CN1760035B - 可在成像装置中使用的介质检测装置和方法 - Google Patents
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Abstract
一种可在成像装置中使用的介质检测装置和方法包括:将光照射在记录介质表面上的一光源;接收从所述记录介质反射的光的一光接收件;和一角度改变单元,其可改变所述光源和光接收件中至少一个相对于记录介质的角度;和一控制器,根据所述角度改变单元改变的角度,通过由所述光接收件测量的信号确定记录介质的类型。通过改变光的照射角和反射角,所述介质检测装置可以有效地检测记录介质的类型。
Description
技术领域
本发明总的构思涉及一种可在成像装置中使用的介质检测装置和方法,更具体地说,涉及一种可在成像装置中使用的并能够通过确定在所述成像装置中使用什么类型的介质而使打印条件为最佳的介质检测装置和方法。
背景技术
成像装置为用于将存储在例如个人计算机一类的主机中的电子文件或图形文件输出到例如纸一类的记录介质上的装置,一般分为例如激光打印机一类的静电式成像装置和例如喷墨打印机一类的喷墨式成像装置。
静电式成像装置利用的方法为,将例如调色剂一类的显影剂加在形成静电潜像的感光体的表面上,然后将图像转移和定影在所述记录介质的表面上,以得到打印资料。另一方面,喷墨式成像装置利用的方法为,将细小的墨滴喷射在记录介质表面上。
为了实现高速和高质量的打印,所述成像装置能够减小可表现的最小的点的尺寸,并同时可打印大量的点。即,通过使所述成像装置能用较小的点打印可以改善表现精度,通过同时打印大量的点可以提高打印速度。
虽然,可打印的最小点的尺寸可以极度地减小,但在一些记录介质上可能无意义。例如,对于喷墨式成像装置,由于根据记录介质类型的不同以小尺寸喷射的墨滴可以不同的速度散开和干燥,因此,从喷墨头喷出的墨滴的尺寸可能不会以相同的方式对在所有类型的记录介质上的打印质量有影响。另外,当为了高速打印而同时喷出大量的墨时,如果墨不能被记录介质吸收,则打印质量可能降低。在静电式成像装置中也可产生相同的问题。
因此,为了进行高速和高质量的打印,必须根据记录介质的类型和特性改变打印条件,并且还需要在成像装置中安装一个检测使用什么类型的记录介质的装置。
图1所示为在美国专利5139339号中公开的一种常规的介质检测装置的示意图。常规的介质检测装置30进行的操作为:利用光源31将光照射在其中移动的记录介质35的表面上,分别通过两个光接收件32和33接收全反射和漫反射的光(light totally reflected and diffuse-reflected并计算它们之间的比率,将所述比率与预定的比率比较,从而确定记录介质35的类型。在这个过程中,为了改善精度,所述检测装置30将光照射在记录介质35的多个部分上。
一般,成像装置使用诸如透明纸、光滑的照相纸、专用于喷墨打印机的纸、普通纸等之类的记录介质。所有不同的记录介质具有不同的特性,例如表面粗糙度、光泽等。因而,不同的记录介质具有全反射和漫反射(totalreflection and diffusion reflection)的比率之间的差别,从而使所述检测装置30可以确定记录介质的类型。
然而,由于在记录介质的输送过程中所述记录介质的表面不是经常保持平面状态,因此所述检测装置30时常不正确地检测记录介质的类型.即,如果在输送过程中所述记录介质弯曲,那么由于记录介质的表面不规则,则由于预定的和所检测的全反射和漫反射的比率之间的差别,可能不正确地检测记录介质的类型.另外,如果由于长期使用使得所述检测装置的安装角度变化,也可产生同样的问题.
