CN1712979A - Ata信号测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种ATA信号测试装置，其包括若干底座及一由若干信号线组成的排线，该底座内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件，该信号连接组件穿过该排线将排线结合在底座上，且该信号连接组件穿过排线的端子外露，在用于传输ATA信号的外露端子上焊接若干排针，从而将排线上传输资料的信号在排针上导出，以方便信号的量测。
Description
【技术领域】
本发明是关于一种测试装置，特别是指一种可快速测量ATA信号的测试装置。
【背景技术】
在ATA(Advanced Technology Architecture高阶硬盘架构)信号传输时，在主板上连接器端信号与排线上硬盘端信号两者会产生差异，主要原因是因为排线长度不同，其金属排线的单位长度的电阻值也会相对的不同，在高速数据传输下，此种信号在远程与近端的信号品质也就会不同。在ATA信号的量测阶段，需要验证在主板上连接器端信号与传输到硬盘端信号的品质。在现行量测上，依据硬盘的设计不同，在某些硬盘上外露的电路有时未能有我们所可以量测到的测试点，即在信号量测阶段不能达到信号互相验证的目的。因此，如何提供一种可快速测量ATA信号的测试装置，即为本案所欲解决的课题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供可快速测量ATA信号的测试装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：本发明ATA信号测试装置是由现有的IDE(Integrated Drive Electronics，集成磁盘电子接口)排线连接器上一端的压力卡榫移除后改进而成，该装置包括若干底座及一由若干信号线组成的排线，每一底座内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件，该信号连接组件穿过该排线将排线结合在每一底座上，且该信号连接组件穿过排线的端子外露，在外露端子上焊接上相应的排针，并保证排针与端子电性连接，从而将排线上传输资料的信号在排针上导出，以方便信号量测。
本发明在量测阶段，将传输的ATA信号从ATA信号测试装置的两端经由排针导出，撷取最为临近主板及硬盘的测试点，获得可靠度高的数值。本发明是对现有排线连接器的改进，成本低，测试方便。
【附图说明】
图1是本发明ATA信号测试装置的示意图。
【具体实施方式】
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细说明。
请参阅图1，本发明ATA信号测试装置60包括若干底座10及一由若干信号线组成的排线30，每一底座10内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件(未示出)。该底座10内的信号连接组件穿过相应排线30的端子42外露，在排线30及该连接组件间提供一定的保持力，以确保排线30不会脱离该底座10并使该信号连接组件与该排线30形成电连接。其中每一底座10上信号连接组件的外露端子42排成三排，中间一排外露端子42用于和地线连接，其余两排的外露端子42与传输ATA信号的信号线连接。
本发明为实现对ATA信号的量测，在信号连接组件穿过排线30的两排用于传输ATA信号的外露端子42上用焊锡焊枪加热，焊接上相应的排针50，保证排针50与端子42电性连接，从而将排线30上传输资料的信号在排针50上导出，以方便测量。
为防止排针50掉落或排针50与外露端子42连接松动，可用树脂类热溶胶将排针50固定在排线30上。
在信号量测时，将该ATA信号测试装置60的底座10分别插入主板的插槽及硬盘驱动器的插槽上，并保证接触良好。因为该测试装置60上排针50与硬盘上排针对应，根据测试计划将相应排针50连接到示波器上，通过波形的分析，即可获得所要测量的时钟脉冲周期、电压峰值等等电气特性。
本发明ATA信号测试装置，通过撷取ATA信号传输时最为临近主板及硬盘的测试点，可获取可靠度高的信号。
Claims (3)
1.一种ATA信号测试装置，其包括若干底座及一由若干信号线组成的排线，每一底座内嵌合有由多个信号连接元件组成的信号连接组件，该信号连接组件穿过该排线将排线结合在底座上，且该信号连接组件穿过排线的端子外露，其特征在于：在外露端子上焊接有若干排针。
2.如权利要求1所述的ATA信号测试装置，其特征在于：所述排针上固定有树脂类热溶胶。
3.如权利要求1所述的ATA信号测试装置，其特征在于：每一底座上的外露端子排成三排，中间一排外露端子用于和地线连接，其余两排的外露端子与传输ATA信号的信号线连接，该排针焊接在用于传输ATA信号的外露端子上。
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| CNB2004100279393A CN100573174C (zh) | 2004-06-26 | 2004-06-26 | Ata信号测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CNB2004100279393A CN100573174C (zh) | 2004-06-26 | 2004-06-26 | Ata信号测试装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN100573174C CN100573174C (zh) | 2009-12-23 |
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| CNB2004100279393A Expired - Fee Related CN100573174C (zh) | 2004-06-26 | 2004-06-26 | Ata信号测试装置 |
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2004
- 2004-06-26 CN CNB2004100279393A patent/CN100573174C/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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| CN100573174C (zh) | 2009-12-23 |
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