CN201477852U - 探针卡及驱动电路测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡，其包括一探针组，对应于该驱动电路上的一待测集成电路，该待测集成电路分别电连接该驱动电路的输入导线及输出导线，该探针组包括若干根第一探针以及若干根第二探针，若干根第一探针是用以测试所对应的输入导线，若干根第二探针是用以测试所对应的输出导线以及各输出导线所电连接的一输出讯号接点；在该若干根第二探针中，用以测试输出导线的第二探针的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零，相邻的第二探针是呈交错排列的。本实用新型可实现在单位长度的驱动电路上容纳更多的集成电路，以降低成本并提高生产效率。

Description

探针卡及驱动电路测试系统

技术领域

本实用新型是涉及一种探针卡(PROBE CARD)，特别涉及一种应用在测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡。

背景技术

图1是现有液晶显示装置的驱动电路10的俯视图。如图1所示，液晶显示装置的驱动电路10是使用卷带式封装(Tape Carrier Package，TCP)，每一驱动电路10中包含了一集成电路12、若干个输出讯号接点14、电连接于集成电路12的输入导线16、及电连接于集成电路12与输出讯号接点14的输出导线18，由于驱动电路10的设计，输入导线16的数目小于输出导线18的数目，使得相邻的输入导线16的间距相对大于相邻的输出导线18的间距。

图2是现有探针卡20的剖面图，其是用以测试图1所示的驱动电路10。如图2所示，探针卡20包含了一电路板22、设置在电路板22上的一支撑部24、固定在支撑部24上的探针组26、及一开口28。探针组26包含了探针26A、26B，分别用以与待测驱动电路10的输入导线16、输出讯号接点14形成电连接。测试的结果会经由导电孔21而传至电路板22背面的测试接点23，再由测试接点23传至一测试机(未显示)以进行读取及判读。

传统上，在利用图2所示的探针卡20测试图1所示的驱动电路10时，是利用探针26A、26B分别与待测驱动电路10的输入导线16、输出讯号接点14形成电连接来进行电性测试，由于前文已经提及，相邻的输入导线16的间距大，因此，在探针26A电连接输入导线16时，并不会使相邻的两根输入导线16造成短路，但是相邻的输出导线18的间距小，在探针26B电连接输出导线18时，相邻的探针26B相互电连接的风险提高，会发生相邻的两根输出导线18造成短路，所以需要使用在增设输出讯号接点14作为探针26B电连接的位置。虽然在与输出讯号接点14形成电连接的探针26B方面，已经能够将多根探针26B彼此之间的相对位置和排列间距调整到能够满足多个输出讯号接点14彼此之间的相对位置和排列间距的程度；然而，在实际进行完测试之后，输出讯号接点14的部分是要被弃除的，由此所产生的技术方案为，若能在图1所示的驱动电路10中在待测前就省略输出讯号接点14的部分，则在单位长度的驱动电路10上便能容纳更多的集成电路10，将有助于成本降低。但这个新颖的技术方案需要在图2所示的探针卡20方面同步进行设计才能配合。

发明内容

本实用新型的目的在于，为了配合上述对于省略输出讯号接点14的技术方案，而提出的一种测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡，其能在单位长度的驱动电路上容纳更多的集成电路。

本实用新型一方面提出一种测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡，包括一探针组，其对应于该驱动电路上的一待测集成电路，该待测集成电路分别电连接该驱动电路的输入导线及输出导线，该探针组包括若干根第一探针以及若干根第二探针，若干根第一探针是用以测试所对应的输入导线，若干根第二探针是用以测试所对应的输出导线以及各输出导线所电连接的一输出讯号接点；在该若干根第二探针中，用以测试输出导线的第二探针的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零，相邻的第二探针是呈交错排列。

本实用新型另一方面提出一种应用于液晶显示装置的驱动电路测试系统，其包括了上述的驱动电路上的每一待测集成电路、以及上述的探针卡。

根据上述技术方案，本实用新型是在利用探针卡针对驱动电路上的待测集成电路所具有的输入导线及输出导线进行测试时，在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试而不针对输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试，或是在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试且亦针对极少量的输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试。如此，驱动电路上的待测集成电路所具有的输出导线在制作时便可以仅预留极少量的输出讯号接点、或是完全不预留任何输出讯号接点，便能够达成前述的在单位长度的驱动电路上容纳更多集成电路的目的，藉以降低成本并提高生产效率。