发明内容
因此,本发明总的构思提供了一种不论记录介质的状态和使用期限,通过提供一致的检测性能,可以减少不正确的检测的一种介质检测装置。
本发明总的构思还提供了一种不论记录介质的状态和使用期限,通过提供一致的检测性能,可以减少不正确的检测的介质检测方法。
本发明总的构思的其它方面和优点部分地在下面的说明中提出,部分地可从所述说明中显而易见,或通过本发明总的构思的实施得到了解。
本发明总的构思的上述和/或其它方面与优点通过提供一种介质检测装置达到,其包括:将光照射在记录介质表面上的一光源;接收从所述记录介质反射的光的一光接收件;和一控制器,其可在当所述光源和光接收件的角度中的至少一个相对于记录介质改变时,通过由所述光接收件测量的信号而确定所述记录介质的类型。
所述光源和光接收件的角度同时由单独的驱动源改变。
所述光源和光接收件相对于记录介质的角度可由单独的驱动源连续地改变。
所述检测装置还包括:用于固定所述光源和所述光接收件中的至少一个的一支架;安装在所述支架上,可使所述支架相对于记录介质的表面不对称地往复运动的一连接装置;和驱动所述连接装置的一驱动机构。
所述连接装置包括:在所述支架中形成的一狭缝;通过所述驱动机构而转动的一圆盘;和在所述圆盘的一侧上形成、并插入所述狭缝的一突出部分。
所述检测装置其还包括:用于固定所述光源和所述光接收件中的一支架;与所述支架连接的一偏心重(eccentric weight);和使所述偏心重转动以便改变光源或光接收件相对于记录介质的角度的一驱动机构。
所述控制器通过将由所述光接收件测量的信号的最大和最小值之间的比率与预定值比较,检测记录介质的类型。
当所述最大和最小值之间的比率比预定的第二参考值大时,所述控制器确定所述记录介质为透明纸;当所述最大和最小值之间的比率不比第二参考值大、并大于其值小于第二参考值的预定的第一参考值时,确定所述记录介质为照相纸。
当所述最大和最小组之值的比率不大于第一参考值时,在所述记录介质的多个部分上测量信号后,计算分散值;当计算的分散值比预定的分散值大时,确定所述记录介质为普通纸;当所计算的分散值不比预定的分散值大时,确定所述介质为喷墨纸。
在沿着记录介质的横向或纵向的多个部分上测量所述分散值。
所述分散值根据由所述光接收件测量的信号得到的数据计算。
本发明总的构思的上述和/或其它方面与优点可通过提供一个成像装置的介质检测方法达到,其包括:通过使具有一光源和一光接收件的介质检测装置往复运动而得到信号,所述光源将光照射在记录介质表面,所述光接收件在预定的范围内、接收从记录介质反射的光;计算所得到信号的最大和最小值之间的比率;和通过将计算的比率与预定值比较,确定记录介质的类型。
通过将所述计算比率与一个或多个预定值比较,确定所述记录介质的类型包括:当所计算的最大和最小值之间的比率大于一预定的第二参考值时,确定所述记录介质为透明纸;当所计算的比率不大于所述第二参考值且大于其值小于所述第二参考值的一预定的第一参考值时,确定所述记录介质为照相纸;和当最大和最小值之间的比率不大于第一参考值时,在记录介质的多个部分测量信号后,计算分散值,当计算的分散值大于预定的分散值时,确定所述记录介质为普通纸,当所计算的分散值不大于所述预定的分散值时,确定所述记录介质为喷墨纸.
可在沿着所述记录介质的横向或纵向的多个部分上测量所述记录介质的分散值。
可根据过滤所得到的信号而得到的数据来计算所述分散值。
本发明总的构思的上述和/或其它方面与优点还可通过提供一种介质检测装置达到,其包括:将光照射在记录介质表面上的一光源;接收从所述记录介质反射的光的一光接收件;和一角度改变单元,其可改变至少所述光源和所述光接收件之一相对于记录介质的角度;和根据所述角度改变单元改变的角度、通过由所述光接收件测量的信号确定记录介质的类型的一控制器。
所述角度改变单元包括:一主体,其偏心地安装在所述记录介质的一输送通道上,并且以倾斜的方式安装,以让所述光源和所述光接收件面对所述记录介质;和一杠杆,其从所述主体延伸到所述记录介质的输送通道,以利用所述记录介质的力使所述主体在所述记录介质的输送方向上转动。
一安装壳体,其轴向地支承在该安装壳体中的所述主体,被安装在所述记录介质的输送通道上;一挠性电路板,其设置在所述安装壳体上,以将弹性力沿与所述记录介质的输送方向相反的方向施加到所述主体上。
所述主体包括:引导从所述光源发出的光的第一导向通道;和将从所述记录介质反射的光引导至所述光接收件的第二导向通道。
所述控制器将由所述光接收件测量的信号的最大和最小值的比率与预定值比较,以确定记录介质的类型。
所述光接收件可以由一光接收器件制成。
所述光源和所述光接收件可以被固定为指向相同的焦点。
所述光接收件利用所述角度改变单元交替地检测从记录介质反射的光的漫反射和全反射。
附图说明
本发明总的构思的这些和/或其它方面和优点可以从下面结合附图对实施例的说明中得到了解和更容易理解,其中:
图1为表示常规的介质检测装置的正视图;
图2为表示根据本发明总的构思的一个实施例的介质检测装置的分解透视图;
图3A~3D为表示图2所示的介质检测装置的操作状态的正视图;
图4为表示通过图2所示的介质检测装置得到的理想的信号波形的曲线图;
图5为表示通过图2所示的介质检测装置得到的实际的信号波形的曲线图;
图6为表示当记录介质在图2所示的介质检测装置中的记录介质的横向或纵向方向上运动时得到的波形的分散值的图形;
图7为表示图2所示的介质检测装置的控制器的操作状态的流程图;
图8为表示根据本发明总的构思的另一个实施例的介质检测装置的分解透视图;
图9A~9D为表示图8所示介质检测装置的操作状态的正视图;
图10为表示根据本发明总的构思的再一个实施例的介质检测装置的分解透视图;
图11为表示当记录介质开始进入图10所示的介质检测装置中时、漫反射区域的检测操作状态的横截面图;
图12为表示在图10所示的介质检测装置的操作过程中、一全反射区域的检测操作状态的横截面图;
图13为表示在图10所示的介质检测装置的操作过程中、漫反射区域的检测操作状态的横截面图;
