量光束的水平高度是依照该输送带的行进方向依序递减。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，该方法还包含依照各测量光束的水平高度，对各测量光束判定为翘曲的光学薄板作等级分类。
5.一种在线自动测量光学薄板翘曲的装置，其特征在于，包含：
一输送带，输送一光学薄板；
至少一光源，发射至少一测量光束，其中该测量光束位于该输送带上方；
至少一检测器，接收该测量光束，其中当该光学薄板遮挡到该测量光束时，该检测器判定该光学薄板为翘曲的。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，该装置包含多个检测器，用以接收多个测量光束，且所述测量光束的水平高度并不相同。
7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，该装置还包含一捡取设备，用以将该翘曲的光学薄板捡取离开该输送带。
8.如权利要求5所述的装置，其特征在于，该光源为一激光光源或一普通光源。
9.如权利要求5所述的装置，其特征在于，该检测器为电荷耦合组件、光电倍增管或光二极管。
10.如权利要求5所述的装置，其特征在于，该装置还包含一针孔，配置于该测量光束的光路中以提高测量的准确性。
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