附图说明

图1为现有液晶显示装置的驱动电路的俯视图。

图2为现有探针卡的剖面图。

图3为本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第一种实施例的示意图。

图4为本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第二种实施例的示意图。

图5为本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第三种实施例的示意图。

图6为本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第四种实施例的示意图。

主要组件标号说明

3     驱动电路测试系统

10    驱动电路

12    集成电路

14    输出讯号接点

16    输入导线

18    输出导线

20    探针卡

21    导电孔

22    电路板

23    测试接点

24    支撑部

26    探针组

26A   探针

26B   探针

28    开口

30    驱动电路

31    第一探针

32    集成电路

33    第二探针

34    输入导线

36    输出导线

331   第二探针

332   第二探针

381   输出讯号接点

382   输出讯号接点

具体实施方式

以下根据图3～图6，通过若干具体实施例，详细说明本实用新型。

图3是本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第一种实施例的示意图。在图3的驱动电路测试系统3中，液晶显示装置的驱动电路30同样是使用卷带式封装(TCP)，驱动电路30的左右皆有一个相同的驱动电路，但为了说明上的方便，此处仅以一个驱动电路30来做说明。

驱动电路30包含了一集成电路32、电连接于集成电路32的若干条输入导线34、及电连接于集成电路32的若干条输出导线36。为了达到前述在单位长度的驱动电路上容纳更多集成电路的目的，此处将原来电连接于输出导线36的输出讯号接点全部都弃除了，因此，在测试集成电路32时，所使用的探针卡上的探针必须仅针对输入导线34及输出导线36以进行电性测试。

对应于驱动电路30上的待测集成电路32，本实用新型所提出的探针卡上的探针组包括若干根第一探针31以及若干根第二探针33，若干根第一探针31是用以测试输入导线34，而若干根第二探针33是用以测试输出导线36。

需要注意的是，本实用新型所提出的技术方案是，用以测试输出导线36的第二探针33的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零。因此，本实施例是以用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为零来做说明的。

在本实用新型之中，在驱动电路30上，每一待测集成电路32所具有的每一输出导线36的线宽是小于30微米(μm)，每一待测集成电路所具有的相邻的输出导线36的间距是小于100微米。而在每一探针组中，若干根第一探针31是呈平行排列，而若干根第二探针33是呈交错排列(zigzag)，如图3所示。

此外，配合上述输出导线36的线宽与间距，第二探针33的针径是小于6英丝(mil)，而相邻的第二探针33的间距是小于100微米的。

根据上述实施例，由于本实用新型是在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试而不针对输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试。因此，驱动电路上的待测集成电路所具有的输出导线在制作时便可以完全不预留任何输出讯号接点，便能够达成前述的在单位长度的驱动电路上容纳更多集成电路的目的，藉以降低成本并提高生产效率。此外，前文说明中已提及，若干根第二探针33是呈交错排列，在相邻的输出导线36的间距过小的情形下，可以降低相邻的第二探针33相互电连接的风险，避免相邻的两根输出导线36造成短路。

由于本实用新型所提出的技术方案是，用以测试输出导线36的第二探针33的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零。因此，除了上述的实施例之外，本实用新型还能以用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为一来做说明。

图4是本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第二种实施例的示意图。与图3的不同之处在于，本实施例是以用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为一来做说明的。如图4中的驱动电路测试系统3所示，用以测试输出讯号接点381的第二探针331是排列于该探针组中该若干根第二探针33的第一根，而第二探针33则是如已在图3的说明中提过般地呈交错排列。

图5是本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第三种实施例的示意图。与图4的不同之处在于，本实施例是以用以测试输出讯号接点382的第二探针332是排列于该探针组中该若干根第二探针33的最后一根。此外，图5中的第二探针33是呈交错排列。

根据上述实施例，由于本实用新型是在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试，且亦针对极少量的输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试。因此，驱动电路上的待测集成电路所具有的输出导线在制作时便可以仅预留极少量的输出讯号接点，便能够达成前述在单位长度的驱动电路上容纳更多集成电路的目的，藉以降低成本并提高生产效率。