图14为表示图11、12和13的连续检测的测量值的图;
图15为表示根据记录介质的类型、使用图10所示的介质检测装置的连续检测的测量值的图;和
图16为表示图10所示的介质检测装置的操作的流程图。
具体实施方式
下面详细说明本发明总的构思的实施例,其示例示出在附图中。图中相同的标号表示相同的元件。下面描述的实施例是为了参照附图说明本发明总的构思。
图2表示根据本发明总的构思的一个实施例的介质检测装置。从图2可看出,所述介质检测装置连接到成像装置的一个主体100的一部分上。所述介质检测装置可以安装在所述主体100的能面向记录介质的一个表面的任意部分上,因此不是局限于所述主体100的任何特定部分。例如,与所述介质检测装置连接的所述主体100的部分可以为位于成像装置的装纸托盘上的一个任意结构,例如喷墨打印机的托架。
一个圆形的盘110安装在所述主体100上。圆盘10固定在诸如电机(未示出)一类的一个驱动单元的旋转轴112上,并且可因所述驱动单元的转动而绕所述旋转轴112转动。靠近所述圆盘110的外周的一个柱形连接部分114从所述圆盘110的表面伸出。
在所述圆盘110下面形成一突出部分104,并且在所述突出部分104的下部,形成一个直径比所述突出部分104大的座垫件(seating part)102。
在所述主体100的表面上,在所述连接部分114和突出部分104处安装一支架120。在所述支架120的第一表面(前端)上安装将光照射在记录介质的表面上的一光源122,和接收在由所述光源照射后、从所述记录介质表面反射的光的一光接收件124。所述光源122和光接收件124相对于从所述记录介质表面垂直延伸的一根假想线不对称地配置。另外,在所述支架120的下部,形成一个容纳所述突出部分104的固定孔126。当所述突出部分104容纳在所述固定孔126内时,所述座垫件102与所述支架120的后表面接触。另外,在所述固定孔126的上面形成在所述支架120上纵向延伸的狭缝128,所述连接部分114插入所述狭缝128中。
所述突出部分104可转动地插入所述固定孔126中,并可以拆卸地固定在其中。当所述圆盘110转动时,所述连接部分114可在所述狭缝128内沿着纵向方向作往复运动。
图3A表示所述连接部分114位于圆盘110的12点钟的位置。这时,所述支架120的底面与记录介质P的表面平行,并且由所述光源122照射的、从所述记录介质P的表面全反射(totally reflected)至所述光接收件124中的光的量为最大。因此,反射至所述光接收件124的光强度为最大值。
图3B表示所述圆盘110(和所述连接部分114)相对于图3A所示位置顺时针方向转动90°。当所述圆盘110顺时针方向转动90°时,所述连接部分114位于圆盘110的三点钟位置,并且在所述狭缝128内运动,使所述支架120绕着所述突出部分104顺时针方向转动一定角度。当所述支架120转动所述一定角度时,由所述光源122照射的、从所述记录介质P的表面全反射的光的量最小,并且来自于全反射光(total reflected light)的漫反射光(diffuse reflected light)进入所述光接收件124中。因此,反射至所述光接收件124的光的强度为最小值。
如图3C和3D所示,当所述圆盘110连续地转动时,所述连接部分114经过6点钟和9点钟位置回到图3A所示的位置(12点钟位置)。当所述连接部分114在6点钟位置时,所述支架120定位为使得所述支架120的底面与记录介质P的表面平行。当所述连接部分114在9点钟位置时,所述支架120绕着所述突出部分104反时针方向转动一定角度。因此,进入所述光接收件124中的光强度在最大和最小值之间循环。
图4表示在理想情况下,当所述圆盘110转动一个循环时,进入所述光接收件124中的光强度。参照图4,y轴代表从所述光接收件124输出的电压幅值,x轴代表圆盘110的旋转角度。即图4中的0°、90°、180°和270°分别对应于图3A、3B、3C和3D。光强度是相对于照相纸、透明纸和普通纸的记录介质来表示的。透明纸的最大和最小值之间的差别最大,普通纸的差别最小,照相纸的差别为中间值。虽然图4没有表示对于喷墨纸的光强度,但喷墨纸的曲线与普通纸相同。
图5为表示通过操作图2所示介质检测装置、在图3A~3D所示操作状态下、分别在两张透明纸(transparency paper)、照相纸(photo paper)、喷墨纸(inkjet paper)和普通纸上得到的数据的图形。参见图5,y轴代表从所述光接收件124输出的电压的幅值,x轴代表测量时间。图5图形的形状与图4图形相似。如图5所示,所述光接收件124的输出的最大和最小值之间的比率具有的关系为:透明纸>照相纸>喷墨纸≈普通纸。
因此,通过使用所测量的光强度值,可以区分透明纸、照相纸和普通纸。然而,由于最大和最小光强度值的比率大致相同,因此不可能区分普通纸和喷墨纸。图6表示记录介质的分散值。参见图6可看出,在沿着记录介质表面的各个点上取所述分散值。在记录介质表面上,喷墨纸的光泽或粗糙度变化小,而普通纸的光泽或粗糙度变化比喷墨纸大。因而,如图6所示,在沿着普通纸的各个点上取的分散值(dispersion value)比沿着喷墨纸表面的各个点上取的分散值大。因此,利用所述分散值可以区分普通纸和喷墨纸。
图7为说明所述介质检测装置区分普通纸和喷墨纸的操作的流程图.首先,在操作S10中,将记录介质P送入成像装置,并移动至主体100的放置所述介质检测装置的一部分处.然后,在操作S11中,转动圆盘110,测量反射和输入至所述光接收件124的光的强度,并在操作S12计算光强度的最大和最小值之间的比率.在操作S13中,如果确定所计算的比率比第一参考值Ra大,那么在操作S14中与第二参考值Rb比较.这里,第一参考值Ra为区分照相纸和普通纸的参考值,第二参考值Rb为区分照相纸和透明纸的参考值.根据所述介质检测装置的尺寸和安装在上面的传感器类型的不同,每一个参考值Ra和Rb可以变化.
如果在操作S14中确定光强度的最大和最小值之间的所计算的比率比第二参考值Rb大,则在操作S15中确定所述记录介质P为透明纸。如果在操作S13中确定所计算的比率比第一参考值Ra大,并在操作S14中确定不比第二参考值Rb大,则在S16中,确定所述记录介质P为照相纸。
如果在操作S13中确定所计算的比率不比第一参考值Ra大,则在操作S17中,通过输送所述记录介质或使所述检测装置运动,在沿着所述记录介质P的表面的多个位置上测量光的强度。
然后,在操作S18中,相对于只表示喷墨纸和普通纸的波形的频带,过滤由所述光接收件124输出的、与所测量的光强度相应的电压波形,以计算所述记录介质P的分散值。如上所述,由于在表面上具有均匀的特性,喷墨纸的分散值小,但与喷墨纸比较,普通纸的分散值较大(参见图6)。
因而,在操作S19中,将所述记录介质P的所计算的分散值与参考的分散值Va比较,以区分喷墨纸和普通纸。当在操作S19中确定所计算的分散值比参考的分散值Va大时,在操作S20中确定所述记录介质P为普通纸。当在操作S19中确定所计算的分散值不比参考的分散值大时,则在操作S21中确定所述记录介质P为喷墨纸。
图8表示根据本发明总的构思的另一个实施例的介质检测装置。除了图8的介质检测装置具有一个使所述支架120横向转动的驱动单元(未示出)和一个具有弧形旋转的狭缝128′以外,图8所示的介质检测装置与图2所示的介质检测装置相同。因此,以后,相同的符号表示相同的零件,省略其说明。
从图8中可看出,与诸如电机之类的驱动单元的旋转轴可转动地接合的圆盘200,连接到成像装置的主体100上,并且在所述圆盘200的中心部分上形成一个连接部分210。所述连接部分210插入狭缝128′,该狭缝128′具有与从所述突出部分104至所述连接部分210的距离相应的曲率半径。同时,在所述圆盘200的一部分上形成一个扇形的偏心重(摩擦部分)212。如图9A~9D所示,当具有所述偏心重(摩擦部分)212的圆盘200转动,由于惯性(摩擦力)产生振动时,所述支架120横向以一定的振幅振动(往复运动)。
图9A~9D分别表示所述偏心重(摩擦部分)212在圆盘200的12点钟、3点钟、6点钟和9点钟位置。如图9A和9C所示,当所述偏心重(摩擦部分)212在12点钟和6点钟位置时,所述支架120的底面与记录介质P平行,并且反射和输入至所述光接收件124中的光的强度为最大值。如图9B和9C所示,当所述偏心重(摩擦部分)212在3点钟和9点钟位置时,所述支架120在相反方向以一定振幅振动,并且反射和输入至所述光接收件124的光的强度为最小值。
因此,通过在先前实施例中上述同样的过程,可以利用进入所述光接收件124的光强度的最大和最小值,来确定记录介质的类型。
然后,通过根据记录介质确定的类型,改变打印条件,成像装置可以得到最优的打印因此。
图10表示根据本发明总的构思的再一个实施例的介质检测装置.从图10中可看出,所述介质检测装置与成像装置的主体500的一部分连接.所述介质检测装置可以安装在成像装置的主体500的、面向记录介质表面的任何部分上,因此不是局限于放置在成像装置的主体500的任何特定部分上.