由于本实用新型所提出的技术方案是，用以测试输出导线36的第二探针33的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零。因此，除了上述的实施例之外，本实用新型还能以用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为二来做说明。

图6是本实用新型所提出的测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡的第四种实施例的示意图。与前述附图的不同之处在于，本实施例是以用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为二来做说明的。如图6中的驱动电路测试系统3所示，用以测试输出讯号接点381与382的第二探针331与332是分别排列于该探针组中该若干根第二探针33的第一根与最后一根。同样地，图6中的第二探针33是呈交错排列的。

根据上述实施例，由于本实用新型是在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试，且亦针对极少量的输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试。因此，驱动电路上的待测集成电路所具有的输出导线在制作时便可以仅预留极少量的输出讯号接点，便能够达成前述在单位长度的驱动电路上容纳更多集成电路的目的，藉以降低成本并提高生产效率。

除了上述的实施例，本实用新型当然还可以根据熟悉该项技术者的实际需要而将输出讯号接点的数量制作得更多，或是改变其与输出导线的连接位置，但其变化都以不脱离本实用新型所提出的“在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试而不针对输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试，或是在待测集成电路的输出端针对所有的输出导线进行测试且亦针对极少量的输出导线所电连接的输出讯号接点进行测试”的技术方案来发展。

综上所述，根据本实用新型所提出的探针卡及驱动电路测试系统，驱动电路上的待测集成电路所具有的输出导线在制作时便可以仅预留极少量的输出讯号接点、或是完全不预留任何输出讯号接点，其能够达成前述在单位长度的驱动电路上容纳更多集成电路的目的，藉以降低成本并提高生产效率。

虽然本实用新型已通过实施例描述如上，然其并非用以限定本实用新型，任何所属本技术领域中的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本实用新型的保护范围应当以权利要求书所限定的为准。

Claims (10)

1.一种测试液晶显示装置的驱动电路的探针卡，其特征在于，包括：

一探针组，对应于所述驱动电路上的一待测集成电路，该待测集成电路分别电连接该驱动电路的若干条输入导线及若干条输出导线，该探针组包括：

若干根第一探针，用以测试所对应的输入导线；及

若干根第二探针，用以测试所对应的输出导线以及各输出导线所电连接的一输出讯号接点，在该若干根第二探针中，用以测试输出导线的第二探针的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零，相邻的第二探针是呈交错排列。

2.如权利要求1所述的探针卡，其特征在于，所述的每一输出导线的线宽是小于30微米的。

3.如权利要求1所述的探针卡，其特征在于，所述的相邻输出导线的间距是小于100微米的。

4.如权利要求1所述的探针卡，其特征在于，所述的每一第二探针的针径是小于6英丝的。

5.如权利要求1所述的探针卡，其特征在于，所述的相邻的第二探针的间距是小于100微米的。

6.如权利要求1所述的探针卡，其特征在于，所述的用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为一。

7.如权利要求6所述的探针卡，其特征在于，其中：

用以测试输出讯号接点的该根第二探针是排列于所述探针组中该若干根第二探针的第一根；或

用以测试输出讯号接点的该根第二探针是排列于所述探针组中该若干根第二探针的最后一根。

8.如权利要求1所述的探针卡，其特征在于，所述的用以测试输出讯号接点的第二探针的数量为二。

9.如权利要求8所述的探针卡，其特征在于，所述的用以测试输出讯号接点的该二根第二探针是分别排列于该探针组中若干根第二探针的第一根与最后一根。

10.一种应用于液晶显示装置的驱动电路测试系统，其特征在于，包括：

一驱动电路，其上具有一待测集成电路、若干条输入导线及若干条输出导线，该待测集成电路分别电连接该若干条输入导线及该若干条输出导线；及

一探针卡，具有一探针组，该探针组包括：

若干根第一探针，用以测试所对应的输入导线；及

若干根第二探针，用以测试所对应的输出导线以及各输出导线所电连接的一输出讯号接点，在该若干根第二探针中，用以测试输出导线的第二探针的数量大于用以测试输出讯号接点的第二探针的数量，且用以测试输出讯号接点的第二探针的数量最小为零，相邻的第二探针是呈交错排列。

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