例如,所述主体500的与所述介质检测装置连接的部分可以是位于成像装置的介质托盘上或拾取辊后面的记录介质的输送通道上的任何结构,可以是喷墨打印机的托架或可以是喷墨打印机的拾取辊与托架之间的任何部分。即,记录介质的所有送纸位置与任何类型的成像装置相适应。以下,标号500简单地表示成像装置。
如图10所示,矩形盒状的一个安装壳体600安装在成像装置500上。所述安装壳体600具有一个下开口,如果必要,可以有一个前开口。另外,所述安装壳体600具有在记录介质的输送方向上的两侧的下端上形成的切口630。另外,一个单独的连接端子620安装在所述安装壳体600上,并且轴610从所述安装壳体600的内中心部分伸出。
所述介质检测装置的主体700以偏心的方式与所述轴610轴向接合。所述主体700大致为椭圆形状,在所述主体700的上侧形成一个轴向孔730,以让轴610通过并紧密结合,从而使所述主体700与轴610偏心地接合。
另外,一个向下伸出的杠杆710安装在所述主体700的下侧上。所述杠杆710的下端形成在所述主体700的下侧上,以穿过在底板650上形成的孔651,该底板650形成记录介质的输送通道。
图11~13表示当记录介质P通过所述介质检测装置输送时、图10所示的介质检测装置的操作。虽然,图10~13表示记录介质P的输送方向为从右至左,但根据成像装置500的结构,记录介质P的输送方向可以是相反的。因此,所述杠杆710的位置也可以改变。另外,底板650上的孔651的尺寸足够大,使杠杆710能够在横方向上转动。
从图10~13可看出,光源740和光接收件750安装在所述主体700上。所述光源740可以使用发光二极管。但是,所述光源740不是仅限于发光二极管,可以另外使用激光二极管或其它光源。所述光源740安装为以倾斜的方式将光照射在所述主体700的下部,并且所述光接收件750也定位为以向着来自于光源740的所反射的光的光接收方向的倾斜方式向着所述主体700的下部。
所述光接收件750由单一光接收器件制成。所述光接收器件可以使用光电二极管、光电晶体管、雪崩光电二极管、电荷耦合器件(CCD)、CMOS图像传感器(CIS)或其它类型的器件。
所述光源740和光接收件750安装为相对于光通道形成锐角,并且互相对称地安装。另外所述光源740和光接收件750安装成,尽管所述光源740和光接收件750转动,仍具有相同的焦距和保持相同的聚焦方向。尽管转动,总是相等地保持所述光源740的扫描距离和所述光接收件750的光接收距离。“相等地保持”意味着所述距离在误差范围内。
导向件720将由所述光源740发出的光引导至记录介质P并将从记录介质P反射的光引导至所述光接收件750,其安装在安装着所述光源740和所述光接收件750的所述主体700的下部上。所述导向件720用于改善所述光源740和所述光接收件750的照射和接收效率,并可提高测量精度。
所述导向件720包括:引导由所述光源740发出的光的第一导向通路721、和将从记录介质7反射的光引导至所述光接收件750的第二导向通道722。第一导向通道721在光的照射方向延伸,而第二导向通道722在光的接收方向延伸。
因此,可以稳定地保持光发射方向和光接收方向。单独的光纤可以填充在所述第一和第二导向通道721和722中,以在其中使用。
挠性电路板640以弯曲状态设置在所述安装壳体600中,该挠性电路板640沿与记录介质P的输送方向相反的方向将弹性力加到所述主体700上。所述挠性电路板640将操作电能加在所述光源740和光接收件750上,并且同时将通过所述光接收件750检测的输出值传递至控制器800。另一种方案是,除了所述挠性电路板640以外,可以安装一个单独的弹性件,以便沿与记录介质P的输送方向相反的方向将弹性力加在所述主体700上。
所述挠性电路板640与位于所述安装壳体600的上部的单独的连接端子620连接,并且所述连接端子620与所述控制器800连接。所述控制器800可以与成像装置500的控制器作在一起,或者可以为一个单独的零件。所述控制器800将由所述光接收件750测量的输出值的最大和最小值的比率、与预定值比较,以检测记录介质P的类型。
图16表示图10所示的介质检测装置的操作。
参见图10~13和16可看出,光从光源740照射到记录介质P通过的输送通道上。这时,将电能加在所述光源740上而从所述光源740发射光,从而进行光的照射(操作S50)。
然后,记录介质P沿着所述输送通道被输送至光源740的光照射区域中(操作S51)。记录介质P的输送可通过使用拾取辊(未示出)来进行,以便将所述记录介质P输送至所述安装壳体600的下部中。当将记录介质P输送至光照射区域中时,记录介质P与杠杆710接触,并使所述主体700转动(操作S52)。如果所述主体700转动,则光从所述记录介质P反射,并且反射的光被光接收件750接收。然后,测量所接收的从记录介质P反射的光的输出值(操作S53)。
如图11所示,当记录介质P开始与所述杠杆710接触时,杠杆710相对于记录介质P垂直地放置。因此,所述主体700处于漫反射角,这样,所述光源740的照射角和所述光接收件750的接收角彼此不同。
因此,虽然,从所述光源740经过所述第一导向通道721照射的光,分别在漫反射角(diffuse reflection angle)和全反射角(total reflection angle)反射,但由于所述光接收件750位于漫反射角,因此,所述光接收件750只能检测漫反射的光。如果在所述光接收件750中检测到所述漫反射光,则控制器800得到最小的输出值。
而后,当记录介质P连续运动时,光的角度改变。如图12所示,光角度改变是当记录介质P推动杠杆710,并沿记录介质P的输送方向转动所述杠杆710和所述主体700时进行的。虽然所述主体700连续转动,但当光源740的光照射角度和所述光接收件750的光接收角度相对于记录介质相同时,控制器800可以得到比漫反射(diffuse reflection)的输出值大的全反射(total reflection)的输出值。
接着,当记录介质P再输送,并且所述杠杆710也进一步转动时,如图13所示,因而,将所述主体700再次转动至大部分漫反射的位置,这时,光的照射角度和光反射角度相对于记录介质不同。漫反射状态维持至记录介质P输送至所述介质检测装置外面为止。在这种状态下,控制器800得到比在全反射状态下小的输出值。
接着,确定记录介质P的输送是否完成(操作S54).作为确定的结果,如果介质P没有完成输送,则重复上述操作S51~S53,如果输送完成,则如下所述确定记录介质P的类型.
同时,如果连续检测输出值,则得到图14所示的图形。即,当所述主体700转动产生全反射时,可得到传感器输出为最大的输出峰值点。
根据记录介质P的类型,所述传感器的输出具有不同的值。在漫反射的情况下,不同类型的记录介质P的传感器输出值之间的差别小,但在全反射的情况下,所述差别明显增大。例如,如图15所示,在诸如透明纸、照相纸和普通纸之类的典型的记录介质P的情况下,当光源740和光接收件750相对于记录介质角度相同时,透明纸的全反射输出峰值最大,照相纸的全反射输出峰值小于透明纸的全反射输出峰值,而普通纸的输出峰值小于照相纸的。根据传感器的输出数据,控制器800确定记录介质P的类型。
控制器800计算在光接收件750中测量的最大值和在光接收件750中测量的最小值的比率(操作S55)。这时,当所述比率增加时,记录介质P的光泽增加,当所述比率减小时,光泽降低。例如,如图15所示,透明纸的比率最大,照相纸的比率小于透明纸的比率,普通纸的比率小于照相纸的比率。因此,利用所述比率之间的差别,可以检测记录介质P的类型。
因此,控制器800将所述比率差别与在控制器800中设定的预定值比较,以确定记录介质P的类型。所述预定值包括作为透明纸的最大和最小值的比率而设定的第一预定值,作为照相纸的最大和最小值的比率而设定的第二预定值,和作为普通纸的最大和最小值的比率而设定的第三预定值。然后,得到所述第一和第二预定值之间的第一参考值,和还得到所述第二和第三预定值之间的第二参考值。所述参考值可与所述预定值一起,存储在控制器800中。
在这个过程中,例如当第一预定值为“3”,第二预定值为“2”时,则第一参考值可以近似为“2.5”;当第三预定值为“1”时,则第二参考值可以近似为“1.5”。从根据通过先前的试验得到的实际数据的比较数据,可以得到预定值和参考值的常数值。
然后,控制器800将所计算的比率与第一参考值比较(操作S56)。当所计算的比率比第一参考值大时,控制器确定所述记录介质P为透明纸(操作S62)。当所计算的比率不比第一参考值大时,控制器800将所计算的比率与第二参考值比较(操作S57)。
当所计算的比率比第二参考值大时,控制器确定所述记录介质P为照相纸(操作S61)。当所计算的比率不比第二参考值大时,控制器确定所述记录介质P为普通纸(操作S60)。
因此,利用测量值,可以容易地区分透明纸、照相纸和普通纸。然而,考虑到误差,难以精确地区分普通纸和喷墨纸。喷墨纸表面上的光泽、粗糙度等的偏差均匀,而与喷墨纸比较普通纸偏差大。因此,当在记录介质P的输送通道上安装多个介质检测装置时,可以区分普通纸和喷墨纸。
如果完成了记录介质P的检测,则成像装置根据记录介质P的类型,控制驱动和打印条件而打印图像。另外,如果根据成像装置500的类型和结构,将各种打印条件设定得与每一种类型的记录介质相适应,则可以改善打印精确度和图像质量。
如上所述,本发明总的构思由于只使用一光接收件和一光源,因而可以减少零件数目,并且由于即使记录介质表面不规则,也可以精确地检测记录介质的类型,因此可以稳定地打印各种记录介质.另外,由于光源的照射角度连续地变化,因此,即使当成像装置的主体和支架由于长期使用而变形时,本发明总的构思提供能够保持一致的检测的可能性的效果.
虽然已示出并描述了本发明总的构思的几个实施例,但本领域技术人员应理解,在没有偏离本发明总的构思的原理和精神的条件下,可对这些实施例进行改变。本发明总的构思的范围由所附的权利要求书及其等价文件确定。
Claims (40)
1.一种介质检测装置,其包括:
将光照射在一记录介质表面上的一光源;
接收从所述记录介质反射的光的一光接收件;和
一控制器,其当所述光源和所述光接收件中的至少一个相对于所述记录介质的角度改变时,通过由所述光接收件测量的信号、确定所述记录介质的类型。
2.如权利要求1所述的介质检测装置,其中,所述光源和所述光接收件相对于所述记录介质的角度同时变化。
3.如权利要求1所述的介质检测装置,其中,所述光源和所述光接收件相对于所述记录介质的角度在一预定的范围内连续地变化。
4.如权利要求1所述的介质检测装置,其中,还包括:
用于固定至少所述光源和所述光接收件之一的一支架;
安装在所述支架上、以让所述支架相对于所述记录介质的表面不对称地往复运动的一连接装置;和
驱动所述连接装置的一驱动机构。
5.如权利要求4所述的介质检测装置,其中,所述连接装置包括:
在所述支架中形成的一狭缝;
通过所述驱动机构而转动的一圆盘;和
在所述圆盘的一侧上形成、并插入所述狭缝中的一突出部分。
6.如权利要求1所述的介质检测装置,其中,还包括:
用于固定至少所述光源和所述光接收件之一的一支架;
与所述支架连接的一偏心重;和
使所述偏心重转动的一驱动机构。
7.如权利要求1所述的介质检测装置,其中,所述控制器通过将由所述光接收件测量的信号的最大和最小值之间的比率与一个或多个预定值比较来检测所述记录介质的类型。
8.如权利要求7所述的介质检测装置,
其中,当所述最大和最小值之间的比率比一预定的第二参考值大时,所述控制器确定所述记录介质为透明纸;当所述最大和最小值之间的比率不比所述第二参考值大、并大于其值小于所述第二参考值的一预定的第一参考值时,所述控制器确定所述记录介质为照相纸;当所述最大和最小值之间的比率不比所述第一参考值大时,所述控制器在所述记录介质的多个部分上测量信号后计算分散值,当所计算的分散值比预定的分散值大时,所述控制器确定所述记录介质为普通纸,当所计算的分散值不比预定的分散值大时,所述控制器确定所述介质为喷墨纸。
9.如权利要求8所述的介质检测装置,其中,在沿着所述记录介质的横向或纵向的多个部分上测量所述分散值。
10.如权利要求9所述的介质检测装置,其中,根据过滤由所述光接收件测量的信号而得到的数据来计算所述分散值。
11.一种成像装置的介质检测方法,其包括:
通过使一介质检测装置往复运动而得到信号,所述介质检测装置包括将光照射在记录介质表面的一光源和在一预定的范围内、接收从记录介质反射的光的一光接收件;
计算所得到信号的最大和最小值之间的比率;和
通过将所计算的比率与一个或多个预定值比较,确定所述记录介质的类型。
12.如权利要求11所述的介质检测方法,其中,所述通过将所述计算比率与一个或多个预定值比较而确定所述记录介质的类型的步骤包括:
当所计算的最大和最小值之间的比率大于一预定的第二参考值时,确定所述记录介质为透明纸;
当所计算的比率不大于所述第二参考值且大于其值小于所述第二参考值的一预定的第一参考值时,确定所述记录介质为照相纸;和
当所述最大和最小值之间的比率不大于所述第一参考值时,在所述记录介质的多个部分上测量信号后计算分散值,当所计算的分散值大于预定的分散值时,确定所述记录介质为普通纸,当所计算的分散值不大于所述预定的分散值时,确定所述记录介质为喷墨纸。
13.如权利要求12所述的介质检测方法,其中,所述计算分散值的步骤包括:
在沿着所述记录介质的横向或纵向的多个部分上测量所述记录介质的分散值。
14.如权利要求12所述的介质检测方法,其中,所述计算分散值的步骤包括:
根据过滤所得到的信号而得到的数据,计算所述分散值。
15.一种介质检测装置,其包括:
将光照射在记录介质表面上的一光源;
接收从所述记录介质反射的光的一光接收件;和
一角度改变单元,当输送所述记录介质时,其可改变至少所述光源和所述光接收件之一相对于所述记录介质的角度;和
一控制器,其通过由所述光接收件测量的取决于所述角度改变单元改变的角度的信号来确定所述记录介质的类型。
16.如权利要求15所述的介质检测装置,其中,所述角度改变单元包括:
一主体,其偏心地安装在所述记录介质的一输送通道上,并且以倾斜的方式安装,以让所述光源和所述光接收件面对所述记录介质;和
一杠杆,其从所述主体延伸到所述记录介质的输送通道,以利用所述记录介质的力使所述主体在所述记录介质的输送方向上转动。
17.如权利要求16所述的介质检测装置,其中,还包括:
一安装壳体,其轴向地支承在该安装壳体中的所述主体,并被安装在所述记录介质的输送通道上;和
一挠性电路板,其设置在所述安装壳体上,以将弹性力沿与所述记录介质的输送方向相反的方向施加到所述主体上。
18.如权利要求16所述的介质检测装置,其中,所述主体包括:
将从所述光源发出的光引导至所述记录介质的一第一导向通道;和
将从所述记录介质反射的光引导至所述光接收件的一第二导向通道。
19.如权利要求15所述的介质检测装置,其中,所述控制器将由所述光接收件测量的信号的最大和最小值的比率与一预定值比较,以确定记录介质的类型。
20.如权利要求15所述的介质检测装置,其中,所述光接收件包括一个光接收器件。
21.如权利要求15所述的介质检测装置,其中,所述光源和所述光接收件被固定为指向相同的焦点.
22.如权利要求15所述的介质检测装置,其中,所述光接收件利用所述角度改变单元交替地检测从所述记录介质反射的光的漫反射和全反射。
23.一种检测记录介质类型的方法,其包括:
由一光源照射光:
将记录介质输送至所述光源的一光照射区域:
通过所述记录介质的输送,改变从所述记录介质反射的光的角度;
通过改变所述角度,在一光接收件中检测光,以得到测量值;
在一控制器中计算所述测量值的最大和最小值的比率;和
将所计算的比率与存储在所述控制器中的预定值比较,以检测所述记录介质的类型。
24.如权利要求23所述的方法,其中,所述预定值包括设定为与透明纸相应的比率的一第一预定值、设定为与照相纸相应的比率的一第二预定值和设定为与普通纸相应的比率的一第三预定值。
25.如权利要求24所述的方法,其中,所述将所计算的比率与存储在所述控制器中的预定值比较、以检测记录介质的类型的步骤包括:
当所述比值大于在所述第一和第二预定值之间的第一参考值时,识别所述记录介质为透明纸;
当所述比率等于或小于所述第一参考值并大于所述第二和第三预定值之间的第二参考值时,识别所述记录介质为照相纸;和
当所述比率等于或小于第二参考值时,识别所述记录介质为普通纸。
26.一种记录介质检测装置,其包括:
一光发射和接收单元,其将光照射至记录介质的表面上,接收从所述记录介质的表面反射的光,并测量所接收光的强度,所述光发射和接收单元的位置相对于所述记录介质的表面可变化,从而以相对于所述记录介质表面的多个角度来测量所述强度:和
控制所述光发射和接收单元的可变位置的一控制器。
27.如权利要求26所述的记录介质检测装置,其中,所述控制器包括一转动单元,其可使所述光发射和接收单元相对于所述记录介质的表面转动。
28.如权利要求27所述的记录介质检测装置,其中,所述转动单元包括:
支承所述光发射和接收单元的一支架;和
一圆盘,其与所述支架连接,使所述支架在相对于所述记录介质的一预定的角度范围内转动。
29.如权利要求28所述的记录介质检测装置,其中,当所述圆盘使所述支架在所述预定的角度范围内转动时,所述光发射和接收单元测量所接收光的至少一个最大强度和至少一个最小强度。
30.如权利要求26所述的记录介质检测装置,其中,还包括:
包围所述光发射和接收单元的一壳体;和
与所述壳体连接以根据所述记录介质的移动与所述记录介质接触并使所述壳体转动的一杠杆。
31.如权利要求26所述的记录介质的检测装置,其中,所述控制器根据在多个角度所测量的强度来确定所述记录介质的类型.
32.一种记录介质检测装置,其包括:
将光照射在记录介质表面上的一光源;和
相对于所述记录介质的表面可转动的一光接收件,其可在一全反射角和一漫反射角接收从所述记录介质表面反射的光,其中,根据在所述全反射角的反射光的强度和在所述漫反射角的反射光的强度的比率,确定所述记录介质的类型。
33.如权利要求32所述的记录介质检测装置,其中,所述光源与所述光接收件一起相对于所述记录介质的表面转动。
34.如权利要求32所述的记录介质检测装置,其中,所述光接收件在每一个全反射角和漫反射角上测量所反射光的强度。
35.如权利要求34所述的记录介质检测装置,其中,所述光接收件包括:
确定在所述全反射角的反射光的强度和在所述漫反射角的反射光的强度的比率的一控制器。
36.一种成像装置,其包括:
输送记录介质的一输送通道;和
放置在所述输送通道上、用于确定所述记录介质的类型的一记录介质检测单元,该记录介质检测单元包括:
将光照射在所述记录介质表面上的一光源,和
接收从所述记录介质反射的光的一光接收件,所述光源和光接收件相对于彼此以一预定的角度固定,并且可动地安装在所述输送通道上,以便以多个角度将光照射在所述记录介质上并从所述记录介质接收光。
37.一种确定记录介质类型的方法,所述方法包括:
转动一光源和一光接收件,以便在多个角度测量从记录介质反射的光的强度;和
根据在所述多个角度所测量的光强度,确定所述记录介质的类型。
38.如权利要求37所述的方法,其中,所述转动所述光源和所述光接收件的步骤包括:
转动所述光源和所述光接收件,以在一全反射角和一漫反射角测量从所述记录介质反射的光的强度。
39.如权利要求38所述的方法,其中,所述确定所述记录介质的类型的步骤包括:
将在所述全反射角测量的光的强度和在所述漫反射角测量的光的强度的比率与一个或多个预定值比较。
40.如权利要求37所述的方法,其中,所述确定所述记录介质的类型的步骤包括:
根据最大的所测量的光强度与最小的所测量的光强度的比率,确定所述记录介质的类型。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
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CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20100512 Termination date: 20141017 |
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EXPY | Termination of patent right or utility model |